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一种激光三角测量系统的测量方法、装置及介质

2022-07-10 09:35:14 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种激光三角测量系统的测量方法,其特征在于,所述激光三角测量系统包括激光发射器、相机以及上位机,其中,相机中的透镜和光敏传感器平行;所述激光三角测量系统的测量方法,包括以下步骤:激光发射器发射激光到被测物体表面;相机采集由被测物体表面反射的激光,获得光斑图像;获取光斑图像中光斑的坐标位置,根据坐标位置和预设的映射关系获取被测物体表面的移动距离;其中,所述映射关系通过对激光三角测量系统进行标定获得。2.根据权利要求1所述的一种激光三角测量系统的测量方法,其特征在于,所述测量方法还包括对激光三角测量系统进行标定的步骤:构建激光三角测量模型;对激光三角测量模型进行转换,获取映射关系的函数;求解映射关系的函数的参数,实现激光三角测量系统的标定。3.根据权利要求2所述的一种激光三角测量系统的测量方法,其特征在于,所述激光三角测量模型的表达如下:式中,s为被测物体的实际位移,s

为光斑位移;l为参考平面光斑到透镜中心的距离,l

为透镜到光斑成像的距离,β为参考平面反射光线和光敏传感器的夹角,γ为激光入射角,α为参考平面上光斑的反射角;其中,参考平面位于被测物体表面的上方。4.根据权利要求3所述的一种激光三角测量系统的测量方法,其特征在于,所述对激光三角测量模型进行转换,获取映射关系的函数,包括:对激光三角测量模型进行转换,获得映射关系的表达式:令获得映射关系的函数如下:sq1 ss

q2=s

。5.根据权利要求4所述的一种激光三角测量系统的测量方法,其特征在于,所述求解映射关系的函数的参数,实现激光三角测量系统的标定,包括:采用测量工具获取两组或两组以上数据,根据测量获得的数据获得矩阵方程:令:依据最小二乘法原理,得公式:min
l
{(p-uq)
t
(p-uq)},对公式求导值为0时,解得q为最
优解,即:q=(u
t
u)-1
u
t
p求解获得q1、q2的值后,实现激光三角测量系统的标定。6.根据权利要求5所述的一种激光三角测量系统的测量方法,其特征在于,所述测量方法还包括获取相机参数的步骤:在参考平面位置不变的情况下,沿着与参考平面平行的方向的平移相机;获取平移相机后光斑在光斑图像上的位移h;对平移相机后的激光三角测量系统进行标定,获得新的参数q
′1、q
′2;根据参数q1、q2、q
′1、q
′2和h求解获得相机的像距d,即成像传感器到透镜中心的距离。7.根据权利要求6所述的一种激光三角测量系统的测量方法,其特征在于,所述激光三角测量系统为直射式激光三角测量系统,即γ=0,q1和q2的表示式为:的表示式为:控制参考平面反射的光线垂直射入相机,此时β=90
°
,d=l,此时q1和q2的表达式为:的表达式为:相机平移后,对激光三角测量系统进行标定获得:对激光三角测量系统进行标定获得:根据q1、q2和q
′1的表达式获得公式(1):根据公式(1)求解获得像距d。8.根据权利要求7所述的一种激光三角测量系统的测量方法,其特征在于,为了降低误差,将q
′2与公式(1)进行结合,获得公式(2):根据公式(2)求解获得像距d。9.一种激光三角测量系统的测量装置,其特征在于,包括:、长度测量工具至少一个处理器;至少一个存储器,用于存储至少一个程序;
当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行,使得所述至少一个处理器实现权利要求1-8任一项所述方法。10.一种计算机可读存储介质,其中存储有处理器可执行的程序,其特征在于,所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行如权利要求1-8任一项所述方法。

技术总结
本发明公开了一种激光三角测量系统标定方法、装置及介质,激光三角测量系统包括激光发射器、相机以及上位机,测量方法包括以下步骤:激光发射器发射激光到被测物体表面;相机采集由被测物体表面反射的激光,获得光斑图像;获取光斑图像中光斑的坐标位置,根据坐标位置和预设的映射关系获取被测物体表面的移动距离;其中,所述映射关系通过对激光三角测量系统进行标定获得。本发明通过激光发射器、相机以及上位机组装一个简单的激光三角测量系统,可以在不同的场合下使用,且可以随时调整系统参数,适用性广、成本低。本发明可广泛应用于激光测量技术领域。用于激光测量技术领域。用于激光测量技术领域。


技术研发人员:王丹丹 张勇
受保护的技术使用者:华南理工大学
技术研发日:2022.03.04
技术公布日:2022/7/9
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