通过测量电阻率来测量污垢量的装置、方法、系统和套件与流程

1.本发明总体上涉及测量污垢量。


背景技术：

2.在清洁设施中的物体时，清洁工人通常会自觉或不自觉地评估各种物体的清洁度。这样做是为了确定设施中的哪些物体最脏且最需要清洁，已清洁的物体是足够干净还是需要更多清洁，未清洁的物体是否足够干净且不需要清洁等。评估清洁度可能会提高清洁过程的质量。当将更多的清洁时间花在最脏的物体上而不是浪费在已经干净的物体上时，整体清洁设施的质量可能很高。当仅在需要时清洁设施或设施中的物体时，需要分配给设施的清洁时间就较少，就更具成本效益的清洁过程而言，质量也可能很高。
3.迄今为止，评估清洁度最常用的方法是目视观察，即用眼睛观察物体。根据物体上有机残留物的量来评估清洁度的方法是atp方法。atp是在生物细胞中发现的一种分子，并且在atp方法中，对来自物体表面的样品进行化学处理以检测atp的存在。评估清洁度的另一种方法是uv照明，其中，用uv光照射表面以诱导某些类型的污垢(例如血液、尿液、唾液等)发出荧光。
4.尽管这些评估方法有效，但仍有改进污垢量测量方式的空间。


技术实现要素：

5.本发明的一个目的是提供用于测量污垢量的改进手段。本发明的另一个目的是提供用于测量污垢量的准确、通用、快速且廉价的手段。
6.至少部分地通过独立权利要求中限定的发明来实现本发明的这些和其他目的。在从属权利要求中阐述了优选实施例。
7.根据本发明的第一方面，提供了一种用于测量污垢量的装置，该装置包括：
8.接收器，该接收器被配置为接收样品收集器，该样品收集器具有前表面和后表面，其中，污垢样品附着到该样品收集器的前表面；
9.第一接触件，该第一接触件被配置为放置成在第一接触点处与所接收的样品收集器的前表面接触，以及第二接触件，该第二接触件被配置为放置成在第二接触点处与所接收的样品收集器的前表面接触，该第一接触件和该第二接触件是导电的；
10.导电表面；
11.对准器，该对准器被配置为将该导电表面定位成与所接收的样品收集器的后表面接触，其中，当该导电表面被该对准器定位时：
12.该导电表面的第一部分被放置成在与该前表面上的第一接触点横向的点处与该样品收集器的后表面接触；并且
13.该导电表面的第二部分被放置成在与该前表面上的第二接触点横向的点处与该样品收集器的后表面接触；该装置进一步包括
14.电阻计，该电阻计被配置为测量该第一接触件与该第二接触件之间的电阻，
15.其中，当该第一接触件和该第二接触件被放置成与该前表面接触并且该导电表面被放置成与该后表面接触时，在该第一接触件与该第二接触件之间所测量的电阻表示该污垢样品的污垢量，所表示的污垢量位于该样品收集器的前表面上、在该第一接触件与该第二接触件之间。
16.根据本发明的构思，可以从例如桌子、地板或架子等物体上获取污垢样品。这可以例如通过将样品收集器扫过物体的表面、同时使样品收集器的前表面面向物体来完成。然后，可以将样品收集器上的污垢量测量视为表示表面的脏污程度。在本文中应当理解，为了实现准确的测量，样品的收集可以被标准化，例如，样品收集器在每次测量时扫过一定距离。每次测量时也可以使用新的或清洁的样品收集器。
17.应当理解，样品收集器可以是微纤维布。将该装置配置为接收微纤维布作为样品收集器的优点是容易将该装置结合到清洁过程中。大多数清洁工人都带有微纤维布，并且用于获取污垢样品的微纤维布也可以用于在测量完成后继续清洁。在下文中，将主要在样品收集器是微纤维布的情况下描述本发明。然而，应当理解，也可以使用其他样品收集器，例如具有微纤维表面的刚性样品收集器。应当理解，样品收集器的正面和背面可以指样品收集器的相反两面，例如微纤维布的相反两面。
18.根据第一方面的装置的优点是它提供了对污垢量的准确测量。本发明的认识是表面上的污垢可以改变表面的表面电阻率。例如，微纤维布可能使用静电来收集污垢，而静电量可能与收集的污垢量成反比。静电可能与所讨论的系统的电阻率成比例。当表面脏从而使得电阻降低时，表面可以更容易传导电流。污垢因此可以在样品收集器的表面上形成导电路径。如本领域技术人员容易理解的，通过测量表面上的两个接触件之间的电阻，可以基于电阻和接触件尺寸和间距来估计表面电阻率。因此，根据本发明的构思，样品收集器的表面上的电阻测量可以用于测量位于样品收集器上、在第一接触件与第二接触件之间的污垢量。然后，该值可能与获取样品时物体的脏污程度有关。本发明的另一认识是，用于污垢估计的电阻测量可能受到与样品收集器有关的其他导电路径的影响，例如通过样品收集器的导电路径、或在样品收集器的除前表面之外的其他表面上的导电路径。
19.发明人已经发现，将导电表面定位在样品收集器的后表面上可以提高准确性。当导电表面被定位在后表面上时，电阻读数可以变得更稳定和/或更可再现。在没有导电表面的电阻测量期间，电流可以沿着样品收集器的前表面从一个接触件流向另一个接触件，该电流路径可以用于测量污垢量。然而，电流也可以流过其中一个接触件、通过样品收集器、沿着样品收集器的背面、并再次通过样品收集器到达另一个接触件。使用导电表面将该电流路径短路可以改善测量。导电表面也可能在后表面重新分配电荷。导电表面也可能降低第一接触件与第二接触件之间的总电阻，从而将电阻改变到电阻计更准确的范围内。
20.应当理解，样品收集器的后表面上与前表面上的第一接触点横向的点可以被定义为后表面上由向量指示的点，该向量从第一接触点开始、沿在第一接触点处与前表面垂直的方向穿过样品收集器、并在后表面终止。应当理解，样品收集器的后表面上与前表面上的第二接触点横向的点可以类似地定义。
21.通过确保接触件与样品收集器之间的至少一个接触点在样品收集器的横向侧具有对应的接触点，可以确保该接触件与导电表面之间的短路电流路径。这可以降低电流流过样品的电阻，从而可以提高测量的准确性。其还可以确保导电表面至少部分地与样品收
集器横向侧的第一接触件和第二接触件重叠。这可以确保样品收集器背面的对应低电阻电流路径，其中，该电流路径可以或可以不与样品收集器的后表面接触。这样的电流路径可以帮助将背面电流路径短路和/或在后表面重新分配电荷。
22.根据第一方面的装置的另一优点是它提供了对污垢量的通用测量。电阻可能会受到样品收集器上的有机污垢和无机污垢二者的影响。因此，该装置可以用于测量有机污垢和无机污垢二者。此外，与例如目视检查或uv光相比，该测量可以是定量的。
23.根据第一方面的装置的另一优点是它提供了对污垢量的快速测量。电阻测量可能比例如化学方法更快，化学方法依赖于反应有时间进行。该装置也可以足够简单以供不熟练的人使用。样品可能不需要发送到遥远的实验室或测量设施，这样可以节省时间。
24.根据第一方面的装置的另一优点是它提供了对污垢量的廉价测量。该装置可以由标准电气部件制成，使其制造成本低廉。
25.应当理解，接收器可以被配置为使得样品收集器被接收在第一接触件和第二接触件的顶部，接收器可以例如包括第一接触件和第二接触件以及位于第一接触件与第二接触件之间的区域。接收器还可以被配置为使得样品收集器被接收在导电表面的顶部，接收器可以例如是导电表面。
26.应当理解，污垢样品可以静电方式(例如通过静电)附着到样品收集器的前表面。
27.应当理解，第一接触件可以具有与前表面的最小接触面积，例如0.5cm2、1cm2或5cm2的最小接触面积。第二接触件也可以具有与前表面的最小接触面积，例如0.5cm2、1cm2或5cm2的最小接触面积。第一接触件和第二接触件可以具有最小间隔距离，该最小间隔距离例如为0.5cm、1cm或5cm。第一接触件和第二接触件可以彼此平行。第一接触件和第二接触件在与这些接触件之间的间隔方向正交的方向上可以具有相同的长度。该长度可以具有例如1cm、2cm或5cm的最小值。这些接触件之间的测量面积(例如由两个平行接触件的长度乘以这些接触件之间的间隔距离来定义)可以具有例如0.5cm2、5cm2或20cm2的最小面积。这种接触件测量可能特别适用于对污垢的电阻测量。
28.应当理解，第一接触件和第二接触件的形状可以适形于导电表面的形状。导电表面可以例如形成凸表面(例如球形凸面)，与悬挂在凸表面上方的微纤维布的背面接合。当第一接触件和第二接触件与悬挂的微纤维布的正面接合时，则这两个接触件可以具有适形于凸表面的凹面形状。
29.应当理解，对准器可以是该装置的机械布置，该机械布置将导电表面移动成与所接收的样品收集器的后表面接触，同时确保导电表面相对于第一接触件和第二接触件定位。还应当理解，对准器可以是该装置的机械布置，该机械布置将第一接触件和第二接触件移动成与所接收的样品收集器的前表面电接触，同时确保第一接触件和第二接触件相对于导电表面正确地定位。
30.还应当理解，对准器可以是眼睛的引导件或用户触摸的引导件，该引导件确保第一接触件和第二接触件、样品收集器和导电表面相对于彼此正确地定位。例如，第一接触件和第二接触件可以定位在板上，样品收集器可以被放置在该板上、在第一接触件和第二接触件上方。然后，固持器可以包括与导电表面的一个或多个边缘或导电表面的承载件相对应的呈线或台肩形式的一个或多个引导件。也可以勾勒出导电表面或承载件的整个周边。因此，当根据一个或多个引导件将导电表面放置在样品固持器的顶部时，导电表面可以相
对于下面的接触件正确地定位，即使这些接触件可能不可见。
31.应当理解，电阻计可以是例如欧姆计。还应当理解，电阻计与第一接触件和第二接触件一起可以形成电阻率计。表面电阻率例如可以是电阻乘以接触件的长度再除以接触件之间的间隔距离。
32.根据本发明的构思，对准器可以包括：
33.前部部分，该第一接触件和该第二接触件附接到该前部部分；
34.后部部分，该导电表面附接到该后部部分；
35.铰链，该铰链将该前部部分与该后部部分机械连接，其中，该铰链允许该前部部分相对于该后部部分旋转运动，该铰链具有
36.该接收器自由地接收该样品收集器的旋转打开位置，以及
37.该导电表面与所接收的样品收集器的后表面接触的旋转闭合位置；
38.其中，该前部部分、该后部部分和该铰链被配置为当该铰链处于该旋转闭合位置时将该导电表面定位成与所接收的样品收集器的后表面接触。
39.带有这样的对准器的装置是对用户友好的。该装置可以被构造为一个单一的单元。将导电表面与第一接触件和第二接触件对准可以用最少的思想努力来完成。将导电表面与第一接触件和第二接触件对准可以用单手运动来完成。带有这样的对准器的装置是准确的。将导电表面的运动限制为单次旋转运动可能几乎没有出错的余地。
40.应当理解，前部部分、后部部分或铰链的至少一部分可以是电绝缘的。这可以防止在接触件之间存在绕过样品收集器的电流路径。
41.铰链和导电表面可以定位在包括第一接触件和第二接触件的平面的相反侧。因此，旋转运动的枢轴点和导电表面可以定位在包括第一接触件和第二接触件的平面的相反侧。这可能是有利的，因为它可以有助于导电表面移动成与所接收的样品收集器的后表面接触，而无需相对于第一接触件和第二接触件移动所接收的样品收集器。
42.根据本发明的构思，该导电表面和该对准器可以被配置为使得当该导电表面被该对准器定位时，样品收集器/导电表面界面(sc/ecs界面)涵盖：
43.样品收集器/第一接触件界面(sc/1c界面)的横向表示；以及
44.样品收集器/第二接触件界面(sc/2c界面)的横向表示；
45.其中：
46.该sc/ecs界面表示所接收的样品收集器的后表面与该导电表面之间接触的界面；
47.该sc/1c界面表示所接收的样品收集器的前表面与该第一接触件之间接触的界面，该sc/1c界面的横向表示是该后表面上的区域，该区域由该sc/1c界面从该前表面到该后表面的横向平移限定；
48.该sc/2c界面表示所接收的样品收集器的前表面与该第二接触件之间接触的界面，该sc/2c界面的横向表示是该后表面上的区域，该区域由该sc/2c界面从该前表面到该后表面的横向平移限定。
49.实验表明，带有这样的对准器的装置是准确的。这可能是，通过确保前表面的sc/1c界面和sc/2c界面在后表面的样品收集器与导电表面之间具有对应的界面，可以确保对于接触件接触样品收集器的所有点都存在通过样品收集器的短路电流路径。这可以降低电流流过样品的电阻，从而可以提高测量的准确性。其还可以确保导电表面完全与样品收集
器横向侧的第一接触件和第二接触件重叠。这可以确保样品收集器背面的对应低电阻电流路径，其中，在第一接触件与第二接触件之间的每个点处，该电流路径可以或可以不与样品收集器的后表面接触。这样的电流路径可以帮助将背面电流路径短路和/或在后表面重新分配电荷。
50.应当理解，sc/1c界面从前表面到后表面的横向平移可以被定义为前表面的sc/1c界面的每个点从前表面沿着前表面在所述点的法线平移、通过样品收集器、到达后表面上的对应点，其中，后表面上的所有对应点构成sc/1c界面的横向表示。sc/2c界面从前表面到后表面的横向平移可以类似地定义。
51.该导电表面和该对准器可以进一步被配置为使得当该导电表面被该对准器定位时，该样品收集器/导电表面界面(sc/ecs界面)另外涵盖：
52.样品测量区域的横向表示；
53.其中，该样品测量区域是该样品收集器的前表面上的区域，该区域在该第一接触件与该第二接触件之间延伸，该样品测量区域的横向表示是该后表面上的区域，该后表面上的区域由该样品测量区域从该前表面到该后表面的横向平移限定。
54.实验表明，带有这样的对准器的装置是准确的。这可能是，使sc/ecs界面另外涵盖样品测量区域的横向表示确保了位于第一接触件与第二接触件之间的后表面区域上的任何点处的电荷可以有效地重新分配到接触件顶部的点。电荷随后可以移动一小段距离通过样品收集器，以到达接触件。
55.应当理解，样品测量区域的横向表示可以被定义为样品测量区域的每个点沿着前表面在所述点的法线平移、通过样品收集器、到达后表面上的对应点，其中，后表面上的所有对应点构成样品测量区域的横向表示。
56.根据本发明的构思，该装置可以进一步包括
57.接触压力控制器，该接触压力控制器被配置为设置当该第一接触件和该第二接触件被放置成与该前表面接触并且该导电表面被放置成与该后表面接触时，由该导电表面以及由该第一接触件和该第二接触件中的至少一个接触件施加在该样品收集器上的压力。
58.包括接触压力控制器的装置是准确的。由导电表面和接触件施加在样品收集器上的压力可能会影响从接触件、通过样品收集器、到导电表面的电流路径的电阻。例如，当样品收集器夹在导电表面与接触件之间时，所施加的压力可能会影响样品收集器被压缩的程度，这进而会影响电阻。因此，将压力设置为从一次测量到另一次测量均相同可以提高测量的可再现性。
59.应当理解，接触压力控制器可以是设置接触件与导电表面之间的最小距离的间隔件。该间隔件可以例如是在对准器的前部部分或后部部分上的限制旋转运动的间隔件。还应当理解，压力控制器可以是测量和设置压力的有源装置。
60.应当理解，导电表面可以是浮动导体。因此，导电表面的电位可以是电浮动的，使得导电表面与地电断开并且与电源电断开。这可以确保从第一接触件的所有电流路径都通向第二接触件，反之亦然。这可以确保准确的测量。
61.应当理解，该装置的表面(即，从第一接触件到达第二接触件的表面)可以是电浮动的。因此，从第一接触件到达第二接触件的表面可以与地电断开并且与电源电断开。这可以确保从第一接触件的所有电流路径都通向第二接触件，反之亦然。这可以确保准确的测
量。
62.应当理解，样品收集器可以是微纤维布。因此，根据本明的一个方面，提供了一种用于测量微纤维布上的污垢量的装置，该装置包括：
63.接收器，该接收器被配置为接收样品收集器，该样品收集器是微纤维布，该样品收集器具有前表面和后表面，其中，污垢样品附着到该样品收集器的前表面；
64.第一接触件，该第一接触件被配置为放置成在第一接触点处与所接收的样品收集器的前表面接触，以及第二接触件，该第二接触件被配置为放置成在第二接触点处与所接收的样品收集器的前表面接触，该第一接触件和该第二接触件是导电的；
65.导电表面；
66.对准器，该对准器被配置为将该导电表面定位成与所接收的样品收集器的后表面接触，其中，当该导电表面被该对准器定位时：
67.该导电表面的第一部分被放置成在与该前表面上的第一接触点横向的点处与该样品收集器的后表面接触；并且
68.该导电表面的第二部分被放置成在与该前表面上的第二接触点横向的点处与该样品收集器的后表面接触；该装置进一步包括
69.电阻计，该电阻计被配置为测量该第一接触件与该第二接触件之间的电阻，
70.其中，当该第一接触件和该第二接触件被放置成与该前表面接触并且该导电表面被放置成与该后表面接触时，在该第一接触件与该第二接触件之间所测量的电阻表示该污垢样品的污垢量，所表示的污垢量位于该样品收集器的前表面上、在该第一接触件与该第二接触件之间。
71.根据本发明的第二方面，提供了一种用于测量污垢量的系统，该系统包括：
72.根据本发明的第一方面的装置；
73.存储器，该存储器被配置为存储测量的电阻与位于该样品收集器的前表面上、在该第一接触件与该第二接触件之间的污垢量之间的关系；
74.处理器，该处理器被配置为：
75.从该电阻计接收该测量的电阻；
76.从该存储器接收该关系；并且
77.使用该测量的电阻和该关系来计算该污垢量。
78.该第二方面的效果和特征大体上类似于以上结合第一方面描述的那些。关于第一方面提到的实施例大体上与第二方面相容。
79.另一个优点是该系统易于使用。虽然电阻可能与污垢量成反比，但该系统可以计算出与污垢量成正比的值。
80.应当理解，存储器和/或处理器可以位于该装置中或另一装置中，例如位于手机或服务器中。
81.应当理解，该关系可以是针对不同污垢量测量的一组校准值。还应当理解，该关系可以是关于电阻如何随污垢量而变化的经验或理论模型。
82.根据本发明的第三方面，提供了一种用于测量污垢量的方法，该方法包括：
83.接收样品收集器，该样品收集器具有前表面和后表面，其中，污垢样品附着到该样品收集器的前表面；
84.将该第一接触件放置成在第一接触点处与所接收的样品收集器的前表面接触，并且将第二接触件放置成在第二接触点处与所接收的样品收集器的前表面接触；
85.将该导电表面定位成与所接收的样品收集器的后表面接触，其中，当该导电表面被定位时：
86.该导电表面的第一部分被放置成在与该前表面上的第一接触点横向的点处与该样品收集器的后表面接触；并且
87.该导电表面的第二部分被放置成在与该前表面上的第二接触点横向的点处与该样品收集器的后表面接触；该方法进一步包括
88.测量该第一接触件与该第二接触件之间的电阻，
89.其中，当该第一接触件和该第二接触件被放置成与该前表面接触并且该导电表面被定位成与该后表面接触时，在该第一接触件与该第二接触件之间所测量的电阻表示该污垢样品的污垢量，所表示的污垢量位于该样品收集器的前表面上、在该第一接触件与该第二接触件之间。
90.该第三方面的效果和特征大体上类似于以上结合第一方面描述的那些。关于第一方面提到的实施例大体上与第二方面相容。
91.根据本发明的第三方面的方法，该导电表面可以被定位成使得样品收集器/导电表面界面(sc/ecs界面)涵盖：
92.样品收集器/第一接触件界面(sc/1c界面)的横向表示；以及
93.样品收集器/第二接触件界面(sc/2c界面)的横向表示；
94.其中：
95.该sc/ecs界面表示所接收的样品收集器的后表面与该导电表面之间接触的界面；
96.该sc/1c界面表示所接收的样品收集器的前表面与该第一接触件之间接触的界面，该sc/1c界面的横向表示是该后表面上的区域，该区域由该sc/1c界面从该前表面到该后表面的横向平移限定；
97.该sc/2c界面表示所接收的样品收集器的前表面与该第二接触件之间接触的界面，该sc/2c界面的横向表示是该后表面上的区域，该区域由该sc/2c界面从该前表面到该后表面的横向平移限定。
98.根据本发明的第三方面的方法，该导电表面可以被定位成使得该样品收集器/导电表面界面(sc/ecs界面)另外涵盖：
99.样品测量区域的横向表示；
100.其中，该样品测量区域是该样品收集器的前表面上的区域，该区域在该第一接触件与该第二接触件之间延伸，该样品测量区域的横向表示是该后表面上的区域，该后表面上的区域由该样品测量区域从该前表面到该后表面的横向平移限定。
101.本发明的第三方面的方法可以进一步包括：
102.控制接触压力，以设置当该第一接触件和该第二接触件被放置成与该前表面接触并且该导电表面被放置成与该后表面接触时，由该导电表面以及由该第一接触件和该第二接触件中的至少一个接触件施加在该样品收集器上的压力。
103.本发明的第三方面的方法可以进一步包括：
104.从该电阻计接收测量的电阻；
105.接收测量的电阻与位于该样品收集器的前表面上、在该第一接触件与该第二接触件之间的污垢量之间的关系；
106.使用该测量的电阻和该关系来计算该污垢量。
107.如之前所提及的，样品收集器可以是微纤维布。因此，根据本发明的一个方面，提供了一种用于测量微纤维布上的污垢量的方法，该方法包括：
108.接收样品收集器，该样品收集器是微纤维布，该样品收集器具有前表面和后表面，其中，污垢样品附着到该样品收集器的前表面；
109.将该第一接触件放置成在第一接触点处与所接收的样品收集器的前表面接触，并且将第二接触件放置成在第二接触点处与所接收的样品收集器的前表面接触；
110.将该导电表面定位成与所接收的样品收集器的后表面接触，其中，当该导电表面被定位时：
111.该导电表面的第一部分被放置成在与该前表面上的第一接触点横向的点处与该样品收集器的后表面接触；并且
112.该导电表面的第二部分被放置成在与该前表面上的第二接触点横向的点处与该样品收集器的后表面接触；该方法进一步包括
113.测量该第一接触件与该第二接触件之间的电阻，
114.其中，当该第一接触件和该第二接触件被放置成与该前表面接触并且该导电表面被定位成与该后表面接触时，在该第一接触件与该第二接触件之间所测量的电阻表示该污垢样品的污垢量，所表示的污垢量位于该样品收集器的前表面上、在该第一接触件与该第二接触件之间。
115.根据本发明的第四方面，提供了一种部件套件，该部件套件包括：
116.样品收集器，该样品收集器包括前表面和后表面，该样品收集器被配置为在用该样品收集器的前表面擦拭物体时从该物体收集污垢样品，该样品收集器具有一个或多个电阻性质；以及
117.根据本发明的第二方面的系统，
118.其中，存储在该系统的存储器中的关系，即测量的电阻与位于该样品收集器的前表面上、在该第一接触件与该第二接触件之间的污垢量之间的关系，包括该样品收集器的至少一个电阻性质。
119.该第四方面的效果和特征大体上类似于以上结合第一方面、第二方面和第三方面描述的那些。关于第一方面提到的实施例总体上与第一方面、第二方面和第三方面相容。
120.该部件套件提供了对污垢量的准确测量。不同类型的样品收集器(例如不同制造商生产的微纤维布)可能具有不同的电阻性质。因此，一个样品收集器上的电阻测量可能会给出一个结果，而另一个样品收集器上的电阻测量可能会给出另一个结果，即使这两个样品收集器包含相同的污垢量。使用与存储在存储器中的关系相匹配的样品收集器可以确保正确地测量污垢量。
121.应当理解，电阻性质可以是例如校准数据集，该校准数据集与根据样品收集器在两个或更多个脏污水平下的测量所预期的电阻有关。该校准数据集可以通过样品收集器或同等样品收集器在两个或更多个脏污水平下的校准测量来获取。该校准数据集可以利用用于测量的装置或同等装置来获取。然后可以将测量的电阻与该校准数据集中的两个或更多
个数据点进行比较，并且可以例如通过从该两个或更多个数据点进行内插或外推来计算由该测量的电阻表示的污垢量。应当理解，该校准数据集可能不一定是测量的。它可以例如从头开始计算或从另一校准数据集计算。例如，一定厚度的微纤维布的校准数据集可以用于计算由相同材料制成但例如厚度为两倍的另一微纤维布的校准数据集。
122.还应当理解，电阻性质可以是例如干净样品收集器的表面电阻率或体积电阻率的测量值或估计值。
123.应当理解，本发明的构思还涵盖一种部件套件，该部件套件包括：
124.样品收集器，该样品收集器包括前表面和后表面，该样品收集器被配置为在用该样品收集器的前表面擦拭物体时从该物体收集污垢样品，该样品收集器具有一个或多个电阻性质；以及
125.根据本发明的第一方面的装置。
126.根据本发明的构思，该部件套件的样品收集器可以是微纤维布。
127.这样的部件套件可以提供准确的测量。微纤维布可能利用静电来聚集污垢，静电量可能与收集的污垢量成反比，静电可能与测量的电阻成正比。
128.这样的部件套件还很廉价。微纤维布的生产成本可能很低。它们也可以由大多数专业清洁工人携带和使用。
129.根据本发明的构思，该微纤维布每平方米的重量可以低于阈值，该阈值为每平方米600克。
130.每平方米重量较低的微纤维布可以确保在第一接触件与导电表面之间几乎没有微纤维材料。这可能导致通过微纤维布的电流路径的电阻较低，这进而可以提高测量的准确性。
131.应当理解，也可以使用其他阈值，例如每平方米400克、或每平方米250克。
132.该部件套件可以进一步包括块体，其中，该块体被构造为在平坦表面上接收该微纤维布，使得当该块体的平坦表面在该物体的平坦表面上擦拭时，该微纤维布被压在该块体的平坦表面与该物体的平坦表面之间。
133.这可以确保污垢样品均匀地分布在微纤维布上。这可以提高测量的准确性和可再现性。
附图说明
134.通过参照附图进行的以下说明性且非限制性的详细描述，将更好地理解本发明构思的以上及附加的目的、特征和优点。在附图中，除非另有说明，否则相同的附图标记将用于相同的元件。
135.图1展示了样品收集器
136.图2展示了微纤维布
137.图3展示了微纤维布和块体
138.图4是装置的立体图
139.图5是装置的立体图
140.图6是带有所接收的微纤维布的装置的立体图
141.图7是装置的后视图
142.图8是装置的侧视图
143.图9展示了系统
144.图10展示了系统
145.图11是方法100的流程图
具体实施方式
146.结合附图，下文根据优选实施例对本发明的技术内容及具体实施方式进行描述，并不用于限制所要求保护的范围。本发明可以以许多不同的形式实施并且不应被解释为受限于本文所阐述的实施例；而是，这些实施例被提供用于获得彻底性和完整性、并且向技术人员充分地传达本发明的范围。
147.图1展示了呈微纤维布40’形式的样品收集器40。微纤维布40’具有前表面42和后表面44。污垢50被收集在微纤维布40’的前表面上。
148.图2和图3展示了微纤维布40’在物体52(图示中的物体是桌子)的表面上擦拭，以便收集污垢样品。在擦拭期间，微纤维布40’的前表面42面向要评估的物体表面。
149.在图3中，在收集污垢样品时使用块体46。在图示中，块体46在此是长方体，并且微纤维布40’包裹在所述长方体周围。
150.图4和图5是用于测量污垢50量的装置1的立体图。所展示的装置1包括第一接触件11、第二接触件12和导电表面14。所展示的装置具有平坦的导电表面14。所展示的装置1进一步包括对准器20，该对准器具有前部部分22、后部部分24和铰链26。在所展示的装置1中，前部部分22固持电子部件，比如电阻计30。电阻计30电连接到第一接触件11和第二接触件12，使得它可以测量所述接触件之间的电阻。在所展示的装置1中，后部部分24包括将导电表面14连接到铰链26的两个电绝缘臂。
151.所展示的装置1具有用于接收微纤维布40’的接收器2。接收器2在此是前部部分22上的平坦区域，其中，该平坦区域包括第一接触件11和第二接触件12。第一接触件11和第二接触件12可以从平坦区域略微突出。然而，在一些实施例中，这些接触件可以不突出。
152.图4展示了当对准器20的铰链26处于旋转打开位置时的装置，而图5展示了当对准器20的铰链26处于旋转闭合位置时的装置。在旋转打开位置，接收器2自由地接收微纤维布40’。在此，微纤维布40’可以在其被放置在接收器2上时被接收，覆盖第一接触件11和第二接触件12，同时微纤维布40’的前表面42面向第一接触件11和第二接触件12。当铰链26处于旋转闭合位置时，导电表面14被移动成紧靠第一接触件11和第二接触件12。
153.图6展示了装置1，该装置已经接收了微纤维布40’，并且其中，通过将铰链26置于旋转闭合位置，导电表面14已经与第一接触件11和第二接触件12对准。在该位置，微纤维布40’夹在接收器2与导电表面14之间。在图示中，第一接触件11和第二接触件12与微纤维布40’的前表面42完全接触。微纤维布前表面42的位于第一接触件11与第二接触件12之间的部分(即，具有与接触件间隔相对应的宽度以及与接触件长度相对应的长度的区域)限定了测量区域。测量区域上的污垢50可能会影响测量。因此，该测量可以表示该测量区域中的污垢50量。第一接触件11与微纤维布40’之间的界面、第二接触件12与微纤维布40’之间的界面以及测量区域表示用于表面电阻率测量的感兴趣表面。如果该感兴趣表面沿着微纤维布40’的法线平移、该平移是从前表面到后表面，则形成该感兴趣表面的横向表示。后表面44
上在该感兴趣表面的横向表示内的电荷或电流可能会影响测量。在图示中，导电表面14通过在该整个区域内形成与微纤维布后表面44的界面(即，在该整个区域内接触微纤维布后表面44)来涵盖该感兴趣表面的横向表示。
154.图7是装置1的后视图，而图8是装置1的侧视图。图8的插图关于第二接触件12展示了导电表面14的特写视图。在上面的一些图(例如图6和图8)中，装置1包括呈间隔件形式的接触压力控制器60，该间隔件设置接触件与导电表面14之间的最小距离。该最小距离可以小于所使用的微纤维布40’的厚度，使得微纤维布40’被压缩到预定厚度。然而，应当理解，该装置也可以在没有接触压力控制器60的情况下起作用。
155.图9展示了呈具有存储器70和处理器72的装置1的形式的系统90。处理器可以从电阻计接收测量的电阻并从存储器接收关系，其中，该关系定义测量的电阻如何取决于位于样品收集器的前表面上、在第一接触件与第二接触件之间的污垢量。处理器随后可以使用该测量的电阻和该关系来计算污垢量。
156.图10展示了包括装置1、存储器70和处理器72的系统90。存储器70和处理器72在此位于外部装置中，例如，服务器或如所展示的移动电话。该装置可以例如通过无线通信与处理器72和/或存储器通信。
157.图11是用于测量污垢50量的方法100的流程图。该方法包括步骤s102、s104、s106和可选步骤s108、s110、s12、s114。方法100的步骤不一定需要按以下顺序执行。根据方法100，接收s102样品收集器40。样品收集器40可以例如由装置1接收s102，其中前表面42面向第一接触件11和第二接触件12。根据方法100，将第一接触件11和第二接触件12放置s104成与所接收的样品收集器40的前表面42接触。这可以例如通过将样品收集器40搁置在第一接触件11和第二接触件12上或者将样品收集器40压靠在第一接触件11和第二接触件12上来完成。导电表面14例如通过将其与第一接触件11和第二接触件12对准而被定位s106。与第一接触件11对准可以例如通过以下方式来完成：确保导电表面14搁置或压靠在后表面44上，使得在第一接触件11压靠在样品收集器40上的一个位置处导电表面14同时在样品收集器40的横向侧压靠在样品收集器40上。与第二接触件12对准可以例如通过以下方式来完成：确保导电表面14搁置或压靠在后表面44上，使得在第二接触件12压靠在样品收集器上的一个位置处导电表面14同时在样品收集器40的横向侧压靠在样品收集器40上。
158.除了上述步骤之外，方法100可以可选地包括以下步骤。可以控制s108接触压力，例如通过设置导电表面14与第一接触件11和/或第二接触件12之间的距离。还可以接收s110测量的电阻。还可以接收s112关系，其中，该关系是测量的电阻与位于样品收集器40的前表面42上、在第一接触件11与第二接触件12之间的污垢50量之间的关系。可以例如在处理器72中通过将测量的电阻与该关系进行比较来计算s114污垢50量。
159.在上文中，已经主要参考有限数量的示例描述了本发明的构思。然而，如本领域技术人员容易理解的，在由所附权利要求限定的本发明构思的范围内，除以上披露的示例之外的其他示例同样是可能的。