电芯电压测试方法和存储介质及测试设备与流程

1.本发明涉及电芯电压测试技术领域，尤其涉及一种电芯电压测试方法、一种计算机可读存储介质和一种测试设备。


背景技术：

2.目前，现阶段的模组组装线通常是由生产人员在开班和收班之间，采用master装置对电压，绝缘仪器等进行手动校准，如果仪器校准合格后，则继续当班生产，如果仪器校准失效，则对当班仪器生产的产品隔离，以在仪器重新验证合格后，重新进行返工。
3.然而，现阶段模组组装线对测量仪器的校准还停留在人工检测阶段，测试时间也只能是某个时间点，导致生产效率低下，且耗费大量人力物力。


技术实现要素：

4.本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提出一种，能够综合第一测试数据与第二测试数据确定待测电芯是否合格，提高电芯电压测试精度，同时，实现待测电芯的自动化测试，提升测试效率。
5.本发明的二个目的在于提出一种计算机可读存储介质。
6.本发明的三个目的在于提出一种测试设备。
7.为达到上述目的，本发明第一方面实施例的电芯电压测试方法，包括：在对测试设备完成标准电压校准后，获取测试模式指令；确定所述测试模式指令为慢速检测模式指令时，获取待测电芯的标识信息，并对所述待测电芯进行plc测试，以及对plc测试结果判定通过后生成第一测试数据；对所述待测电芯进行仪器测试，以及根据仪器测试结果对所述测试设备进行精度校验通过后生成第二测试数据；基于所述待测电芯的标识信息，对同一待测电芯的第一测试数据和第二测试数据进行比较，并根据比较结果确定所述待测电芯是否合格。
8.根据本发明实施例的电芯电压测试方法，在对测试设备完成标准电压校准后，获取测试模式指令，确定测试模式指令为慢速检测模式指令时，获取待测电芯的标识信息，并对待测电芯进行plc测试，以及对plc测试结果判定通过后生成第一测试数据，并对待测电芯进行仪器测试，以及根据仪器测试结果对测试设备进行精度校验通过后生成第二测试数据，进而，基于待测电芯的标识信息，对同一待测电芯的第一测试数据和第二测试数据进行比较，并根据比较结果确定待测电芯是否合格。由此，综合第一测试数据与第二测试数据确定待测电芯是否合格，提高电芯电压测试精度，同时，实现待测电芯的自动化测试，提升测试效率。
9.另外，根据本发明上述实施例的电芯电压测试方法，还可以具有如下的附加技术特征：
10.根据本发明的一个实施例，所述第一测试数据和所述第二测试数据均包括所述待测电芯的开路电压测试值和内阻测试值。
11.根据本发明的一个实施例，根据比较结果确定所述待测电芯是否合格，包括：判断所述第一测试数据中的开路电压测试值与所述第二测试数据中的开路电压测试值之间的电压差值是否处于预设电压阈值范围，并判断所述第一测试数据中的内阻测试值与所述第二测试数据中的内阻测试值之间的内阻差值是否处于预设电阻阈值范围；在确定所述电压差值处于预设电压阈值范围、且所述内阻差值处于预设电阻阈值范围时，确定所述待测电芯合格。
12.根据本发明的一个实施例，在对同一待测电芯的第一测试数据和第二测试数据进行比较之前，还测试所述待测电芯的极性是否正确。
13.根据本发明的一个实施例，所述待测电芯的标识信息为电芯条码。
14.根据本发明的一个实施例，所述待测电芯通过移载装置移动到仿形测试托架上时完成电芯就位，并通过扫码枪扫描所述待测电芯以获取所述电芯条码。
15.根据本发明的一个实施例，对所述测试设备进行标准电压校准，包括：在标准电芯通过移载装置移动到仿形测试托架上时，获取所述标准电芯的标识信息，并对所述标准电芯分别进行plc测试和仪器测试；根据仪器测试结果对所述测试设备进行精度校验，并在校验通过后对plc测试结果进行判定，以及根据判定结果确定所述测试设备是否完成标准电压校准。
16.根据本发明的一个实施例，所述电芯电压测试方法还包括：确定所述测试模式指令为快速检测模式指令时，获取待测电芯的标识信息，并对所述待测电芯进行plc快速测试，以及对plc快速测试结果判定通过后生成第三测试数据；根据所述第三测试数据确定待测电芯是否合格。
17.为达到上述目的，本发明第二方面实施例提出的计算机可读存储介质，其上存储有电芯电压测试程序，该电芯电压测试程序被处理器执行时实现如上所述的电芯电压测试方法。
18.根据本发明实施例的计算机可读存储介质，其上存储的电芯电压测试程序被处理器执行时，能够综合第一测试数据与第二测试数据确定待测电芯是否合格，提高电芯电压测试精度，同时，实现待测电芯的自动化测试，提升测试效率。
19.为达到上述目的，本发明第三方面实施例提出的测试设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的电芯电压测试程序，所述处理器执行所述电芯电压测试程序时，实现如上所述的电芯电压测试方法。
20.根据本发明实施例的测试设备，处理器执行存储在存储器上的电芯电压测试程序时，能够综合第一测试数据与第二测试数据确定待测电芯是否合格，提高电芯电压测试精度，同时，实现待测电芯的自动化测试，提升测试效率。
21.本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
22.图1为根据本发明实施例的电芯电压测试设备的方框示意图；
23.图2为根据本发明实施例的电芯电压测试方法的流程示意图；
24.图3为根据本发明一个实施例的电芯电压测试方法的流程示意图；
25.图4为根据本发明一个实施例的电芯电压测试方法的流程示意图；
26.图5为根据本发明一个实施例的电芯电压测试方法的流程示意图；
27.图6为根据本发明一个具体实施例的电芯电压测试方法的流程示意图。
具体实施方式
28.下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
29.下面参考附图描述本发明实施例的电芯电压测试方法、计算机可读存储介质和测试设备。
30.在介绍本发明实施例的电芯电压测试方法、计算机可读存储介质和测试设备之前，先对本发明实施例采用的电芯电压测试设备进行说明。
31.具体地，如图1所示，电芯电压测试设备可包括校准检测连接装置、标准电芯、校准测试仪器、测试设备plc通信模块、plc控制系统、工控机数据实时采集模块和扫码枪。
32.图2为根据本发明实施例的电芯电压测试方法的流程示意图。
33.如图2所示，电芯电压测试方法，包括：
34.s101，在对测试设备完成标准电压校准后，获取测试模式指令。
35.可选地，测试模式指令可包括快速检测模式指令和慢速检测测试指令，其中，快速检测模式指令对应的测试模式，测试耗时较短，测试精度一般，慢速检测测试模式指令对应的测试模式，测试耗时较长，测试精度较高。
36.s102，确定测试模式指令为慢速检测模式指令时，获取待测电芯的标识信息，并对待测电芯进行plc测试，以及对plc测试结果判定通过后生成第一测试数据。
37.可选地，待测电芯的标识信息为电芯条码，其中，待测电芯通过移载装置移动到仿形测试托架上时完成电芯就位，并通过扫码枪扫描待测电芯以获取电芯条码。
38.另外，第一测试数据包括plc测试下的待测电芯的开路电压测试值和内阻测试值，其中，在生成第一测试数据之后，还将待测电芯的标识信息及其对应的第一测试数据上传至工控机数据实时采集模块，以进行数据整合。
39.s103，对待测电芯进行仪器测试，以及根据仪器测试结果对测试设备进行精度校验通过后生成第二测试数据。
40.可选地，第二测试数据包括仪器测试下的待测电芯的开路电压测试值和内阻测试值，其中，在生成第二测试数据之后，还将待测电芯的标识信息及其对应的第二测试数据上传至工控机数据实时采集模块，以进行数据整合。
41.需要说明的是，工控机在根据待测电芯的标识信息、与标识信息对应的第一测试数据和与标识信息对应的第二测试数据进行数据整合之后，还将整合后的数据上传至mes(生产过程集成系统)，以进行测试数据管理。
42.s104，基于待测电芯的标识信息，对同一待测电芯的第一测试数据和第二测试数据进行比较，并根据比较结果确定待测电芯是否合格。
43.应理解的是，每个待测电芯唯一对应一个标识信息，因此，能够基于待测电芯的标识信息确定同一待测电芯，从而，对同一待测电芯的第一测试数据和第二测试数据进行比
较，并根据比较结果确定待测电芯是否合格，从而，综合第一测试数据与第二测试数据确定待测电芯是否合格，提高电芯电压测试精度，同时，实现待测电芯的自动化测试，提升测试效率。
44.进一步地，如图3所示，根据比较结果确定待测电芯是否合格，包括：
45.s201，判断第一测试数据中的开路电压测试值与第二测试数据中的开路电压测试值之间的电压差值是否处于预设电压阈值范围，并判断第一测试数据中的内阻测试值与第二测试数据中的内阻测试值之间的内阻差值是否处于预设电阻阈值范围。
46.举例而言，假设第一测试数据中的开路电压测试值为v1，内阻测试值为r1，第二测试数据中的开路电压测试值为v2，内阻测试值为r2，则判断|v2-v1|是否处于预设电压阈值范围vs，并判断|r2-r1|是否处于预设电阻阈值范围rs。可选地，预设电压阈值范围vs可根据电芯电压测试的最大电压允许偏差进行相应的设定，例如可优选为vb
±
0.15mv，预设电阻阈值范围rs可根据电芯电压测试的最大电阻允许偏差进行相应的设定，例如可优选为rb
±
0.15mω，其中，vb为电芯测试标准电压，rb为电芯测试标准内阻。
47.s202，在确定电压差值处于预设电压阈值范围、且内阻差值处于预设电阻阈值范围时，确定待测电芯合格。
48.也就是说，在确定电压差值|v2-v1|处于预设电压阈值范围vs、且内阻差值|r2-r1|处于预设电阻阈值范围rs时，可认为电压电芯测试偏差未超出电芯电压测试最大允许偏差，即待测电芯合格。
49.进一步地，在对同一待测电芯的第一测试数据和第二测试数据进行比较之前，还测试待测电芯的极性是否正确。
50.也就是说，在确定待测电芯是否合格之前，还将对待测电芯的极性进行测试。
51.进一步地，如图4所示，对测试设备进行标准电压校准，包括：
52.s301，在标准电芯通过移载装置移动到仿形测试托架上时，获取标准电芯的标识信息，并对标准电芯分别进行plc测试和仪器测试。
53.具体而言，标准电芯通过移载装置移动到仿形测试托架上时完成电芯就位，此时，可通过前述扫码枪扫描标准电芯以获取电芯条码，并对标准电芯分别进行plc测试和仪器测试。
54.s302，根据仪器测试结果对测试设备进行精度校验，并在校验通过后对plc测试结果进行判定，以及根据判定结果确定测试设备是否完成标准电压校准。
55.也就是说，本发明实施例的电芯电压测试方法，先根据仪器测试结果对测试设备进行精度校验，并在确定测试设备的精度正确时，再对plc测试结果进行判定，以及根据判定结果确定测试设备是否完成标准电压校准，从而，同时实现电芯电压测试中标准电压的校准与测试，提升测试效率。
56.进一步地，如图5所示，电芯电压测试方法还包括：
57.s401，确定测试模式指令为快速检测模式指令时，获取待测电芯的标识信息，并对待测电芯进行plc快速测试，以及对plc快速测试结果判定通过后生成第三测试数据。
58.可以理解的是，第三测试数据包括plc快速测试下的待测电芯的开路电压测试值和内阻测试值，其中，在生成第三测试数据之后，还将待测电芯的标识信息及其对应的第三测试数据上传至工控机数据实时采集模块，以进行数据整合。
59.s402，根据第三测试数据确定待测电芯是否合格。
60.具体而言，判断第三测试数据中的开路电压测试值和内阻测试值是否处于电芯电压测试最大允许偏差范围内，若处于，则确定待测电芯合格，反之，确定待测电芯不合格。
61.下面结合附图与本发明的具体实施例，对本发明实施例的电芯电压测试的步骤进行详细的说明，如图6所示，电芯电压测试包括如下步骤：
62.s1，对测试设备完成标准电压校准。
63.s2，获取测试模式指令，若确定为快速测试模式指令，则执行步骤s3；若确定为慢速测试指令，则执行步骤s4。
64.s3，确定为快速检测模式指令，获取待测电芯的标识信息，并对待测电芯进行plc快速测试，以及对plc快速测试结果判定通过后生成第三测试数据，并执行步骤s5。
65.s4，确定测试模式指令为慢速检测模式指令时，获取待测电芯的标识信息，并对待测电芯进行plc测试，以及对plc测试结果判定通过后生成第一测试数据；对待测电芯进行仪器测试，以及根据仪器测试结果对测试设备进行精度校验通过后生成第二测试数据。
66.s5，测试待测电芯的极性是否正确，若是，则执行步骤s6；若否，执行步骤s8。
67.s6，基于待测电芯的标识信息，对同一待测电芯的第一测试数据和第二测试数据进行比较，并根据比较结果确定待测电芯是否合格，或者，根据第三测试数据确定待测电芯是否合格，若是，则执行步骤s6；若否，则执行步骤s7。
68.s7，确定待测电芯合格。
69.s8，确定待测电芯不合格。
70.综上，根据本发明实施例的电芯电压测试方法，在对测试设备完成标准电压校准后，获取测试模式指令，确定测试模式指令为慢速检测模式指令时，获取待测电芯的标识信息，并对待测电芯进行plc测试，以及对plc测试结果判定通过后生成第一测试数据，并对待测电芯进行仪器测试，以及根据仪器测试结果对测试设备进行精度校验通过后生成第二测试数据，进而，基于待测电芯的标识信息，对同一待测电芯的第一测试数据和第二测试数据进行比较，并根据比较结果确定待测电芯是否合格。由此，综合第一测试数据与第二测试数据确定待测电芯是否合格，提高电芯电压测试精度，同时，实现待测电芯的自动化测试，提升测试效率。
71.进一步地，基于前述本发明实施例的电芯电压测试方法，本发明实施例还提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有电芯电压测试程序，该电芯电压测试程序被处理器执行时实现如前述本发明实施例的电芯电压测试方法。
72.需要说明的是，本发明实施例的计算机可读存储介质的具体实施方式与前述本发明实施例的电芯电压测试方法的具体实施方式一一对应，在此不再赘述。
73.综上。根据本发明实施例的计算机可读存储介质，其上存储的电芯电压测试程序被处理器执行时，能够综合第一测试数据与第二测试数据确定待测电芯是否合格，提高电芯电压测试精度，同时，实现待测电芯的自动化测试，提升测试效率。
74.进一步地，基于前述本发明实施例的电芯电压测试方法，本发明实施例还提出了一种测试设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的电芯电压测试程序，处理器执行电芯电压测试程序时，实现如前述本发明实施例的电芯电压测试方法。
75.需要说明的是，本发明实施例的测试设备的具体实施方式与前述本发明实施例的
电芯电压测试方法的具体实施方式一一对应，在此不再赘述。
76.综上，根据本发明实施例的测试设备，处理器执行存储在存储器上的电芯电压测试程序时，能够综合第一测试数据与第二测试数据确定待测电芯是否合格，提高电芯电压测试精度，同时，实现待测电芯的自动化测试，提升测试效率。
77.需要说明的是，在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(ram)，只读存储器(rom)，可擦除可编辑只读存储器(eprom或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(cdrom)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。
78.应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(pga)，现场可编程门阵列(fpga)等。
79.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
80.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
81.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
82.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连
接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
83.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
84.尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。