一种测定金属平均晶粒度的操作方法与流程

1.本发明涉及金属平均晶粒度计算技术领域，尤其涉及一种测定金属平均晶粒度的操作方法。


背景技术：

2.测定金属平均晶粒度的方法有比较法、面积法、截点法。其中，截点法有直线截点法和圆截点法。圆截点法的优点是可不必过多的附加视场数，便能自动补偿偏离等轴晶而引起的误差，克服了试验线段端部截点法不明显的毛病，因此圆截点法作为质量检测评估晶粒度的方法是比较合适的，标准推荐优先使用三圆网格。目前，使用三圆网格测定晶粒度一般是用圆规在晶粒度图片上画三个同心圆的方法来测定金属平均晶粒度，由于铅笔画出的线条粗，网格不清晰，导致测定结果精度低，给晶粒度评定工作带来诸多不便。为此我们提出了一种测定金属平均晶粒度的操作方法。


技术实现要素：

3.本发明的目的是为了解决现有技术中存在测定结果精度低的缺点，而提出的一种测定金属平均晶粒度的操作方法。
4.为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
5.一种测定金属平均晶粒度的操作方法，包括以下步骤：
6.步骤s1：制作电子版三圆网格；
7.步骤s2：将晶粒度图片插入三圆网格图片所在文档，并进行调整；
8.步骤s3：用鼠标左键点击三圆图片移动至晶粒度图片上方，使二者重合；
9.步骤s4：通过计数晶粒边界与电子版三圆网格的截点数，并配合公式并配合公式g＝6.643856lgp
l
—3.288；
[0010][0011][0012][0013][0014][0015]
计算晶粒度级别，
[0016]
其中g为晶体级别数，为平均截点计数，s为截点计数的标准差，m为放大倍数，l为为三圆网格中同心圆的长度之和，95％ci为测量结果的置信区间，％ra为测量结果的相对误差，且当％ra＜10％，则表示测量结果有效，95％cl为g的95％置信区间。
[0017]
优选的，所述电子版三圆网格的制作方法包括以下步骤：
[0018]
步骤a：用绘图软件绘制三个同心圆；
[0019]
步骤b：新建word文档，将三组画好的同心圆图形插入其中，左键点击图片，再点击菜单栏“文字环绕”键，将图片格式设置为“浮于文字上方”[0020]
步骤c：点击菜单栏“剪切”键，去除图片多余的部分，即生成电子版三圆网格。
[0021]
优选的，所述步骤a中，三个同心圆的直径分别是79.58mm、53.05mm、26.53mm。
[0022]
优选的，所述步骤a中，所使用的绘图软件为autocad、adobe photoshop和caxa中的任意一种。
[0023]
优选的，所述步骤c中在“剪切”时需保证使剪切线与最大圆相切，且图片尺寸要与步骤a中最大圆直径相等，即设置为79.58mm。
[0024]
优选的，所述步骤s2中调整图片时，需要使之与原放大倍数相等。
[0025]
优选的，所述步骤s4中，p
l
为晶粒边界与电子版三圆网格的截点数。
[0026]
本发明的有益效果为：
[0027]
通过电子版三圆网格的制作以及使用，替代了现有的圆规画三圆网格的方法，实现了标准要求，保证了测量精度；还具备操作简便，可用于日常生产检验和实验室认可项目的能力验证与测量审核的优点。
附图说明
[0028]
图1为本发明提出的一种测定金属平均晶粒度的操作方法的电子版三圆网格的示意图；
[0029]
图2为本发明提出的一种测定金属平均晶粒度的操作方法的晶粒度图片与三圆网格的示意图；
[0030]
图3为本发明中实施例一用的晶粒度图；
[0031]
图4为本发明中实施例二用的晶粒度图；
[0032]
图5为本发明中实施例三用的晶粒度图。
具体实施方式
[0033]
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0034]
实施例一，对图3(放大100倍)进行晶粒度评级。
[0035]
一种测定金属平均晶粒度的操作方法，包括以下步骤：
[0036]
步骤s1：制作电子版三圆网格；
[0037]
步骤s2：将晶粒度图片插入三圆网格图片所在文档，并进行调整；
[0038]
步骤s3：用鼠标左键点击三圆图片移动至晶粒度图片上方，使二者重合；
[0039]
步骤s4：通过计数晶粒边界与电子版三圆网格的截点数，在此过程中，将晶粒度图片一个区域作为一个视场，将三圆图片置于相应视场上层，如此五次，共五个视场，而后对
各个视场的节点进行计数，得到数值分别为：136、144、127、143、125。
[0040]
并配合公式
[0041][0042][0043]
％ra小于10％，表示测量结果有效；
[0044][0045][0046]
测量结果平均晶粒度的95％置信区间表示为：g＝6.22
±
0.23。
[0047]
实施例二，对图4(放大200倍)进行晶粒度评级。
[0048]
一种测定金属平均晶粒度的操作方法，包括以下步骤：
[0049]
步骤s1：制作电子版三圆网格；
[0050]
步骤s2：将晶粒度图片插入三圆网格图片所在文档，并进行调整；
[0051]
步骤s3：用鼠标左键点击三圆图片移动至晶粒度图片上方，使二者重合；
[0052]
步骤s4：通过计数晶粒边界与电子版三圆网格的截点数，在此过程中，将晶粒度图片一个区域作为一个视场，将三圆图片置于相应视场上层，如此五次，共五个视场，而后对各个视场的节点进行计数，得到数值分别为：109、116、114、110、95.
[0053]
并配合公式
[0054]
[0055][0056]
％ra不大于10％，测量结
[0057]
果视为有效的；
[0058][0059][0060]
测量结果平均晶粒度的95％置信区间表示为：g＝7.60
±
0.27。
[0061]
实施例三，对图5(放大100倍)进行晶粒度评级。
[0062]
一种测定金属平均晶粒度的操作方法，包括以下步骤：
[0063]
步骤s1：制作电子版三圆网格；
[0064]
步骤s2：将晶粒度图片插入三圆网格图片所在文档，并进行调整；
[0065]
步骤s3：用鼠标左键点击三圆图片移动至晶粒度图片上方，使二者重合；
[0066]
步骤s4：通过计数晶粒边界与电子版三圆网格的截点数，在此过程中，将晶粒度图片一个区域作为一个视场，将三圆图片置于相应视场上层，如此五次，共五个视场，而后对各个视场的节点进行计数，得到数值分别为：82、83、88、80、88.
[0067]
并配合公式
[0068][0069][0070]
测量结果视为有效的。
[0071]
[0072][0073]
测量结果平均晶粒度的95％置信区间表示为：g＝4.86
±
0.15。
[0074]
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。