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一种光学天线发射角的测量系统及测量方法与流程

2022-04-25 04:41:32 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种光学天线发射角的测量系统,其特征在于,包括激光发射装置(03)、光电转换装置(04)、数据采集处理装置(05)、水平倾角仪(45)和设备支架(02);光学天线(01)的接收端依次与光电转换装置(04)、数据采集处理装置(05)连接;所述光学天线(01)的外侧套装有设备支架(02),且光学天线(01)与设备支架(02)同心轴设置;所述设备支架(02)的周向上设置有水平倾角仪(45)以及若干个激光发射装置(03);所述光电转换装置(04)用于采集光学天线(01)的回波信号并转换为电信号,所述数据采集处理装置(05)用于采集电信号并转换为距离信息,进而确定光学天线(01)的发射角。2.根据权利要求1所述的一种光学天线发射角的测量系统,其特征在于,所述设备支架(02)包括环形主支架(41)、同轴支架(43)、水平支撑架(42)和激光发射挂架(44),所述环形主支架(41)的周向设置有若干个同轴支架(43)、激光发射挂架(44)、水平支撑架(42);所述环形主支架(41)套设在光学天线(01)的外侧,且环形主支架(41)与光学天线(01)同心轴设置,所述同轴支架(43)横向穿过环形主支架(41)并与光学天线(01)抵接;所述激光发射装置(03)设置在激光发射挂架(44)上,所述水平倾角仪(45)设置在环形主支架(41)上。3.根据权利要求2所述的一种光学天线发射角的测量系统,其特征在于,所述同轴支架(43)包括t型支架(431)、支架主体(432)、支架微调装置(433)和锁紧扣(434),所述支架主体(432)外侧螺纹套设有支架微调装置(433),且支架主体(432)通过支架微调装置(433)与环形主支架(41)连接,所述支架主体(432)沿长度方向设置有若干个凹槽,所述锁紧扣(434)穿过支架微调装置(433)并与凹槽配合锁紧;所述支架主体(432)的抵接端设置有t型支架(431),所述支架主体(432)沿长度方向设置有刻度线。4.根据权利要求3所述的一种光学天线发射角的测量系统,其特征在于,所述支架微调装置(433)与环形主支架(41)转动连接,且支架主体(432)与环形主支架(41)滑动连接。5.根据权利要求2所述的一种光学天线发射角的测量系统,其特征在于,所述水平支撑架(42)包括连接装置(421)、支撑腿(422)和锁紧装置(423),所述连接装置(421)上对应环形主支架(41)设置有贯通的安装卡口(424),且对应支撑腿(422)设置有贯通且与安装卡口(424)呈垂直关系的支撑口;所述安装卡口(424)、支撑口的一侧分别设置有锁紧装置(423)。6.根据权利要求2所述的一种光学天线发射角的测量系统,其特征在于,所述环形主支架(41)的周向等距设置有若干个同轴支架(43)、激光发射挂架(44)、水平支撑架(42)。7.根据权利要求1-6任一项所述的一种光学天线发射角的测量系统,其特征在于,所述激光发射装置(03)包括安装板(13)和从左至右依次设置在安装板(13)上的激光器(11)、光束约束器(12),所述光束约束器(12)用于对激光器(11)进行发射角的约束;所述光电转换装置(04)包括从左至右依次设置的光阑(21)、准直镜(22)、滤波片(23)和探测器(24);所述数据采集处理装置(05)包括从左至右依次设置的ad采集模块(31)、fpga模块(32)和dsp模块(33)。8.根据权利要求7所述的一种光学天线发射角的测量系统,其特征在于,所述激光器(11)的脉冲宽度不大于10ns,重复频率可以为10~20hz;所述光束约束器(12)将激光器(11)的激光发散角约束到不大于1mrad。9.一种光学天线发射角的测量方法,基于权利要求1-8任一项所述的测量系统实现,其特征在于,根据激光的发射平面和接收平面解算出偏转角:
其中:α为水平倾角仪(45)检测的设备支架(02)的倾斜角度;n1为激光的发射平面的法向量,且n1为(a,b,c);n2为激光的接收平面的法向量,且n2为(1,1,1)。

技术总结
本发明公开了一种光学天线发射角的测量系统及测量方法,所述测量系统包括激光发射装置、光电转换装置、数据采集处理装置、水平倾角仪和设备支架;光学天线的接收端依次与光电转换装置、数据采集处理装置连接;所述光学天线的外侧套装有设备支架,且光学天线与设备支架同心轴设置;所述设备支架的周向上设置有水平倾角仪以及若干个激光发射装置;所述光电转换装置用于采集光学天线的回波信号并转换为电信号,所述数据采集处理装置用于采集电信号并转换为距离信息,进而确定光学天线的发射角。本发明用于对光学天线的发射方向进行校准和检测,可以满足光学天线的日常维护和性能测试,能够在任意光学天线上进行实验,有效提高了测量精度。了测量精度。了测量精度。


技术研发人员:刘兴涛 薛磊 龙彦志 吴梅 陈浩 张亚筠 张果
受保护的技术使用者:成都凯天电子股份有限公司
技术研发日:2022.01.10
技术公布日:2022/4/22
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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