一种socket接头的SiC测试装置的制作方法

一种socket接头的sic测试装置
技术领域
1.本实用新型涉及半导体器件技术领域，具体是一种socket接头的sic测试装置。


背景技术：

2.新型碳化硅(sic)半导体材料比传统硅材料导热性更佳、开关速度更高，而且可以使器件尺寸做到更小。在使用时，需要对碳化硅(sic)半导体材料进行各种耐久性测试，来评估其性能。
3.现有专利公告号为cn 207851233 u公开的一种sic测试装置，包括外壳，外壳的一侧设有显示屏，外壳的一侧设有散热面板，散热面板与外壳通过螺丝固定连接，散热面板的侧面设有连接孔，连接孔的内部设有传输线，传输线的一端设有检测笔，将检测笔与待测试物接触，检查信息通过传输线传输到可编程程序控制器进行处理，然后将处理后的结果在显示屏上显示。
4.但上述测试装置在使用时，采用检测笔对待测试物进行操作测试，使得操作时需要人员一直握持检测笔接触待测试物，使用不便，需要进行改进。针对以上问题，现在提出一种socket接头的sic测试装置。


技术实现要素：

5.本实用新型的目的在于提供一种socket接头的sic测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
6.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
7.一种socket接头的sic测试装置，包括测试装置本体和设置在测试装置本体内的测试组件，所述测试装置本体上设有安装槽，所述安装槽内安装有socket测试座，用于连接待测ic，所述测试装置本体内设有与socket测试座电性连接的测试组件；
8.所述测试装置本体上对应安装槽的位置安装有固定机构，用于对安装后的socket测试座固定。
9.优选的，所述测试装置本体一侧连接有用于对安装槽侧壁开口进行封闭的第一后板，所述测试装置本体靠近第一后板一侧连接有第二后板，所述第一后板和第二后板上均设有散热孔。
10.优选的，所述固定机构包括第一滑板、第二滑板和第三滑板，两组所述第一滑板呈对称设置，所述第二滑板和第三滑板相对设置，两组所述第一滑板相靠近的一侧均连接有夹板，所述测试装置本体内设有用于第一滑板滑动的第一滑槽，所述测试装置本体远离第一后板的一侧设有用于第二滑板滑动的第二滑槽，所述第一后板上安装有用于第三滑板滑动的延伸框。
11.优选的，所述夹板靠近第一后板的一端连接有固定板，两组固定板上连接有可拆卸的固定杆件，所述固定杆件一端固定连接旋钮，所述固定杆件另一端从两组固定板上孔穿出连接螺母。
12.优选的，所述延伸框靠近第二滑板一侧设有用于第三滑板伸出的开口，所述延伸框内腔设有第一弹簧，所述第一弹簧连接第三滑板远离第二滑板的一侧。
13.优选的，所述第二滑槽内腔设有第二弹簧，所述第二弹簧连接第二滑板远离第三滑板一侧，所述第二滑板和第三滑板相靠近的一侧均连接有绝缘垫。
14.优选的，所述测试装置本体底部连接有四组均匀设置的支脚，所述测试装置本体两侧设有把手槽。
15.优选的，所述测试装置本体上安装有与测试组件电性连接的检测笔，所述测试装置本体顶部设有用于放置检测笔的槽。
16.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
17.本实用新型中加装有现有的socket测试座，socket测试座中的接头能直接连接待测ic的接脚，测试时间短，易于操作，且socket测试座具有良好的屏蔽效果和较小的体积，方便人员操作使用；
18.本实用新型中固定机构能对加装的socket测试座进行固定，且能用于固定多种型号的socket测试座，方便人员更换socket测试座进行使用，提高测试装置实用性。
附图说明
19.图1为一种socket接头的sic测试装置的结构示意图。
20.图2为一种socket接头的sic测试装置中第一后板设置处的结构示意图。
21.图3为一种socket接头的sic测试装置中固定机构的结构示意图。
22.图中：11
‑‑
测试装置本体、12
‑‑
支脚、13
‑‑
把手槽、14
‑‑
socket测试座、15
‑‑
安装槽、16
‑‑
第一滑板、17
‑‑
夹板、18
‑‑
固定板、19
‑‑
固定杆件、20
‑‑
第二滑板、21
‑‑
第三滑板、22
‑‑
延伸框、23
‑‑
第一后板、24
‑‑
第二后板、25
‑‑
检测笔。
具体实施方式
23.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
24.请参阅图1-图3，本实用新型实施例中，一种socket接头的sic测试装置，包括测试装置本体11和设置在测试装置本体11内的测试组件，所述测试装置本体11上设有安装槽15，所述安装槽15内安装有socket测试座14，用于连接待测ic，所述测试装置本体11内设有与socket测试座14电性连接的测试组件；
25.socket测试座14可使用现有的，如适用于封装to 247或dfn 8的socket底座；
26.socket测试座14中的接头能直接连接待测ic的接脚，测试时间短，易于操作，且socket测试座具有良好的屏蔽效果和较小的体积，方便人员操作使用；
27.所述测试装置本体11上对应安装槽15的位置安装有用于对socket测试座14进行固定的固定机构，用于对安装后的socket测试座14固定；
28.固定机构能对加装的socket测试座14进行固定，且能用于固定多种型号的socket测试座14，方便人员更换socket测试座14进行使用，提高测试装置实用性。
29.所述测试装置本体11一侧连接有用于对安装槽15侧壁开口进行封闭的第一后板23，所述测试装置本体11靠近第一后板23一侧连接有第二后板24，所述第一后板23和第二后板24上均设有散热孔；第一后板23和第二后板24均便于拆装。
30.所述固定机构包括第一滑板16、第二滑板20和第三滑板21，两组所述第一滑板16呈对称设置，所述第二滑板20和第三滑板21相对设置，两组所述第一滑板16相靠近的一侧均连接有夹板17，所述测试装置本体11内设有用于第一滑板16滑动的第一滑槽，所述测试装置本体11远离第一后板23的一侧设有用于第二滑板20滑动的第二滑槽，所述第一后板23上安装有用于第三滑板21滑动的延伸框22；
31.第一滑板16能在第一滑槽内伸缩，第二滑板20能在的第二滑槽内伸缩，第三滑板21能在延伸框22内伸缩，能根据不同尺寸的socket测试座14进行调节；
32.所述夹板17靠近第一后板23的一端连接有固定板18，两组固定板18上连接有可拆卸的固定杆件19，所述固定杆件19一端固定连接旋钮，所述固定杆件19另一端从两组固定板18上孔穿出连接螺母；
33.socket测试座14安装完成后，能移动夹板17接触socket测试座14，第一滑板16在第一滑槽内滑动，之后使用固定杆件19能使两组固定板18位置固定，固定板18会使夹板17对socket测试座14进行夹持固定；
34.所述延伸框22靠近第二滑板20一侧设有用于第三滑板21伸出的开口，所述延伸框22内腔设有第一弹簧，所述第一弹簧连接第三滑板21远离第二滑板20的一侧；第三滑板21受第一弹簧的弹力，能向靠近socket测试座14一侧移动；
35.所述第二滑槽内腔设有第二弹簧，所述第二弹簧连接第二滑板20远离第三滑板21一侧，所述第二滑板20和第三滑板21相靠近的一侧均连接有绝缘垫；第二滑板20受第二弹簧的弹力，能向靠近socket测试座14一侧移动。
36.第一滑板16、第二滑板20和第三滑板21接触socket测试座14对其夹持的同时，能对安装槽15顶部暴露的位置进行遮挡。
37.所述测试装置本体11底部连接有四组均匀设置的支脚12，所述测试装置本体11两侧设有把手槽13；方便移动测试装置本体11。
38.所述测试装置本体11上安装有与测试组件电性连接的检测笔25，所述测试装置本体11顶部设有用于放置检测笔25的槽，人员有需要时，可使用检测笔25进行测试。
39.本实用新型的工作原理是：在使用该一种socket接头的sic测试装置时，将socket测试座14中的接头直接连接待测ic的接脚，能操作装置对待测ic性能进行测试。
40.对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。