烘箱的挡板装置及自动测试装置的制作方法

1.本公开涉及集成电路测试技术领域，具体涉及烘箱的挡板装置及自动测试装置。


背景技术：

2.近年来，随着国际环境的变化，电子元件正在逐步实现国产化，产量逐年递增。随着产能的提升，要求各生产环节的自动化程度越来越高。在军工、石油等行业，对于电子元件的高温、低温测试和筛选工序一直是制约产能的薄弱环节。
3.电子元件的测试又分为三温测试，即高温、低温、常温。目前市场上成熟的自动测试设备通常用于常温测试，无法在高温(125℃以上)和低温(-60℃以下)环境中进行测试，要完成高温和低温环境中进行测试，要求测试的测试工装和执行机构必须耐受高低温，比如电子元器件、控制系统、导线、传动、执行和电机等元件。目前，电子元件的三温测试，对于高低温测试，基本上全部依靠人工进行测试，有两种测试方法：1.人工将电路安装在元件适配器上，用长线引到测试工装上进行测试，每只电路需要在高低温环境中放置一定时间，到达目标温度后再放置的一定的时间，一般40min以上，才能开始测试，每测完一只电路需要将长线从高低温箱中取出更换电路。2.为了提高测试效率，在环境温度到达要求温度后，放置大于40min，直接将电路从高低或温环境中取出，立即放置在测试需要适配器上测试，这样测试不符合规范，会导致测试数据的不准确。
4.综上所述，由于高低温环境对元器件稳定性和可靠性的影响，自动测试设备无法应用于高低温环境下，目前无相关的测试设备能够自动完成高低温环境下的电路测试。
5.人工虽然能够在高低温环境下对电路进行测试，但是效率极低，电路的装夹取放占据了整个测试时间的一半以上，人工测试的方式已经不能满足产量日益增长的需求，并且经常存在误操作、误测、误判等人为性错误，测试过程中还需要边测边记录数据。相对于常温测试，高低温环境会对操作者造成烫伤或者冻伤等情况，操作者必须做好防护措施。
6.针对目前无高低温环境下的混合集成电路的自动测试设备，且人工测试效率低和存在其他问题，研究一种用于高低温环境中的混合集成电路自动测试设备意义重大，能够解决从无到有的问题，以实现测试效率质的飞跃，而要研究自动测设备，则必需研究用于放置电子元件或集成电路的烘箱和烘箱的挡板装置。


技术实现要素：

7.本公开的目的在于克服现有技术的不足，提供一种结构简单、成本低的烘箱的挡板装置及自动测试装置。
8.根据本公开实施例的第一方面，提供一种烘箱的挡板装置，所述烘箱挡板装置包括主动板、设置在所述主动板上的若干从动板、驱动所述主动板向第一方向移动的驱动器、以及控制所述从动板向第二方向移动的导向结构；
9.所述主动板上设置有若干第一通孔，所述第一通孔的数量和位置分别与所述从动板的数量和位置对应。
10.在一个实施例中，所述烘箱挡板装置还包括连接板；
11.所述主动板与所述驱动器之间通过所述连接板连接。
12.在一个实施例中，所述导向结构包括导轨、设置在所述导轨上的若干滑块、以及设置在每个所述从动板之间的缓冲结构；
13.所述滑块的数量和位置分别与所述从动板的数量和位置对应。
14.在一个实施例中，每个所述从动板上均设置有导轨通孔，所述导轨通过所述导轨通孔将所述从动板连接于所述导轨上。
15.在一个实施例中，所述缓冲结构包括弹簧卡座、以及设置于所述弹簧卡座两端的弹簧，所述从动板通过所述弹簧定位于预设位置。
16.在一个实施例中，所述驱动器为气缸。
17.在一个实施例中，所述气缸上设置有固定孔，连接件穿过所述固定孔将所述气缸固定于烘箱的侧壁上。
18.在一个实施例中，每个所述从动板上均设置有第二通孔，所述第二通孔上覆盖有硅胶板。
19.在一个实施例中，所述第一方向为水平方向，所述第二方向为竖直方向。
20.根据本公开实施例的第二方面，提供一种自动测试装置，所述自动测试装置包括烘箱和烘箱的挡板装置；
21.所述烘箱包括机壳、探测装置、以及设置于所述机壳内的放料台；所述探测装置包括探杆和设置于所述探杆上的探测器；所述机壳上设置有第一通孔，所述探杆的一端通过所述第一通孔延伸出所述机壳，所述探测器设置于所述机壳内；
22.所述烘箱的挡板装置设置于所述烘箱的外部且靠近所述第一通孔设置；
23.所述烘箱的挡板装置为上述所述的烘箱的挡板装置。
24.本公开的实施包括以下技术效果：
25.本公开实施例中，由于烘箱内包含若干层料盘，因此探杆也有若干个工作位，并且每个工作位探杆都要上下小距离移动，以实现电路的测试。当探杆处于一个工作位时，其余三处工作位空置，由于高温烘箱内部高温环境与外部常温环境连通，严重影响内部的高温气氛，因此空置工作位必须遮挡住，并且工作位由于探针的上下移动所产生空隙也应遮挡住。而本公开实施例中的主挡板主要正好能够挡住探杆移动范围之外的空隙，从动挡板正好能够挡住探杆移动范围之内的缝隙。
附图说明
26.图1为本公开烘箱的挡板装置的结构示意图。
27.图2为本公开烘箱的挡板装置的的平面图。
28.1-主动板，2-从动板，3-驱动器，4-导向结构，5-连接板，6-缓冲结构，21-硅胶板，41-导轨，42-滑块，61-弹簧卡座，62-弹簧。
具体实施方式
29.这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例
中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。
30.如图1、2所示，所述烘箱的挡板装置包括主动板1、设置在所述主动/1上的若干从动板2、驱动所述主动板1向第一方向移动的驱动器3、以及控制所述从动板2向第二方向移动的导向结构4；
31.所述主动板1上设置有若干第一通孔，所述第一通孔的数量和位置分别与所述从动板2的数量和位置对应。
32.本公开实施例中，由于烘箱内包含若干层料盘，因此探杆也有若干个工作位，并且每个工作位探杆都要上下小距离移动，以实现电路的测试。当探杆处于一个工作位时，其余三处工作位空置，由于高温烘箱内部高温环境与外部常温环境连通，严重影响内部的高温气氛，因此空置工作位必须遮挡住，并且工作位由于探针的上下移动所产生空隙也应遮挡住。而本公开实施例中的主挡板主要正好能够挡住探杆移动范围之外的空隙，从动挡板正好能够挡住探杆移动范围之内的缝隙。
33.可选地，所述第一方向为水平方向，所述第二方向为竖直方向。
34.优选地，如图1、2所示，所述烘箱挡板装置还包括连接板5；
35.所述主动板1与所述驱动器3之间通过所述连接板5连接；
36.所述导向结构4包括导轨41、设置在所述导轨41上的若干滑块42、以及设置在每个所述从动板2之间的缓冲结构6；
37.所述滑块42的数量和位置分别与所述从动板2的数量和位置对应；
38.每个所述从动板2上均设置有导轨通孔，所述导轨41通过所述导轨通孔将所述从动板2连接于所述导轨41上。
39.本公开实施例中，通过设置连接板将驱动器与主动板进行连接，通过设置导轨和滑块保证从动版只在竖直方向上移动，通过设置缓冲结构不仅能够对从动板上下移动的过程中起缓冲作用，同时还能对从动板进行限位。
40.优选地，如图1、2所示，所述缓冲结构6包括弹簧卡座61、以及设置于所述弹簧卡座61两端的弹簧62，所述从动板2通过所述弹簧62定位于预设位置。
41.优选地，所述从动板2上设置有第二通孔，所述第二通孔上覆盖有硅胶板21。
42.本公开实施例中，由于硅胶板很薄，在进行测试时，探杆会拨开该硅胶板进入烘箱内部。
43.优选地，所述驱动器为气缸。
44.本公开实施例中，由于气缸结构简单、易于控制，因此选择气缸作为驱动器。
45.需要说明的是，本实用新型主要以高温环境为例，低温环境类似，只需要更改温度环境箱即可，主体结构及工作模式不变，因此本公开实施例提供的烘箱的挡板装置也可用于集成电路低温测试。
46.本公开实施例还提供了一种自动测试装置，所述自动测试装置包括烘箱和烘箱的挡板装置；
47.所述烘箱包括机壳、探测装置、以及设置于所述机壳内的放料台；所述探测装置包括探杆和设置于所述探杆上的探测器；所述机壳上设置有第一通孔，所述探杆的一端通过所述第一通孔延伸出所述机壳，所述探测器设置于所述机壳内；
48.所述烘箱的挡板装置设置于所述烘箱的外部且靠近所述第一通孔设置；
49.所述烘箱的挡板装置为上述所述的烘箱的挡板装置。
50.下面以驱动器为气缸、料盘托盘为四层、烘箱环境为高温环境为例，对本公开实施例的烘箱的挡板装置的工作流程进行说明。
51.人工将电路按照一定的方向放置于放料托盘的坑位内，共4层放料托盘，将放料托盘的u型槽口对准阶梯旋转轴从侧面插入。将旋转平台转动到初始位置，烘箱挡板装置中的主挡板在气缸的带动下打开，竖直驱动机构带动探针升至最上部的工作位，水平驱动机构带动探针从高温烘箱的侧面长条孔伸入高温烘箱内部，达到放料托盘第一个测试点停止，同时烘箱挡板装置关闭。竖直驱动机构带动探针下移接触到电路后停止，测试系统采集所需的测试参数，待测试完毕后竖直驱动机构带动探针抬起。控制旋转平台旋转一个分度角后，竖直驱动机构带动探针下移接触到第二个电路后停止，测试系统采集所需的测试参数，测试完毕后竖直驱动机构带动探针抬起
……
，直至完成放料托盘上第一圈最后一个电路。水平驱动机构带动探针继续向高温烘箱内部移动，到达放料托盘第二个测试点停止，控制旋转平台旋转到初始位置，竖直驱动机构带动探针下移接触到电路完成测试
……
，直至完成第二圈电路的测试，以此类推，完成放料托盘上所有圈的电路测试。在同一放料托盘电路的测试过程中，探杆上下移动，独立的从动挡板会随着探杆上下移动，其余三个空置工作位的独立从动挡板在弹簧的作用下位置保持在平衡位，而探杆的位置靠弹性硅胶板挡住。
52.完成最上边第一个料盘内的所有电路测试后，气缸带动主挡板打开，水平驱动机构带动探针从高温烘箱的侧面长条孔移出，竖直驱动机构带动探针下降到第二个工作位，然后水平驱动机构带动探针进入到高温烘箱内，继续完成第二个放料托盘上所有电路的测试
……
，直至完成四个放料托盘内所有电路的测试。待电路测试完毕后，探针移出，旋转平台复位。人工取下四个料盘，在电路测试过程中，测试系统会对电路的测试参数进行分析，有功能问题或者测试参数超差的电路位置会记录在map图中，人工根据map图中的位置在料盘中剔除出有问题的电路，合格的电路进入到下一工序。
53.本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本技术旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。
54.应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。