一种阵列基板及其检测方法、发光面板和显示装置与流程

1.本发明实施例涉及显示技术，尤其涉及一种阵列基板及其检测方法、发光面板和显示装置。


背景技术：

2.在显示装置的显示面板的制造中，一般包括多个制程。例如，在显示面板的制造过程中，包括阵列基板制作、发光元件转移以及封装等步骤。在显示面板制作过程中，通常需要对阵列基板进行不良筛查，确定其是否存在缺陷。然而，现有驱动电路的检测方式均是在发光元件转移后，通过阵列基板驱动发光元件发光的方式进行可视化检测。一旦阵列基板不合格，会导致被转移到阵列基板上的发光元件一并报废。


技术实现要素：

3.本发明实施例提供一种阵列基板及其检测方法、发光面板和显示装置，用于在发光元件转移到阵列基板之前进行阵列基板上驱动电路的检测。避免因为阵列基板存在问题需要报废时，只能连同被转移到阵列基板上的发光元件一并废弃。解决了发光元件浪费问题，同时也降低了生产成本。
4.第一方面，本发明实施例提供了一种阵列基板，包括像素电路、第一开关单元、控制电路和检测电路端；
5.所述像素电路呈阵列排布，所述像素电路包括第一节点，所述第一节点用于与发光元件的第一电极连接；
6.所述第一开关单元的第一端与所述第一节点连接，所述第一开关单元的第二端与所述检测电路端连接，所述第一开关单元的控制端与所述控制电路连接；
7.所述控制电路用于在所述像素电路的检测阶段控制所述第一开关单元导通，所述第一节点的电信号通过所述第一开关单元传输至所述检测电路端。
8.第二方面，本发明实施例还提供了一种阵列基板的检测方法，适用于上述阵列基板，所述检测方法包括：
9.向像素电路施加驱动信号；
10.控制电路控制第一开关单元导通，第一节点的电信号通过所述第一开关单元传输至检测电路端；
11.根据所述检测电路端获取的电压或电流信号实现所述像素电路的检测。
12.第三方面，本发明实施例还提供了一种发光面板，包括上述阵列基板以及与像素电路对应连接的发光元件。
13.第四方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括上述发光面板。
14.本发明实施例中，阵列基板包括像素电路、第一开关单元、控制电路和检测电路端；像素电路呈阵列排布，像素电路包括第一节点，第一节点用于与发光元件的第一电极连接；第一开关单元的第一端与第一节点连接，第一开关单元的第二端与检测电路端连接，第
一开关单元的控制端与控制电路连接；控制电路用于在像素电路的检测阶段控制第一开关单元导通，第一节点的电信号通过第一开关单元传输至检测电路端。实现了在发光元件转移到阵列基板之前，对阵列基板上驱动电路是否存在断路、短路或薄膜晶体管失效等异常情况进行检测。以检测电路通过第一开关单元连接第一节点的方式进行检测，代替现有的可视化检测。避免因为阵列基板存在问题需要报废时，只能连同被转移到阵列基板上的发光元件一并废弃。解决了发光元件浪费问题，同时也降低了生产成本。
附图说明
15.图1为本发明实施例提供的一种阵列基板的部分结构示意图；
16.图2为本发明实施例提供的另一种阵列基板的部分结构示意图；
17.图3为本发明实施例提供的另一种阵列基板的部分结构示意图；
18.图4为本发明实施例提供的另一种阵列基板的部分结构示意图；
19.图5为本发明实施例提供的另一种阵列基板的部分结构示意图；
20.图6为本发明实施例提供的另一种阵列基板的部分结构示意图；
21.图7为本发明实施例提供的一种阵列基板的检测方法的流程图；
22.图8为本发明实施例提供的一种像素电路显示阶段的控制信号的控制时序示意图；
23.图9为本发明实施例提供的一种像素电路检测阶段的控制信号的控制时序示意图；
24.图10为本发明实施例提供的另一种像素电路显示阶段的控制信号的控制时序示意图；
25.图11为本发明实施例提供的另一种像素电路检测阶段的控制信号的控制时序示意图。
具体实施方式
26.下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
27.在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。需要注意的是，本发明实施例所描述的“上”、“下”、“左”、“右”等方位词是以附图所示的角度来进行描述的，不应理解为对本发明实施例的限定。此外在上下文中，还需要理解的是，当提到一个元件被形成在另一个元件“上”或“下”时，其不仅能够直接形成在另一个元件“上”或者“下”，也可以通过中间元件间接形成在另一元件“上”或者“下”。术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
28.图1为本发明实施例提供的一种阵列基板的部分结构示意图，参考图1。本发明实施例提供了一种阵列基板，包括像素电路1、第一开关单元m1、控制电路2和检测电路端det；
29.像素电路1呈阵列排布，像素电路1包括第一节点p1，第一节点p1用于与发光元件
l1的第一电极连接；
30.第一开关单元m1的第一端与第一节点p1连接，第一开关单元m1的第二端与检测电路端det连接，第一开关单元m1的控制端与控制电路2连接；
31.控制电路2用于在像素电路的检测阶段控制第一开关单元m1导通，第一节点p1的电信号通过第一开关单元m1传输至检测电路端det。
32.其中，像素电路1用于根据显示芯片的控制调整子像素的亮度。本发明实施例不针对像素电路1的内部结构进行限定。第一开关单元m1用于控制第一开关单元m1的第一端和第二端之间的导通或关断，第一开关单元m1可以是任意一种开关器件，例如可以是薄膜晶体管。控制电路2用于给第一开关单元m1的控制端输出控制电压，控制第一节点p1和检测电路端det之间的导通或关断，控制电路2可以包括任意一种开关器件，例如可以是薄膜晶体管。在像素电路1的检测阶段，控制电路2控制第一开关单元m1导通，第一节点p1的电压或电流等电信号通过第一开关单元m1传输至检测电路端det，由外部检测电路对电信号进行分析，以判定像素电路的工作状态是否正常。以此实现在发光元件l1转移到阵列基板之前，对阵列基板上像素电路是否存在断路、短路或薄膜晶体管失效等异常情况进行检测。以检测电路通过第一开关单元m1连接第一节点p1的方式进行检测，代替现有的可视化检测。避免因为阵列基板存在问题需要报废时，只能连同被转移到阵列基板上的发光元件一并废弃。解决了发光元件浪费问题，同时也降低了生产成本。
33.可选的，控制电路还用于在发光元件的显示阶段控制第一开关单元m1关断。
34.其中，在发光元件的显示阶段，控制电路2还可以控制第一开关单元m1关断。第一开关单元m1关断后，像素电路1与检测电路端det之间的电连接被关断。因此检测电路端det和与之连接的外部检测电路不会在显示阶段对显示面板显示的实现，以及显示面板的显示效果构成不良影响。
35.图2为本发明实施例提供的另一种阵列基板的部分结构示意图，参考图2。进一步的，控制电路2可以包括第二开关单元m2和第三开关单元m3；
36.第二开关单元m2的第一端与第一信号端x1连接，第二开关单元m2的第二端与第一开关单元m1的控制端连接，第二开关单元m2的控制端与第一控制信号端g1连接，第一控制信号端g1用于在像素电路的检测阶段控制第二开关单元m2导通，第一信号端x1提供的第一信号控制第一开关单元m1导通；
37.第三开关单元m3的第一端与第二信号端x2连接，第三开关单元m3的第二端与第一开关单元m1的控制端连接，第三开关单元m3的控制端与第二控制信号端g2连接，第二控制信号端g2用于在发光元件的显示阶段控制第三开关单元m3导通，第二信号端x2提供的第二信号控制第一开关单元m1关断。
38.其中，第二开关单元m2和第三开关单元m3均可以是任何开关元件，例如可以是薄膜晶体管。第二开关单元m2和第三开关单元m3可以是n型薄膜晶体管，也可以是p型薄膜晶体管。以第二开关单元m2和第三开关单元m3均为p型薄膜晶体管为例。在像素电路的检测阶段，第一控制信号端g1为高电平，第二开关单元m2的栅极电压高于源极电压，第二开关单元m2关断。第二控制信号端g2为低电平，第三开关单元m3的栅极电压低于源极电压，第三开关单元m3导通。第一开关单元m1的控制端与第二信号端x2连接，在第二信号端x2为低电平时，第一开关单元m1导通。外部检测电路能够通过检测电路端det采集第一节点p1的电信号。在
像素电路的发光阶段，第二控制信号端g2为高电平，第三开关单元m3的栅极电压高于源极电压，第三开关单元m3关断。第一控制信号端g1为低电平，第二开关单元m2的栅极电压低于源极电压，第二开关单元m2导通。与第一信号端x1连接的高电平信号通过第二开关单元m2传递到第一开关单元m1的控制端，第一开关单元m1关闭。切断像素电路1与检测电路端det的外部检测电路之间的电连接，避免外部电路影响显示面板的显示效果。
39.图3为本发明实施例提供的另一种阵列基板的部分结构示意图，参考图3。可选的，第一信号端x1与第二控制信号端g2连接。
40.其中，可以将第一信号端x1与第二控制信号端g2连接，并通过导线连接到同一端子上。在像素电路的检测阶段和发光阶段，第一控制信号端g1和第二控制信号端g2的电平都相反。因此被第一控制信号端g1控制的第二开关单元m2和被第二控制信号端g2控制的第三开关单元m3不会同时导通，并且第一信号端x1与第二控制信号端g2的电平可以同步改变。因此可以将第一信号端x1与第二控制信号端g2连接到同一端子上，以减少端子占用，缩小端子区域面积。
41.图4为本发明实施例提供的另一种阵列基板的部分结构示意图，参考图4。可选的，控制电路2与第一开关单元m1一一对应。
42.其中，可以将行扫描线按照顺序排列为第一扫描信号线s1、第二扫描信号线s2、第三扫描信号线s3，以此类推，直到第n扫描信号线sn和第n 1扫描信号线sn 1。检测电路端可以逐列连接，从而形成第一检测电路端det1、第二检测电路端det2、第三检测电路端det3，直到第n检测电路端detn。可以在每一个第一开关单元m1的控制端连接一个控制电路2，通过控制电路2逐个控制第一开关单元m1的导通或关断。控制电路2可以针对每一个第一开关单元m1进行独立控制。这样设置可以实现每个像素电路1的独立检测，便于故障像素电路的精确定位。例如在某一批次的阵列基板检测中，总是同一位置处的像素电路故障，则此时需要考虑检测阵列基板电路版图或者制作设备是否存在问题。
43.可选的，至少两个第一开关单元m1的控制端与同一控制电路2连接。
44.示例性的，以一行像素电路对应的第一开关单元m1的控制端连接到一个控制电路2为例，图5为本发明实施例提供的另一种阵列基板的部分结构示意图，参考图5。其中，可以将行扫描线按照顺序排列为第一扫描信号线s1、第二扫描信号线s2、第三扫描信号线s3，以此类推，直到第n扫描信号线sn和第n 1扫描信号线sn 1。检测电路端可以逐列连接，从而形成第一检测电路端det1、第二检测电路端det2、第三检测电路端det3，直到第n检测电路端detn。可以将两个或两个以上的第一开关单元m1的控制端共同连接在一个控制电路2上，通过一个控制电路2控制与其连接的第一开关单元m1导通或关断。仅需一个控制电路2即可控制多个第一开关单元m1导通或关断的技术方案大量节省了控制电路以及用于与控制电路相连接的走线。
45.在其他实施例中，可以设置其他数量的第一开关单元的控制端与同一控制电路连接，具体实施时可以根据实际情况设计。例如可以是同一列像素电路对应的第一开关单元的控制端与同一控制电路连接。
46.其中，可以设置每一控制电路均连接一行像素电路对应的第一开关单元的控制端，也可以设置每一控制电路均连接一列像素电路对应的第一开关单元的控制端。通过上述设置方法可以使用一个控制电路对一行或一列像素电路的第一开关单元进行控制，在节
省控制电路以及用于与控制电路相连接走线的同时，使得控制电路的控制区域更为明确。在进行像素电路的测试时，可以使控制逻辑更为简明。
47.继续参考图4或图5。可选的，至少两个第一开关单元的第二端与同一个检测电路端连接。
48.其中，可以将两个或两个以上的第一开关单元的第二端共同连接在一个检测电路端上，例如第一列第一开关单元的第二端共同连接在第一检测电路端det1，第二列第一开关单元的第二端共同连接在第二检测电路端det2，以此类推。并通过该检测电路端连接到外部检测电路。由一个外部检测电路检测与检测电路端通过第一开关单元连接的多个像素电路是否处于正常状态。既减少了检测电路端的个数，节约了端子数量，减小端子区域面积。还能减少外部检测电路的数量，降低成本。
49.进一步的，与同一行或同一列像素电路对应的第一开关单元的第二端与同一个检测电路端连接。
50.其中，可以设置每一检测电路端均连接同一行像素电路对应的第一开关单元的第二端，也可以设置每一检测电路端均连接同一列像素电路对应的第一开关单元的第二端。通过上述设置方法可以使用一个检测电路端和与检测电路端对应设置的外部检测电路检测一行或一列像素电路的工作状态。在减少检测电路端的个数，节约端子数量，减小端子区域面积。减少外部检测电路的数量，降低成本的基础上，使得检测电路端与像素电路的对应关系更为明确。
51.图6为本发明实施例提供的另一种阵列基板的部分结构示意图，参考图6。可选的，像素电路包括：
52.驱动晶体管td，驱动晶体管td的控制端与第二节点p2连接；
53.第一晶体管t1，第一晶体管t1的控制端与第一扫描信号线s1连接，第一晶体管t1的第一端与第一参考信号线ref连接，第一晶体管t1的第二端与第二节点p2连接；
54.第二晶体管t2，第二晶体管t2的控制端与第二扫描信号线s2连接，第二晶体管t2的第一端与驱动晶体管td的第二端连接，第二晶体管t2的第二端与第二节点p2连接；
55.第三晶体管t3，第三晶体管t3的控制端与第二扫描信号线s2连接，第三晶体管t3的第一端与数据信号线data连接，第二晶体管t2的第二端与驱动晶体管td的第一端连接，第三晶体管t3用于将数据信号写入第二节点p2；
56.存储电容，存储电容的第一端与第一电源信号线pvdd连接，存储电容的第二端与第二节点p2连接；
57.第四晶体管t4，第四晶体管t4的控制端与使能信号线emit连接，第四晶体管t4的第一端与第一电源信号线pvdd连接，第四晶体管t4的第二端与驱动晶体管td的第一端连接；
58.第五晶体管t5，第五晶体管t5的控制端与使能信号线emit电连接，第五晶体管t5的第一端与驱动晶体管td的第二端电连接，第五晶体管t5的第二端与第一节点p1连接；
59.第六晶体管t6，第六晶体管t6的控制端与第二扫描信号线s2电连接，六晶体管的第一端与第二参考信号线电连接，第六晶体管t6的第二端与第一节点p1连接，第六晶体管t6用于在初始化阶段对第一节点p1的电位进行初始化。
60.其中，在像素电路的发光阶段，像素电路的工作状态可分为三个时段。在第一时
段，进行存储电容初始化。此时第一晶体管t1导通，第一参考信号线ref上的参考电压通过第一晶体管t1充入存储电容，使得存储电容的电压为初始电压。在第一时段，进行发光元件l1的初始化，也就是对第一节点p1的电位进行初始化，并向存储电容写入数据。此时第三晶体管t3、驱动晶体管td和第二晶体管t2导通，数据信号线data通过第三晶体管t3、驱动晶体管td和第二晶体管t2向存储电容充入数据电压。与此同时导通第六晶体管t6，使得第一节点p1电压与第一参考信号线ref的电压相同。对第一节点p1的电位进行初始化。在第三时段，像素电路驱动发光单元发光。此时第四晶体管t4、驱动晶体管td和第五晶体管t5导通，第一电源信号线pvdd通过第四晶体管t4、驱动晶体管td和第五晶体管t5驱动发光单元发光。
61.进一步的，第n 1行像素电路中的第二扫描信号线与第n行像素电路对应的第二信号端连接，其中n为正整数。
62.其中，本行第二扫描信号线可以与前行像素电路对应的第二信号端连接。本行第二信号端用于接收前行的第二扫描信号线上的电信号。在像素电路的检测阶段，与本行控制电路连接的第二信号端接收前行的第二扫描信号线上的电信号后，导通第一开关单元。检测电路端通过第一开关单元获取第一节点的电信号，由外部检测电路对第一节点的电信号进行分析，以确定像素电路的工作状况。使用前行的第二扫描信号线上的电信号为本行第二信号端提供电信号，可节省额外布置信号线所占用的阵列基板空间，同时避免额外布置信号发生器，降低成本。
63.图7为本发明实施例提供的一种阵列基板的检测方法的流程图，参见图7。本发明实施例还提供了一种阵列基板的检测方法，适用于上述任意一种阵列基板，检测方法包括：
64.s1：向像素电路施加驱动信号；
65.其中，可以通过第一电源信号线、数据信号线、使能信号线、第一参考信号线、第一扫描信号线、第二扫描信号线、第一控制信号端、第二控制信号端、第一信号端和第二信号端的配合，控制相应开关电路导通或关闭。
66.s2：控制电路控制第一开关单元导通，第一节点的电信号通过第一开关单元传输至检测电路端；
67.s3：根据检测电路端获取的电压或电流信号实现像素电路的检测。
68.其中，外部检测电路可以根据检测电路端获取的电压或电流信号判断像素电路的工作状态是否正常。
69.进一步的，像素电路包括扫描信号线和使能信号线，检测方法还包括：
70.在像素电路的检测阶段，使能信号线施加的使能信号维持第一持续时间；
71.在像素电路的显示阶段，使能信号线施加的使能信号维持第二持续时间；
72.图8为本发明实施例提供的一种像素电路显示阶段的控制信号的控制时序示意图，图9为本发明实施例提供的一种像素电路检测阶段的控制信号的控制时序示意图，参考图8和图9。其中，第一持续时间大于第二持续时间，且第一持续时间和第二持续时间的差值等于扫描信号线施加的扫描信号的持续时间。
73.其中，图中示出了本行使能信号线emit1，后行使能信号线emit2，第一扫描信号线s1、第二扫描信号线s2和第三扫描信号线s3的信号波形图。在显示阶段，使能信号维持的第一持续时间可以是扫描信号线施加的扫描信号的持续时间的两倍。在检测阶段，可以将使
能信号维持的第二持续时间改为扫描信号线施加的扫描信号的持续时间的三倍。将使能信号延长一个扫描周期，便于进行检测。
74.图10为本发明实施例提供的另一种像素电路显示阶段的控制信号的控制时序示意图，图11为本发明实施例提供的另一种像素电路检测阶段的控制信号的控制时序示意图，参考图10和图11。可选的，图中示出了本行使能信号线emit1，后行使能信号线emit2，第一扫描信号线s1、第二扫描信号线s2和第三扫描信号线s3、第一控制信号端g1、第二控制信号端g2以及第一信号端x1的信号波形图。在显示阶段，第一控制信号端g1的电平为低电平vgl，第二开关单元m2导通。第二控制信号端g2的电平为高电平vgh，第三开关单元m3关断。第一信号端x1的电平为高电平vgh，高电平vgh通过导通的第二开关单元m2传递至第一开关单元m1，使第一开关单元m1处于关断状态。使能信号维持的第一持续时间可以是扫描信号线施加的扫描信号的持续时间的两倍。在检测阶段，第一控制信号端g1的电平为高电平vgh，第二开关单元m2关断。第二控制信号端g2的电平为低电平vgl，第三开关单元m3导通。第一信号端x1的电平为低电平vgl。第一开关单元m1通过第三开关单元m3受控于第二信号端x2。可以将使能信号维持的第二持续时间改为扫描信号线施加的扫描信号的持续时间的三倍。将使能信号延长一个扫描周期，便于进行检测。
75.本发明实施例还提供了一种发光面板，包括上述任意一种阵列基板以及与像素电路对应连接的发光元件。像素电路与发光元件的连接关系可以是一一对应的，也可以是多个发光元件串联或并联在一个像素电路上的。其中，发光面板可以作为背光源，也可以作为直显显示面板进行画面显示。
76.其中，本发明实施例所提供的发光面板包括本发明任意实施例所提供的阵列基板，具备阵列基板相应的功能模块和有益效果。
77.进一步的，发光元件包括次毫米发光二极管或微发光二极管。
78.其中，次毫米发光二极管又被称为mini led，一般mini led的尺寸介于50-200μm之间。微发光二极管又被称为micro led，其尺寸仅在1～10μm左右。
79.本发明实施例还提供了一种显示装置，包括上述任意一种发光面板。
80.其中，本发明实施例所提供的显示装置包括本发明任意实施例所提供的发光面板，具备发光面板相应的功能模块和有益效果。
81.注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。