模组测试设备和模组测试设备的测试方法与流程

技术特征：
1.一种模组测试设备，其特征在于，所述模组测试设备用于测试模组组件，所述模组组件包括模组支架(10)和柔性电路板(30)，所述模组支架(10)具有用于容置模组(20)的容置区域(11)，所述柔性电路板(30)与所述模组支架(10)连接并伸入到所述容置区域(11)内，所述模组(20)设置在所述柔性电路板(30)朝向所述容置区域(11)的一侧，所述模组测试设备包括：测试结构(40)；分拨结构(50)，所述测试结构(40)位于所述分拨结构(50)远离所述模组支架(10)的一侧，所述分拨结构(50)具有推面(52)，所述模组支架(10)可拆卸地设置在所述分拨结构(50)上，所述推面(52)与所述柔性电路板(30)具有所述模组(20)的一侧抵接，在所述模组支架(10)向所述分拨结构(50)所在一侧滑动时所述推面(52)逐渐压接所述柔性电路板(30)向远离所述模组支架(10)的方向运动，以使所述柔性电路板(30)弯折预设角度后所述模组(20)裸露，所述测试结构(40)能够对所述模组(20)进行测试。2.根据权利要求1所述的模组测试设备，其特征在于，所述推面(52)包括：第一推面(521)，所述模组支架(10)安装到所述分拨结构(50)上后所述第一推面(521)与所述柔性电路板(30)抵接；第二推面(522)，所述第二推面(522)与所述第一推面(521)呈角度设置，在所述模组支架(10)向所述分拨结构(50)所在一侧滑动时所述第一推面(521)逐渐压接所述柔性电路板(30)向远离所述模组支架(10)的方向运动，所述第二推面(522)逐渐压接所述柔性电路板(30)并弯折预设角度。3.根据权利要求2所述的模组测试设备，其特征在于，所述第一推面(521)与所述第二推面(522)形成的夹角的开口朝向远离所述模组支架(10)方向。4.根据权利要求2所述的模组测试设备，其特征在于，所述第一推面(521)与所述第二推面(522)的夹角为钝角。5.根据权利要求1所述的模组测试设备，其特征在于，所述分拨结构(50)包括两个滑轨(53)，两个所述滑轨(53)间隔设置形成间隔区域(51)，所述模组支架(10)与两个所述滑轨(53)滑动连接，所述滑轨(53)的至少一个端面具有所述推面(52)。6.根据权利要求5所述的模组测试设备，其特征在于，所述分拨结构(50)还包括连接板(54)，所述连接板(54)与两个所述滑轨(53)远离所述推面(52)的一端连接，所述连接板(54)和两个所述滑轨(53)围成的区域为所述间隔区域(51)。7.根据权利要求5所述的模组测试设备，其特征在于，所述滑轨(53)具有滑槽(531)，所述模组支架(10)在所述滑槽(531)内滑动。8.根据权利要求1至7中任一项所述的模组测试设备，其特征在于，所述模组支架(10)、所述分拨结构(50)和所述测试结构(40)顺次叠置形成内部结构，所述模组测试设备还包括框架结构(60)，所述框架结构(60)包覆在所述内部结构的外侧。9.根据权利要求8所述的模组测试设备，其特征在于，所述模组测试设备还包括侧压推块(70)，所述侧压推块(70)可滑动地设置在所述框架结构(60)上，所述侧压推块(70)为多个，多个所述侧压推块(70)分别设置在所述内部结构的两侧，所述侧压推块(70)具有夹紧位置和松弛位置，所述侧压推块(70)位于所述夹紧位置时，所述侧压推块(70)与所述模组支架(10)抵接以夹紧所述模组支架(10)，所述侧压推块(70)位于所述松弛位置时，所述侧
压推块(70)与所述模组支架(10)间隔设置。10.一种模组测试设备的测试方法，其特征在于，权利要求1至9中任一项所述的模组测试设备应用所述模组测试设备的测试方法，所述模组测试设备的测试方法包括：步骤s10：获取模组组件和模组测试设备，所述模组组件放置到所述模组测试设备上；步骤s20：获取分拨结构(50)，所述分拨结构(50)将所述模组组件的柔性电路板(30)压弯；步骤s30：所述模组测试设备合盖对所述模组组件的模组(20)测试；步骤s40：所述模组测试设备开盖，所述模组组件侧向退出所述模组测试设备。

技术总结
本发明提供了一种模组测试设备和模组测试设备的测试方法。模组测试设备用于测试模组组件，模组组件包括模组支架和柔性电路板，模组支架具有用于容置模组的容置区域，柔性电路板与模组支架连接并伸入到容置区域内，模组设置在柔性电路板朝向容置区域的一侧，模组测试设备包括：测试结构；分拨结构，测试结构位于分拨结构远离模组支架的一侧，分拨结构具有推面，模组支架可拆卸地在分拨结构上，推面与柔性电路板具有模组的一侧抵接，在模组支架向分拨结构所在一侧滑动时推面逐渐压接柔性电路板向远离模组支架的方向运动，以使柔性电路板弯折预设角度后模组裸露，测试结构能够对模组进行测试。本发明解决了现有技术中模组存在测试难的问题。试难的问题。试难的问题。


技术研发人员：龚云亮 诸潇洒 俞辉 孙湖滨 陈成权
受保护的技术使用者：余姚舜宇智能光学技术有限公司
技术研发日：2021.12.10
技术公布日：2022/3/21