一种配向电路及液晶显示基板的制作方法

1.本技术涉及显示技术领域，尤其涉及一种配向电路及包括配向电路的液晶显示基板。


背景技术：

2.在va(vertically aligned，垂直配向)模式的液晶面板单元通过聚合物稳定配向的方式进行配向时，需要对液晶层施加固化预定电压，并在该电压下通过光线照射，使液晶层中的反应性单体聚合并固化，从而在液晶层两侧的基板上同时形成聚合物层，使液晶单元产生一定的偏转角度，从而完成液晶光配向过程。也就是说，在配向时需要配向机台的探针对面板单元的信号垫施加电信号，但是，在现有技术中，每个显示面板的尺寸多种多样，导致显示面板的信号垫的数量、位置或者间隙不一样，从而需要更换探针以适应不同尺寸的面板单元的液晶配向，成本较大。
3.因此，现有技术存在缺陷，急需解决。


技术实现要素：

4.本技术提供一种配向电路及液晶显示基板，能够解决由于面板单元的尺寸改变时就需要在配向时更换探针的问题。
5.为解决上述问题，本技术提供的技术方案如下：
6.一种配向电路，包括：
7.第一共用触垫及与第一共用触垫连接的第一导电线路；
8.第二共用触垫及与第二共用触垫连接的第二导电线路，且所述第二导电线路与所述第一导电线路绝缘；以及
9.至少一个阵列配向垫组，每个所述阵列配向垫组包括至少一个第一信号垫与至少一个第二信号垫，至少一个所述第一信号垫与所述第一导电线路连接，至少一个所述第二信号垫与所述第二导电线路连接，所述第一共用触垫用于接收输入的高电平信号并沿第一导电线路传输至至少一个所述第一信号垫，所述第二共用触垫用于接收输入的低电平信号并沿所述第二导电线路传输至至少一个所述第二信号垫。
10.在本发明的其中一些实施例中，所述配向电路还包括第一导电支路，所述第一导电支路与第一信号垫连接。
11.在本发明的其中一些实施例中，所述配向电路还包括第二导电支路，所述第二导电支路与第二信号垫连接。
12.在本发明的其中一些实施例中，所述第一共用触垫与第一导电线路位于相同的表面或者是所述第一共用触垫与第一导电线路位于不同的表面且通过第一过孔连接导通；所述第二共用触垫与第二导电线路位于相同的表面或者是所述第二共用触垫与第二导电线路位于不同的表面且通过第二过孔连接导通。
13.在本发明的其中一些实施例中，至少一个所述第一信号垫与至少一个所述第二信
号垫分别为彩膜共电压信号垫、蓝像素信号垫、绿像素信号垫、红像素信号垫、栅极奇数信号垫、栅极偶数信号垫、阵列电路共电压信号垫、ck信号垫、lc信号垫、vss信号垫中的任意一个。
14.一种液晶显示基板，包括：
15.至少一个面板单元，所述面板单元包括显示区以及位于显示区周围的边框区，所述边框区设置有面板测试垫组，每个面板测试垫组包括多个面板测试垫；以及
16.配向电路，与至少一个所述面板单元的所述面板测试垫组连接，所述配向电路包括：
17.第一共用触垫及与第一共用触垫连接的第一导电线路；
18.第二共用触垫及与第二共用触垫连接的第二导电线路，且所述第二导电线路与所述第一导电线路绝缘；以及
19.至少一个阵列配向垫组，包括至少一个第一信号垫与至少一个第二信号垫，至少一个所述第一信号垫与所述第一导电线路连接，至少一个所述第二信号垫与所述第二导电线路连接，所述第一共用触垫用于接收输入的高电平信号并沿所述第一导电线路传输至至少一个所述第一信号垫并被所述面板测试垫组中的一个面板测试垫接收，所述第二共用触垫用于接收输入的低电平信号并沿所述第二导电线路传输至至少一个所述第二信号垫，并被面板测试垫组中的另一个面板测试垫接收。
20.在本发明的其中一些实施例中，所述第一共用触垫与第一导电线路位于相同的表面或者是所述第一共用触垫与第一导电线路位于不同的表面且通过第一过孔连接导通；所述第二共用触垫与第二导电线路位于相同的表面或者是所述第二共用触垫与第二导电线路位于不同的表面且通过第二过孔连接导通。
21.在本发明的其中一些实施例中，所述阵列配向垫组的数量为多个，所述阵列配向垫组与所述面板单元的数量一一对应。
22.在本发明的其中一些实施例中，所述液晶显示基板还包括设置于面板单元一侧的至少一个阵列测试垫组，至少一个所述阵列测试垫组与面板测试垫组对应设置，高电平信号/低电平信号从所述阵列配向垫组流入至阵列测试垫组后再流入至所述面板测试垫组。
23.在本发明的其中一些实施例中，至少一个所述第一信号垫与至少一个所述第二信号垫分别为彩膜共电压信号垫、蓝像素信号垫、绿像素信号垫、红像素信号垫、栅极奇数信号垫、栅极偶数信号垫、阵列电路共电压信号垫、ck信号垫、lc信号垫、vss信号垫中的任意一个。
24.本技术的有益效果为：本技术提供的配向电路，用于为面板单元提供配向电压流通的桥梁，所述配向电路包括连接于第一导电线路的第一共用触垫，连接于第二导电线路的第二共用触垫，且所述第二导电线路与所述第一导电线路绝缘；所述第一导电线路用于接收配向机台输入的高电平信号并传输至所述第一共用触垫，所述第二导电线路用于接收配向机台输入的低电平信号并传输至所述第二共用触垫，也就是说，在本发明的技术方案中，配向机台只需要配置两个探针，使两个探针分别与第一共用触垫及第二共用触垫接触，配向电压就可以通过所述配向电路输入至液晶面板单元，面板单元尺寸不一样导致的信号垫的数量、位置及间隔不一样，仍然可以采用相同的弹针去配向，克服了现有技术中由于面板单元的尺寸不一样就需要频繁更换探针的情况。
附图说明
25.下面结合附图，通过对本技术的具体实施方式详细描述，将使本技术的技术方案及其它有益效果显而易见。
26.图1为本技术第一实施例提供的一种配向电路；
27.图2为本技术第一实施例提供的又一种配向电路；
28.图3为本技术第一实施例提供的再一种配向电路；
29.图4为图3提供的一种配向电路的剖面图；
30.图5为由本技术第二实施例提供的一种液晶显示基板。
31.附图标记说明
32.100-液晶显示基板；1、11、110-配向电路；2-面板单元；
33.10-第一共用触垫；12-第一导电线路；14-第二共用触垫；
34.18-第一导电支路；20-第二导电支路；101-面板区；103-外围区；
35.21-显示区；23-边框区；16-第二导电线路；
36.25-阵列配向垫组；250-第一信号垫；252-第二信号垫；
37.45-面板测试垫组；450-面板测试垫；35-阵列测试垫组；350-阵列测试垫；36-第一过孔；38-第二过孔。
具体实施方式
38.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
39.在本技术的描述中，需要理解的是，术语“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
40.本技术可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。以下请结合具体实施例对本技术的所述配向电路进行详细描述。
41.请参阅图1，为本发明提供的一种配向电路1，所述配向电路1用于为面板单元2在进行液晶配向时提供所需配向电压传输的路径。所述配向电路1包括第一共用触垫10、与第一共用触垫10连接的第一导电线路12、第二共用触垫14、与第二共用触垫14连接的第二导电线路16以及至少一个阵列配向垫组25(array curing pad)。
42.所述第一共用触垫10、第一导电线路12、所述第二共用触垫14与第二导电线路16均位于相同的表面。其中，图1中用粗黑线示意的部分即为配向电路1中接受及传输低电平
信号的线路。所述第二导电线路16与所述第一导电线路12绝缘。所述第一共用触垫10用于接收输入的高电平信号并传输至阵列配向垫组25，所述第二共用触垫14用于接收输入的低电平信号并传输至阵列配向垫组25。
43.每个所述阵列配向垫组25包括多个信号垫。在本实施例中，每个所述阵列配向垫组25包括至少一个接收高电平信号的第一信号垫250及至少一个接收低电平信号的第二信号垫252。配向信号包括与红色子像素、蓝色子像素和绿色子像素对应的红像素信号、蓝像素信号和绿像素信号、分别向各行子像素传递的扫描信号、传递至公共电极的公共电压信号等，上述各信号垫用于传递上述各配向信号，所以至少一个所述第一信号垫250及至少一个第二信号垫252为彩膜共电压信号垫、蓝像素信号垫、绿像素信号垫、红像素信号垫、栅极奇数信号垫、栅极偶数信号垫、阵列电路共电压信号垫、ck(时钟)信号垫、lc信号垫、stv垫、vss信号垫等。所以，阵列配向垫组25是依据面板单元2的结构及需要进行设计。
44.在本实施方式中，第一信号垫250与第二信号垫252的数量一共示意了10个，其中，所述第一信号垫250的数量为8个，第二信号垫252的数量为2个。
45.可以理解，第一信号垫250及第二信号垫252的数量之和不限于图中所示意的10个，可以根据实际需要，选择合适数量的信号垫。所述第一信号垫250的数量及第二信号垫252的数量也可以根据实际需要调整。另外，接收高低电平是由选择的配向模式决定的，也即是说，可以根据配向模式选择所述第一信号垫250的数量及第二信号垫252的数量。在本实施方式中，第一共用触垫10、第二共用触垫14与至少一个阵列配向垫组25包括的多个信号垫间隔设置且排列成一行，在其它实施方式中，第一共用触垫10、第二共用触垫14与至少一个阵列配向垫组25包括的多个信号垫可以根据空间的利用率进行具体设置。
46.在本实施方式中，所述第一共用触垫10用于接收输入的高电平信号并沿第一导电线路12传输至第一信号垫250，所述第二共用触垫14用于接收输入的低电平信号并沿第二导电线路16传输至第二信号垫252。
47.在本实施例中，所述配向电路1还包括第一导电支路18与第二导电支路20。第一导电支路18与第二导电支路20的数量是由阵列配向垫组25包括的第一信号垫250及第二信号垫252之和决定。
48.每个第一导电支路18与一个第一信号垫250电连接，每个第二导电支路20与一个第二信号垫252电连接。第一导电支路18与第二导电支路20分别用于将高电平信号及低电平信号向面板单元2内输送。
49.由于第一信号垫250是与第一导电线路12连接的，第二信号垫252是与第二导电线路16连接的，所以，在本实施方式中，第一导电支路18的一端与第一导电线路12连接便可实现与一个第一信号垫250的电连接，第二导电支路20的一端与第二导电线路16连接便可实现与一个第二信号垫252的电连接。
50.在本实施方式中，所述配向电路1还包括至少一个阵列测试垫组35，每个阵列测试垫组35包括多个阵列测试垫350，第一导电支路18与第二导电支路20的另一端是分别连接阵列测试垫组35包括的阵列测试垫(array test pad)350，第一信号垫250接收第一共用触垫10提供的高电平信号并通过第一导电支路18传输至阵列测试垫组35，第二信号垫252接收第二共用触垫14提供的低电平信号并通过第二导电支路20传输至阵列测试垫组35。由阵列配向垫组25输出的电平信号经阵列测试垫组35后输入至面板单元2内。
51.请参阅图2，图2为本技术第一实施例提供的又一种配向电路11。图2与图1的区别在于，图2提供的配向电路11的每个信号垫的上下两侧均设置了一组第一导电支路18及一组第二导电支路20，从而通过两组阵列测试垫组35能时接入两组面板测试垫组以对面板单元2进行配向，如此满足中大尺寸的面板单元2的液晶配向的均匀性。在本实施例中，信号垫的上下两侧的第一导电支路18及第二导电支路20的延伸方向不同，当然可以理解，在其它实施例中，信号垫的上下两侧的第一导电支路18及第二导电支路20的延伸方向可以同时朝向左侧，或者同时朝向右侧，第一导电支路18及第二导电支路20的朝向可依据于液晶显示基板的空间利用率去调整。
52.为了提高液晶显示基板100的空间利用率，配向电路110可以由不同的金属层经过图案化制成。请参阅图3-4，在本实施方式中，配向电路1由三层金属层制作形成，第一共用触垫10、第一信号垫250、第二共用触垫14及第二信号垫252位于液晶显示基板100的表面由上层金属层图案化制作形成，使第一共用触垫10与第一信号垫250导通的第一导电线路12由第一金属层经过图案化制作成，使第二共用触垫14与第二信号垫252导通的第二导电线路16由第二金属层经过图案化制作成，第一共用触垫10与第一信号垫250通过第一过孔36与第一导电线路12导通，第二共用触垫14与第二信号垫252通过第二过孔38与第二导电线路16导通，也就是说，在本实施例中，所述第一共用触垫10与第一导电线路12位于不同的表面且通过设置于位于第一共用触垫10与第一导电线路12之间的第一过孔36连接导通；所述第二共用触垫14与第二导电线路16位于不同的表面且通过设置于位于第二共用触垫14与第二导电线路16之间的第二过孔38连接导通。
53.如上分析所述，本技术提供的配向电路1包括连接于第一导电线路12的第一共用触垫10，连接于第二导电线路16的第二共用触垫14，且所述第二导电线路16与所述第一导电线路12绝缘；所述第一共用触垫10用于接收配向机台输入的高电平信号并沿第一导电线路12传输，所述第二共用触垫14用于接收配向机台输入的低电平信号并沿第二导电线路16传输，需要配向的面板单元2包括的面板测试垫组45由于是与阵列测试垫组35连接的，从而就能通过第一导电支路18及第一信号垫250接收高电平信号，通过第二导电支路20及第二信号垫252接收低电平信号，从而实现面板单元2的液晶配向。
54.也就是说，在本发明的技术方案中，配向机台只需要配置两个探针(pin)，使两个探针分别扎入第一共用触垫10及第二共用触垫14，配向电压就可以通过所述配向电路1输入至面板单元2，克服了现有技术中由于面板单元2的尺寸不一样、导致面板单元上的面板测试垫的数量、位置或者间隔不一样就需要更换配向机台的探针的情况。
55.请参阅图5，图5为本发明第二实施例提供的一种液晶显示基板100，所述液晶显示基板100包括：配向电路1及至少一个面板单元2。
56.所述液晶显示基板100能被划分为至少一个面板区101以及位于至少一个所述面板区101以外的外围区103，每个面板区101与一个面板单元2的位置相对应。多个面板单元2的尺寸可以一致或者不一致。所述配向电路1位于外围区103。
57.所述配向电路1包括的第一共用触垫10、阵列配向垫组25、第二共用触垫14、第一导电线路12及第二导电线路16均位于液晶显示基板100的同一表面。
58.所述配向电路1可以包括多个阵列配向垫组25，阵列配向垫组25的数量是对应液晶显示基板上的面板单元2的个数。每一个阵列配向垫组用于为一个面板单元提供配向电
压。在本实施方式中，面板单元2的个数为两个且面板单元2并排设置。
59.所述面板单元2包括显示区21以及位于显示区21周围的边框区23。所述边框区23设置有至少一个面板测试垫(cell test pad)组45，面板测试垫组45包括多个面板测试垫450，面板测试垫450与阵列测试垫350一一对应地连接。面板测试垫450并排间隔排列设置，能用于进行光配向以及显示面板功能性测试。
60.在本实施方式中，为了实现液晶配向的均匀性，所以，每个配向电路1包括有两个阵列测试垫组35，面板单元2在其边框区23也对应设置了两个面板测试垫组45。
61.在面板单元2进行液晶配向时，配向机台只需要配置两个探针(pin)，使两个探针分别扎入第一共用触垫10及第二共用触垫14，由于第一共用触垫10与第一信号垫250是通过第一导电线路12导通的，所以，对于高电平信号其从第一共用触垫10依次流向第一信号垫250、阵列测试垫350、到面板测试垫450再到面板单元2内部；对于低电平信号其从第二共用触垫14流向第二信号垫252、与第二信号垫252连接的阵列测试垫350、到面板测试垫450再到面板单元2，配向电压就可以通过所述配向电路1输入至面板单元2内，便可达到对每个面板单元2的对应的线路施加光配向所需的高低电平的目的。
62.在完成配向制程后，依次进行目检(macro inspection)、切割(chip cut)、贴附偏光片(pol)和点灯测试(inspection)的步骤。
63.本技术的有益效果为：本技术提供的配向电路1及包括有配向电路1的液晶显示基板100，所述配向电路1包括连接于第一导电线路12的第一共用触垫10，连接于第二导电线路16的第二共用触垫14，且所述第二导电线路16与所述第一导电线路12绝缘；所述第一导电线路12用于接收配向机台输入的高电平信号并传输至所述第一共用触垫10，所述第二导电线路16用于接收配向机台输入的低电平信号并传输至所述第二共用触垫14，也就是说，在本发明的技术方案中，配向机台只需要配置两个探针，使两个探针分别与第一共用触垫10及第二共用触垫14接触配，配向电压就可以通过所述配向电路1输入至液晶面板单元2，克服了现有技术中由于面板单元2的尺寸不一样、信号垫的间距或者位置不一样，就需要更换探针的情况。从而在配向加电时仅需要购买一种固定尺寸和固定相对位置探针即可，从而减少了所需探针的数量和因需配向的产品不同而频繁更换探针的必要。
64.综上所述，虽然本技术已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本技术，本领域的普通技术人员，在不脱离本技术的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本技术的保护范围以权利要求界定的范围为准。