片式电容器件自动测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及电子元器件的自动测试，具体而言是片式电容器件自动测试装置。


背景技术：

2.在航空、航天等一些重要领域，对电子元器件的合格性要求极高。拟用电子元器件使用前必须严格筛选，逐一进行性能测试，完全合格后才准使用。所述工作目前通常采用人工手动完成，效率不高，在被测元器件数量较大时往往力不从心。尤其是体型极小的片式电容器件，肉眼识别难度很大，操作人员长时间持续工作容易疲劳，不仅视力受损，更为严重的是发生误判恶果的可能大增。因此，设计出结构简单、操作方便并能保证测试质量、提高测试效率和降低操作人员劳动强度的片式电容器件自动测试装置十分必要。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的是提供一种结构简单、操作方便并能保证测试质量、提高测试效率和降低操作人员劳动强度的片式电容器件自动测试装置。
4.为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：一种片式电容器件自动测试装置，包括基座、三轴测试台和测头,其特征是基座与三轴测试台的工作台面可拆卸连接，基座包括上绝缘板和下绝缘板，上绝缘板上开设第一通孔，第一通孔成对设置并且在上绝缘板上形成阵列，每对第一通孔包括一个片式电容器件工位和一个引出端位，片式电容器件工位的底部设置有导电片，下绝缘板上开设第二通孔，第二通孔与引出端位一一对应，金属端子固定在引出端位和对应的第二通孔中并且与导电片电连接，测头安装在三轴测试台的垂直轴上，测头的底部设置有容值探针组、耐压值探针组和绝缘值探针组，容值探针组、耐压值探针组和绝缘值探针组分别有两根弹性探针，所述两根弹性探针轴线间的距离与片式电容器件工位同引出端位轴线间的距离相等。
5.进一步地，所述第一通孔在上绝缘板上形成矩形阵列，相邻片式电容器件工位的轴线间距离同相邻引出端位的轴线间距离相等；所述容值探针组、耐压值探针组和绝缘值探针组在测头的底部依次排成三行，相邻行间距离同相邻片式电容器件工位的轴线间距离相等。
6.进一步地，所述片式电容器件工位的深度是被测片式电容器件高度的80％-90％，所述金属端子的顶部露出上绝缘板的高度是被测片式电容器件高度的20％-10％。
7.进一步地，所述金属端子为金属铆钉，所述上绝缘板和下绝缘板通过金属端子铆接为一体。
8.进一步地，所述三轴测试台的工作台面并排连接有两个基座。
9.本实用新型的工作过程如下：将片式电容通过专用工装装填到基座中；将基座放置在三轴测试台的托盘上；运行预定程序，测头下落，容值探针组至第一个电容器和金属端子上端面，对其进行容值测量，耐压值探针组和绝缘值探针组轮空，记录第一个电容器的容
值；测头抬起，往前移动一个工位，再次下压，容值探针组至第二个电容器和金属端子上端面，对其进行容值测量，同时，耐压值探针组至第一个电容器和金属端子上端面，对其进行耐压值测量，绝缘值探针组轮空，记录第一个电容器的耐压值和第二个电容器的容值；测头抬起，往前移动一个工位，再次下压，容值探针组至第三个电容器和金属端子上端面，对其进行容值测量，同时，耐压值探针组至第二个电容器和金属端子上端面，对其进行耐压值测量，绝缘值探针组至第一个电容器和金属端子上端面，对其进行绝缘值测量，记录第一个电容器的绝缘值、第二个电容器的耐压值和第三个电容器的容值；以此类推，待一列测量完成后，向右移动一个列工位距离，继续测试，直至所有电容器测试完成。
10.本实用新型结构简单、操作方便并能有效保证测试质量、提高测试效率和降低操作人员劳动强度。
附图说明
11.图1是本实用新型的结构示意图；
12.图2是本实用新型的基座结构示意图；
13.图3是图2的俯视图；
14.图4是图3的a-a向截面图；
15.图5是图4的b-b处局部放大视图；
16.图6是本实用新型的测头结构示意图；
17.图7是图6的c-c向视图；
18.图8是本实用新型的测试状态示意图。
19.图中：1-基座；1.1-上绝缘板；1.2-下绝缘板；2-三轴测试台；3-测头；4-第一通孔；4.1-片式电容器件工位；4.1.1-导电片；4.2-引出端位；5-第二通孔；6-金属端子；7-被测片式电容器件。
具体实施方式
20.以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的详细描述，但该实施例不应理解为对本实用新型的限制。
21.如图所示的一种片式电容器件自动测试装置，包括基座1、三轴测试台2和测头3,基座1与三轴测试台2的工作台面可拆卸连接，基座1包括上绝缘板1.1和下绝缘板1.2，上绝缘板1.1上开设第一通孔4，第一通孔4成对设置并且在上绝缘板1.1上形成阵列，每对第一通孔4包括一个片式电容器件工位4.1和一个引出端位4.2，片式电容器件工位4.1的底部设置有导电片4.1.1，下绝缘板1.2上开设第二通孔5，第二通孔5与引出端位4.2一一对应，金属端子6固定在引出端位4.2和对应的第二通孔5中并且与导电片4.1.1电连接，测头3安装在三轴测试台2的垂直轴上，测头3的底部设置有容值探针组3.1、耐压值探针组3.2和绝缘值探针组3.3，容值探针组3.1、耐压值探针组3.2和绝缘值探针组3.3分别有两根弹性探针，所述两根弹性探针轴线间的距离与片式电容器件工位4.1同引出端位4.2轴线间的距离相等。
22.优选的实施例是：在上述方案中，所述第一通孔4在上绝缘板1.1上形成矩形阵列，相邻片式电容器件工位4.1的轴线间距离同相邻引出端位4.2的轴线间距离相等；所述容值
探针组3.1、耐压值探针组3.2和绝缘值探针组3.3在测头3的底部依次排成三行，相邻行间距离同相邻片式电容器件工位4.1的轴线间距离相等。
23.优选的实施例是：在上述方案中，所述片式电容器件工位4.1的深度是被测片式电容器件7高度的80％-90％，所述金属端子6的顶部露出上绝缘板1.1的高度是被测片式电容器件7高度的20％-10％。
24.优选的实施例是：在上述方案中，所述金属端子6为金属铆钉，所述上绝缘板1.1和下绝缘板1.2通过金属端子6铆接为一体。
25.优选的实施例是：在上述方案中，所述三轴测试台2的工作台面并排连接有两个基座1。
26.本说明书中未作详细描述的内容，属于本领域技术人员公知的现有技术。


技术特征：
1.一种片式电容器件自动测试装置，包括基座(1)、三轴测试台(2)和测头(3),其特征在于：基座(1)与三轴测试台(2)的工作台面可拆卸连接，基座(1)包括上绝缘板(1.1)和下绝缘板(1.2)，上绝缘板(1.1)上开设第一通孔(4)，第一通孔(4)成对设置并且在上绝缘板(1.1)上形成阵列，每对第一通孔(4)包括一个片式电容器件工位(4.1)和一个引出端位(4.2)，片式电容器件工位(4.1)的底部设置有导电片(4.1.1)，下绝缘板(1.2)上开设第二通孔(5)，第二通孔(5)与引出端位(4.2)一一对应，金属端子(6)固定在引出端位(4.2)和对应的第二通孔(5)中并且与导电片(4.1.1)电连接，测头(3)安装在三轴测试台(2)的垂直轴上，测头(3)的底部设置有容值探针组(3.1)、耐压值探针组(3.2)和绝缘值探针组(3.3)，容值探针组(3.1)、耐压值探针组(3.2)和绝缘值探针组(3.3)分别有两根弹性探针，所述两根弹性探针轴线间的距离与片式电容器件工位(4.1)同引出端位(4.2)轴线间的距离相等。2.根据权利要求1所述的片式电容器件自动测试装置，其特征在于：所述第一通孔(4)在上绝缘板(1.1)上形成矩形阵列，相邻片式电容器件工位(4.1)的轴线间距离同相邻引出端位(4.2)的轴线间距离相等；所述容值探针组(3.1)、绝缘值探针组(3.2)和耐压值探针组(3.3)在测头(3)的底部依次排成三行，相邻行间距离同相邻片式电容器件工位(4.1)的轴线间距离相等。3.根据权利要求1或2所述的片式电容器件自动测试装置，其特征在于：所述片式电容器件工位(4.1)的深度是被测片式电容器件(7)高度的80％-90％，所述金属端子(6)的顶部露出上绝缘板(1.1)的高度是被测片式电容器件(7)高度的20％-10％。4.根据权利要求1或2所述的片式电容器件自动测试装置，其特征在于：所述金属端子(6)为金属铆钉，所述上绝缘板(1.1)和下绝缘板(1.2)通过金属端子(6)铆接为一体。5.根据权利要求3所述的片式电容器件自动测试装置，其特征在于：所述金属端子(6)为金属铆钉，所述上绝缘板(1.1)和下绝缘板(1.2)通过金属端子(6)铆接为一体。6.根据权利要求1或2所述的片式电容器件自动测试装置，其特征在于：所述三轴测试台(2)的工作台面并排连接有两个基座(1)。7.根据权利要求3所述的片式电容器件自动测试装置，其特征在于：所述三轴测试台(2)的工作台面并排连接有两个基座(1)。8.根据权利要求4所述的片式电容器件自动测试装置，其特征在于：所述三轴测试台(2)的工作台面并排连接有两个基座(1)。9.根据权利要求5所述的片式电容器件自动测试装置，其特征在于：所述三轴测试台(2)的工作台面并排连接有两个基座(1)。

技术总结
本实用新型涉及片式电容器件自动测试装置，包括基座、三轴测试台和测头,其特征是基座包括上、下绝缘板，上绝缘板上开设第一通孔，第一通孔成对设置形成阵列，每对第一通孔包括片式电容器件工位和引出端位各一个，片式电容器件工位的底部设置有导电片，下绝缘板上开设有与引出端位一一对应的第二通孔，金属端子固定在引出端位和对应的第二通孔中并且与导电片电连接，测头安装在三轴测试台的垂直轴上，测头的底部设置有容值、耐压值和绝缘值探针组，各探针组分别有两根弹性探针，两根弹性探针间的距离与片式电容器件工位同引出端位轴线间的距离相等。本实用新型结构简单、操作方便并能保证测试质量、提高测试效率和降低操作人员劳动强度。劳动强度。劳动强度。


技术研发人员：张勇 彭文彬 邓念平 白琳 张俊 聂飞 卢奇 李小宇 李松 史芸潞
受保护的技术使用者：湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
技术研发日：2021.08.13
技术公布日：2022/3/8