一种激光测距信号抗干扰方法与流程

1.本发明属于激光测距技术领域，具体涉及一种激光测距信号抗干扰方法。


背景技术：

2.随着计算机技术和激光检测技术的发展，在轨道交通基础设施综合检测系统研制主要采用的检测方案是：基于惯性导航系统为轨道基础设施结构的测量构建惯性基准平台，结合安装在测量框架上的激光测距仪测量轨道相关参数，可实现轨道几何参数、廓型、波磨、路基道床参数等多参数测量。而为获得轨道全廓型单侧轨道需要两台激光测距仪结合起来照射钢轨表面，如图1所示，在激光重叠区域会引起接收干扰，0#激光测距仪发出的激光被1#激光测距仪接收到，1#激光测距仪发出的激光被0#激光测距仪接收，2#、3#激光测距仪同理，从而引入计算误差。一般解决信号干扰的问题采用的方法是：单侧轨道的两个激光测距仪采用不同颜色的激光，因为波长不同，则可以避免激光信号干扰的问题，但会存在所使用激光测距仪没有两色激光的情况，本文提出一种采用同样颜色两组激光照射下的信号干扰的解决方案。


技术实现要素：

3.本发明需解决的技术问题是提供一种针对采用同样颜色的两台激光测距仪信号抗干扰方法。
4.为解决上述技术问题，本发明采取技术方案如下：
5.一种激光测距信号抗干扰方法，所述激光测距仪采用外触发工作模式，由两台激光测距仪联合测距，将其中一台激光测距仪的同步信号加入一反相器电路中，反相后作为另一台激光测距仪的触发信号。
6.与现有技术对比，本发明有益效果如下：
7.本发明通过同步信号的反相，实现了两个激光器的照射时间延时分开，即在实际工作过程中，两个对照的激光测距仪不同时开启工作，从而避免了信号的干扰。
附图说明
8.所包括的附图用来提供对本发明实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本发明的实施例，并与文字描述一起来阐释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
9.图1轨道交通基础设施综合检测系统激光测距仪照射示意图；
10.图2示出了本发明提供的反相器电路原理图；
11.图3示出了同步信号与反相信号波形图。
具体实施方式
12.需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
13.本发明提供的一种激光测距信号抗干扰方法，针对采用同样颜色两台激光测距仪时，为避免在激光重叠区域引起接收干扰，将其中一台激光测距仪的同步信号加入一反相器电路中，反相后作为另一台激光测距仪的触发信号。如图2所示，同步信号与反相信号如图3所示。将两个激光器的照射时间延时分开，从而避免了信号的干扰。
14.下面结合具体实施例对本发明进一步说明。
15.为获得轨道全廓型单侧轨道采用两台激光测距仪结合起来照射钢轨表面，如图1所示，0#、1#激光测距仪采用同样颜色，采用外触发工作模式，开启同步信号后激光开始工作。
16.0#激光测距仪接同步信号，同时同步信号加入反相电路作为1#激光测距仪同步信号。高电平触发，高电平脉宽10μs，0#激光测距仪开始发射激光，接收器接收激光。10μs后1#激光测距仪开始发射激光，接收器接收激光。按照列车的通常运行速度，地铁最高速度80km/h计算，两台激光测距仪照射位置相差：
17.80
×
1000/3600
×
10-6
＝0.022mm
18.高电平脉宽增加为100μs，两台激光测距仪照射位置仅相差0.22mm，对于轨道检测毫米级测量几乎没有影响。
19.以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。


技术特征：
1.一种激光测距信号抗干扰方法，所述激光测距仪采用外触发工作模式，由两台同样颜色激光测距仪联合测距，其特征在于，将其中一台激光测距仪的同步信号加入一反相器电路中，反相后作为另一台激光测距仪的触发信号。

技术总结
本发明公开了一种激光测距信号抗干扰方法，所述激光测距仪采用外触发工作模式，由两组同样颜色激光测距仪联合测距，将其中一台激光测距仪的同步信号加入一反相器电路中，反相后作为另一台激光测距仪的触发信号。本发明实现了两个激光器的照射时间延时分开，从而避免了信号的干扰。了信号的干扰。了信号的干扰。


技术研发人员：郭玉胜 王海军 庄广琛 裴新凯 王大元
受保护的技术使用者：北京自动化控制设备研究所
技术研发日：2021.10.29
技术公布日：2022/3/4