一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置的制作方法

1.本发明涉及电子产品测试技术领域，具体为一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置。


背景技术：

2.在电子产品的生产中，常常需要对生产的电子产品或电子产品组装零配件等进行热风湿热老化测试。当前用于热风湿热的结构，其通常为分体式的结构即两种不同的结构，测试工序复杂且老化测试效率低，即无法依据需要对电子产品或电子产品组装零配件等进行真实的模拟测试作业，已不能满足现有对电子成品、电子产品组装零配件等的高效、高标准热风湿热老化测试生产使用需求。
3.专利号cn201820416780.1，公开了一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构，由箱体、一组铰链、箱门、第一支撑板、第二支撑板、一组第一限位导槽、一组第二限位导槽、第一抽拉箱、第二抽拉箱、第一抽拉部、第二抽拉部、一组第一支撑滑轨、一组第二支撑滑轨、蒸汽发生组件和热风组件组成。本实用新型的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构的有益效果在于：能对电子产品或电子产品组装零配件等进行精准、高效和稳定的热风湿热老化测试，实现对不同产品或零部件的热风湿热模拟老化测试的不同要求，同时整体结构设计合理，降低了生产成本、提高了经济效益，适用范围广。
4.但是，现有的用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构，在使用完成后，无法同时对多个电子产品进行热风湿热检测，而且只能够进行热风湿热的老化检测，不能将冷循环检测机构和水雾检测机构结合在测试机构上，直接进行多种的检测，提升测试的多样性。


技术实现要素：

5.本发明的目的在于提供一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置，解决了背景技术中所提出的问题。
6.为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置，包括装置底壳，所述装置底壳顶部设置有热风湿热测试机构和冷循环测试机构；
7.所述热风湿热测试机构包括第一管道、第一抽气泵、第二管道、第一测试箱体、第三管道、第二抽气泵、第四管道、第二测试箱体、第五管道、第三抽气泵、第六管道、第三测试箱体、电热管、隔网、电机、电机轴和吹风扇叶；所述装置底壳顶部螺栓连接有装置箱体，所述装置底壳顶部左侧连通有第一管道，所述第一管道顶部连通有第一抽气泵，所述第一抽气泵顶部连通有第二管道的一端，所述第二管道的另一端连通有第一测试箱体，所述第一测试箱体右侧连通有第三管道，所述第三管道顶部连通有第二抽气泵，所述第二抽气泵顶部连通有第四管道，所述第四管道左侧连通有第二测试箱体，所述第二测试箱体左侧连通有第五管道，所述第五管道顶部连通有第三抽气泵，所述第三抽气泵顶部连通有第六管道，所述第六管道右侧连通有第三测试箱体，所述第一测试箱体、第二测试箱体和第三测试箱
体内部右侧均固定连接有隔网，所述第一测试箱体、第二测试箱体和第三测试箱体内部底端等距螺栓连接有多个电机，所述电机顶部连接有电机轴，所述电机轴顶部固定连接有吹风扇叶，所述装置底壳内部固定连接有电热管；
8.所述冷循环测试机构包括进料孔、盖板、方形孔、密封橡胶圈和半导体制冷片；所述第一测试箱体、第二测试箱体和第三测试箱体顶部均开设有进料孔，所述进料孔顶部放置有盖板，所述盖板顶部等距开设有三个方形孔，且方形孔内壁固定连接有密封橡胶圈，所述密封橡胶圈内壁固定连接有半导体制冷片。
9.作为本发明的一种优选实施方式，所述装置底壳内部底端螺栓连接有超声波雾化片。
10.作为本发明的一种优选实施方式，所述装置底壳顶部四角均固定连接有第一紫外线灯管，所述第一紫外线灯管顶部固定连接有第一测试箱体，所述第一测试箱体顶部四角均固定连接有第二紫外线灯管，所述第二紫外线灯管顶部固定连接有第二测试箱体，所述第二测试箱体顶部四角均固定连接有第三紫外线灯管，所述第三紫外线灯管顶部固定连接有第三测试箱体。
11.作为本发明的一种优选实施方式，所述装置底壳左侧顶部和右侧底部均连通有连接管的一端，所述连接管的另一端转动连接有管盖。
12.作为本发明的一种优选实施方式，所述装置箱体前侧左端固定连接有铰链，所述铰链前侧转动连接有箱体挡板。
13.作为本发明的一种优选实施方式，所述装置箱体底部为开放式结构。
14.作为本发明的一种优选实施方式，所述装置底壳、装置箱体、第一测试箱体、第二测试箱体、第三测试箱体、第一管道、第二管道、第三管道、第四管道、第五管道、第六管道、隔网和盖板均为不锈金属材质。
15.与现有技术相比，本发明的有益效果如下：
16.1.本发明通过在装置底壳顶部设置有测试箱体、管道和抽气泵，可以将多个管道分别连通三个测试箱体，能够将装置底壳内部产生的热蒸汽，输送到三个测试箱体内部，同时对三个测试箱体内部的电子产品进行湿热检测，在检测的过程中，还可以打开多个电机和吹风扇叶，进行热风检测，提升了检测的效率和效果，有利于更为实用的使用一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置。
17.2.本发明由于在盖板上的设置有方形孔和半导体制冷片，可以利用半导体制冷片具有冷端和热端，从而在热风检测时，将热端朝向测试箱体，提升测试箱体内部的热气，在进行冷循环检测时，可以将冷端朝向测试箱体，对测试箱体内部的电子产品进行冷循环检测，有利于更为实用的使用一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置。
18.3.本发明由于在装置底壳内部设置有超声波雾化片，可以利用超声波雾化片，使装置底壳内部的水产生水雾，从而将水雾在三个测试箱体内部循环，对电子产品进行水雾检测，有利于更为实用的使用一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置。
19.4.本发明由于在三个测试箱体之间设置有紫外线灯管，不仅可以利用紫外线灯管对三个测试箱体进行支撑，而且在支撑完成后，紫外线灯管能够对电子产品进行灯光老化测试，有利于更为实用的使用一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置。
附图说明
20.通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
21.图1为本发明一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置的整体结构示意图；
22.图2为本发明一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置的装置底壳和装置箱体内部结构示意图；
23.图3为本发明一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置的测试箱体内部结构示意图；
24.图4为本发明一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置的盖板结构示意图。
25.图中：1、装置底壳；2、装置箱体；3、铰链；4、箱体挡板；5、连接管；6、管盖；7、第一管道；8、第一抽气泵；9、第二管道；10、第一测试箱体；11、第三管道；12、第二抽气泵；13、第四管道；14、第二测试箱体；15、第五管道；16、第三抽气泵；17、第六管道；18、第三测试箱体；19、盖板；20、第一紫外线灯管；21、第二紫外线灯管；22、第三紫外线灯管；23、电热管；24、超声波雾化片；25、方形孔；26、密封橡胶圈；27、半导体制冷片；28、隔网；29、进料孔；30、电机；31、电机轴；32、吹风扇叶。
具体实施方式
26.请参阅图1-4，本发明提供一种技术方案：一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置，包括装置底壳1，所述装置底壳1顶部设置有热风湿热测试机构和冷循环测试机构；
27.所述热风湿热测试机构包括第一管道7、第一抽气泵8、第二管道9、第一测试箱体10、第三管道11、第二抽气泵12、第四管道13、第二测试箱体14、第五管道15、第三抽气泵16、第六管道17、第三测试箱体18、电热管23、隔网28、电机30、电机轴31和吹风扇叶32；所述装置底壳1顶部螺栓连接有装置箱体2，所述装置底壳1顶部左侧连通有第一管道7，所述第一管道7顶部连通有第一抽气泵8，所述第一抽气泵8顶部连通有第二管道9的一端，所述第二管道9的另一端连通有第一测试箱体10，所述第一测试箱体10右侧连通有第三管道11，所述第三管道11顶部连通有第二抽气泵12，所述第二抽气泵12顶部连通有第四管道13，所述第四管道13左侧连通有第二测试箱体14，所述第二测试箱体14左侧连通有第五管道15，所述第五管道15顶部连通有第三抽气泵16，所述第三抽气泵16顶部连通有第六管道17，所述第六管道17右侧连通有第三测试箱体18，所述第一测试箱体10、第二测试箱体14和第三测试箱体18内部右侧均固定连接有隔网28，所述第一测试箱体10、第二测试箱体14和第三测试箱体18内部底端等距螺栓连接有多个电机30，所述电机30顶部连接有电机轴31，所述电机轴31顶部固定连接有吹风扇叶32，所述装置底壳1内部固定连接有电热管23；
28.所述冷循环测试机构包括进料孔29、盖板19、方形孔25、密封橡胶圈26和半导体制冷片27；所述第一测试箱体10、第二测试箱体14和第三测试箱体18顶部均开设有进料孔29，所述进料孔29顶部放置有盖板19，所述盖板19顶部等距开设有三个方形孔25，且方形孔25内壁固定连接有密封橡胶圈26，所述密封橡胶圈26内壁固定连接有半导体制冷片27。
29.需要说明的是，通过在装置底壳1顶部设置有测试箱体、管道和抽气泵，可以将多个管道分别连通三个测试箱体，能够将装置底壳1内部产生的热蒸汽，输送到三个测试箱体内部，同时对三个测试箱体内部的电子产品进行湿热检测，在检测的过程中，还可以打开多个电机30和吹风扇叶32，进行热风检测，提升了检测的效率和效果，由于在盖板19上的设置有方形孔25和半导体制冷片27，可以利用半导体制冷片27具有冷端和热端，从而在热风检测时，将热端朝向测试箱体，提升测试箱体内部的热气，在进行冷循环检测时，可以将冷端朝向测试箱体，对测试箱体内部的电子产品进行冷循环检测。
30.本实施例中请参阅图1，所述装置底壳1内部底端螺栓连接有超声波雾化片24。
31.需要说明的是，由于在装置底壳1内部设置有超声波雾化片24，可以利用超声波雾化片24，使装置底壳1内部的水产生水雾，从而将水雾在三个测试箱体内部循环，对电子产品进行水雾检测。
32.本实施例中请参阅图1，所述装置底壳1顶部四角均固定连接有第一紫外线灯管20，所述第一紫外线灯管20顶部固定连接有第一测试箱体10，所述第一测试箱体10顶部四角均固定连接有第二紫外线灯管21，所述第二紫外线灯管21顶部固定连接有第二测试箱体14，所述第二测试箱体14顶部四角均固定连接有第三紫外线灯管22，所述第三紫外线灯管22顶部固定连接有第三测试箱体18。
33.需要说明的是，由于在三个测试箱体之间设置有紫外线灯管，不仅可以利用紫外线灯管对三个测试箱体进行支撑，而且在支撑完成后，紫外线灯管能够对电子产品进行灯光老化测试。
34.本实施例中请参阅图1，所述装置底壳1左侧顶部和右侧底部均连通有连接管5的一端，所述连接管5的另一端转动连接有管盖6。
35.本实施例中请参阅图1，所述装置箱体2前侧左端固定连接有铰链3，所述铰链3前侧转动连接有箱体挡板4。
36.本实施例中请参阅图1，所述装置箱体2底部为开放式结构。
37.本实施例中请参阅图1，所述装置底壳1、装置箱体2、第一测试箱体10、第二测试箱体14、第三测试箱体18、第一管道7、第二管道9、第三管道11、第四管道13、第五管道15、第六管道17、隔网28和盖板19均为不锈金属材质。
38.在一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置使用的时候，先将第一抽气泵8、第二抽气泵12、第三抽气泵16、电机30、半导体制冷片27、超声波雾化片24、电热管23、第一紫外线灯管20、第二紫外线灯管21和第三紫外线灯管22与外部电源电性连接，然后将第一抽气泵8、第二抽气泵12、第三抽气泵16、电机30、半导体制冷片27、超声波雾化片24、电热管23、第一紫外线灯管20、第二紫外线灯管21和第三紫外线灯管22与外部控制开关信号连接，在连接完成后，将电子产品分别放入到三个测试箱体内部的隔网28上，然后打开电热管23和三个抽气泵，使热蒸汽经过六个管道输送到第一测试箱体10、第二测试箱体14和第三测试箱体18内部，对电子产品进行湿热检测，当需要进行热风检测时，可以打开电机30，电机30带动电机轴31，电机轴31带动吹风扇叶32，对电子产品进行吹风，这时再打开半导体制冷片27，使半导体制冷片27的热端发出热气，对测试箱体内部进行加热，当需要对电子产品进行冷循环测试时，将盖板19翻转，使半导体制冷片27的冷端朝向测试箱体，朝测试箱体内部产生冷气，当需要进行水雾检测时，可以打开超声波雾化片24，利用超声波雾化片24，能
够使装置底壳1内部产生水雾，经过抽气泵输送到三个测试箱体内部，由于在三个测试箱体之间设置有紫外线灯管，不仅可以利用紫外线灯管对三个测试箱体进行支撑，而且在支撑完成后，紫外线灯管能够对电子产品进行灯光老化测试，本发明为一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试装置，包括1、装置底壳；2、装置箱体；3、铰链；4、箱体挡板；5、连接管；6、管盖；7、第一管道；8、第一抽气泵；9、第二管道；10、第一测试箱体；11、第三管道；12、第二抽气泵；13、第四管道；14、第二测试箱体；15、第五管道；16、第三抽气泵；17、第六管道；18、第三测试箱体；19、盖板；20、第一紫外线灯管；21、第二紫外线灯管；22、第三紫外线灯管；23、电热管；24、超声波雾化片；25、方形孔；26、密封橡胶圈；27、半导体制冷片；28、隔网；29、进料孔；30、电机；31、电机轴；32、吹风扇叶，部件均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件，其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知。