一种用于轴向引线元器件的载盒的制作方法

1.本实用新型涉及自动化设备领域，特别是涉及一种用于轴向引线元器件的载盒。


背景技术：

2.轴向引线元器件是电子元器件领域的常见封装类型，包括在电阻、电容、二极管等元器件领域都有应用。当这种元器件要应用于高可靠等级的领域时，除了要对元器件进行常规的参数测量，还要对元器件按相关标准进行老化等试验，以筛选出有缺陷的元器件。因此，对于较高等级的元器件，还要求对比老化前后及其它试验前后的元器件参数变化。
3.在现有技术中，老化过程和测试过程是采用不同的夹具以固定元器件，并用不同的方式接触元器件的轴向引脚。老化夹具通常采用老化座，装入及取出元器件均需插、拔的人工操作。大批量老化生产需用较多人工进行元器件在老化夹具上的上下料操作。测试夹具的方式较多，但一般不会直接采用老化夹具用于测试，而是需要对每个元器件在测试夹具上进行另一次上下料操作。现有技术对于较大数量的轴向引线元器件也不容易实现对比老化前后及其它试验前后的参数变化测试。


技术实现要素：

4.本实用新型的一个目的是要提供一种用于轴向引线元器件的载盒，在测试过程和老化过程中通用，简化元器件上下料操作，完成每个元器件在老化及其它试验前后的参数对比测试，提高测试或者老化效率。
5.特别地，本实用新型提供了一种用于轴向引线元器件的载盒，所述载盒内排列有多个用于容纳元器件的槽孔，所述槽孔包括：用于容纳元器件本体的主槽、用于容纳轴向引线的引线槽、用于容纳探针头的探针槽；所述主槽的两端分别引出所述引线槽，所述引线槽上设置有多个所述探针槽，探针头伸入所述探针槽并接触位于引线槽中的轴向引线。
6.优选的，所述主槽为在所述载盒厚度方向上的通孔槽。
7.优选的，每相邻两个槽孔交错放置。
8.优选的，所述载盒设置有唯一的编号、条码及编码元件。
9.优选的，在一个引线槽上设置有两个探针槽。
10.优选的，所述载盒的盒边沿设置有多个定位孔。
11.本实用新型的载盒由于其槽孔交错设置、紧密排列，因此每个元器件的轴向引线均匀敞开摆放并由引线槽固定，其检测点由探针槽确定位置。测试装置仅需要将对应的探针阵列下压至载盒，就能够使得探针阵列伸入对应的探针槽中进行测试。本实用新型的载盒有唯一的编号、条码及设备读取的编码元件，用于实现老化前后或其它试验前后的测试参数对比。
12.当轴向引线元件在加电时需要散热，容纳元器件主体的主槽设计成在载盒厚度方向上的通孔槽，因此，整个元器件主体处于悬空状态，上下通风，利于散热。元器件通过引线槽实现定位。
13.当载盒用于自动测试设备时，载盒可以在自动测试设备的测试台上先读取载盒的盒号，然后接受多组四针(采用开尔文测试模式时)或多组两针(采用两线测试模式时)在探针槽处压在轴向引线的两端，然后完成自动多路测试。多路测试可以大大提高测试效率。
14.根据下文结合附图对本实用新型具体实施例的详细描述，本领域技术人员将会更加明了本实用新型的上述以及其他目的、优点和特征。
附图说明
15.后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本实用新型的一些具体实施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的部件或部分。本领域技术人员应该理解，这些附图未必是按比例绘制的。附图中：
16.图1是用于轴向引线元器件载盒的正面示意图；
17.图2是轴向引线元器件在载盒中的分布图；
18.图3是四线测试探针卡与载盒的示意图；
19.图4是老化针板与载盒的位置关系示意图；
20.图5是已安装多个载盒的老化针板示意图；
21.图6是用于轴向引线元器件的载盒的底部示意图。
22.图中各符号所表示的含义如下：
23.1-载盒；2-主槽；3-引线槽；4-探针槽；5-定位孔；6-探针卡；7-老化针板。
具体实施方式
24.如图1所示，本实用新型的载盒用于轴向引线元器件，可适用于电阻、电容、二极管等元器件领域。载盒1内排列有多个用于容纳元器件的槽孔，每相邻两个槽孔交错放置，以使得排列紧密。交错分布方式如图2所示，一列孔槽与另一列孔槽交错放置，充分利用载盒的空间。载盒的盒边沿设置有多个定位孔5。
25.载盒1内的槽孔包括：用于容纳元器件本体的主槽2、用于容纳轴向引线的引线槽3、用于容纳探针头的探针槽4。位置关系如下：主槽2的两端分别引出引线槽3，引线槽3上设置有多个探针槽4。由于轴向引线元器件主要包括：元器件本体、由元器件本体两端分别向外延伸的两根轴向引线。因此，元器件本体放置在主槽2中，轴向引线放置在引线槽3中。探针槽4位于引线槽3上，并以引线槽3为基础向外扩展，以使得探针槽4的开口大小能够容纳探针头。一般需要四根测试探针或者两根测试探针，因此，在一个引线槽3上设置有两个探针槽4，每一个槽孔对应有四个探针槽4。当元器件放置在载盒中之后，探针头能够伸入探针槽4并接触位于引线槽3中的轴向引线。
26.如图6所示，从载盒的底部可以看出主槽为通孔槽，而引线槽为非通孔槽。结合图1、图2和图6，容纳元器件主体的主槽设计成在载盒厚度方向上的通孔槽，因此，当元器件放置于槽孔时，整个元器件通过引线槽实现定位，而元器件主体处于悬空状态，上下通风，利于在加电时需要散热。
27.载盒1还设置有唯一的编号、条码及编码元件，以便于测试设备或者老化设备读取编号，将获取的数据自动存储入对应的载盒编号下，实现老化前后或其它试验前后的测试参数对比。
28.如图3所示，当载盒1用于自动测试设备时，载盒1可以在自动测试设备的测试台上先被读取载盒的盒号。然后，四线测试探针卡6向下压向载盒1，探针卡6的探针头在探针槽4处压在轴向引线上，然后完成自动多路测试。当上述自动测试完成后，采用吸头将测试不合格品从盒中取出。还可以用吸头将合格品按测试数据进行分类吸出，实现对电子元器件按参数进行自动分类。
29.如图4和图5所示，当载盒1用于老化设备时，多个载盒1对应一个老化针板7。载盒1上的定位孔5能够用于在老化针板7上的定位，载盒1预先装在有多组两针的探针阵列的老化针板7上。老化针板7上还设有压接每个载盒上编码元件的探针，以使得老化机能够识别所有插入的载盒的盒号及位置。
30.综上，本实用新型的载盒由于其槽孔交错设置、紧密排列，因此每个元器件的轴向引线均匀敞开摆放并由引线槽固定，其检测点由探针槽确定位置。测试装置仅需要将对应的探针阵列下压至载盒，就能够使得探针阵列伸入对应的探针槽中进行测试。本实用新型的载盒有唯一的编号、条码及设备读取的编码元件，用于实现老化前后或其它试验前后的测试参数对比。
31.至此，本领域技术人员应认识到，虽然本文已详尽示出和描述了本实用新型的多个示例性实施例，但是，在不脱离本实用新型精神和范围的情况下，仍可根据本实用新型公开的内容直接确定或推导出符合本实用新型原理的许多其他变型或修改。因此，本实用新型的范围应被理解和认定为覆盖了所有这些其他变型或修改。


技术特征：
1.一种用于轴向引线元器件的载盒，其特征在于，所述载盒内排列有多个用于容纳元器件的槽孔，所述槽孔包括：用于容纳元器件本体的主槽、用于容纳轴向引线的引线槽、用于容纳探针头的探针槽；所述主槽的两端分别引出所述引线槽，所述引线槽上设置有多个所述探针槽，探针头伸入所述探针槽并接触位于引线槽中的轴向引线。2.根据权利要求1所述的载盒，其特征在于，所述主槽为在所述载盒厚度方向上的通孔槽。3.根据权利要求1所述的载盒，其特征在于，每相邻两个槽孔交错放置。4.根据权利要求1所述的载盒，其特征在于，所述载盒设置有唯一的编号、条码及编码元件。5.根据权利要求1所述的载盒，其特征在于，在一个引线槽上设置有两个探针槽。6.根据权利要求1所述的载盒，其特征在于，所述载盒的盒边沿设置有多个定位孔。

技术总结
本实用新型提供了一种用于轴向引线元器件的载盒，所述载盒内排列有多个用于容纳元器件的槽孔，所述槽孔包括：用于容纳元器件本体的主槽、用于容纳轴向引线的引线槽、用于容纳探针头的探针槽；所述主槽的两端分别引出所述引线槽，所述引线槽上设置有多个所述探针槽，探针头伸入所述探针槽并接触位于引线槽中的轴向引线。载盒在在测试过程和老化过程中通用，简化元器件上下料操作，完成每个元器件在老化及其它试验前后的参数对比测试，提高测试或者老化效率。或者老化效率。或者老化效率。


技术研发人员：熊焰明 杨晔
受保护的技术使用者：江苏伊施德创新科技有限公司
技术研发日：2021.04.23
技术公布日：2022/2/7