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测量激光器相对强度噪声的装置及测量方法与流程

2022-02-22 07:58:19 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种测量激光器相对强度噪声的装置,其特征在于,包括:载物台,所述载物台的侧面设置有第一光学支架和第二光学支架;所述第一光学支架上设置有探针,所述探针的接触端位于所述载物台之上,所述探针连接有电流源;所述第二光学支架上连接有耦合光纤,所述耦合光纤的一端正对所述载物台,另一端连接光电探测器,所述光电探测器的电信号输出端连接频谱仪。2.根据权利要求1所述的测量激光器相对强度噪声的装置,其特征在于,所述耦合光纤的另一端与所述光电探测器之间连接有隔离器。3.根据权利要求1所述的测量激光器相对强度噪声的装置,其特征在于,所述光电探测器的电信号输出端与所述频谱仪之间连接有信号放大器。4.根据权利要求1-3任一项所述的测量激光器相对强度噪声的装置,其特征在于,所述探针为gs探针或gsg探针。5.根据权利要求1-3任一项所述的测量激光器相对强度噪声的装置,其特征在于,所述耦合光纤正对所述载物台的端部设置有光汇聚光学元件。6.根据权利要求5所述的测量激光器相对强度噪声的装置,其特征在于,所述光汇聚光学元件包括凸透镜或汇聚光栅。7.一种采用权利要求1-6任一项所述测量激光器相对强度噪声的装置的相对强度噪声测量方法,其特征在于,包括以下步骤:所述电流源通过所述探针向设置在所述载物台上的激光器提供预定电流,以使所述激光器发射激光;所述激光经所述耦合光纤传输至光电探测器,所述光电探测器感知所述激光产生光电流;根据以下关系式获得相对强度噪声:其中,rin为相对强度噪声,n2为均方根噪声,p2为平均光功率,n
tot
为总噪声,n
shot
为光电探测器散弹噪声,n
th
为仪表噪声,i
dc
为光电流,r
l
为光电探测器端口阻抗。8.根据权利要求7所述的相对强度噪声测量方法,其特征在于,所述光电探测器散弹噪声由以下方式获得:分别以不同的驱动电流点亮所述激光器,以获得所述光电探测器在不同的所述驱动电流下的探测器光功率;基于所述光电探测器的灵敏度及所述探测器光功率,确定光电流;基于以下关系式确定所述光电探测器散弹噪声:n
shot
=2qi
dc
r
l
;其中,n
shot
为光电探测器散弹噪声,q为单位电荷电量,i
dc
为光电流,r
l
为光电探测器端口阻抗。9.根据权利要求7所述的相对强度噪声测量方法,其特征在于,所述耦合光纤为多模光纤,在测量所述相对强度噪声之前还包括:
调整耦合光纤相对于被测激光器的位置,使所述耦合光纤耦合的多种模式的激光相对均匀。

技术总结
本申请公开了一种测量激光器相对强度噪声的装置及测量方法,其中,测量激光器相对强度噪声的装置包括载物台,载物台的侧面设置有第一光学支架和第二光学支架;所述第一光学支架上设置有探针,探针的接触端位于所述载物台之上,所述探针连接有电流源;所述第二光学支架上连接有耦合光纤,所述耦合光纤的一端正对所述载物台,另一端连接光电探测器,所述光电探测器的电信号输出端连接频谱仪。上述方案,可以将未经切割与封装的激光器阵列固定在载物台,电流源通过探针来对目标激光器提供驱动电流,光电探测器根据耦合光纤耦合进来的激光器所发出的激光,产生光电流,通过该光电流进行相对强度噪声计算,以获得对应激光器的相对强度噪声。强度噪声。强度噪声。


技术研发人员:胡华文 沈志强
受保护的技术使用者:深圳博升光电科技有限公司
技术研发日:2020.12.28
技术公布日:2022/2/6
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