无盲区磁致伸缩物位传感器的测算方法与流程

技术特征：
1.无盲区磁致伸缩物位传感器的测算方法，其特征在于，包括以下步骤：s1.得到机械形变发生在波导丝末端至测量主板的时间常量t1；s2.在磁致伸缩物位传感器的盲区内发射探寻信号；s3.读取盲区内的回波信号时间值t2；s4.计算得到盲区内的接收信号时间值t3；s5.计算得到盲区内的物位值h1。2.根据权利要求1所述的无盲区磁致伸缩物位传感器的测算方法，其特征在于，所述步骤s1包括：a.在磁致伸缩物位传感器的盲区外发射探寻信号；b.读取初始接收信号时间值ta和初始回波信号时间值tb；c.计算得到时间常量t1。3.根据权利要求2所述的无盲区磁致伸缩物位传感器的测算方法，其特征在于，所述时间常量t1符合公式：t1＝(ta tb)/2 (1)。4.根据权利要求3所述的无盲区磁致伸缩物位传感器的测算方法，其特征在于，所述s4中盲区内的接收信号时间值t3符合公式：t3＝(t1*2)-t2 (2)。5.根据权利要求4所述的无盲区磁致伸缩物位传感器的测算方法，其特征在于，所述步骤s5中盲区内的物位值h1符合公式：h1＝t3*v (3)，其中，v是机械形变在波导丝中的传播速度，为常量。6.根据权利要求1所述的无盲区磁致伸缩物位传感器的测算方法，其特征在于，所述磁致伸缩物位传感器的盲区为测量主板至波导丝中部的一段距离d1，距离d1满足d1＜0.15m。7.根据权利要求1所述的无盲区磁致伸缩物位传感器的测算方法，其特征在于，还包括：s0.得到磁致伸缩物位传感器的盲区距离d1'。8.根据权利要求7所述的无盲区磁致伸缩物位传感器的测算方法，其特征在于，所述s0为：发射若干探寻信号，分别对不同距离处的物体进行物位值的测量，分别检测是否探测到接收信号，盲区距离d1'为探测到接收信号的物体至测量主板之间的最短距离。

技术总结
本发明公开了无盲区磁致伸缩物位传感器的测算方法，包括以下步骤：S1.得到机械形变发生在波导丝末端至测量主板的时间常量t1；S2.在磁致伸缩物位传感器的盲区内发射探寻信号；S3.读取盲区内的回波信号时间值t2；S4.计算得到盲区内的接收信号时间值t3；S5.计算得到盲区内的物位值H1。本发明公开的一种无盲区磁致伸缩物位传感器的测算方法，使得磁致伸缩物位传感器不存在盲区，即无需对传统的磁致伸缩物位传感器做出任何改变，就可以实现无盲区的测量，也不需要通过加长传感器来抵消盲区处的测量，可保持物料的使用和成本控制。可保持物料的使用和成本控制。可保持物料的使用和成本控制。


技术研发人员：张晓栋 李长奇
受保护的技术使用者：常州市成丰流量仪表有限公司
技术研发日：2021.10.15
技术公布日：2022/1/14