一种用于干涉仪的检测装置的制作方法

1.本实用新型属于干涉仪技术领域，具体涉及一种用于干涉仪的检测装置。


背景技术：

2.现光学行业使用检测表面平整度的工具干涉仪(f601f ii倒立式富士干涉仪)主要包括布置在下的可调节检测平台，布置在上的镜头及布置在旁的显示器三大部分。其中，检测平台用于放置被检测镜片，由于被检测透镜的曲率半径(r)不一样，所以需要根据镜片r值来调节检测平台相对于镜头的高度从而找到被检测镜片的焦点(俗称猫眼oso)，焦点的的位置可通过显示器显示出来。
3.但是现在的干涉仪检测装置在高频率的调高过程中，调节装置的稳定性差，使得检测台轻微晃动，影响检测结果。另外现有的干涉仪的检测装置在调节高度的同时不能转动，不能满足多角度测量。


技术实现要素：

4.本实用新型解决的技术问题：现在的干涉仪检测装置在高频率的调高过程中，调节装置的稳定性差，使得检测台轻微晃动，影响检测结果。另外现有的干涉仪的检测装置在调节高度的同时不能转动，不能满足多角度测量。
5.技术方案：为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案如下：
6.一种用于干涉仪的检测装置，包括底板、高度调节装置、旋转台和干涉仪支撑台；干涉仪支撑台四角设置在底板上，高度调节装置设置在干涉仪支撑台的中心下方并固定在底板上，旋转台设置在高度调节装置上；
7.所述高度调节装置包括本体，本体中间滑动连接有立柱，立柱上纵向均匀开设有卡孔，本体的内部贯穿有插杆，且插杆的边侧连接有第一弹簧。
8.进一步地，所述插杆的外端设置把手。
9.进一步地，所述旋转台包括转座、转盘和刻度；所述转座固定在立柱顶部，转座的中部设有转盘，转盘可在转座上沿轴心转动，转座的边缘设有刻度。
10.进一步地，所述转座的中间设有孔，转盘的底部设有转轴，孔内设有轴承，转轴设置在轴承内。
11.进一步地，所述转座的边缘设有凸缘，凸缘上设置刻度，对应的转盘上设置箭头标记；在所述箭头标记的一旁设置外端开口的沟槽，沟槽内设置可拨动的限位磁铁，限位磁铁高于转盘；所述凸缘为铁质凸缘。
12.进一步地，所述限位磁铁的后部设置复位弹簧。
13.进一步地，所述转轴的底部设置第二弹簧；所述转盘的底端面圆周均匀设置若干卡柱，转座上表面对应卡柱的位置设置卡槽；
14.所述卡柱与卡槽之间为卡合连接，卡合连接后第二弹簧处于初始状态。
15.进一步地，所述卡柱的底部为凸起的半球形，对应的卡槽为内凹的半球形卡槽。
16.有益效果：与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：
17.(1)本实用新型在检测平台下设置高度调节装置，其中立柱沿装置本体的内部上下滑动，对装置的高度进行调节，插杆与立柱内部开设的卡孔进行卡合，对高度进行固定，通过插杆的设置，保证高度可调的同时，对高度进行固定，避免使用过程中出现晃动，影响检测结果。
18.(2)本申请的检测平台即转盘可转动，对物品进行多角度校测，使用更加方便。转盘与转座之间通过轴承连接，转动更加顺畅。
19.(3)在转盘与转座之间设置沟槽、限位磁铁和凸起的铁质刻度可以保证转盘转动一定角度后锁紧固定，转盘固定后便于进行检测。
附图说明
20.图1是本实用新型整体结构示意图；
21.图2是旋转台结构剖视图；
22.图3是图2的俯视图；
23.图4是旋转台结构剖视图。
具体实施方式
24.下面结合具体实施例，进一步阐明本发明，实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施，应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。
25.如图1所示，本申请的一种用于干涉仪的检测装置，包括底板1、高度调节装置、旋转台和干涉仪支撑台4；干涉仪支撑台4四角设置在底板1上，高度调节装置设置在干涉仪支撑台4的中心下方并固定在底板1上，旋转台设置在高度调节装置上。
26.高度调节装置包括本体21，本体21中间滑动连接有立柱22，立柱22上纵向均匀开设有卡孔23，本体21的内部贯穿有插杆24，且插杆24的边侧连接有第一弹簧25。
27.使用时，将插杆24拉出，然后升高或降低立柱22，完毕后将插杆24插入卡孔23内完成高度的调节。
28.为了便于使用，在插杆24的外端设置把手26。
29.旋转台包括转座31、转盘32和刻度33，转座31固定在立柱22顶部，转座31的中部设有转盘32，转盘32可在转座31上沿轴心转动，转座31的边缘设有刻度33。
30.转盘32转动到固定刻度33时，转盘32盘固定，所以转盘32和转座31之间的连接方式包括但不限于以下几种：
31.第一种：如图2、3所示，转座31的中间设有孔34，转盘32的底部设有转轴35，孔34内设有轴承36，转轴35设置在轴承36内。转座31的边缘设有凸缘37，凸缘37上设置刻度33，对应的转盘32上设置箭头标记38，箭头标记38用于对应刻度33，在箭头标记38的一旁设置外端开口的沟槽39，沟槽39内设置可拨动的限位磁铁391，限位磁铁391高于转盘32。上述的凸缘37为铁质凸缘。当转动转盘32到指定位置后，将限位磁铁391拨动至凸缘37一侧，限位磁铁391吸附凸缘37从而将转盘32固定。
32.在限位磁铁391的后部设置复位弹簧392，便于限位磁铁391的拨动。
33.第二种：如图4所示，转座31的中间设有孔34，转盘32的底部设有转轴35，孔34内设
有轴承36，转轴35设置在轴承36内；转轴35的底部设置第二弹簧351，第二弹簧351用于连接转轴35和孔34的底部；转盘32的底端面圆周均匀设置若干卡柱321，转座31上表面对应卡柱321的位置设置卡槽311。
34.卡柱321与卡槽311之间为卡合连接，卡合连接后第二弹簧351处于初始状态，需要转动时，抬起转盘32，使得卡柱321与卡槽311脱离，对角度进行调节后，将转盘32放下，第二弹簧351起到复位并固定的作用，卡柱321与卡槽311重新卡合，通过卡柱321的设置，使得转向角度可被固定。
35.转盘32直径小于转座31，转座31的边缘设置刻度33，转盘32的表面设置箭头标记38。
36.为了便于滑动，卡柱321的底部为凸起的半球形，对应的卡槽311为内凹的半球形卡槽311。
37.由于卡槽311和卡柱321的数量有限，所以第二种方式的调节角度范围不低于10
°
，所以相比于第一种方式，第二种方式的调节角度有限。但是可满足干涉仪检测装置使用。
38.以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。


技术特征：
1.一种用于干涉仪的检测装置，其特征在于：包括底板(1)、高度调节装置、旋转台和干涉仪支撑台(4)；干涉仪支撑台(4)四角设置在底板(1)上，高度调节装置设置在干涉仪支撑台(4)的中心下方并固定在底板(1)上，旋转台设置在高度调节装置上；所述高度调节装置包括本体(21)，本体(21)中间滑动连接有立柱(22)，立柱(22)纵向均匀开设有卡孔(23)，本体(21)的内部贯穿有插杆(24)，且插杆(24)的边侧连接有第一弹簧(25)。2.根据权利要求1所述的用于干涉仪的检测装置，其特征在于：所述插杆(24)的外端设置把手(26)。3.根据权利要求1所述的用于干涉仪的检测装置，其特征在于：所述旋转台包括转座(31)、转盘(32)和刻度(33)；所述转座(31)固定在立柱(22)顶部，转座(31)的中部设有转盘(32)，转盘(32)可在转座(31)上沿轴心转动，转座(31)的边缘设有刻度(33)。4.根据权利要求3所述的用于干涉仪的检测装置，其特征在于：所述转座(31)的中间设有孔(34)，转盘(32)的底部设有转轴(35)，孔(34)内设有轴承(36)，转轴(35)设置在轴承(36)内。5.根据权利要求4所述的用于干涉仪的检测装置，其特征在于：所述转座(31)的边缘设有凸缘(37)，凸缘(37)上设置刻度(33)，对应的转盘(32)上设置箭头标记(38)；在所述箭头标记(38)的一旁设置外端开口的沟槽(39)，沟槽(39)内设置可拨动的限位磁铁(391)，限位磁铁(391)高于转盘(32)；所述凸缘(37)为铁质凸缘。6.根据权利要求5所述的用于干涉仪的检测装置，其特征在于：所述限位磁铁(391)的后部设置复位弹簧(392)。7.根据权利要求4所述的用于干涉仪的检测装置，其特征在于：所述转轴(35)的底部设置第二弹簧(351)；所述转盘(32)的底端面圆周均匀设置若干卡柱(321)，转座(31)上表面对应卡柱(321)的位置设置卡槽(311)；所述卡柱(321)与卡槽(311)之间为卡合连接，卡合连接后第二弹簧(351)处于初始状态。8.根据权利要求7所述的用于干涉仪的检测装置，其特征在于：所述卡柱(321)的底部为凸起的半球形，对应的卡槽(311)为内凹的半球形卡槽(311)。

技术总结
本实用新型属于干涉仪领域，具体涉及一种用于干涉仪的检测装置，包括底板、高度调节装置、旋转台和干涉仪支撑台；干涉仪支撑台四角设置在底板上，高度调节装置设置在干涉仪支撑台的中心下方并固定在底板上，旋转台设置在高度调节装置上；高度调节装置包括本体，本体中间滑动连接有立柱，立柱上纵向均匀开设有卡孔，本体的内部贯穿有插杆，且插杆的边侧连接有第一弹簧。解决了现在的干涉仪检测装置在高频率的调高过程中，调节装置的稳定性差，使得检测台轻微晃动，影响检测结果。另外现有的干涉仪的检测装置在调节高度的同时不能转动，不能满足多角度测量的技术问题。能满足多角度测量的技术问题。能满足多角度测量的技术问题。


技术研发人员：崔王斌
受保护的技术使用者：南京格奥光电科技有限公司
技术研发日：2021.07.02
技术公布日：2021/11/29