一种集成式便于快速对准测量的结构的制作方法

技术特征：
1.一种集成式便于快速对准测量的结构，包括装置本体(1)，其特征在于：所述装置本体(1)包括光学底板(110)，所述光学底板(110)上设有光束质量分析仪(111)，所述光束质量分析仪(111)一侧的光学底板(110)上通过阻尼转轴安装有反射镜(113)，所述反射镜(113)一面的光学底板(110)上通过阻尼转轴安装有偏振片(114)，所述偏振片(114)一侧的光学底板(110)上安装有光束收集器(112)，所述偏振片(114)另一侧的光学底板(110)上通过阻尼转轴安装有半波片(115)。2.根据权利要求1所述的一种集成式便于快速对准测量的结构，其特征在于：所述光学底板(110)上均匀开设有螺孔(116)，且各个螺孔(116)之间的距离为2.5cm，所述光学底板(110)四个顶点的螺孔(116)中皆插入有m6螺丝(117)，且m6螺丝(117)的规格和螺孔(116)的规格相适配。3.根据权利要求2所述的一种集成式便于快速对准测量的结构，其特征在于：所述光束质量分析仪(111)和光束收集器(112)通过压块和m6螺丝(117)进行安装，且m6螺丝(117)规格和压块规格相适配。4.根据权利要求3所述的一种集成式便于快速对准测量的结构，其特征在于：所述光学底板(110)和压块的材质皆为铝制，所述光学底板(110)的大小型号为40*60cm。5.根据权利要求1所述的一种集成式便于快速对准测量的结构，其特征在于：所述反射镜(113)和偏振片(114)的初始安装角度皆为45
°
，所述偏振片(114)和反射镜(113)直径为50mm。6.根据权利要求1所述的一种集成式便于快速对准测量的结构，其特征在于：所述光束质量分析仪(111)和反射镜(113)内侧的光学底板(110)上安装有衰减片架(118)，所述衰减片架(118)的一端开设有衰减片槽(119)，且衰减片槽(119)的数量为三个。

技术总结
本实用新型涉及激光测量技术领域，具体为一种集成式便于快速对准测量的结构，包括装置本体，所述装置本体包括光学底板，所述光学底板上设有光束质量分析仪，所述光束质量分析仪一侧的光学底板上通过阻尼转轴安装有反射镜，所述反射镜一面的光学底板上通过阻尼转轴安装有偏振片，所述偏振片一侧的光学底板上安装有光束收集器。本实用新型通过设置有反射镜、偏振片、光束收集器和半波片，这样利用可调节的反射镜和偏振片来实现改变入射光的偏振态，进而控制进入光束质量分析仪的功率大小，这样就减少了来回添加衰减片控制入射功率的过程，从而达到快速调试，让本装置的测量效率更高，同时本装置结构简单、操作简便，更加便于工作人员进行操作。人员进行操作。人员进行操作。


技术研发人员：王章鹏 邢雪冰 方磊 朱国山 胡召意 查根胜
受保护的技术使用者：安徽华创鸿度光电科技有限公司
技术研发日：2021.05.24
技术公布日：2021/11/9