时间交织ADC的失调失配校准方法及校准器与流程

技术特征：
1.一种时间交织adc的失调失配校准方法，其特征在于，所述方法包括：在采样周期内，分别计算待校准adc在第一直流信号作用下的第一输出信号的第一平均值coda，以及所述待校准adc在第二直流信号作用下的第二输出信号的第二平均值codb；计算所述第一平均值coda和所述第二平均值codb的均值，作为第三平均值；计算所述第三平均值与标准值的差值，作为失调值deltavo，所述标准值为所述待校准adc在标准直流信号作用下的理想值；根据所述失调值deltavo，确定所述待校准adc的失调校准值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一直流信号和所述第二直流信号均由内置的dac输出。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述标准直流信号为第一电压值、所述第一直流信号为第二电压值、所述第二直流信号为第三电压值；所述第二电压值的绝对值与所述第一电压值的绝对值的第一差值，与所述第三电压值的绝对值与所述第一电压值的绝对值的第二差值相等。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在采样周期内，分别计算待校准adc在第一直流信号作用下的第一输出信号的第一平均值coda，以及所述待校准adc在第二直流信号作用下的第二输出信号的第二平均值codb包括：在所述采样周期内，采集所述待校准adc在所述第一直流信号作用下的至少部分第一输出信号，计算所述至少部分第一输出信号的信号值的和与所述至少部分第一输出信号的个数的比值，为所述第一平均值coda；以及在所述采样周期内，采集待校准adc在所述第二直流信号下的至少部分第二输出信号，计算所述至少部分第二输出信号的信号值的和与所述至少部分第二输出信号的个数的比值，为所述第二平均值codb。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待校准adc为n个，n大于等于2，在当前的待校准adc完成校准之后，所述方法还包括：对在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的失调校准值进行校验。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述对在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的失调校准值进行校验包括：校验在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的失调校准值是否有效；在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的失调校准值失效的情况下，对所述失调校准值失效的待校准adc重新进行失调失配校准；在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的失调校准值有效的情况下，对下一个待校准adc进行失调失配校准。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，在所述当前的待校准adc完成校准之后，所述方法还包括：对进行失调失配校准后的待校准adc的状态标识寄存器的标识字置为目标标识；所述校验在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的失调校准值是否有效包括：校验在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的状态标识寄存器的标识字是否为所述目标标识，若非所述目标标识，则在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校
准adc的失调校准值失效，若为所述目标标识，则在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的失调校准值有效。8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一输出信号和所述第二输出信号均为经过初始失调校准值校准后的信号，所述根据所述失调值deltavo，确定所述待校准adc的失调校准值包括：在所述失调值deltavo的绝对值超出校准阈值的情况下，利用所述失调值deltavo对所述初始失调校准值进行修正，得到修正失调校准值；根据所述修正失调校准值对所述失调值deltavo进行修正，直至失调值deltavo不超出所述校准阈值，所述待校准adc完成校准；在所述待校准adc完成校准的情况下，以所述修正失调校准值作为所述待校准adc的失调校准值；在所述失调值deltavo的绝对值未超出校准阈值的情况下，以所述初始失调校准值作为所述失调校准值。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据所述修正失调校准值对所述失调值deltavo进行修正包括：所述第一直流信号和所述第二直流信号在所述修正失调校准值的校准作用下，得到第一输出信号和第二输出信号；求取所述第一输出信号的第一平均值coda和所述第二输出信号的第二平均值codb的均值，作为第三平均值；计算所述第三平均值与所述标准值的差值，为修正后的失调值deltavo，所述标准值为所述待校准adc在标准直流信号作用下的理想值。10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述利用所述失调值deltavo对所述初始失调校准值进行修正修正失调校准值包括：对寄存器中以第一状态存储的初始失调校准值，转换为第二状态的初始失调校准值，所述第一状态和所述第二状态相对应；对所述第二状态的初始失调校准值和所述失调值deltavo作差，得到差值作为所述修正失调校准值。11.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述利用所述失调值deltavo对所述初始失调校准值进行修正修正失调校准值包括：对第二状态的所述失调值deltavo，转换为第一状态的失调值deltavo，对寄存器中以第一状态存储的初始失调校准值和所述第一状态的失调值deltavo作差，得到差值作为所述修正失调校准值。12.一种校准器，其特征在于，包括：第一平均模块，用于在采样周期内，分别计算待校准adc在第一直流信号作用下的第一输出信号的第一平均值coda，以及所述待校准adc在第二直流信号作用下的第二输出信号的第二平均值codb；第二平均模块，用于计算所述第一平均值coda和所述第二平均值codb的均值，作为第三平均值；计算模块，用于计算所述第三平均值与标准值的差值，为失调值deltavo，所述标准值
为所述待校准adc在标准直流信号作用下的理想值；确定模块，用于根据所述失调值deltavo，确定所述待校准adc的失调校准值。13.根据权利要求12所述的校准器，其特征在于，所述第一平均模块包括：第一平均单元，用于在所述采样周期内，采集待校准adc在所述第一直流信号作用下的至少部分第一输出信号，计算所述至少部分第一输出信号的信号值的和与所述至少部分第一输出信号的个数的比值，为所述第一平均值coda；第二平均单元，用于在所述采样周期内，采集待校准adc在所述第二直流信号下的至少部分第二输出信号，计算所述至少部分第二输出信号的信号值的和与所述至少部分第二输出信号的个数的比值，为所述第二平均值codb。14.根据权利要求12所述的校准器，其特征在于，还包括：校验模块，用于对在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的失调校准值进行校验。15.根据权利要求14所述的校准器，其特征在于，所述校验模块包括：第一校验单元，用于校验在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的失调校准值是否有效；在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的失调校准值失效的情况下，对所述失调校准值失效的待校准adc重新进行失调失配校准；在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的失调校准值有效的情况下，对下一个待校准adc进行失调失配校准。16.根据权利要求15所述的校准器，其特征在于，还包括：寄存器模块，用于对进行失调失配校准后的待校准adc的状态标识寄存器的标识字置为目标标识；所述校验模块还包括：第二校验单元，用于校验在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的状态标识寄存器的标识字是否为所述目标标识，若非所述目标标识，则在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的失调校准值失效，若为所述目标标识，则在所述当前的待校准adc之前校准完成的待校准adc的失调校准值有效。17.根据权利要求12所述的校准器，其特征在于，所述确定模块包括：第一修正单元，用于在所述失调值deltavo的绝对值超出校准阈值的情况下，利用所述失调值deltavo对所述初始失调校准值进行修正，得到修正失调校准值；第二修正单元，用于根据所述修正失调校准值对所述失调值deltavo进行修正，直至失调值deltavo不超出所述校准阈值，所述待校准adc完成校准；在所述待校准adc完成校准的情况下，以所述修正失调校准值作为所述待校准adc的失调校准值；在所述失调值deltavo的绝对值未超出校准阈值的情况下，以所述初始失调校准值作为所述失调校准值。18.根据权利要求17所述的校准器，其特征在于，所述第二修正单元包括：输出子单元，用于所述第一直流信号和所述第二直流信号在所述修正失调校准值的校准作用下，得到第一输出信号和第二输出信号；
平均子单元，用于求取所述第一输出信号的第一平均值coda和所述第二输出信号的第二平均值codb的均值，作为第三平均值；修正子单元，用于计算所述第三平均值与所述标准值的差值，为修正后的失调值deltavo，所述标准值为所述待校准adc在标准直流信号作用下的理想值。19.根据权利要求17所述的校准器，其特征在于，所述第一修正单元包括：转换子单元，用于对寄存器中以第一状态存储的初始失调校准值，转换为第二状态的初始失调校准值，所述第一状态和所述第二状态相对应；修正子单元，用于对所述第二状态的初始失调校准值和所述失调值deltavo作差，得到差值作为所述修正失调校准值。20.根据权利要求17所述的校准器，其特征在于，所述第一修正单元包括：转换子单元，对第二状态的所述失调值deltavo，转换为第一状态的失调值deltavo；修正子单元，对寄存器中以第一状态存储的初始失调校准值和所述第一状态的失调值deltavo作差，得到差值作为所述修正失调校准值。

技术总结
本申请实施例提供了一种时间交织ADC的失调失配校准方法及校准器，进行失调失配校准时，向待校准ADC输入直流信号，不需要对待校准的ADC从外部施加额外的标准交流信号，对整机系统设计要求低，且不会对校准精确度造成影响。此外，待校准ADC在标准直流信号的作用下输出标准值，以该标准值作为待校准ADC的基准值，无需选择基准通道，也就避免了选择基准通道时，由于工艺偏差的原因，导致ADC校准失败率高，影响ADC良率的问题。影响ADC良率的问题。影响ADC良率的问题。


技术研发人员：方超敏 罗浚洲 王悦
受保护的技术使用者：普源精电科技股份有限公司
技术研发日：2021.07.14
技术公布日：2021/11/9