光耦高压测试机构的制作方法

技术特征：
1.一种光耦高压测试机构，其特征在于：包括底板，底板上设有用以输送光耦的倾斜通道，通道的左右两侧对称设有测试爪组件，测试爪组件均经驱动机构驱动靠近或远离同侧的光耦引脚。2.根据权利要求1所述的光耦高压测试机构，其特征在于：通道包括相互平行设置的下直板与上直板，上直板的底面设有用以光耦顶部嵌入滑动的直槽，直槽与下直板之间形成光耦的滑移槽道。3.根据权利要求1所述的光耦高压测试机构，其特征在于：测试爪组件均包括位于底板上的活动座体，活动座体均沿通道长侧均布若干测试触片；驱动机构均包括安装在底板上的驱动气缸，驱动气缸的活塞杆均连接活动座体，活动座体上均设有导块，导块均插入底板上左右延伸的导槽，进行左右往复移动导向。4.根据权利要求2所述的光耦高压测试机构，其特征在于：两左右对称设置的测试爪组件组成第一光耦高压测试组，第一光耦高压测试组的后方设有结构相同的第二光耦高压测试组。5.根据权利要求4所述的光耦高压测试机构，其特征在于：上直板内部竖直穿设有位于第一光耦高压测试组与第二光耦高压测试组之间的第一挡块、第二光耦高压测试组后方的第二挡块，第一挡块与第二挡块均经挡块气缸驱动升降；上、下直板沿长侧均布有若干个对应光耦的光孔，底板顶部、底部在每个光孔上、下方同轴设有光电传感器。6.根据权利要求2所述的光耦高压测试机构，其特征在于：通道在测试爪组件的前方自前往后依次设有上料组件、分粒组件，通道在测试爪组件的后方设有下料组件。7.根据权利要求6所述的光耦高压测试机构，其特征在于：上料组件包括铰接在通道前端的旋转座体，旋转座体经旋转用气缸驱动摆转，旋转用气缸的缸体末端与底板铰接，旋转用气缸的活塞杆与旋转座体铰接；旋转座体上固连有用以同步摆转衔接通道的底座，底座上方设有夹块，夹块经安装在旋转座体上的夹块用气缸驱动升降，夹块的夹紧面设有用以夹紧时封管自适应居中定位对准通道的类v形夹槽；封管内部设有光耦的滑移直槽。8.根据权利要求6所述的光耦高压测试机构，其特征在于：分粒组件包括固连在通道旁侧底板上的固定座体，固定座体旁侧的上直板开设有长槽条，长槽条内部自前往后依次穿插有用以伸入通道内部的第三挡块、敲料软棒、第四挡块；第三挡块与第四挡块分别经安装在固定座体上的挡块气缸驱动升降；敲料软棒顶端固连一摆臂，摆臂位于上直板上方且另一端与固定座体铰接，摆臂非端部连接弹簧，弹簧另一端斜向上连接固定座体，固定座体上安装有用以竖向伸缩顶压摆臂非端部的摆臂用气缸。9.根据权利要求6所述的光耦高压测试机构，其特征在于：下料组件包括经电动机构驱动左右往复滑移的分料座体，分料座体上设有用以衔接通道后端出口的分料通道，分料通道后端设有经挡块气缸驱动升降的第五挡块，第五挡块竖直穿插进入分料通道内部；分料座体的后方左侧设有合格光耦通道，分料座体的后方右侧设有不合格光耦通道，其中分料通道、合格光耦通道、不合格光耦通道的结构均与所述通道的结构相同且均前后倾斜延伸；不合格光耦通道的后端均衔接有用以倾斜插设封管的插口，插口的后下方均设有用以收集封管的收集筒；分料通道经电动机构驱动左右往复滑移衔接合格光耦通道或不合格光耦通道；不合格光耦通道左右均布若干排。

技术总结
本实用新型涉及一种光耦高压测试机构，包括底板，底板上设有用以输送光耦的倾斜通道，通道的左右两侧对称设有测试爪组件，测试爪组件均经驱动机构驱动靠近或远离同侧的光耦引脚。该光耦高压测试机构的结构简单，能够配合高压仪测试光耦耐压值，测试时测试爪组件均经驱动机构驱动靠近或远离同侧的光耦引脚，测试方便，效率高。效率高。效率高。


技术研发人员：吴成君 林强
受保护的技术使用者：福州派利德电子科技有限公司
技术研发日：2021.01.22
技术公布日：2021/11/9