包覆率检测装置和方法、图像形成装置及储存有包覆率检测程序的计算机可读取的记录介质与流程

1.本发明涉及包覆率检测装置、图像形成装置、包覆率检测方法及储存有包覆率检测程序的计算机可读取的记录介质。


背景技术：

2.作为对形成于记录介质上的调色剂图像进行检查的技术，有下述专利文献1所记载的技术。在该专利文献1中记载了《从照射光源41向中间转印带2上的蓝色调色剂图像43首先照射波长为550nm的光，接下来照射波长为650nm的光。
……
预先针对每个调色剂的颜色，作为“检量线”而求出如下绘制线，该绘制线是针对调色剂附着量而绘制出仅中间转印带2(没有调色剂图像43的状态)的探测信号强度与“已知的附着量”的品红色以及青色调色剂图像的“探测信号强度之差”而得到的线。根据仅中间转印带2的热弹性波信号强度和在照射各个波长的光时探测到的热弹性波信号强度，使用所述检量线来计算附着量，并反馈给显影工序而进行“图像浓度控制”。》。
3.现有技术文献
4.专利文献1：日本特开2013
‑
92691号公报


技术实现要素：

5.然而，有如下技术：通过将调色剂图像作为基底粘着层，使粉末附着于该基底粘着层，从而形成赋予光泽感的图像。为了检查这样形成的图像是否具有足够的光泽感，需要探测针对调色剂图像的粉末的附着量。然而，在上述检查技术中，虽然能够计算多个颜色的调色剂的附着量，但无法精度良好地探测针对调色剂图像的粉末的附着量(粉末的包覆率)，而是通过目视来实施光泽感的检查从而探测包覆率。
6.因而，本发明的目的在于，提供能够精度良好地检测粉末对基底粘着层的包覆率的包覆率检测装置、图像形成装置、包覆率检测方法及储存有包覆率检测程序的计算机可读取的记录介质。
7.用于达到这样的目的的本发明是一种包覆率检测装置，用于检测附着于基底粘着层的粉末对所述基底粘着层的包覆率，其中，所述包覆率检测装置具备：光源部，将所述基底粘着层处的反射率不同的光照射到所述粉末的附着面；受光部，单独地接收由所述粉末的附着面反射的所述反射率不同的光的反射光；以及包覆率检测部，根据由所述受光部接收到的所述反射光的各受光量来检测所述包覆率。
8.根据本发明，可提供能够精度良好地检测粉末对基底粘着层的包覆率的包覆率检测装置、图像形成装置、包覆率检测方法及储存有包覆率检测程序的计算机可读取的记录介质。
附图说明
9.图1是实施方式的图像形成装置的结构图。
10.图2是实施方式的包覆率检测装置所具有的第1传感器的结构图。
11.图3是示出作为基底粘着层的图像图案的光谱反射特性的图。
12.图4是实施方式的包覆率检测装置所具有的第2传感器的结构图。
13.图5是示出作为基底粘着层的粉末保持面的光谱反射特性的图。
14.图6是示出实施方式的包覆率检测装置所具有的第1传感器的第1变形例的图。
15.图7是示出实施方式的包覆率检测装置所具有的第1传感器的第2变形例的图。
16.图8是示出实施方式的包覆率检测装置所具有的第1传感器的第3变形例的图。
17.图9是示出实施方式的包覆率检测装置所具有的第1传感器的第4变形例的图。
18.图10是用于说明实施方式的粉末的包覆率的计算的图。
19.图11是说明实施方式的包覆率检测装置所具有的检查信息处理部的结构的框图。
20.图12是示出与粉末的包覆率对应的反射光量的包覆率特性的图。
21.图13是示出与粉末的包覆率对应的反射光量的差分特性的图。
22.图14是示出各粉末的光谱反射特性的图。
23.图15是示出包覆率的校正系数的一个例子的图。
24.图16是示出实施方式的包覆率检测方法的一个例子的流程图(之一)。
25.图17是示出实施方式的包覆率检测方法的一个例子的流程图(之二)。
26.(符号说明)
27.1：图像形成装置；12：粉末保持部件；12a：粉末保持面(基底粘着层)；15：转印部件；20：包覆率检测装置；101a、101a’：吸收波长光源；101n、101n’：非吸收波长光源；101w：白色光源；102、102’：受光元件；103a：吸收波长滤波器；103n：非吸收波长滤波器；201：特性保持部；202：校正系数保持部；203：光源调整部；204：包覆率检测部；205：校正指示部；ha、ha’：吸收波长光(反射率不同的光)；hn、hn’：非吸收波长光(反射率不同的光)；hra、hra’：正反射光(吸收波长光)；hrn、hrn’：正反射光(非吸收波长光)；pd：粉末；p：图像图案(基底粘着层)；s：记录介质。
具体实施方式
28.以下，根据附图，详细地说明与本发明的包覆率检测装置、图像形成装置、包覆率检测方法及储存有包覆率检测程序的计算机可读取的记录介质有关的各实施方式。
29.《图像形成装置》
30.图1是示出本发明的实施方式的图像形成装置1的结构的概略图。图1所示的图像形成装置1用于通过将具有光泽的粉末pd贴附于在记录介质s的主面上形成的图像图案p而形成光泽图像p1。
31.图像图案p还是用于粘附粉末pd的基底粘着层。这样的图像图案p由通过加热而熔融来展现粘着性并在之后硬化从而粘附粉末pd的材料构成。另外，图像图案p也可以不论是否加热都具有粘着性。该情况下的图像图案p由在将粉末pd转印到图像图案p之后通过加热或者光照射而硬化的材料构成。这样的图像图案p例如是调色剂图像或者是墨图像。
32.因此，虽然在此省略了图示，但该图像形成装置1连结于向记录介质s形成图像图
案p的图像图案形成装置，也可以具备图像图案形成装置。
33.作为一个例子，以上那样的用于将粉末pd贴附于图像图案p而形成光泽图像p1的图像形成装置1具备预备加热部件11、粉末保持部件12、粉末供给部件13、刮擦部件14、转印部件15、清扫部件16、介质上粉末回收部件17、驱动控制部18以及操作部19。另外，该图像形成装置1具备用于对粉末pd的包覆率进行检测的包覆率检测装置20。以下，依次说明构成图像形成装置1的各部件的详情，接下来说明图像形成装置1处置的粉末pd的结构以及设置于图像形成装置1的包覆率检测装置20的详情。
34.<预备加热部件11>
35.预备加热部件11用于通过加热而使形成于记录介质s的主面上的图像图案p熔融。这样的预备加热部件11例如配置于从图像图案p的形成装置向搬送方向x供给的记录介质s的搬送路径上。由该预备加热部件11加热后的图像图案p通过熔融而展现粘着性，并在之后硬化，从而具有粘附性。
36.此外，根据需要来设置该预备加热部件11即可，在图像图案p无需通过加热来熔融就具有粘着性的情况下，无需设置预备加热部件11。但是，在该情况下，图像形成装置1具备加热部或者光照射部，该加热部或者光照射部用于在以下说明的转印部件15中将粉末pd转印到图像图案p之后使图像图案p硬化。
37.<粉末保持部件12>
38.粉末保持部件12是圆筒状的部件，通过驱动马达以圆筒状的轴为中心而旋转，将圆筒状的侧周表面作为粉末保持面12a。该粉末保持部件12的粉末保持面12a由具有粘着性的弹性层构成，通过粘着来保持以后说明的粉末pd。因此，构成粉末保持部件12的粉末保持面12a的表面层还是用于粘附粉末pd的基底粘着层。另外，粉末保持部件12在圆筒状的内部具备加热部件12b，构成为加热粉末保持面12a。
39.作为构成这样的粉末保持面12a的材料，优选为具有耐热性，作为一个例子适合使用硅橡胶。
40.另外，这样的粉末保持部件12配置于记录介质s的搬送方向x上的预备加热部件11的下游侧，且配置于在记录介质s中形成有图像图案p的主面侧。粉末保持部件12构成为在朝向记录介质s的一侧按照沿着记录介质s的搬送方向x的正向进行旋转。此外，以后详细地说明粉末保持部件12的粉末保持面12a所保持的粉末pd的结构。
41.<粉末供给部件13>
42.粉末供给部件13用于对粉末保持部件12的粉末保持面12a供给粉末pd，沿着圆筒状的粉末保持部件12的轴向而设置有粉末供给部件13。这样的粉末供给部件13具有储藏粉末pd的储藏容器13a和收容于储藏容器13a内的搬送部件13b。
43.其中，储藏容器13a沿着粉末保持部件12的轴向而配置有朝向圆筒状的粉末保持部件12的粉末保持面12a的开口部。
44.另外，搬送部件13b例如是旋转的圆柱形状的刷子(brush)或海绵(sponge)，还可以是螺旋形状的部件。该搬送部件13b通过向与粉末保持部件12相反的方向旋转，从而将储藏于储藏容器13a内的粉末pd搬送至储藏容器13a的开口部，向粉末保持部件12的粉末保持面12a供给粉末pd。
45.此外，粉末供给部件13不限定于这样的结构，例如也可以构成为使粉末保持部件
12的粉末保持面12a与储藏于储藏容器13a内的粉末pd直接接触。
46.<刮擦部件14>
47.刮擦部件14用于通过刮擦粉末保持部件12的粉末保持面12a，从而在粉末保持部件12的粉末保持面12a中使粉末pd定向。这样的刮擦部件14相对于粉末保持部件12的旋转方向而配置于粉末供给部件13的下游侧。
48.该刮擦部件14为圆筒状，以与粉末保持面12a抵接的状态被配置，该刮擦部件14以相对于粉末保持部件12的转速而具有速度差的方式旋转。由此，刮擦部件14构成为刮擦进行旋转的粉末保持部件12的粉末保持面12a。另外，作为刮擦部件14的侧周面的、对粉末保持面12a进行刮擦的面优选为由具有用于收容粉末保持面12a处的多余的粉末pd的空隙的材料构成。作为这样的材料，例如使用刷子、海绵或者无纺布那样的多孔材料。
49.这样的刮擦部件14通过刮擦进行旋转的粉末保持部件12的粉末保持面12a，从而去除供给到具有粘着性的粉末保持面12a的粉末pd中的、未粘着于粉末保持面12a的多余的粉末pd。此时，将多余的粉末pd捕获到刮擦部件14的侧周面的空隙。
50.由此，具有粘着性的粉末保持面12a将一层量的粉末pd以直接粘着的状态来保持。此时，如果粉末pd为非球形状，则非球形状的粉末pd成为以与粉末保持面12a平行的方式使方向性一致而定向的状态。由此，非球形状的粉末pd与粉末保持面12a的接触面积变大，确保针对粉末保持面12a的附着力，所以能够防止粉末pd从粉末保持面12a落到记录介质s上。此外，以后详细地说明粉末pd的结构。
51.另外，刮擦部件14具备回收容器14a。回收容器14a至少配置于刮擦部件14的下部，接住由刮擦部件14从粉末保持面12a去除而落下的粉末pd并存留，防止粉末pd落到记录介质s上。
52.<转印部件15>
53.转印部件15用于将粘着保持于粉末保持部件12的粉末保持面12a的粉末pd转印到形成于记录介质s的主面上的图像图案p。该转印部件15相对于粉末保持部件12的旋转方向而配置于刮擦部件14的下游侧。
54.该转印部件15为圆筒状，在与粉末保持部件12之间构成夹持记录介质s的夹持部。另外，转印部件15在圆筒状的内部具备加热部件15b。这样的转印部件15使用金属辊、橡胶辊来构成，在使用橡胶辊的情况下，根据耐热性的观点，优选为对硅橡胶或硅橡胶的表面设置氟层。
55.以上那样的转印部件15通过对在与粉末保持部件12之间夹持的记录介质s上的图像图案p进行加热并使图像图案p熔融，从而使图像图案p展现粘着性。另外，转印部件15针对图像图案p按压以定向的状态粘着保持于粉末保持部件12的粉末保持面12a的粉末pd。由此，转印部件15将定向的状态的粉末pd从粉末保持面12a转印到图像图案p。
56.此外，图像图案p在通过粉末保持部件12与转印部件15之间的夹持部之后因温度下降而硬化，粘附并保持从粉末保持部件12转印的粉末pd。由此，图像形成装置1形成向图像图案p的表面贴附具有光泽的粉末pd而成的光泽图像p1。
57.这样得到的光泽图像p1成为粉末pd以定向的状态贴附于图像图案p的状态，是光泽性高的图像。而且，在光泽图像p1中，粉末pd与图像图案p的接触面积大，所以粉末pd不易脱落。
58.<清扫部件16>
59.清扫部件16是用于回收在通过了与转印部件15之间的夹持部的粉末保持部件12的粉末保持面12a上残留的粉末pd，并对粉末保持面12a进行清扫的部件。这样的清扫部件16例如由刷子、海绵构成圆筒状的侧周，通过将侧周抵接到粉末保持面12a来配置，从而刮取残留于粉末保持面12a的粉末pd。另外，在该清扫部件16中具有粉末回收部件16a，该粉末回收部件16a与清扫部件16的侧周面对置地配置，回收被清扫部件16刮取的粉末pd。粉末回收部件16a例如也可以是吸气方式的部件。而且，清扫部件16具备回收容器16b。回收容器16b至少配置于清扫部件16的下部，接住由清扫部件16从粉末保持面12a去除而落下的粉末pd并存留，防止粉末pd落到记录介质s上。
60.<介质上粉末回收部件17>
61.介质上粉末回收部件17用于回收通过了粉末保持部件12与转印部件15的夹持部的记录介质s上的多余的粉末pd。该介质上粉末回收部件17配置于记录介质s的搬送方向x上的粉末保持部件12与转印部件15的夹持部的下游侧、且在记录介质s中形成有图像图案p的侧。在此，记录介质s上的多余的粉末pd是指未粘附保持于图像图案p的粉末pd。
62.关于这样的介质上粉末回收部件17，例如例示通过吸气来吸引粉末pd的结构，但并不限定于此。
63.<驱动控制部18>
64.驱动控制部18是根据来自操作部19的指示以及包覆率检测装置20中的检查结果而对上述各部分以及以后说明的包覆率检测装置20的驱动进行控制的驱动器，由计算设备构成。计算设备是作为所谓的计算机而被使用的硬件。计算设备也可以具备cpu(central processing unit，中央处理单元)、ram(random access memory，随机存取存储器)、以及rom(read only memory，只读存储器)、hdd(hard disk drive，硬盘驱动器)那样的非易失性的存储部，还可以具备网络接口。
65.<操作部19>
66.操作部19例如是输入使用该图像形成装置1来实施的作业的设定的部分。该操作部19可以是与显示部一体地设置的触摸面板、操作按钮。
67.<粉末pd的结构>
68.接下来，说明粉末pd的结构。粉末pd具有并非圆球的非球形的形状。关于这样的粉末pd，根据沿着粉末保持面12a以及图像图案p而定向的观点，优选为鳞片状且扁平形状。
69.粉末pd为偏平形状是指，在将粉末pd中的最大长度设为长径[l]、将与长径[l]正交的方向上的最大长度设为短径[w]、将与长径[l]以及短径[w]正交的方向的最小长度设为厚度[t]时，短径[w]相对厚度[t]的比率为3以上的形状。
[0070]
关于这样的扁平形状的粉末pd的厚度[t]，根据在粉末pd以定向的状态粘附于图像图案100的情况下充分地展现由粉末pd赋予的光泽感的观点，优选为0.2～10μm程度，更优选为0.2～5.0μm。
[0071]
当粉末pd的厚度[t]过小时，有时难以回收重叠的粉末pd，无法确保针对粉末保持面12a以及图像图案p的粘附性。另外，在图像形成装置1的内部，粉末pd被损坏，粉末pd的大小容易产生偏差。相对于此，当粉末pd的厚度[t]过大时，粘附于图像图案100的粉末pd容易从图像图案100脱落。
[0072]
另外，扁平形状的粉末pd的长径[l]以及短径[w]分别优选为1～50μm程度，更优选为15～50μm。当长径[l]以及短径[w]过小时难以处理。另一方面，当长径[l]以及短径[w]过大时，难以形成分辨率高的图像，成为使图像的灰度性下降的主要原因。
[0073]
另外，不限定粉末pd的材料。根据使光泽图像p1展现所期望的光泽的观点，粉末pd优选使用金属或者金属氧化物来构成。另外，粉末pd还能够混合使用两种以上的材料的粒子。另外，粉末pd也可以是包覆粒子而构成的，例如既可以是其表面被金属氧化物或者树脂包覆的金属粉，也可以是其表面被树脂或者金属包覆的金属氧化物粉，还可以是其表面被金属、金属氧化物或者树脂包覆的树脂粉。
[0074]
另外，粉末既可以是合成品，也可以是售卖产品。作为被用作粉末pd的售卖产品的例子，包括：阳光宝贝铬粉(日文记载为
“サンシャインベビークロムパウダー”
)、极光粉(日文记载为
“オーロラパウダー”
)、珍珠粉(日文记载为
“パールパウダー”
)(均为株式会社gg公司(日文记载为“株式会社gg
コーポレーション”
)制造)、icegel镜面金属粉末(日文记载为“icegel
ミラーメタルパウダー”
)(株式会社tat制造)、pika ace mc shine dust(日文记载为
“ピカエース
mc
シャインダスト”
)、effect c(日文记载为
“エフェクト
c”)(由日本公司“株式会社
クラチ”
制造，
“ピカエース”
是该公司的日本注册商标)、pregel魔粉(日文记载为“pregel
マジックパウダー”
)、镜面系列(日文记载为
“ミラーシリーズ”
)(由日本公司“有限会社
プリアンファ”
制造，“pregel”为该公司的日本注册商标)、bonnail闪粉(日文记载为“bonnail
シャインパウダー”
)(由日本公司“株式会社
ケイズプランイング”
制造，“bonnail”为该公司的日本注册商标)、闪光(日文记载为
“メタシャイン”
)(日本板硝子株式会社制造，
“メタシャイン”
为该公司的日本注册商标)、lg neo(日文记载为
“エルジー
neo”)(尾池工业株式会社制造，
“エルジー
neo”为该公司的日本注册商标)。
[0075]
《包覆率检测装置20》
[0076]
接下来，说明设置于图像形成装置1的包覆率检测装置20。包覆率检测装置20用于检测粉末pd对基底粘着层的包覆率，计算基底粘着层被粉末pd覆盖的比例。在本实施方式中，基底粘着层是图像图案p和粉末保持部件12的粉末保持面12a。这样的包覆率检测装置20具备：第1传感器100a，用于探测粉末pd对图像图案p的包覆率；第2传感器100b，用于探测粉末pd对粉末保持面12a的包覆率；以及信息处理部200。此外，第1传感器100a以及第2传感器100b也可以根据需要而仅设置其中一方。
[0077]
在具备这些部件的包覆率检测装置20中，根据不同的波长的光的反射率来探测粉末pd的包覆率。不同的波长的光是被基底粘着层吸收的吸收波长光、以及相对基底粘着层为非吸收且由基底粘着层反射的非吸收波长光。吸收波长光和非吸收波长光是针对每个基底粘着层而分别设定的波长光。
[0078]
以下，首先说明第1传感器100a的结构、第2传感器100b的结构，接下来说明使用了吸收波长光和非吸收波长光的包覆率检测的内容，之后说明信息处理部200的结构。
[0079]
<第1传感器100a>
[0080]
第1传感器100a用于计算图像图案p被粉末pd覆盖的比例，该比例是光泽图像p1中的粉末pd的包覆率。这样的第1传感器100a配置于与通过了粉末保持部件12和转印部件15的夹持部的记录介质s对置的位置。
[0081]
图2是实施方式的包覆率检测装置20所具有的第1传感器100a的结构图。如该图所
示，第1传感器100a具备构成光源部的吸收波长光源101a及非吸收波长光源101n和构成受光部的两个受光元件102。
[0082]
其中，吸收波长光源101a是作为被作为基底粘着层的图像图案p吸收的波长的光而产生吸收波长光ha的发光元件。另外，非吸收波长光源101n是作为相对作为基底粘着层的图像图案p为非吸收的波长的光而产生非吸收波长光hn的发光元件。发光元件例如可以是led。此外，吸收波长光ha以及非吸收波长光hn的波长的范围也可以具有某种程度的宽度。
[0083]
关于吸收波长光ha以及非吸收波长光hn，根据包覆率的计算精度的观点，优选为针对图像图案p的光谱反射率的差大。具体而言，光谱反射率的差优选为40％以上，更优选为70％以上。根据构成光泽图像p1的图像图案p的光谱反射特性来设定这样的吸收波长光ha以及非吸收波长光hn的波长。
[0084]
图3是示出作为基底粘着层的图像图案p的光谱反射特性的图，作为一个例子是使用了青色调色剂的图像图案p的光谱反射特性。如该图所示，关于使用了青色调色剂的图像图案p，波长为632nm的光的光谱反射率为5.85％，波长为870nm的光的光谱反射率为96.66％。这些波长的光的光谱反射率的差为90.81％，具有足够大的差。
[0085]
因此，作为图像图案p是使用了青色调色剂的图像图案的情况的一个例子，波长为632nm的光被设定为吸收波长光ha，波长为870nm的光被设定为非吸收波长光hn。
[0086]
返回到图2，吸收波长光源101a以及非吸收波长光源101n被配置成从相对于记录介质s的主面而倾斜的方向对光泽图像p1照射吸收波长光ha以及非吸收波长光hn。另外，吸收波长光源101a以及非吸收波长光源101n对光泽图像p1中的某种程度的面积照射吸收波长光ha以及非吸收波长光hn。关于吸收波长光ha以及非吸收波长光hn的照射面积，根据包覆率的计算精度的观点，是相对粉末pd而言足够大的面积。
[0087]
另外，吸收波长光源101a以及非吸收波长光源101n被依次配置在记录介质s的搬送方向x上，通过驱动控制部18中的控制而被驱动为对光泽图像p1中的相同的区域照射吸收波长光ha以及非吸收波长光hn。
[0088]
各受光元件102配置于接收正反射光hra、hrn的位置，该正反射光hra、hrn是从吸收波长光源101a以及非吸收波长光源101n照射、并由光泽图像p1的图像图案p以及与该图像图案p平行的粉末pd正反射的反射光。也就是说，一个受光元件102配置于接收从吸收波长光源101a照射的吸收波长光ha中的、由光泽图像p1正反射的正反射光hra的位置。另外，另一个受光元件102配置于接收从非吸收波长光源101n照射的非吸收波长光hn中的、由光泽图像p1正反射的正反射光hrn的位置。
[0089]
这些各受光元件102将接收到的整个波长的光进行光电变换后输出，输出与受光量相应的电压。这样的受光元件102例如可以是光电二极管。此外，与吸收波长光源101a对应地设置的受光元件102至少能够接收与吸收波长光ha的正反射光hra对应的波长即可。另外，与非吸收波长光源101n对应地设置的受光元件102至少能够接收与非吸收波长光hn的正反射光hrn对应的波长即可。
[0090]
只要是这样的结构的第1传感器100a，就能够通过将记录介质s搬送一次，向同一部位照射非吸收波长光hn和正反射光hrn，并接收这些正反射光hra、hrn，所以能够实施精度高的包覆率的检测。
的位置。另外，另一个受光元件102’配置于接收从非吸收波长光源101n’照射的非吸收波长光hn’中的、由粉末保持面12a正反射的正反射光hrn’的位置。
[0101]
另外，第2传感器100b的各受光元件102’将接收到的整个波长的光进行光电变换后输出，输出与受光量相应的电压。此外，与吸收波长光源101a’对应地设置的受光元件102’至少能够接收与吸收波长光ha’的正反射光hra’对应的波长即可。另外，与非吸收波长光源101n’对应地设置的受光元件102’至少能够接收与非吸收波长光hn’的正反射光hrn’对应的波长即可。
[0102]
只要是这样的结构的第2传感器100b，就能够通过使粉末保持部件12旋转一周，向同一部位照射非吸收波长光hn’和正反射光hrn’，并接收这些正反射光hra’、hrn’，所以能够实施精度高的包覆率的检测。
[0103]
<第1传感器以及第2传感器的变形例>
[0104]
第1传感器100a以及第2传感器100b不限定于如以上说明的结构，只要是能够单独地探测各自设定的吸收波长光ha或吸收波长光ha’、以及非吸收波长光hn或非吸收波长光hn’的各反射率的结构即可。以下例示第1传感器100a来说明第1传感器100a的变形例，但所说明的各变形例也能够同样地应用于第2传感器100b，能够分别单独地应用。
[0105]
[第1变形例]
[0106]
图6是示出实施方式的包覆率检测装置所具有的第1传感器的第1变形例的图。该图所示的第1变形例的第1传感器100a－1具备一个白色光源101w、两个受光元件102、吸收波长滤波器103a以及非吸收波长滤波器103n。
[0107]
白色光源101w是发出白色光hw的发光元件，白色光至少包含上述的吸收波长光ha和非吸收波长光hn。另外，白色光源101w被配置成从相对于光泽图像p1的法线而倾斜的方向对光泽图像p1照射白色光hw，对光泽图像p1中的某种程度的面积照射白色光w。另外，白色光源101w对光泽图像p1中的某种程度的面积且相对粉末pd而言足够大的面积照射白色光w。
[0108]
另外，两个受光元件102配置于接收从白色光源101w照射并由光泽图像p1正反射的正反射光hr的位置。这些受光元件102可以与在实施方式中说明的第1传感器100a的受光元件102相同。
[0109]
吸收波长滤波器103a以及非吸收波长滤波器103n配置于受光元件102的光入射面，限制入射到各受光元件102的光。其中，吸收波长滤波器103a是使从白色光源101w照射并由光泽图像p1正反射的正反射光hr中的吸收波长光ha透射并对非吸收波长光hn进行遮光的光滤波器。吸收波长滤波器103a仅使吸收波长光ha入射到一个受光元件102。另外，非吸收波长滤波器103n是使从白色光源101w照射并由光泽图像p1正反射的正反射光hr中的非吸收波长光hn透射并对吸收波长光ha进行遮光的光滤波器。非吸收波长滤波器103n仅使非吸收波长光hn入射到一个受光元件102。
[0110]
这样的第1变形例的结构能够在一次的定时(timing)从同一部位接收不同的波长的正反射光hra、hrn，所以能够防止由于光照射位置不同、照射的定时不同而导致的包覆率的检测误差。
[0111]
此外，作为第1传感器100a－1的进一步的变形例，例示变更为吸收波长滤波器103a以及非吸收波长滤波器103n和受光元件102且分别设置有仅接收特定的波长区域的光
而进行光电变换的两个受光元件的结构。在该情况下，一个受光元件102仅接收不包含非吸收波长光hn而包含吸收波长光ha的波长范围的光。另外，另一个受光元件102仅接收不包含吸收波长光ha而包含非吸收波长光hn的波长范围的光。
[0112]
[第2变形例]
[0113]
图7是示出实施方式的包覆率检测装置所具有的第1传感器的第2变形例的图。
[0114]
该图所示的第2变形例的第1传感器100a－2具备吸收波长光源101a、非吸收波长光源101n以及一个受光元件102。
[0115]
吸收波长光源101a是发出上述吸收波长光ha的元件，非吸收波长光源101n是发出上述非吸收波长光hn的元件。吸收波长光源101a以及非吸收波长光源101n被配置成从相对于光泽图像p1的法线而倾斜的方向对光泽图像p1照射吸收波长光ha以及非吸收波长光hn。另外，吸收波长光源101a以及非吸收波长光源101n对光泽图像p1中的某种程度的面积且对于粉末pd而言足够大的面积，依次照射吸收波长光ha以及非吸收波长光hn。
[0116]
受光元件102接收至少包含上述的吸收波长光ha以及非吸收波长光h的波长区域的光并进行光电变换。这样的受光元件102配置于接收从吸收波长光源101a以及非吸收波长光源101n依次照射的吸收波长光ha以及非吸收波长光hn中的、由光泽图像p1正反射的正反射光hra、hrn的位置。
[0117]
[第3变形例]
[0118]
图8是示出实施方式的包覆率检测装置所具有的第1传感器的第3变形例的图。该图所示的第3变形例的第1传感器100a－3具备一个白色光源101w、一个受光元件102、吸收波长滤波器103a以及非吸收波长滤波器103n。
[0119]
白色光源101w可以与在第1变形例中说明的白色光hw相同。另外，受光元件102可以与在第2变形例中说明的受光元件102相同。
[0120]
另外，吸收波长滤波器103a以及非吸收波长滤波器103n与在第1变形例中说明的滤波器相同。这些吸收波长滤波器103a以及非吸收波长滤波器103n在受光元件102的光入射面以调换自如的方式被配置，通过驱动控制部18中的控制来依次限制入射到受光元件102的光。
[0121]
[第4变形例]
[0122]
图9是示出实施方式的包覆率检测装置所具有的第1传感器的第4变形例的图。该图所示的第4变形例的第1传感器100a－4与第3变形例不同的点在于吸收波长滤波器103a以及非吸收波长滤波器103n的配置部位。
[0123]
即，在第4变形例的第1传感器100a－4中，吸收波长滤波器103a以及非吸收波长滤波器103n在白色光源101w的光射出面以调换自如的方式被配置，限制从白色光源101w射出的光。其中，吸收波长滤波器103a是使从白色光源101w照射的光中的吸收波长光ha透射并对非吸收波长光hn进行遮光的光滤波器。另外，非吸收波长滤波器103n是使从白色光源101w照射的光中的非吸收波长光hn透射并对吸收波长光ha进行遮光的光滤波器。
[0124]
这些吸收波长滤波器103a以及非吸收波长滤波器103n通过驱动控制部18中的控制，在白色光源101w的光射出面以调换自如的方式被配置。
[0125]
<关于使用了吸收波长光和非吸收波长光的包覆率的计算>
[0126]
图10是用于说明实施方式的粉末的包覆率的计算的图，例示出基底粘着层是图像
图案p的情况。在该图中，示出从先前说明的吸收波长光源101a和非吸收波长光源101n针对形成于记录介质s上的图像图案p和光泽图像p1而以倾斜方向照射吸收波长光ha和非吸收波长光hn的情况下的示意例(a)～(d)。另外，在该图中，示意地示出了将吸收波长光ha和非吸收波长光hn的入射光量设为100的情况下的各示意例(a)～(d)中的吸收光、漫反射光以及正反射光的比例。
[0127]
在该图10中，示意例(a)例示出对包覆率为0％的图像图案p照射吸收波长光ha的情况。在该情况下，照射到图像图案p的吸收波长光ha的大部分为图像图案p处的吸收光(1)，一部分为图像图案p处的漫反射光(2)或者图像图案p处的正反射光(3)。其中的正反射光(3)为由受光元件102接收的正反射光hra。
[0128]
示意例(b)例示出对包覆率为0％的图像图案p照射非吸收波长光hn的情况。在该情况下，照射到图像图案p的非吸收波长光hn在图像图案p中不被吸收，其大部分为图像图案p处的漫反射光(2)或者图像图案p处的正反射光(3)。其中的正反射光(3)为由受光元件102接收的正反射光hrn。
[0129]
示意例(c)例示出对光泽图像p1照射吸收波长光ha的情况。在该情况下，照射到图像图案p的露出部分的吸收波长光ha的大部分为图像图案p处的吸收光(1)，一部分为图像图案p处的漫反射光(2)或者图像图案p处的正反射光(3)。其中的正反射光(3)作为正反射光hra的一部分而由受光元件102接收。
[0130]
另外，在该情况下，照射到粉末pd的吸收波长光ha几乎不被粉末pd吸收，而成为粉末pd处的正反射光(4)或者粉末pd处的漫反射光(5)。其中的正反射光(4)作为正反射光hra的一部分而由受光元件102接收。
[0131]
示意例(d)例示出对光泽图像p1照射非吸收波长光hn的情况。在该情况下，照射到图像图案p的露出部分的非吸收波长光hn不被图像图案p吸收，其大部分成为图像图案p处的漫反射光(2)或者图像图案p处的正反射光(3)。其中的正反射光(3)的一部分作为正反射光hrn而由受光元件102接收。
[0132]
另外，在该情况下，照射到粉末pd的非吸收波长光hn几乎不被粉末pd吸收，而成为粉末pd处的正反射光(4)或者粉末pd处的漫反射光(5)。其中的正反射光(4)作为正反射光hra的一部分而由受光元件102接收。这与照射吸收波长光ha的情况下的示意例(c)相同。
[0133]
在此，具有光泽的粉末pd几乎不吸收针对图像图案p的吸收波长光ha以及非吸收波长光hn这两方而进行反射。因此，可知在上述示意例(c)、(d)期间，吸收波长光ha的正反射光hra的合计的受光量与非吸收波长光hn的正反射光hrn的合计的受光量的差分δh相当于图像图案p处的正反射光(3)的差分。该差分δh的大小是与图像图案p的露出面积的大小对应的值且是与粉末pd的包覆率相应的值，但是成为不被粉末pd的定向状态所影响的值。因而，能够根据该差分δh来检测去除由粉末pd的定向状态引起的误差后的粉末pd的包覆率。
[0134]
也就是说，粉末pd处的漫反射光(5)的大部分是在针对图像图案p的定向不够而倾斜地粘附于图像图案p的表面的粉末pd处正反射的光，是不被受光元件102接收的反射光。因此，这样的粉末pd处的漫反射光(5)的产生在使用了单一的波长光的通常的包覆率的计算中成为误差分量。然而，上述差分δh是还减去该误差分量得到的值，所以根据该差分δh来计算出的粉末pd的包覆率为不包含由粉末pd的定向状态所致的误差分量的值。因而，能
够根据差分δh，精度良好地检测粉末pd的包覆率。
[0135]
<信息处理部200>
[0136]
返回到图1，说明构成包覆率检测装置20的信息处理部200的结构。该信息处理部200实施基于上述差分δh的包覆率的检测。这样的信息处理部200根据从第1传感器100a及第2传感器100b得到的信号和从操作部19得到的信息来检测粉末pd的包覆率。另外，信息处理部200根据计算出的包覆率，对图像形成装置1的各部分进行校正指示。
[0137]
这样的信息处理部200由计算设备构成。计算设备是作为所谓的计算机而被使用的硬件。计算设备也可以具备cpu(central processing unit，中央处理单元)、ram(random access memory，随机存取存储器)、以及rom(read only memory，只读存储器)、hdd(hard disk drive，硬盘驱动器)那样的非易失性的存储部，还可以具备网络接口。由这样的计算设备构成的信息处理部200将用于包覆率的计算以及校正指示的包覆率检测程序保存到非易失性的存储部。非易失性的存储部是储存有包覆率检测程序的计算机可读取的记录介质。信息处理部200通过执行基于保存于非易失性的存储部的包覆率检测程序的处理，从而实施包覆率的计算以及校正指示。
[0138]
图11是说明实施方式的包覆率检测装置20所具有的信息处理部200的结构的框图。如该图所示，信息处理部200与第1传感器100a、第2传感器100b、驱动控制部18以及操作部19连接。在这样的信息处理部200中，作为执行所保存的包覆率检测程序的各功能部而具备特性保持部201、校正系数保持部202、光源调整部203、包覆率检测部204以及校正指示部205。这些各功能部如下。
[0139]
[特性保持部201]
[0140]
特性保持部201将针对粉末的包覆率的反射光量作为包覆率特性来保持。特性保持部201针对每个基底粘着层、即针对图像图案p的每个种类以及粉末保持部件12的粉末保持面12a的每个结构，保持各自的包覆率特性。这些包覆率特性是预先通过实验而取得的信息，例如是从操作部19输入的信息。
[0141]
图12是示出针对粉末的包覆率的反射光量的包覆率特性的图，是基底粘着层为图像图案p的情况的例子。图12中的纵轴的传感器输出值是接收到各正反射光hra、hen的受光元件的输出值，相当于上述受光量。以如下那样取得这样的包覆率特性。
[0142]
参照先前的图1以及图2，首先准备使粉末pd的包覆率变化的多个种类的光泽图像p1。关于这些光泽图像p1，通过变更粉末供给部件13的粉末pd的供给量、刮擦部件14的刮擦条件、清扫部件16的清扫条件，使粉末pd的包覆率变化。接下来，使用图像读取装置来读取所准备的光泽图像p1，通过观察读取图像，仅选择粉末pd未重叠且相对于图像图案p的表面而粉末pd平行且良好地定向的光泽图像p1。然后，利用图像处理软件对读取图像进行二值化，检测所选择的各光泽图像p1中的粉末pd的包覆率。
[0143]
另外，对各光泽图像p1照射吸收波长光ha而检测其正反射光hra，另外照射非吸收波长光hn而检测其正反射光hen。然后，相对于针对各光泽图像p1而计算出的包覆率，绘制各正反射光hra、hen的检测值。由此，得到粉末pd的包覆率与各正反射光hra、hen的检测值(也就是说是受光量，是传感器输出值)的关系。
[0144]
此外，图12所示的关系是以下的情况的实测例。
[0145]
记录介质s：esprit fp(日文记载为
“エスプリ
fp”)(日本公司“日本製紙社”制造的
商品名)
[0146]
基底粘着层(图像图案p)：青色调色剂(面向柯尼卡美能达公司制造的生产打印产品的调色剂)
[0147]
粉末pd：银色粉末：lg neo#325(尾池工业株式会社制造)
[0148]
吸收波长光源101a：炮弹型led(尼吉康公司制造，波峰波长为632nm，入射角为20度)
[0149]
非吸收波长光源101n：炮弹型led(斯坦雷(stanley)公司制造，波峰波长为870nm，受光角为20度)
[0150]
特性保持部201也可以将这样得到的各传感器输出值(受光量)的差分作为差分特性来保持。该差分相当于参照图10的上述差分δh。
[0151]
图13是示出针对粉末的包覆率的反射光量的差分特性的图，是基底粘着层为图像图案p的情况的例子。图13中的纵轴的输出差是接收到吸收波长光ha的正反射光hra的受光元件的输出值(传感器输出值)与接收到非吸收波长光hn的正反射光hrn的受光元件的输出值(传感器输出值)的差分，相当于上述差分δh。
[0152]
[校正系数保持部202]
[0153]
图11所示的校正系数保持部202保持用于对特性保持部201保持的包覆率特性进行校正的校正系数。该校正系数是用于将粉末中的吸收波长光及非吸收波长光的正反射光的受光量设为相同程度的数值，是针对每种粉末、以及吸收波长光及非吸收波长光的每个波长而预先取得的信息，例如是从操作部19输入的信息。接下来，说明该校正系数的详情。
[0154]
图14是示出各粉末的反射率特性的图，是将红色粉末、银色粉末以及蓝色粉末这三个种类的具有光泽的粉末的光谱反射特性以使反射率的积分值成为相等的方式进行了标准化的图。红色粉末、银色粉末以及蓝色粉末是lg neo#325red、silver、blue(尾池工业株式会社制造的商品名)。
[0155]
如图14所示，各粉末按其种类而具有特有的光谱反射特性，吸收波长光的反射率与非吸收波长光的反射率不限于是相同的。并且，在上述差分δh中，为了忽略粉末的定向状态，需要通过将吸收波长光及非吸收波长光的正反射光的受光量设为相同程度，从差分δh排除与粉末中的吸收波长光及非吸收波长光的正反射光的受光量有关的数值。
[0156]
例如设想如下情况：作为针对基底粘着层的吸收波长光以及非吸收波长光，使用波长为520nm的吸收波长光和波长为730nm的非吸收波长来检测蓝色粉末的包覆率。
[0157]
如图14所示，针对蓝色粉末的波长为520nm的吸收波长光的反射率为19％，波长为730nm的非吸收波长的反射率为11％。因而，在粉末的包覆率为100％的情况下，吸收波长光的正反射光的受光量相对于非吸收波长的正反射光的受光量而成为19％
÷
11％＝1.73倍，较大地输出相对的受光量。相对于此，在粉末的包覆率为0％的情况下，吸收波长光的正反射光的受光量以及非吸收波长的正反射光的受光量不受粉末的光谱反射率特性的影响，所以吸收波长光的正反射光的受光量相对于非吸收波长的正反射光的受光量而为一倍。
[0158]
根据这些值，计算不依赖于包覆率而使吸收波长光的正反射光的受光量与非吸收波长的正反射光的受光量始终为一倍那样的校正系数。图15是示出包覆率的校正系数的一个例子的图，是以使吸收波长光的正反射光的受光量相对于非吸收波长的正反射光的受光量而成为一倍的方式计算出的校正系数。校正系数保持部202针对每种粉末、以及吸收波长
光及非吸收波长光的每个波长而保持这样的校正系数。
[0159]
但是，如图14的银色粉末的光谱反射特性所示，如果是在吸收波长和非吸收波长下光谱反射率大致恒定的情况，则无需进行考虑了粉末的光谱反射特性的校正。针对这样的粉末，无需准备校正系数。
[0160]
此外，校正系数保持部202也可以构成为保持每种粉末的光谱反射特性，在操作部19中被输入粉末的种类和吸收波长光及非吸收波长光的波长的情况下，从每种粉末的反射率特性读出对应的反射率，计算校正系数。
[0161]
另外，关于各粉末的光谱反射特性，在粉末的产品化时提取出面积比传感器的光源的照射面积更大的粉末，在装置中的传感器中进行测定并使校正系数保持部202保持即可。
[0162]
[光源调整部203]
[0163]
图11所示的光源调整部203调整吸收波长光源101a、101a’以及非吸收波长光源101n、101n’的输出。该光源调整部203以使粉末的包覆率为0％的情况下的基底粘着层的反射率成为预定的值的方式，调整吸收波长光源101a、101a’以及非吸收波长光源101n、101n’的输出。该情况下的基底粘着层的反射率可以是针对基底粘着层的吸收波长光和非吸收波长光的正反射光的传感器输出值。
[0164]
在此，例如如图5所示，在基底粘着层为粉末保持部件的情况下，由于随时间的粉末保持部件的劣化、装置环境，粉末保持部件的光谱反射特性发生变动。另外，在基底粘着层是图像图案的情况下，由于构成图像图案的调色剂的种类、成为图像图案的基底的记录介质的种类的不同，图像图案的光谱反射特性发生变动。而且，吸收波长光源以及非吸收波长光源由于随时间的劣化、装置环境以及装置内的污染等，即使施加相同的电流，实际发光的光量也会变动。
[0165]
因而，光源调整部203以使将粉末的包覆率设为0％的基底粘着层处的吸收波长光以及非吸收波长光的正反射光的传感器输出值成为预定值的方式，调整吸收波长光源以及非吸收波长光源的输出。例如，参照图12，以使吸收波长光的正反射光的传感器输出值成为0.1[v]、并使非吸收波长光的正反射光的传感器输出值成为0.3[v]的方式，调整吸收波长光源以及非吸收波长光源的输出。此外，在以后的包覆率检测方法中说明由这样的光源调整部203实施的光源调整的过程。
[0166]
[包覆率检测部204]
[0167]
图11所示的包覆率检测部204根据来自操作部19、第1传感器100a和第2传感器100b的信息、保持于特性保持部201的包覆率特性或差分特性、以及保持于校正系数保持部202的校正系数，检测粉末的包覆率。在以后的包覆率检测方法中说明由包覆率检测部204进行的包覆率的检测的过程。
[0168]
[校正指示部205]
[0169]
校正指示部205根据由包覆率检测部204检测到的包覆率，以使粉末pd对图像图案p的包覆率以及对粉末保持面12a的包覆率成为各自所设定的期望的包覆率的方式，对驱动控制部18指示各驱动部的驱动条件的校正。关于驱动条件的校正的对象，作为一个例子是粉末供给部件13的粉末pd的供给量、刮擦部件14的刮擦条件、清扫部件16的清扫条件等。根据由包覆率检测部204检测到的包覆率来预先决定由校正指示部205进行的校正的指示。
[0170]
以上说明的包覆率检测装置20至少具备特性保持部201和包覆率检测部204即可，无需将所说明的各部分全部具备。另外，包覆率检测装置20也可以被设置为与图像形成装置1独立的个人计算机、其它外部装置。
[0171]
《包覆率检测方法》
[0172]
接下来，说明由以上那样的包覆率检测装置20实施的包覆率检测方法。图16是示出实施方式的包覆率检测方法的一个例子的流程图(之一)，示出光源调整的过程。另外，图17是示出实施方式的包覆率检测方法的一个例子的流程图(之二)，示出包覆率的检测的过程。这些流程图示出了由包覆率检测装置20所具有的包覆率检测程序实施的包覆率检测方法的过程。以下，按照图16以及图17的流程图，参照先前的图1～图15来说明实施方式的图像处理方法。
[0173]
<光源调整>
[0174]
[步骤s101]
[0175]
在图16的步骤s101中，光源调整部203(参照图11)取得对粉末pd的包覆率为0％的图像图案p照射了吸收波长光ha和非吸收波长光hn的情况下的、两个受光元件102的传感器输出值(参照图2)。同样地，光源调整部203取得对粉末pd的包覆率为0％的粉末保持部件12的粉末保持面12a照射了吸收波长光ha’和非吸收波长光hn’的情况下的、两个受光元件102’的传感器输出值(参照图4)。这些传感器输出值也可以是从操作部19输入的值。
[0176]
此外，粉末pd的包覆率为0％的图像图案p的传感器输出是通过在图像形成装置1(参照图1)中在使粉末保持部件12和转印部件15的热源停止了的状态下将形成有图像图案p的记录介质s供给到第1传感器100a而得到的值。或者，是通过在使粉末保持部件12的旋转停止或者分离的状态下将形成有图像图案p的记录介质s供给到第1传感器100a而得到的值。
[0177]
另外，粉末pd的包覆率为0％的粉末保持部件12的粉末保持面12a的传感器输出是通过在至少以下述状态使粉末保持部件12旋转之后使粉末保持部件12相对于第2传感器100b旋转而得到的值。即，是在图像形成装置1(参照图1)中使粉末供给部件13的搬送部件13b停止并停止向粉末保持面12a供给粉末pd的状态。另外，是在图像形成装置1(参照图1)中将利用转印部件15粘着保持于粉末保持部件12的粉末保持面12a的粉末pd转印到形成于记录介质s的主面上的图像图案p的状态。而且，是在图像形成装置1(参照图1)中利用清扫部件16刮取残留于粉末保持面12a的粉末pd的状态。
[0178]
[步骤s102]
[0179]
在步骤s102中，光源调整部203以使所取得的传感器输出值成为预先设定的各传感器输出值的方式，对驱动控制部18指示光源调整。由此，驱动控制部18以使粉末pd的包覆率为0％的情况下的传感器输出值成为预先设定的输出值的方式，调整第1传感器100a的吸收波长光源101a及非吸收波长光源101n、以及第2传感器100b的吸收波长光源101a’及非吸收波长光源101n’的输出。
[0180]
此外，这样的光源调整既可以在接下来说明的包覆率的检测之前每次都实施，也可以在预定的定时实施。
[0181]
<包覆率的检测>
[0182]
[步骤s201]
[0183]
在步骤s201中，包覆率检测部204取得与粉末pd有关的信息和波长信息。与粉末pd有关的信息可以是粉末pd的种类，是在校正系数保持部202中关联有校正系数的粉末pd的种类。波长信息是与由第1传感器100a处置的吸收波长光ha及非吸收波长光hn、以及由第2传感器100b处置的吸收波长光ha’及非吸收波长光hn’的波长对应的信息。这些信息例如可以是在包覆率的检测时从操作部19输入的信息。
[0184]
[步骤s202]
[0185]
在步骤s202中，包覆率检测部204实施校正系数的取得处理。此时，包覆率检测部204参照校正系数保持部202，取得与在步骤s201中取得的粉末pd的种类以及波长信息关联起来的校正系数。该校正系数是与由第1传感器100a处置的吸收波长光ha及非吸收波长光hn对应的校正系数以及与由第2传感器100b处置的吸收波长光ha’及非吸收波长光hn’对应的校正系数。
[0186]
[步骤s203]
[0187]
在步骤s203中，包覆率检测部204实施包覆率特性的校正处理。此时，包覆率检测部204首先从特性保持部201取得基底粘着层的包覆率特性。取得的包覆率特性是图像图案p的包覆率特性(参照图12)和粉末保持部件12的粉末保持面12a的包覆率特性(省略图示)。
[0188]
包覆率检测部204利用在步骤s202中取得的校正系数来校正所取得的各包覆率特性。例如，如果是图12所示的包覆率特性，则利用图15的校正系数来校正其中的吸收波长的各值。
[0189]
[步骤s204]
[0190]
在步骤s204中，包覆率检测部204根据校正后的包覆率特性来计算差分特性。在该情况下，关于图像图案p的包覆率特性和粉末保持部件12的粉末保持面12a的包覆率特性，从校正后的吸收波长的包覆率特性减去非吸收波长的包覆率特性，得到与图像图案p有关的差分特性以及与粉末保持面12a有关的差分特性。
[0191]
此外，例如如果如粉末为银色粉末的情况那样是无需进行包覆率特性的校正的情况，则不实施步骤s202以及步骤s203，在本步骤s203中从特性保持部201取得对应的差分特性即可。
[0192]
[步骤s205]
[0193]
在步骤s205中，包覆率检测部204取得对光泽图像p1照射吸收波长光ha和非吸收波长光hn的情况下的、两个受光元件102的传感器输出值(参照图2)。同样地，包覆率检测部204取得对粉末保持部件12的粉末保持面12a照射吸收波长光ha’和非吸收波长光hn’的情况下的、两个受光元件102’的传感器输出值(参照图4)。
[0194]
此时，设为光泽图像p1由在步骤s101以及步骤s102中进行了第1传感器100a以及第2传感器100b的光源调整后的图像形成装置1形成。
[0195]
而且，粉末保持部件12的粉末保持面12a是在步骤s101以及步骤s102中进行了第2传感器100b的光源调整后的粉末保持部件12的粉末保持面12a。另外，此时粉末保持面12a处的传感器输出值的取得区域优选为在光源调整时与传感器输出的取得区域一致。由此，能够抑制粉末保持部件12的旋转方向的偏差。
[0196]
[步骤s206]
[0197]
在步骤s206中，包覆率检测部204实施在步骤s205中所取得的传感器输出的差分
的计算。此时，包覆率检测部204计算第1传感器100a的两个受光元件102的传感器输出值的差分，并同样地计算第2传感器100b的两个受光元件102’的传感器输出值的差分。
[0198]
[步骤s207]
[0199]
在步骤s207中，包覆率检测部204参照在步骤s204中计算出的各差分特性(例如图13)，检测与在步骤s206中计算出的传感器输出的差分相当的包覆率。此时，包覆率检测部204参照与图像图案p有关的差分特性，将与第1传感器100a的两个受光元件102的传感器输出值的差分相当的包覆率检测为粉末pd对图像图案p的包覆率。另外，包覆率检测部204参照与粉末保持面12a有关的差分特性，将与第2传感器100b的两个受光元件102’的传感器输出值的差分相当的包覆率检测为粉末pd对粉末保持面12a的包覆率。
[0200]
《实施方式的效果》
[0201]
根据以上说明的实施方式，如使用图10所说明那样，不被粉末pd的定向状态所影响，而能够检测粉末pd的包覆率。因而，即使有相对于图像图案p的表面、粉末保持面12a而倾斜地粘附的粉末，也不受其影响而能够实施精度高的包覆率的检测。特别是，在粉末pd为金属而光谱反射率越高，则在使用了不使用不同波长的光的通常的反射型传感器的情况下的包覆率的检测中，由于粉末的定向状态的影响而包覆率被检测得越低。因此，本实施方式特别是对于使用了光谱反射率高的粉末pd的情况而发挥出效果。
[0202]
[实施例]
[0203]
在应用本发明而使用图1所示的图像形成装置1来形成光泽图像p1的情况下，检测粉末pd对图像图案p的包覆率和粉末pd对粉末保持面12a的包覆率。
[0204]
进行了包覆率的检测的试样1～6的结构如下述的表1所示。
[0205]
[表1]
[0206][0207]
构成试样1～3的各材料如下。
[0208]
·
记录介质：平滑的记录介质(日本公司“日本製紙社”制造：esprit fp)、表面凹凸的记录介质(日本公司“日本製紙社”制造：npi高级纸)
[0209]
·
图像图案：青色调色剂(面向柯尼卡美能达制造的生产打印产品)
[0210]
构成试样4～6的各材料如下。
[0211]
·
粉末保持部件：新品、劣质品都为硅橡胶(昭和电线公司制造：硅橡胶xh279)
[0212]
·
粉末种类：银色、红色(尾池工业株式会社制造：lg neo#325)
[0213]
关于以上那样的结构的试样1～6，通过变更刮擦部件14中的刮擦强度，从而制作
出粉末pd的定向状态以及包覆率不同的三个水准的试样。这三个水准如下。
[0214]
·
水准1：包覆率26％，倾斜地粘附的粉末少
[0215]
·
水准2：包覆率49％，倾斜地粘附的粉末中等程度
[0216]
·
水准3：包覆率50％，倾斜地粘附的粉末多
[0217]
此外，该包覆率是通过读取图像的图像处理而计算出的值。
[0218]
第1传感器100a的结构如下。
[0219]
·
吸收波长光源101a：波峰波长为632nm(尼吉康公司制造的炮弹型led)
[0220]
·
非吸收波长光源101n：波峰波长为870nm(斯坦雷公司制造的炮弹型led)
[0221]
·
入射角：20度
[0222]
·
受光角：20度
[0223]
第2传感器100b的结构如下。
[0224]
·
吸收波长光源101a’：波峰波长为520nm(kingbright制造：l－7113vgc－h)
[0225]
·
非吸收波长光源101n’：波峰波长为730nm(everlight electronics制造：elsh－q61f1－0lpnm－jf3f8)
[0226]
·
入射角：20度
[0227]
·
受光角：20度
[0228]
在试样1～6的包覆率的检测时，在实施例1～实施例3中，将事先的光源调整和基于粉末种类的校正的实施设为如下。
[0229]
·
实施例1：无事先的光源调整/无基于粉末种类的校正
[0230]
·
实施例2：无事先的光源调整/有基于粉末种类的校正
[0231]
·
实施例3：有事先的光源调整/有基于粉末种类的校正
[0232]
另外，作为比较例，实施仅使用了一个波长光的包覆率的检测。所使用的光的波峰波长为870nm(斯坦雷制造的炮弹型led)，入射角以及受光角都设为20度。设为无事先的光源调整/无基于粉末种类的校正。
[0233]
将如以上的实施例1～实施例3以及比较例那样检测到的包覆率与通过图像处理而计算出的包覆率进行比较。在评价中，在通过图像处理而计算出的包覆率与在实施例1～实施例3或比较例中检测到的包覆率之差为5％以下的情况下设为偏离小，仅在三个水准都偏离小的情况下设为良好。将该评价结果结合到上述表1来示出。
[0234]
如表1所示，比较例受到倾斜地粘附的粉末的影响，所以在所有的试样中包覆率的检测值与通过图像处理得到的计算值偏离，未能进行精度高的包覆率的检测。
[0235]
相对于此，在实施例1中，虽然是无光源调整/无基于粉末种类的校正的条件，但在使用了光谱反射特性为恒定的银色的粉末的试样1以及试样4中，包覆率的检测结果与通过图像处理得到的计算值未偏离，得到良好的结果。由此，应用本发明而使用针对基底粘着层的吸收波长光和非吸收波长光来检测包覆率的效果得到确认。
[0236]
另外，在实施例2中，是无光源调整/有基于粉末种类的校正的条件下的检测，在基底粘着层的表面状态为平滑的试样1、2、4、5中，包覆率的检测结果与通过图像处理得到的计算值未偏离，得到良好的结果。由此，进行基于粉末种类的校正的效果得到确认。
[0237]
而且，在实施例3中，是有事先的光源调整/有基于粉末种类的校正的条件下的检测，在试样1～6的所有试样中，包覆率的检测结果与通过图像处理得到的计算值未偏离，得
到良好的结果。在此，试样3使用表面凹凸的记录介质s，其凹凸为几十μm。在这个上部形成的图像图案p的厚度为4μm左右，图像图案p的表面的凹凸也大。另外，试样6是作为基底粘着层的粉末保持部件12为长期使用品且凹凸大的表面状态的试样。然而，确认了通过实施事先的光量调整，从而不被基底粘着层的表面状态所影响而能够进行精度高的包覆率的检测。