一种用于检测二维空间相位信息的装置的制作方法

技术特征：
1.一种用于检测二维空间相位信息的装置，包括氦氖激光器(1)，氦氖激光器(1)的发射方向上依次设有第一偏振器(2)、液晶可变延迟器(3)和扩束器(6)；所述扩束器(6)的输出端设有倾斜于氦氖激光器(1)发射方向的微镜阵列(7)，微镜阵列(7)的反射方向上设有棱镜(8)，棱镜(8)的色散方向上依次设有第二偏振器(12)和电荷耦合元件(9)，其特征在于：所述微镜阵列(7)包括基座(10)，基座(10)上设有多个铰接座(21)，铰接座(21)上设有转动连接的连接杆(13)，连接杆(13)的端部设有方形铝镜(11)；所述连接杆(13)一侧设有限位板(14)，限位板(14)上设有滑动槽(15)，滑动槽(15)为弧形，并且圆心位于铰接座(21)与连接杆(13)的连接处；所述连接杆(13)侧面设有与滑动槽(15)位置对应的限位杆(16)，限位杆(16)的端部设有与滑动槽(15)滑动连接的滑动块(17)，滑动槽(15)两侧的滑动块(17)上设有限位块(18)，限位块(18)之间的距离与限位板(14)的厚度一致。2.根据权利要求1所述的一种用于检测二维空间相位信息的装置，其特征在于：所述滑动槽(15)的上下槽面上设有与其弧度对应的限位槽(19)，滑动块(17)的侧面设有与限位槽(19)相契合的弧形卡块(20)。3.根据权利要求2所述的一种用于检测二维空间相位信息的装置，其特征在于：所述滑动槽(15)的弧度范围为
‑
12
°
至12
°
。4.根据权利要求1所述的一种用于检测二维空间相位信息的装置，其特征在于：所述方形铝镜(11)的底部长度为7.64μm。5.根据权利要求1所述的一种用于检测二维空间相位信息的装置，其特征在于：所述氦氖激光器(1)的光源波长为632.8nm。

技术总结
本实用新型公开了一种用于检测二维空间相位信息的装置，包括氦氖激光器(1)，氦氖激光器(1)的发射方向上依次设有第一偏振器(2)、具有控制器的液晶可变延迟器(3)和扩束器(6)；所述扩束器(6)的输出端设有倾斜于氦氖激光器(1)发射方向的微镜阵列(7)，微镜阵列(7)的反射方向上设有棱镜(8)，棱镜(8)的色散方向上依次设有第二偏振器(12)和电荷耦合元件(9)；本实用新型微镜阵列的方形镜片在转动时具有较好的稳定性及准确性，有效防止产生晃动、偏移和过多的转动角度，从而使实验光获得准确的传播，提升实验数据的准确性。提升实验数据的准确性。提升实验数据的准确性。


技术研发人员：蒋兹钰 沈艳婷 吴家伟 郭广生 童鑫 冯彩云
受保护的技术使用者：浙江科技学院
技术研发日：2021.04.20
技术公布日：2021/11/5