带负荷测试方法、装置、设备及存储介质与流程

1.本技术涉及计算机技术领域，特别是涉及一种带负荷测试方法、装置、设备及存储介质。


背景技术：

2.带负荷测试是保障变压器二次回路中故障检测的重要手段，是在新建变电站或对变电站进行改造之后，投入运行前所必须进行的测试工作，也是保障电力设备能够安全运行的前提。
3.在进行带负荷测试时，通常是在采集到变压器二次回路中所有电流幅值以及相位后，由工作人员根据采集到的电流幅值及相位进行差流计算，再将差流计算结果与变压器上的差流保护装置中显示的差流计算结果进行比较得到比较结果，从而根据比较结果确定变压器二次回路中是否出现故障。
4.然而，现有的带负荷测试方法，一次只能采集到单相的电流幅值及相位，并且需要人工根据采集到的电流幅值及相位进行差流计算，计算量大，从而降低了带负荷测试的效率。


技术实现要素：

5.基于此，本技术实施例提供了一种带负荷测试方法、装置、设备及存储介质，可以提高带负荷测试的效率。
6.第一方面，提供了一种带负荷测试方法，该方法包括：
7.针对各待测试相，同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数；其中，各待测试相分别对应多组电流参数；根据二次回路的标准配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流；根据二次回路中所有待测试相对应的实际差流、待测试相的目标差流，确定二次回路中是否存在故障。
8.在其中一个实施例中，针对各待测试相，同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数，包括：
9.针对各待测试相，通过多个电流采集通道同时采集二次回路中待测试相对应的电流参数；其中，一个电流采集通道可以用于采集待测试相对应的一组电流参数。
10.在其中一个实施例中，根据二次回路的标准配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流，包括：
11.获取二次回路的标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数；标准配置参数包括额定电压及电流互感器变比；根据标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流。
12.在其中一个实施例中，根据标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流，包括：
13.根据标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算待测试相对应的归算电流；根据待测试相对应的归算电流，计算待测试相的目标差流。
14.在其中一个实施例中，根据二次回路中所有待测试相对应的实际差流、待测试相的目标差流，确定二次回路中是否存在故障，包括：
15.判断二次回路中所有待测试相对应的实际差流与待测试相的目标差流的差值，是否小于预设差值阈值；若是，则确定二次回路中不存在故障。
16.在其中一个实施例中，上述方法还包括：
17.获取二次回路的实际配置参数；根据二次回路的实际配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相对应的实际差流。
18.在其中一个实施例中，变压器包括三绕组变压器，且三绕组变压器的变低侧采用双分支接线方式；预设的电流移相方式包括变低侧向变高侧移相；
19.针对各待测试相，同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数，包括：
20.针对各待测试相，根据预设的电流移相方式，将与待测试相相位相邻的相作为目标相；同时采集变高侧待测试相的电流参数、变中侧待测试相的电流参数、变低侧一分支待测试相的电流参数、变低侧一分支目标相的电流参数、变低侧二分支待测试相的电流参数、变低侧二分支目标相的电流参数。
21.第二方面，提供了一种带负荷测试装置，该装置包括：
22.采集模块，用于针对各待测试相，同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数；其中，各待测试相分别对应多组电流参数；
23.第一计算模块，用于根据二次回路的标准配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流；
24.确定模块，用于根据二次回路中所有待测试相对应的实际差流、待测试相的目标差流，确定二次回路中是否存在故障。
25.第三方面，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面任一实施例中的方法步骤。
26.第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面任一实施例中的方法步骤。
27.上述带负荷测试方法、装置、设备及存储介质，针对各待测试相，针对各待测试相，同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数；根据二次回路的标准配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流；根据二次回路中所有待测试相对应的实际差流、待测试相的目标差流，确定二次回路中是否存在故障。在本技术实施例提供的技术方案中，由于将带负荷测试仪的电流采集通道进行扩展，可以同时采集待测试相对应的多组电流参数，从而提高了获取电流数据的效率，进而提高了进行带负荷测试的效率；并且，带负荷测试仪可以直接根据获取到的电流参数对待测试相进行差流计算，不需要人工计算，进一步提高了带负荷测试的效率。
附图说明
28.图1为本技术实施例提供的一种计算机设备的框图；
29.图2为本技术实施例提供的一种带负荷测试方法的流程图；
30.图3为本实施例提供的一种传统方法进行差流计算的示意图；
31.图4为本技术实施例提供的一种带负荷测试方法的流程图；
32.图5为本技术实施例提供的一种变压器不同侧的电流流向示意图；
33.图6为本技术实施例提供的一种变压器不同侧的电流相位示意图；
34.图7为本技术实施例提供的一种带负荷测试方法的流程图；
35.图8为本技术实施例提供的一种带负荷测试方法的流程图；
36.图9为本技术实施例提供的一种对所有测试相进行带负荷测试的流程图；
37.图10为本技术实施例提供的一种带负荷测试方法的流程图；
38.图11为本技术实施例提供的一种带负荷测试方法的流程图；
39.图12为本技术实施例提供的一种带负荷测试装置的框图。
具体实施方式
40.为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术实施方式作进一步地详细描述。
41.本技术提供的带负荷测试方法可以应用于计算机设备中，计算机设备可以是服务器，也可以是终端，其中，服务器可以为一台服务器也可以为由多台服务器组成的服务器集群，本技术实施例对此不作具体限定，终端可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑和便携式可穿戴设备。
42.以计算机设备是服务器为例，图1示出了一种服务器的框图，如图1所示，服务器可以包括通过系统总线连接的处理器和存储器。其中，该服务器的处理器用于提供计算和控制能力。该服务器的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序以及数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机程序被处理器执行时以实现一种带负荷测试方法。
43.本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构，仅仅是与本技术方案相关的部分结构的框图，并不构成对本技术方案所应用于其上的服务器的限定，可选地服务器可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
44.需要说明的是，本技术实施例的执行主体可以是计算机设备，也可以是带负荷测试装置，下述方法实施例中就以计算机设备为执行主体进行说明。
45.在一个实施例中，如图2所示，其示出了本技术实施例提供的一种带负荷测试方法的流程图，该方法可以包括以下步骤：
46.步骤220、针对各待测试相，同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数；其中，各待测试相分别对应多组电流参数。
47.其中，在对变压器进行带负荷测试的过程中，需要针对每一相都进行测试，并通过对每一相进行差流计算实现带负荷测试，差流是指流入变压器变高侧的电流与流出变压器变低侧的电流之间的差值。变压器的二次回路是在电气系统中由电流互感器二次绕组、测量监视仪器、继电器等二次设备通过控制电缆联成的电路，在针对各待测试相进行带负荷测试时，可以通过带负荷测试仪同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数，各待测试相分别对应多组电流参数，多组电流参数是用于计算待测试相差流时需要用到的
对应相的电流参数，电流参数可以包括电流幅值和相位。
48.在采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数时，在同一电压基准下，可以通过带负荷测试仪中不同的电流采集通道同时采集多组电流参数。而在传统方法中，通常是带负荷测试仪单次只能采集到一组电流参数，从而采集多次后得到差流计算需要的多组电流参数，再进行差流计算得到待测试相的差流结果，如图3所示，图3为本实施例提供的一种传统方法进行差流计算的示意图。
49.步骤240、根据二次回路的标准配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流。
50.其中，在获取到变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数后，可以根据预先在二次回路中设定的标准配置参数，根据差流计算原理计算待测试相的差流结果，作为目标差流。标准配置参数是二次回路的电路参数，可以包括二次回路中的电流互感器变比、额定电压、接线方式等参数，当然还可以包括其他标准配置参数。
51.步骤260、根据二次回路中所有待测试相对应的实际差流、待测试相的目标差流，确定二次回路中是否存在故障。
52.其中，二次回路中所有待测试相对应的实际差流是通过变压器中的差流保护装置计算得到的，差流保护装置是根据二次回路中的整定配置参数以及待测试相对应的电流参数计算得到实际差流的装置。从而，可以根据二次回路中所有待测试相对应的实际差流、待测试相的目标差流，确定二次回路中是否存在故障，可以是将待测试相的实际差流与目标差流进行比较后，根据比较结果确定二次回路中是否存在故障，比较方式可以是作差比较，也可以是作商比较，还可以是通过其他方式进行比较，本实施例对此不作具体限定。
53.本实施例中，针对各待测试相，同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数；根据二次回路的标准配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流；根据二次回路中所有待测试相对应的实际差流、待测试相的目标差流，确定二次回路中是否存在故障。由于将带负荷测试仪的电流采集通道进行扩展，可以同时采集待测试相对应的电流参数，从而提高了获取电流数据的效率，进而提高了进行带负荷测试的效率；并且，带负荷测试仪可以直接根据获取到的电流参数对待测试相进行差流计算，不需要人工计算，进一步提高了带负荷测试的效率。
54.在一个实施例中，针对各待测试相，同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数，包括：针对各待测试相，通过多个电流采集通道同时采集二次回路中待测试相对应的电流参数；其中，一个电流采集通道可以用于采集待测试相对应的一组电流参数。可以通过带负荷测试仪同时采集二次回路中待测试相对应的电流参数，带负荷测试仪可以包括多个电流采集通道，带负荷测试仪的每个电流采集通道可以采集到一组电流参数，可以通过人工去选择具体采集哪些相的电流参数，从而根据多个电流采集通道就可以采集到待测试相对应的电流参数，因而，提高了获取电流数据的效率，进而提高了进行带负荷测试的效率。
55.在一个实施例中，如图4所示，其示出了本技术实施例提供的一种带负荷测试方法的流程图，具体涉及的是计算待测试相的目标差流的一种可能的过程，该方法可以包括以下步骤：
56.步骤420、获取二次回路的标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的
零序电流参数；标准配置参数包括额定电压及电流互感器变比。
57.步骤440、根据标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流。
58.其中，变压器通常可以包括三相，一般记作a相、b相、c相，三相正序排列，且相位相差120度。而变压器又可以包括变高侧、变中侧、变低侧。对于每一相而言，变高侧和变中侧的相位相同，变低侧超前于变高侧以及变中侧30度，如图5和图6所示，图5为本技术实施例提供的一种变压器不同侧的电流流向示意图；图6为本技术实施例提供的一种变压器不同侧的电流相位示意图；下标中的h表示变高侧、m表示变中侧、l表示变低侧。但在计算待测试相的差流时，需要使得三侧同相位，因此就需要进行电流移相的过程，即需要有预设的电流移相方式。预设的电流移相方式可以包括变低侧向变高侧、变中侧移相；变高侧、变中侧向变低侧移相。
59.待测试相对应的零序电流参数是指三相电流不平衡时零线中产生的电流。标准配置参数可以包括额定电压及电流互感器变比，获取到差流计算需要使用的参数后，就可以根据根据标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流。
60.本实施例中，通过获取二次回路的标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数；根据标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流，带负荷测试仪可以根据获取到的参数高效准确的计算出待测试相的差流结果。
61.在一个实施例中，如图7所示，其示出了本技术实施例提供的一种带负荷测试方法的流程图，具体涉及的是根据归算电流计算待测试相的目标差流的一种可能的过程，该方法可以包括以下步骤：
62.步骤720、根据标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算待测试相对应的归算电流。
63.步骤740、根据待测试相对应的归算电流，计算待测试相的目标差流。
64.其中，可以根据预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算得到待测试相对应的折算电流后，再根据折算电流以及标准配置参数，计算得到待测试相对应的归算电流，最终，再对待测试相对应的归算电流求和后，得到待测试相的目标差流。
65.可以根据预设的电流移相方式以及待测试相，确定出具体的需要采集的电流参数。由于变压器可以包括双绕组变压器、三绕组变压器等类型，其中，双绕组变压器、三绕组变压器的变低侧都可以采用单分支接线方式、双分支接线方式或多分支接线方式，若三绕组变压器采用双分支接线方式，则可以称作三绕组变压器变低带双分支，那么下面以三绕组变压器变低带双分支、预设的电流移相方式为变低侧向变高侧移相为例进行目标差流计算的说明。
66.首先，针对各待测试相，通过带负荷测试仪同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数，如图8所示，其示出了本技术实施例提供的一种带负荷测试方法的流程图，具体涉及的是采集待测试相对应的电流参数的一种可能的过程，该方法可以包括以下步骤：
67.步骤820、针对各待测试相，根据预设的电流移相方式，将与待测试相相位相邻的相作为目标相。
68.步骤840、同时采集变高侧待测试相的电流参数、变中侧待测试相的电流参数、变低侧一分支待测试相的电流参数、变低侧一分支目标相的电流参数、变低侧二分支待测试相的电流参数、变低侧二分支目标相的电流参数。
69.其中，由于各测试相正序排序，将与待测试相相位在前的相邻相作为目标相，从而再根据带负荷测试仪同时采集待测试相的电流参数以及目标想的电流参数。具体地，若待测试相为a相，则通过带负荷测试仪，同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数，包括：同时采集变高侧a相电流参数、变中侧a相电流参数、变低一分支a相电流参数、变低一分支c相电流参数、变低二分支a相电流参数、变低二分支c相电流参数；
70.若待测试相为b相，则通过带负荷测试仪，同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数，包括：同时采集变高侧b相电流参数、变中侧b相电流参数、变低一分支b相电流参数、变低一分支a相电流参数、变低二分支b相电流参数、变低二分支a相电流参数；
71.若待测试相为c相，则通过带负荷测试仪，同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数，包括：同时采集变高侧c相电流参数、变中侧c相电流参数、变低一分支c相电流参数、变低一分支b相电流参数、变低二分支c相电流参数、变低二分支b相电流参数。
72.接着，以待测试相是a相为例，计算a相差流时，可以根据预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，通过公式(1)
‑
(4)计算得到待测试相对应的折算电流。再根据折算电流以及标准配置参数，通过公式(5)
‑
(8)计算得到待测试相对应的归算电流。最后，再根据公式(9)对待测试相对应的归算电流求和后，得到待测试相的目标差流。其他相的计算原理相同，整体流程图如图9所示，图9为本技术实施例提供的一种对所有测试相进行带负荷测试的流程图。
[0073][0074][0075][0076][0077][0078][0079]
[0080][0081][0082]
其中，为a相差流；i
h0
为变高侧a相电流和零序电流，为变高侧a相折算电流和归算至高压侧的归算电流，u
ha
、n
ha
为变高侧a相额定电压和变高电流互感器变比；i
m0
为变中侧a相电流和零序电流，为变中侧a相电流和零序电流，为变中侧a相折算电流和归算至高压侧的归算电流，u
ma
、n
ma
为变中侧a相额定电压和变中侧电流互感器变比；为变低侧一分支a相电流和c相电流，为变低侧一分支a相折算电流和归算至高压侧的归算电流，u
la
、n
la1
为变低侧a相额定电压和变低侧一分支电流互感器变比；为变低侧二分支a相电流和c相电流，为变低侧二分支a相折算电流和归算至高压侧的归算电流，n
la2
为变低侧二分支电流互感器变比。
[0083]
本实施例中，通过根据标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算待测试相对应的归算电流；根据待测试相对应的归算电流，计算待测试相的目标差流。计算方式简单易操作，使得带负荷测试仪可以快速的计算出待测试相的差流结果。
[0084]
在一个实施例中，如图10所示，其示出了本技术实施例提供的一种带负荷测试方法的流程图，具体涉及的是计算待测试相对应的实际差流的一种可能的过程，该方法可以包括以下步骤：
[0085]
步骤1020、获取二次回路的实际配置参数。
[0086]
步骤1040、根据二次回路的实际配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相对应的实际差流。
[0087]
其中，变压器二次回路的实际配置参数，也称为变压器的整定参数，由工作人员手动配置在变压器中。实际配置参数可以包括二次回路中的电流互感器变比、额定电压、接线方式等参数，当然还可以包括其他配置参数，获取到二次回路的实际配置参数后，可以根据二次回路的实际配置参数、待测试相对应的电流参数，基于前面计算目标差流同样的原理，计算待测试相对应的实际差流，并显示在变压器差流保护装置上。
[0088]
本实施例中，通过获取二次回路的实际配置参数，根据二次回路的实际配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相对应的实际差流。通过计算待测试相的实际差流可以作为目标差流的对比参考，从而可以快速的确定出变压器二次回路是否存在故障。
[0089]
在一个实施例中，如图11所示，其示出了本技术实施例提供的一种带负荷测试方法的流程图，具体涉及的是确定二次回路中是否存在故障的一种可能的过程，该方法可以包括以下步骤：
[0090]
步骤1120、判断二次回路中所有待测试相对应的实际差流与待测试相的目标差流的差值，是否小于预设差值阈值。
[0091]
步骤1140、若是，则确定二次回路中不存在故障。
[0092]
其中，在根据待测试相的实际差流与目标差流确定二次回路是否存在故障时，可以通过将二次回路中所有待测试相对应的实际差流与待测试相的目标差流作差，可以通过判断差值取绝对值后，判断绝对值是否小于预设差值阈值，若该绝对值小于预设差值阈值，则确定二次回路中不存在故障；反之，则存在故障。
[0093]
预设差值阈值可以为零，此时相当于对待测试相的实际差流与目标差流进行一致性判断，也可以是根据实际需求设定的某一可接受范围的值。例如，分别将a相、b相、c相的实际差流与目标差流作差，其中所有相的差值绝对值小于预设差值阈值，则确定为二次回路中不存在故障；若有任一相的差值绝对值大于预设差值阈值，则确定为二次回路中存在故障。
[0094]
本实施例中，判断二次回路中所有待测试相对应的实际差流与待测试相的目标差流的差值，是否小于预设差值阈值，若是，则确定二次回路中不存在故障。比较方式简单，且能够准确的判断出变压器二次回路是否存在故障，提高了带负荷测试的准确性。
[0095]
应该理解的是，虽然图2
‑
11的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2
‑
11中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
[0096]
请参考图12，其示出了本技术实施例提供的一种带负荷测试装置1200的框图。如图12所示，该带负荷测试装置1200可以包括：采集模块1202、第一计算模块1204和确定模块1206，其中：
[0097]
采集模块1202，用于针对各待测试相，同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数；其中，各待测试相分别对应多组电流参数；
[0098]
第一计算模块1204，用于根据二次回路的标准配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流；
[0099]
确定模块1206，用于根据二次回路中所有待测试相对应的实际差流、待测试相的目标差流，确定二次回路中是否存在故障。
[0100]
在一个实施例中，上述采集模块1202包括采集单元，采集单元用于针对各待测试相，通过多个电流采集通道同时采集二次回路中待测试相对应的电流参数；其中，一个电流采集通道可以用于采集待测试相对应的一组电流参数。
[0101]
在一个实施例中，上述第一计算模块1204包括获取单元和计算单元，其中，获取单元用于获取二次回路的标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数；标准配置参数包括额定电压及电流互感器变比；计算单元用于根据标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流。
[0102]
在一个实施例中，上述计算单元具体用于根据标准配置参数、预设的电流移相方
式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算待测试相对应的归算电流；根据待测试相对应的归算电流，计算待测试相的目标差流。
[0103]
在一个实施例中，上述确定模块1206包括判断单元和确定单元，其中，判断单元用于判断二次回路中所有待测试相对应的实际差流与待测试相的目标差流的差值，是否小于预设差值阈值；确定单元用于若是，则确定二次回路中不存在故障。
[0104]
在一个实施例中，上述带负荷测试装置1200还包括获取模块1208和第二计算模块1210，其中，获取模块1208用于获取二次回路的实际配置参数；计算模块1210用于根据二次回路的实际配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相对应的实际差流。
[0105]
在一个实施例中，变压器包括三绕组变压器，且三绕组变压器的变低侧采用双分支接线方式；预设的电流移相方式包括变低侧向变高侧移相；上述采集模块1202包括确定单元和采集单元，确定单元用于针对各待测试相，根据预设的电流移相方式，将与待测试相相位相邻的相作为目标相；采集单元用于同时采集变高侧待测试相的电流参数、变中侧待测试相的电流参数、变低侧一分支待测试相的电流参数、变低侧一分支目标相的电流参数、变低侧二分支待测试相的电流参数、变低侧二分支目标相的电流参数。
[0106]
关于带负荷测试装置的具体限定可以参见上文中对于带负荷测试方法的限定，在此不再赘述。上述带负荷测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块的操作。
[0107]
在本技术的一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
[0108]
针对各待测试相，同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数；其中，各待测试相分别对应多组电流参数；根据二次回路的标准配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流；根据二次回路中所有待测试相对应的实际差流、待测试相的目标差流，确定二次回路中是否存在故障。
[0109]
在本技术的一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
[0110]
针对各待测试相，通过多个电流采集通道同时采集二次回路中待测试相对应的电流参数；其中，一个电流采集通道可以用于采集待测试相对应的一组电流参数。
[0111]
在本技术的一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
[0112]
获取二次回路的标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数；标准配置参数包括额定电压及电流互感器变比；根据标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流。
[0113]
在本技术的一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
[0114]
根据标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算待测试相对应的归算电流；根据待测试相对应的归算电流，计算待测试相的目标差流。
[0115]
在本技术的一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
[0116]
判断二次回路中所有待测试相对应的实际差流与待测试相的目标差流的差值，是否小于预设差值阈值；若是，则确定二次回路中不存在故障。
[0117]
在本技术的一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
[0118]
获取二次回路的实际配置参数；根据二次回路的实际配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相对应的实际差流。
[0119]
在本技术的一个实施例中，变压器包括三绕组变压器，且三绕组变压器的变低侧采用双分支接线方式；预设的电流移相方式包括变低侧向变高侧移相；
[0120]
处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
[0121]
针对各待测试相，根据预设的电流移相方式，将与待测试相相位相邻的相作为目标相；同时采集变高侧待测试相的电流参数、变中侧待测试相的电流参数、变低侧一分支待测试相的电流参数、变低侧一分支目标相的电流参数、变低侧二分支待测试相的电流参数、变低侧二分支目标相的电流参数。
[0122]
本技术实施例提供的计算机设备，其实现原理和技术效果与上述方法实施例类似，在此不再赘述。
[0123]
在本技术的一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0124]
针对各待测试相，同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数；其中，各待测试相分别对应多组电流参数；根据二次回路的标准配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流；根据二次回路中所有待测试相对应的实际差流、待测试相的目标差流，确定二次回路中是否存在故障。
[0125]
在本技术的一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
[0126]
针对各待测试相，通过多个电流采集通道同时采集二次回路中待测试相对应的电流参数；其中，一个电流采集通道可以用于采集待测试相对应的一组电流参数。
[0127]
在本技术的一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
[0128]
获取二次回路的标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数；标准配置参数包括额定电压及电流互感器变比；根据标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算待测试相的目标差流。
[0129]
在本技术的一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
[0130]
根据标准配置参数、预设的电流移相方式、待测试相对应的零序电流参数以及待测试相对应的电流参数，计算待测试相对应的归算电流；根据待测试相对应的归算电流，计算待测试相的目标差流。
[0131]
在本技术的一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
[0132]
判断二次回路中所有待测试相对应的实际差流与待测试相的目标差流的差值，是否小于预设差值阈值；若是，则确定二次回路中不存在故障。
[0133]
在本技术的一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
[0134]
获取二次回路的实际配置参数；根据二次回路的实际配置参数、待测试相对应的电流参数，计算待测试相对应的实际差流。
[0135]
在本技术的一个实施例中，变压器包括三绕组变压器，且三绕组变压器的变低侧采用双分支接线方式；预设的电流移相方式包括变低侧向变高侧移相；
[0136]
计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
[0137]
针对各待测试相，根据预设的电流移相方式，将与待测试相相位相邻的相作为目标相；同时采集变高侧待测试相的电流参数、变中侧待测试相的电流参数、变低侧一分支待测试相的电流参数、变低侧一分支目标相的电流参数、变低侧二分支待测试相的电流参数、变低侧二分支目标相的电流参数。
[0138]
本实施例提供的计算机可读存储介质，其实现原理和技术效果与上述方法实施例类似，在此不再赘述。
[0139]
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本技术所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦除可编程rom(eeprom)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(ram)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram(sram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据率sdram(ddrsdram)、增强型sdram(esdram)、同步链路(synchlink)dram(sldram)、存储器总线(rambus)直接ram(rdram)、直接存储器总线动态ram(drdram)、以及存储器总线动态ram(rdram)等。
[0140]
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0141]
以上实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。