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带负荷测试方法、装置、设备及存储介质与流程

2021-11-05 21:48:00 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种带负荷测试方法,其特征在于,所述方法包括:针对各待测试相,同时采集变压器的二次回路中所述待测试相对应的电流参数;其中,各所述待测试相分别对应多组电流参数;根据所述二次回路的标准配置参数、所述待测试相对应的电流参数,计算所述待测试相的目标差流;根据所述二次回路中所有所述待测试相对应的实际差流、所述待测试相的目标差流,确定所述二次回路中是否存在故障。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述针对各待测试相,同时采集变压器的二次回路中所述待测试相对应的电流参数,包括:针对各待测试相,通过多个电流采集通道同时采集所述二次回路中所述待测试相对应的电流参数;其中,所述一个电流采集通道可以用于采集所述待测试相对应的一组电流参数。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述二次回路的标准配置参数、所述待测试相对应的电流参数,计算所述待测试相的目标差流,包括:获取所述二次回路的标准配置参数、预设的电流移相方式、所述待测试相对应的零序电流参数;所述标准配置参数包括额定电压及电流互感器变比;根据所述标准配置参数、所述预设的电流移相方式、所述待测试相对应的零序电流参数以及所述待测试相对应的电流参数,计算所述待测试相的目标差流。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述标准配置参数、所述预设的电流移相方式、所述待测试相对应的零序电流参数以及所述待测试相对应的电流参数,计算所述待测试相的目标差流,包括:根据所述标准配置参数、所述预设的电流移相方式、所述待测试相对应的零序电流参数以及所述待测试相对应的电流参数,计算所述待测试相对应的归算电流;根据所述待测试相对应的归算电流,计算所述待测试相的目标差流。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述二次回路中所有所述待测试相对应的实际差流、所述待测试相的目标差流,确定所述二次回路中是否存在故障,包括:判断所述二次回路中所有所述待测试相对应的实际差流与所述待测试相的目标差流的差值,是否小于预设差值阈值;若是,则确定所述二次回路中不存在故障。6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:获取所述二次回路的实际配置参数;根据所述二次回路的实际配置参数、所述待测试相对应的电流参数,计算所述待测试相对应的实际差流。7.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述变压器包括三绕组变压器,且所述三绕组变压器的变低侧采用双分支接线方式;所述预设的电流移相方式包括变低侧向变高侧移相;所述针对各待测试相,同时采集变压器的二次回路中所述待测试相对应的电流参数,包括:针对各待测试相,根据所述预设的电流移相方式,将与所述待测试相相位相邻的相作
为目标相;同时采集变高侧所述待测试相的电流参数、变中侧所述待测试相的电流参数、变低侧一分支所述待测试相的电流参数、变低侧一分支所述目标相的电流参数、变低侧二分支所述待测试相的电流参数、变低侧二分支所述目标相的电流参数。8.一种带负荷测试装置,其特征在于,所述装置包括:采集模块,用于针对各待测试相,同时采集变压器的二次回路中所述待测试相对应的电流参数;其中,各所述待测试相分别对应多组电流参数;第一计算模块,用于根据所述二次回路的标准配置参数、所述待测试相对应的电流参数,计算所述待测试相的目标差流;确定模块,用于根据所述二次回路中所有所述待测试相对应的实际差流、所述待测试相的目标差流,确定所述二次回路中是否存在故障。9.一种计算机设备,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的方法的步骤。10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的方法的步骤。

技术总结
本申请涉及一种带负荷测试方法、装置、设备及存储介质,所述方法包括:针对各待测试相,同时采集变压器的二次回路中待测试相对应的电流参数;其中,各待测试相分别对应多组电流参数;根据二次回路的标准配置参数、待测试相对应的电流参数,计算待测试相的目标差流;根据二次回路中所有待测试相对应的实际差流、待测试相的目标差流,确定二次回路中是否存在故障。本申请实施例提供的技术方案可以提高带负荷测试的效率。荷测试的效率。荷测试的效率。


技术研发人员:张文 王其林 王勋江 童斯琦 毕星宇 姜云峰
受保护的技术使用者:深圳供电局有限公司
技术研发日:2021.06.25
技术公布日:2021/11/4
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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