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光相位调制器半波电压简化测定装置和方法与流程

2021-11-03 12:29:00 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.光相位调制器半波电压简化测定装置,其特征在于:包括依次连接的半导体激光器ld(1)、光纤偏振控制器pc(2)、待测试的光相位调制器pm(3)、光幅度调制器am(4)和光功率计p(5),射频信号同轴线与光相位调制器pm(3)的射频输入口相连,在无射频电压加载于光相位调制器pm(3)时,调节光纤偏振控制器pc(2)的两个旋钮,使光功率计p(5)显示的光功率最大即锁定光纤偏振控制器pc(2)的状态,用具有一定重频的射频信号驱动光相位调制器pm(3),调节射频信号的电压大小,使光功率计p(5)显示的光功率最大时的射频信号电压即为半波电压。2.根据权利要求1所述的光相位调制器半波电压简化测定装置,其特征在于:所述光相位调制器pm(3)的输入端光纤通过光纤法兰盘与光纤偏振控制器pc(2)的输出端光纤相连,光相位调制器pm(3)的输出端光纤通过光纤法兰盘与光幅度调制器am(4)的输入端光纤相连。3.根据权利要求2所述的光相位调制器半波电压简化测定装置,其特征在于:所述光相位调制器pm(3)的输入端光纤为保偏光纤,输出端光纤为常规光纤。4.根据权利要求1~3中任意一项所述的光相位调制器半波电压简化测定装置,其特征在于:所述光相位调制器pm(3)为商用化产品。5.根据权利要求1~3中任意一项所述的光相位调制器半波电压简化测定装置,其特征在于:所述光纤偏振控制器pc(2)为光纤嵌入式机械式调节器件。6.光相位调制器半波电压简化测定方法,其特征在于采用了如权利要求1~3中任意一项所述的光相位调制器半波电压简化测定装置,其方案步骤为:

、各个光器件通过光纤连接:保偏光纤输出光功率稳定的半导体激光器ld(1)与光纤偏振控制器pc(2)的输入光纤连接,光纤偏振控制器pc(2)的输出光纤与待测试的光相位调制器pm(3)的输入保偏光纤连接,待测试的光相位调制器pm(3)的输出光纤与光幅度调制器am(4)的输入保偏光纤连接,光幅度调制器am(4)的输出光纤与光功率计p(5)的探头连接;

、光纤偏振控制器pc(2)的状态锁定:在无射频电压加载于光相位调制器pm(3)时,调节光纤偏振控制器pc(2)的两个旋钮,使光功率计p(5)显示的光功率最大即锁定光纤偏振控制器pc(2)的状态;

、半波电压测试:射频信号同轴线与光相位调制器pm(3)的射频输入口相连,用具有一定重频的射频信号驱动光相位调制器pm(3),调节射频信号的电压大小,使光功率计p(5)显示的光功率最大时的射频信号电压即为半波电压。

技术总结
本发明公开了一种光相位调制器半波电压简化测定装置和方法,包括半导体激光器LD、光纤偏振控制器PC、待测试的光相位调制器PM、光幅度调制器AM和光功率计P,半导体激光器LD的输出光纤与光纤偏振控制器PC的输入光纤连接,光纤偏振控制器PC的输出光纤与光相位调制器PM的输入保偏光纤连接,光相位调制器PM的输出光纤与光幅度调制器AM的输入保偏光纤连接,光幅度调制器AM的输出光纤与光功率计P的探头连接,光相位调制器PM的射频输入口连接有射频信号线。本发明相比传统的半波电压测试方法,可实现快速测定并满足实际应用的重频要求,方法简单、使用方便。使用方便。使用方便。


技术研发人员:吴国锋 张昕 赵灏 覃波 刘志强 杨小亮
受保护的技术使用者:中国电子科技集团公司第三十四研究所
技术研发日:2021.08.04
技术公布日:2021/11/2
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