偏光片的缺陷检测装置及缺陷检测方法与流程

本申请属于显示面板，尤其涉及一种偏光片的缺陷检测装置及缺陷检测方法。

背景技术：

1、oled器件中通常设置有偏光片以实现针对外界环境光线的抗反射效果。随着应用有oled显示面板的终端设备不断朝向小型化、轻薄化的趋势发展，偏光片越来越多地采用涂布工艺生产制备。

2、然而，涂布型偏光片自身存在表面较暗、反光性差等特性，导致其缺陷难以通过常规的光学检测设备检出，对显示面板的入料拦截率及模组良率造成不良影响。

技术实现思路

1、本申请实施例提供一种偏光片的缺陷检测装置及缺陷检测方法，能够提升偏光片的缺陷检测精度，进而实现偏光片以及显示面板产品良率的提升。

2、第一方面，本申请实施例提供一种偏光片的缺陷检测装置，缺陷检测装置包括光源、滤光结构、补偿结构、承载结构以及图像获取单元，光源用于生成检测光束；滤光结构设置于光源的一侧，滤光结构用于将检测光束过滤得到线性偏振光束；补偿结构包括第一相位差膜，第一相位差膜设置于滤光结构背离光源的一侧，第一相位差膜用于将线性偏振光束过滤得到第一圆偏振光；承载结构用于承载待测偏光片，承载结构设置于补偿结构背离光源的一侧；图像获取单元设置于承载结构背离光源的一侧，图像获取单元用于获取待测偏光片出光侧的图像；其中，滤光结构与承载结构中的至少一者可动地设置以调节滤光结构与待测偏光片之间的位置关系，使滤光结构的透过轴与待测偏光片的透过轴平行，或者，使滤光结构的透过轴与待测偏光片的透过轴垂直。

3、在一些可选的实施例中，滤光结构包括第一线偏振片，第一线偏振片的透过轴平行于待测偏光片的透过轴设置，第一线偏振光用于将检测光束过滤得到第一线偏振光。

4、在一些可选的实施例中，第一线偏振片可转动地设置，以切换第一线偏振光的振动方向。

5、在一些可选的实施例中，滤光结构还包括用于限制第一线偏振片转动范围的第一卡位部与第二卡位部，第一卡位部与第二卡位部间隔第一角度设置。

6、在一些可选的实施例中，第一角度为90°，当第一线偏振片与第一卡位部连接，第一线偏振光的振动方向平行于待测偏光片的透过轴；当第一线偏振片与第二卡位部连接，第一线偏振光的振动方向垂直于待测偏光片的透过轴。

7、在一些可选的实施例中，滤光结构还包括半波片，半波片设置于第一线偏振片背离光源的一侧。

8、在一些可选的实施例中，半波片设置于第一线偏振片与补偿结构之间，第一线偏振光通过半波片得到第二线偏振光，第二线偏振光的振动方向垂直于待测偏光片的透过轴。

9、在一些可选的实施例中，第一相位差膜的慢轴与待测偏光片的透过轴之间呈第二角度设置。

10、在一些可选的实施例中，第二角度为45°。

11、在一些可选的实施例中，第一相位差膜包括液晶材料、聚碳酸酯材料、环状烯烃系聚合物材料中的至少一者。

12、在一些可选的实施例中，承载结构可转动地设置，以调节待测偏光片对于第一圆偏振光的过滤效果。

13、在一些可选的实施例中，光源可转动地设置。

14、在一些可选的实施例中，光源为d65标准光源，或者，光源为c光源。

15、在一些可选的实施例中，图像获取单元包括相机与安装座，相机与安装座可转动地连接以调节待测偏光片处出射光束与相机之间的入射夹角。

16、第二方面，本申请实施例提供一种偏光片的缺陷检测方法，基于如第一方面任一实施例所提供的偏光片的缺陷检测装置实施，缺陷检测方法包括：

17、装载待测偏光片；

18、调节待测偏光片与滤光结构之间的相对角度，使待测偏光片的透过轴平行于滤光结构的透过轴；

19、获取待测偏光片出光侧的第一图像，基于第一图像判断待测偏光片的缺陷类型。

20、在一些可选的实施例中，缺陷检测方法还包括：

21、调节待测偏光片与滤光结构之间的相对角度，使待测偏光片的透过轴垂直于滤光结构的透过轴；

22、获取待测偏光片出光侧的第二图像，结合第一图像与第二图像判断待测偏光片的缺陷类型。

23、本申请实施例的偏光片的缺陷检测装置能够通过光源模拟自然光向待测偏光片照射，并通过依次设置的滤光结构以及补偿结构将光源发射的检测光束转换为第一圆偏振光，进而通过检验待测偏光片对于第一圆偏振光的偏转效果实现待测偏光片的缺陷检测。具体地，若偏光片涂布均匀，偏光片能够与第一圆偏振光形成光路闭合，从而光束能够透过待测偏光片或被待测偏光片所吸收，使图像获取单元检测到亮度均一或全黑态的图像。本申请实施例能够将待测偏光的缺陷区域与正常区域中的一者实现黑态表征，使缺陷区域更容易被识别而提升涂布型偏光片的缺陷检测精度，最终实现偏光片及显示面板产品良率的提升。

1.一种偏光片的缺陷检测装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的偏光片的缺陷检测装置，其特征在于，所述滤光结构包括第一线偏振片，所述第一线偏振片的透过轴平行于所述待测偏光片的透过轴设置，所述第一线偏振光用于将所述检测光束过滤得到第一线偏振光。

3.根据权利要求2所述的偏光片的缺陷检测装置，其特征在于，所述第一线偏振片可转动地设置，以切换所述第一线偏振光的振动方向；

4.根据权利要求2所述的偏光片的缺陷检测装置，其特征在于，所述滤光结构还包括半波片，所述半波片设置于所述第一线偏振片背离所述光源的一侧；

5.根据权利要求1所述的偏光片的缺陷检测装置，其特征在于，所述第一相位差膜的慢轴与所述待测偏光片的透过轴之间呈第二角度设置；

6.根据权利要求1所述的偏光片的缺陷检测装置，其特征在于，所述承载结构可转动地设置，以调节所述待测偏光片对于所述第一圆偏振光的过滤效果。

7.根据权利要求1所述的偏光片的缺陷检测装置，其特征在于，所述光源可转动地设置；

8.根据权利要求1所述的偏光片的缺陷检测装置，其特征在于，所述图像获取单元包括相机与安装座，所述相机与所述安装座可转动地连接以调节所述待测偏光片处出射光束与所述相机之间的入射夹角。

9.一种偏光片的缺陷检测方法，其特征在于，基于如权利要求1至8任一项所述的偏光片的缺陷检测装置实施，缺陷检测方法包括：

10.根据权利要求9所述的偏光片的缺陷检测方法，其特征在于，缺陷检测方法还包括：