产品测试方法、设备及存储介质与流程

1.本技术涉及产品测试领域，具体涉及一种产品测试方法、设备及存储介质。


背景技术：

2.根据iso16750-2和vw80000等电气负荷标准，需要完成8种类型的短路测试和2种类型的开路测试。测试样品通常有几十根线束，每根线束都需要完成不同类型的短路和开路测试。大约有几百组测试，各线束间切换繁琐，容易混乱，目前完全依靠人力手动操作，测试效率极低，且可靠性差。
3.上述的陈述仅用于提供与本技术有关的背景技术信息，而不必然地构成现有技术。


技术实现要素：

4.鉴于上述问题，本技术实施例提供一种产品测试方法、设备及存储介质，能够缓解完全依靠人力手动操作对产品进行测试存在的测试效率低的问题。
5.第一方面，本技术提供了一种产品测试方法，包括：显示交互面板，所述交互面板中包括各测试通道对应的配置组件，各所述测试通道与待测产品上的测试对象一一对应连接；从所述交互面板获取用户通过所述配置组件对各测试通道配置的通道配置信息，所述通道配置信息包括至少一个测试类型，每个所述测试类型对应一个硬件电路，所述硬件电路用于对各所述测试通道连接的测试对象进行每个所述测试类型的电气测试；基于各测试通道对应的通道配置信息，控制所述各测试通道对待测产品进行测试。
6.本实施例提供的方案中提供交互面板以实现由用户根据实际需要进行测试通道以及通道配置信息的配置，从而实现基于测试通道的通道配置信息对待测产品进行自动测试，从而提高测试效率以及测试可靠性。
7.在一些实施例中，基于各测试通道对应的通道配置信息，控制所述各测试通道对待测产品进行测试，包括：基于各测试通道对应的通道配置信息，分别确定各测试通道被配置的测试类型；统计各测试类型对应的测试通道；控制依次执行所述各测试类型的测试；其中，对于同一测试类型对应的多个测试通道，控制所述多个测试通道依次进行测试。
8.本实施例提供的方案中，对于同一测试类型的多个测试通道，控制多个测试通道依次进行测试，这种有序的测试过程有助于进一步提高测试效率。
9.在一些实施例中，所述方法还包括：在控制依次执行各所述测试类型的测试的情况下，调整交互面板中与各所述测试类型和第一测试通道对应的显示组件的组件状态，以使得调整后的组件状态指示所述第一
测试通道正在执行各所述测试类型的测试，所述第一测试通道为正在执行各所述测试类型的测试通道。
10.本实施例提供的方案，在控制依次执行各所述测试类型的测试的情况下，通过调整交互面板中显示组件的组件状态，方便用户了解当前的测试状态。
11.在一些实施例中，所述方法还包括：响应于检测到对所述待测产品开始测试的信号，基于各所述测试类型对应的单线测试时间和包括各所述测试类型的测试通道的数量，计算所述待测产品的测试总时间；在所述交互面板显示所述测试总时间。
12.本实施例提供的方案中，通过计算并在交互面板显示测试总时间，方便用户观察测试时间。
13.在一些实施例中，所述方法还包括：在计算得到所述测试总时间的情况下，基于所述交互面板中测试通道的数量和第二测试通道已完成的各测试类型各自对应的单线测试时间，计算所述待测产品已被测试的测试时间；所述第二测试通道为完成至少一个测试类型的测试通道；计算所述测试总时间和所述已被测试的测试时间的差值，得到测试剩余时间；在所述交互面板上以所述测试剩余时间更新所述测试总时间。
14.本实施例提供的方案，通过计算测试剩余时间，并在交互面板上显示测试剩余时间，可以方便用户了解测试进程。
15.在一些实施例中，所述方法还包括：在控制依次执行各所述测试类型的测试的情况下，基于各所述测试类型对应的单线测试时间和各所述测试类型的已进行时间，计算单线剩余时间；在所述交互面板显示所述单线剩余时间。
16.本实施例提供的方案，通过计算单线剩余时间以及在交互面板上显示单线剩余时间，方便用户了解当前正在进行的某个测试类型的测试的进度。
17.在一些实施例中，所述方法还包括：在所述交互面板中所述各测试类型所属的测试总类型的状态指示允许进行所述测试总类型的测试的情况下，执行控制依次执行所述各测试类型的测试的步骤。
18.本实施例提供的方案中，通过设置测试总类型可以减少用户误配置测试通道的通道配置信息导致待测产品的测试发生错误的情况发生。
19.第二方面，本技术提供了一种产品测试装置，包括：显示模块，用于显示交互面板，所述交互面板中包括各测试通道对应的配置组件，各所述测试通道与待测产品上的测试对象一一对应连接；获取模块，用于从所述交互面板获取用户通过所述配置组件对各测试通道配置的通道配置信息，所述通道配置信息包括至少一个测试类型，每个所述测试类型对应一个硬件电路，所述硬件电路用于对各所述测试通道连接的测试对象进行每个所述测试类型的电气测试；控制模块，用于基于各测试通道对应的通道配置信息，控制所述各测试通道对待测产品进行测试。
20.第三方面，本技术提供了一种电子设备，包括：处理器和存储器；
所述存储器，用于存储计算机程序；所述处理器，用于执行所述存储器中所存储的程序，实现第一方面所述的产品测试方法。
21.第四方面，本技术提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面所述的产品测试方法。
22.上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本技术的具体实施方式。
附图说明
23.通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。
24.图1为本技术一些实施例的产品测试方法的流程示意图；图2为本技术一些实施例的交互面板的示意图；图3为本技术一些实施例的产品测试装置的结构示意图；图4为本技术一些实施例的电子设备的结构示意图；图5为本技术一些实施例的计算机可读存储介质的结构示意图。
具体实施方式
25.下面将结合附图对本技术技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本技术的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本技术的保护范围。
26.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的技术领域的技术人员通常理解的含义相同；本文中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术；本技术的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
27.在本技术实施例的描述中，技术术语“第一”“第二”等仅用于区别不同对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量、特定顺序或主次关系。在本技术实施例的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定。
28.在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本技术的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
29.在本技术实施例的描述中，术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
30.iso16750-2和vw80000等电气负荷标准要求，电池包及内部电池管理系统对应的电路板需要完成8种类型的短路测试和2种类型的开路测试，并在测试结果满足电气负荷标
准要求的情况下才能被使用。电路板中通常有几十根线束，每根线束都需要完成不同类型的短路和开路测试。大约有几百组测试，各线束间切换繁琐，容易混乱，目前完全依靠人力手动操作，测试效率极低，且可靠性差。
31.为了缓解依靠人力手动操作进行电气负荷标准要求的电气测试存在的测试效率低的问题，本技术实施例提供一种产品测试方法，该方法中提供交互面板以实现由用户根据实际需要进行测试通道以及通道配置信息的配置，从而实现基于测试通道的通道配置信息对待测产品进行自动测试，从而提高测试效率以及测试可靠性。
32.本技术实施例提供的产品测试方法可以应用于对任意包括电路板的待测产品进行测试，包括但不限于电池、电动玩具、终端设备、交通工具、学习用品等。
33.在本技术的一些实施例中，该产品分析方法所涉及的设备可以包括但不限于存储设备和上位机。其中，存储设备可以包括但不限于对各测试通道的通道配置信息进行存储。上位机可以包括但不限于与存储设备连接的服务器或终端。上位机与存储设备之间的连接关系可以为有线连接或无线连接等。在这些实施例中，上位机可以从存储设备中获取各测试通道的通道配置信息，并基于通道配置信息控制各测试通道对待测产品进行测试。
34.为了便于描述，下面以所涉及的设备包括上位机及存储设备为例来详细说明本技术实施例的具体处理过程。
35.参见图1，本技术实施例提供了一种产品测试方法，具体包括以下步骤：步骤101、显示交互面板，交互面板中包括各测试通道对应的配置组件，各测试通道与待测产品上的测试对象一一对应连接；步骤102、从交互面板获取用户通过配置组件对各测试通道配置的通道配置信息，通道配置信息包括至少一个测试类型，每个测试类型对应一个硬件电路，硬件电路用于对各测试通道连接的测试对象进行每个测试类型的电气测试；步骤103、基于各测试通道对应的通道配置信息，控制各测试通道对待测产品进行测试。
36.本实施例中，每个测试通道可以对应多个配置组件，每个配置组件对应一个测试类型。用户通过配置这些配置组件进而实现对测试通道的配置信息的配置，比如当用户选择一个配置组件时，表示测试通道的通道配置信息中包括了该配置组件对应的测试类型。
37.应理解，不同的测试通道对应的通道配置信息可以相同，可以完全不同，当然也可以部分相同。具体说来，当不同测试通道的通道配置信息中包括的测试类型完全相同时，那么不同测试通道的通道配置信息完全相同；当不同测试通道的通道配置信息中包括的测试类型有部分相同时，那么不同测试通道的通道配置信息部分相同；当不同测试通道的通道配置信息中包括的测试类型完全不同时，那么不同测试通道的通道配置信息完全不同。
38.应用中，通道配置信息中的测试类型包括但不限于开路1次测试、开路3次测试、对电源短路（激活）测试、对电源短路（未激活）测试、对地短路（激活）测试、对地短路（未激活）测试、电源缺失（激活）测试、电源缺失（未激活）测试、地缺失（激活）测试、地缺失（未激活）测试等。
39.应用中，测试通道包括但不限于测试设备上的接线端子、接线插头等部件，在实际进行测试时，这些测试通道可以与待测产品上需要进行测试的测试对象进行连接，从而实现对待测产品中每个测试对象进行测试。应理解，测试通道在测试设备内部还可以连接实
现不同测试类型的测试的电路，按照通道配置信息，通过测试通道控制这些电路的通断可以实现对待测产品的测试。
40.为了方便理解，给出了如图2所示的交互面板的示意图，在图2中，用01-32编号的选择通道对应本实施例中的测试通道，“开路、对电源短路、对地短路、电源缺失、地缺失”对应本实施例中测试通道配置信息中的测试类型。在图2中，每个选择通道对应的通道配置信息均相同，即每个选择通道的通道配置信息均包括“开路1次、开路3次、对电源短路（激活）、对地短路（激活）、电源缺失（激活）和地缺失（激活）”这些测试类型。在图2中，每个选择通道均对应10个方形的配置组件，以“01”号的选择通道和“开路1次”的测试类型为例，与“01”号的选择通道和“开路1次”的测试类型对应的方形的配置组件即为“01”号的选择通道对应的所有配置组件中的一个。
41.本实施例提供的方案中提供交互面板以由用户根据实际需要进行测试通道以及通道配置信息的配置，从而实现基于测试通道的通道配置信息对待测产品进行自动测试，从而提高测试效率以及测试可靠性。
42.本技术一个或多个实施例中，基于各测试通道对应的通道配置信息，控制各测试通道对待测产品进行测试，包括：基于各测试通道对应的通道配置信息，分别确定各测试通道被配置的测试类型；统计各测试类型对应的测试通道；控制依次执行各测试类型的测试；其中，对于同一测试类型对应的多个测试通道，控制多个测试通道依次进行测试。
43.本实施例中，一个通道配置信息可以包括一个或多个测试类型。在控制依次执行各测试类型的测试时，对于每一种测试类型，逐一对包括该测试类型的通道配置信息对应的测试通道进行测试。
44.具体说来，一次测试过程包括：对待测产品中需要进行第i个测试类型的测试的第j个测试对象进行第i个测试类型的测试，第j个测试对象与交互面板中的第j个测试通道对应，第i个测试类型为第j个测试通道的通道配置信息中的测试类型；i大于0且小于等于各测试通道对应的通道配置信息包括的测试类型的总种类数，j大于0且小于等于待测产品中测试对象的总数；在确定第j个测试对象完成第i个测试类型的测试，且第j个测试对象不为待测产品中最后一个需要完成第i个测试类型的测试的测试对象的情况下，更新j=j 1，并返回执行一次测试过程，直至待测产品中需要进行第i个测试类型的测试的测试对象均完成第i个测试类型的测试；在确定第j个测试对象完成第i个测试类型的测试，第j个测试对象为待测产品中最后一个需要完成第i个测试类型的测试的测试对象，以及第i个测试类型不为各测试通道对应的通道配置信息中的最后一个测试类型的情况下，更新i=i 1，并返回执行一次测试过程，直至待测产品完成各测试通道对应的通道配置信息中的每个测试类型。
45.应用中，可以基于完成第i个测试类型的测试需要的单线测试时间，确定第j个测试对象是否完成第i个测试类型的测试。应用中，第i个测试类型的测试需要的单线测试时间可以在每次执行该产品测试方法时由用户通过交互面板进行设置，也可以预先配置。
46.结合图2中的交互面板，并以待测产品中的测试对象为线束为例，对本实施例中对
待测产品进行测试的过程展开说明。
47.测试开始；执行开路1次测试，对第一根线束进行开路一次测试，完成后，执行下一根线束，执行过程中若识别到交互面板未勾选该类型测试，则跳过，执行下一根线束，直至完成所有线束。
48.然后执行开路3次测试，从第一根线束开路一次测试，完成后，执行下一根线束，执行过程中若识别到交互面板未勾选该类型测试，则跳过，执行下一根线束，直至完成所有线束。
49.然后执行对电源短路激活测试，从第一根线束先判断是否执行激活测试，如需要执行，完成后执行下一根，若不需要执行，执行下一根线束，直至完成所有线束。
50.然后执行对电源短路未激活测试，从第一根线束先判断是否执行未激活测试，如需要执行，完成后执行下一根，若不需要执行，执行下一根线束，直至完成所有线束。
51.然后执行对地短路激活测试，从第一根线束先判断是否执行激活测试，如需要执行，完成后执行下一根，若不需要执行，执行下一根线束，直至完成所有线束。
52.然后执行对地短路未激活测试，从第一根线束先判断是否执行未激活测试，如需要执行，完成后执行下一根，若不需要执行，执行下一根线束，直至完成所有线束。
53.然后执行电源缺失激活测试，从第一根线束先判断是否执行激活测试，如需要执行，完成后执行下一根，若不需要执行，执行下一根线束，直至完成所有线束。
54.然后执行电源缺失未激活测试，从第一根线束先判断是否执行未激活测试，如需要执行，完成后执行下一根，若不需要执行，执行下一根线束，直至完成所有线束。
55.然后执行地缺失激活测试，从第一根线束先判断是否执行激活测试，如需要执行，完成后执行下一根，若不需要执行，执行下一根线束，直至完成所有线束。
56.然后执行地缺失未激活测试，从第一根线束先判断是否执行未激活测试，如需要执行，完成后执行下一根，若不需要执行，执行下一根线束，直至完成所有线束。
57.结束测试。
58.本实施例中对待测产品进行测试时按照从上至下，从左至右的顺序进行，在实际应用中，也可以按照从左至右，从上之下的顺序进行。具体说来，对于第一根线束，先判断是否执行开路1次测试，如需要完成后判断是否执行开路3次，如需要完成后，判断是否完成对电源短路激活测试，按照此顺序，直至第一根线束完成“01”选择通道对应的通道配置信息包括的所有测试类型，然后对于第二根线束重复上述步骤。
59.本实施例提供的方案中，对于同一测试类型的多个测试通道，控制多个测试通道依次进行测试，这种有序的测试过程有助于进一步提高测试效率。
60.上文对各个实施例的描述倾向于强调各个实施例之间的不同之处，其相同或相似之处可以相互参考，为了简洁，本文不再赘述。
61.本技术一个或多个实施例中，该方法还包括：在控制依次执行各测试类型的测试的情况下，调整交互面板中与各测试类型和第一测试通道对应的显示组件的组件状态，以使得调整后的组件状态指示第一测试通道正在执行各测试类型的测试，第一测试通道为正在执行各测试类型的测试通道。
62.应用中，可以用不同的颜色对不同的组件状态进行区分。比如可以以红色表示正
在进行某个测试类型的测试。还可以以闪烁的频率对不同的组件状态进行区分。比如以高频率的闪烁表示正在进行某个测试类型的测试。当然还可以以颜色和闪烁的频率组合对不同的组件状态进行区分。比如以高频率的闪烁红色表示正在进行某个测试类型的测试。
63.本实施例提供的方案，在控制依次执行各测试类型的测试的情况下，通过调整交互面板中显示组件的组件状态，方便用户了解当前的测试状态。
64.上文对各个实施例的描述倾向于强调各个实施例之间的不同之处，其相同或相似之处可以相互参考，为了简洁，本文不再赘述。
65.本技术一个或多个实施例中，该方法还包括：响应于检测到对待测产品开始测试的信号，基于各测试类型对应的单线测试时间和包括各测试类型的测试通道的数量，计算待测产品的测试总时间；在交互面板显示测试总时间。
66.应理解，单线测试时间指的是一个测试通道完成一个测试类型的测试需要的时间。仍以图2的交互面板举例，开路1次的单线测试时间指的是一个线束完成开路1次的测试所需要的时间。
67.实际应用中，基于测试通道对待测产品进行不同测试类型的测试的机理不同，测试类型对应的单线测试时间可以包括测试过程时间、电气负荷标准要求时间和/或开关切换时间等。仍以图2的交互面板中的测试类型举例，该交互面板中的测试类型具体可以分为两大类，即开路测试和短路测试，其中开路测试包括开路1次和开路3次，短路测试则包括除开路1次和开路3次之外的所有测试。开路测试中的所有测试类型的单线测试时间相同，短路测试中的所有测试类型的单线测试时间相同。因此，对于图2中的交互面板，测试总时间的计算公式可以为：t总= 其中，t总为测试总时间，t1为开路测试时间，单位s(秒)；t2为短路测试时间，单位s(秒)；t3为测试前后等待时间，单位s(秒)；t4为继电器切换等待时间，单位s(秒)；n为测试线束数量。应理解，这里的t1和t2即为前述的测试过程时间，t3为电气负荷标准要求时间，t4为开关切换时间。
68.本实施例提供的方案中，通过计算并在交互面板显示测试总时间，方便用户观察测试时间。
69.上文对各个实施例的描述倾向于强调各个实施例之间的不同之处，其相同或相似之处可以相互参考，为了简洁，本文不再赘述。
70.本技术一个或多个实施例中，该方法还包括：在计算得到测试总时间的情况下，基于交互面板中测试通道的数量和第二测试通道已完成的各测试类型各自对应的单线测试时间，计算待测产品已被测试的测试时间；第二测试通道为完成至少一个测试类型的测试通道；计算测试总时间和已被测试的测试时间的差值，得到测试剩余时间；在交互面板上以测试剩余时间更新测试总时间。
71.仍以图2中的交互面板举例，计算测试剩余时间的公式可以为：t剩余=t总-其中，t总为测试总时间，t剩余为测试剩余时间，t1为开路测试时间，单位s(秒)，t2为短路测试时间，单位s(秒)，t3为等待时间（包含测试前和测试后），单位s(秒)，t4为继电器切换等待时间，单位s(秒)，n为测试线束数量。
72.本实施例提供的方案，通过计算测试剩余时间，并在交互面板上显示测试剩余时间，可以方便用户了解测试进程。
73.上文对各个实施例的描述倾向于强调各个实施例之间的不同之处，其相同或相似之处可以相互参考，为了简洁，本文不再赘述。
74.本技术一个或多个实施例中，该方法还包括：在控制依次执行各测试类型的测试的情况下，基于各测试类型对应的单线测试时间和各测试类型的已进行时间，计算单线剩余时间；在交互面板显示单线剩余时间。
75.本实施例提供的方案，通过计算单线剩余时间以及在交互面板上显示单线剩余时间，方便用户了解当前正在进行的某个测试类型的测试的进度。
76.上文对各个实施例的描述倾向于强调各个实施例之间的不同之处，其相同或相似之处可以相互参考，为了简洁，本文不再赘述。
77.本技术一个或多个实施例中，该方法还包括：在交互面板中各测试类型所属的测试总类型的状态指示允许进行测试总类型的测试的情况下，执行控制依次执行各测试类型的测试的步骤。
78.以图2的交互面板举例，测试总类型可以为开路测试或短路测试。
79.本实施例提供的方案中，通过设置测试总类型可以减少用户误配置测试通道的通道配置信息导致待测产品的测试发生错误的情况发生。
80.上文对各个实施例的描述倾向于强调各个实施例之间的不同之处，其相同或相似之处可以相互参考，为了简洁，本文不再赘述。
81.本技术实施方式还提供一种产品测试装置，如图3所示，该装置可以包括：显示模块31，用于显示交互面板，交互面板中包括各测试通道对应的配置组件，各测试通道与待测产品上的测试对象一一对应连接；获取模块32，用于从交互面板获取用户通过配置组件对各测试通道配置的通道配置信息，通道配置信息包括至少一个测试类型，每个测试类型对应一个硬件电路，硬件电路用于对各测试通道连接的测试对象进行每个测试类型的电气测试；控制模块33，用于基于各测试通道对应的通道配置信息，控制各测试通道对待测产品进行测试。
82.在一些实施例中，控制模块33用于：基于各测试通道对应的通道配置信息，分别确定各测试通道被配置的测试类型；统计各测试类型对应的测试通道；
控制依次执行各测试类型的测试；其中，对于同一测试类型对应的多个测试通道，控制多个测试通道依次进行测试。
83.在一些实施例中，该装置还用于：在控制依次执行各测试类型的测试的情况下，调整交互面板中与各测试类型和第一测试通道对应的显示组件的组件状态，以使得调整后的组件状态指示第一测试通道正在执行各测试类型的测试，第一测试通道为正在执行各测试类型的测试通道。
84.在一些实施例中，该装置还用于：响应于检测到对待测产品开始测试的信号，基于各测试类型对应的单线测试时间和包括各测试类型的测试通道的数量，计算待测产品的测试总时间；在交互面板显示测试总时间。
85.在一些实施例中，该装置还用于：在计算得到测试总时间的情况下，基于交互面板中测试通道的数量和第二测试通道已完成的各测试类型各自对应的单线测试时间，计算待测产品已被测试的测试时间；第二测试通道为完成至少一个测试类型的测试通道；计算测试总时间和已被测试的测试时间的差值，得到测试剩余时间；在交互面板上以测试剩余时间更新测试总时间。
86.在一些实施例中，该装置还用于：在控制依次执行各测试类型的测试的情况下，基于各测试类型对应的单线测试时间和各测试类型的已进行时间，计算单线剩余时间；在交互面板显示单线剩余时间。
87.在一些实施例中，该装置还用于：在交互面板中各测试类型所属的测试总类型的状态指示允许进行测试总类型的测试的情况下，执行控制依次执行各测试类型的测试的步骤。
88.本技术实施方式还提供一种电子设备，以执行上述产品测试方法。请参考图4其示出了本技术的一些实施方式所提供的一种电子设备的示意图。如图4所示，电子设备4包括：处理器400，存储器401，总线402和通信接口403，所述处理器400、通信接口403和存储器401通过总线402连接；所述存储器401中存储有可在所述处理器400上运行的计算机程序，所述处理器400运行所述计算机程序时执行本技术前述任一实施方式所提供的产品测试方法。
89.其中，存储器401可能包含高速随机存取存储器（ram：random access memory），也可能还包括非不稳定的存储器（non-volatile memory），例如至少一个磁盘存储器。通过至少一个通信接口403（可以是有线或者无线）实现该装置网元与至少一个其他网元之间的通信连接，可以使用互联网、广域网、本地网、城域网等。
90.总线402可以是isa总线、pci总线或eisa总线等。所述总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。其中，存储器401用于存储程序，所述处理器400在接收到执行指令后，执行所述程序，前述本技术实施例任一实施方式揭示的所述产品测试方法可以应用于处理器400中，或者由处理器400实现。
91.处理器400可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器400中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器400可以是通用处理器，包括中央处理器(central processing unit，简称
cpu)、网络处理器(network processor，简称np)等；还可以是数字信号处理器(dsp)、专用集成电路(asic)、现成可编程门阵列(fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本技术实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本技术实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器401，处理器400读取存储器401中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。
92.本技术实施例提供的电子设备与本技术实施例提供的产品测试方法出于相同的发明构思，具有与其采用、运行或实现的方法相同的有益效果。
93.本技术实施方式还提供一种与前述实施方式所提供的产品测试方法对应的计算机可读存储介质，请参考图5，其示出的计算机可读存储介质为光盘30，其上存储有计算机程序（即程序产品），所述计算机程序在被处理器运行时，会执行前述任意实施方式所提供的产品测试方法。
94.需要说明的是，所述计算机可读存储介质的例子还可以包括，但不限于相变内存 (pram)、静态随机存取存储器 (sram)、动态随机存取存储器 (dram)、其他类型的随机存取存储器 (ram)、只读存储器 (rom)、电可擦除可编程只读存储器 (eeprom)、快闪记忆体或其他光学、磁性存储介质，在此不再一一赘述。
95.本技术的上述实施例提供的计算机可读存储介质与本技术实施例提供的产品测试方法出于相同的发明构思，具有与其存储的应用程序所采用、运行或实现的方法相同的有益效果。
96.需要说明的是：在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本技术的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。
97.类似地，应当理解，为了精简本技术并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在上面对本技术的示例性实施例的描述中，本技术的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该公开的方法解释成反映如下示意图：即所要求保护的本技术要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如下面的权利要求书所反映的那样，发明方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本技术的单独实施例。
98.此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本技术的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在下面的权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。
99.以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，
都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。