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产品测试方法、设备及存储介质与流程

2023-09-08 21:44:45 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种产品测试方法,其特征在于,包括:显示交互面板,所述交互面板中包括各测试通道对应的配置组件,各所述测试通道与待测产品上的测试对象一一对应连接;从所述交互面板获取用户通过所述配置组件对各测试通道配置的通道配置信息,所述通道配置信息包括至少一个测试类型,每个所述测试类型对应一个硬件电路,所述硬件电路用于对各所述测试通道连接的测试对象进行每个所述测试类型的电气测试;基于各测试通道对应的通道配置信息,控制所述各测试通道对待测产品进行测试。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于各测试通道对应的通道配置信息,控制所述各测试通道对待测产品进行测试,包括:基于各测试通道对应的通道配置信息,分别确定各测试通道被配置的测试类型;统计各测试类型对应的测试通道;控制依次执行所述各测试类型的测试;其中,对于同一测试类型对应的多个测试通道,控制所述多个测试通道依次进行测试。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:在控制依次执行各所述测试类型的测试的情况下,调整交互面板中与各所述测试类型和第一测试通道对应的显示组件的组件状态,以使得调整后的组件状态指示所述第一测试通道正在执行各所述测试类型的测试,所述第一测试通道为正在执行各所述测试类型的测试通道。4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:响应于检测到对所述待测产品开始测试的信号,基于各所述测试类型对应的单线测试时间和包括各所述测试类型的测试通道的数量,计算所述待测产品的测试总时间;在所述交互面板显示所述测试总时间。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:在计算得到所述测试总时间的情况下,基于所述交互面板中测试通道的数量和第二测试通道已完成的各测试类型各自对应的单线测试时间,计算所述待测产品已被测试的测试时间;所述第二测试通道为完成至少一个测试类型的测试通道;计算所述测试总时间和所述已被测试的测试时间的差值,得到测试剩余时间;在所述交互面板上以所述测试剩余时间更新所述测试总时间。6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:在控制依次执行各所述测试类型的测试的情况下,基于各所述测试类型对应的单线测试时间和各所述测试类型的已进行时间,计算单线剩余时间;在所述交互面板显示所述单线剩余时间。7.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:在所述交互面板中所述各测试类型所属的测试总类型的状态指示允许进行所述测试总类型的测试的情况下,执行控制依次执行所述各测试类型的测试的步骤。8.一种产品测试装置,其特征在于,包括:显示模块,用于显示交互面板,所述交互面板中包括各测试通道对应的配置组件,各所述测试通道与待测产品上的测试对象一一对应连接;获取模块,用于从所述交互面板获取用户通过所述配置组件对各测试通道配置的通道
配置信息,所述通道配置信息包括至少一个测试类型,每个所述测试类型对应一个硬件电路,所述硬件电路用于对各所述测试通道连接的测试对象进行每个所述测试类型的电气测试;控制模块,用于基于各测试通道对应的通道配置信息,控制所述各测试通道对待测产品进行测试。9.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器和存储器;所述存储器,用于存储计算机程序;所述处理器,用于执行所述存储器中所存储的程序,实现权利要求1-7任一项所述的产品测试方法。10.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7任一项所述的产品测试方法。

技术总结
本申请公开了一种产品测试方法、设备及存储介质,该方法包括显示交互面板,交互面板中包括各测试通道对应的配置组件;从交互面板获取用户通过配置组件对各测试通道配置的通道配置信息,通道配置信息包括至少一个测试类型;基于各测试通道对应的通道配置信息,控制各测试通道对待测产品进行测试。该方法提供交互面板以实现由用户根据实际需要进行测试通道以及通道配置信息的配置,从而实现基于测试通道的通道配置信息对待测产品进行自动测试,从而提高测试效率以及测试可靠性。从而提高测试效率以及测试可靠性。从而提高测试效率以及测试可靠性。


技术研发人员:毕晓健 翁书华
受保护的技术使用者:宁德时代新能源科技股份有限公司
技术研发日:2023.08.08
技术公布日:2023/9/7
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