芯片、测试机台、芯片参数的校准系统、方法及相关设备与流程

1.本发明适用于芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片、测试机台、芯片参数的校准系统、方法及相关设备。


背景技术：

2.由于晶圆制造的偏差，芯片、集成电路（integrated circuit chip，ic）等工艺产品的电压、电流、频率等参数在制造出来后会具有个体差异性，为使产品参数性能达到预期且具备良好的一致性，在出货前都需要在晶圆级测试（cp）或成品级测试（ft）对每颗芯片内部的各种参数进行校准。
3.相关技术的芯片参数校准方法，都需要芯片将模拟量传输给校准装置，如图1所示，校准装置测量接收到的模拟量，计算出误差，然后通过外部的通信系统修改芯片的寄存器，以调整芯片的模拟量，通过重复上述过程达到需要的校准效果。
4.然而，相关技术的校准方法会产生以下问题：1、由于芯片夹具和机台之间有很长的软排线连接，可能会导致芯片传出、并通过软排线传输的模拟量有偏差，使得基于模拟量的校准计算出现更多误差；2、需要多次测试和校准，导致测试时间长；3、由于芯片夹具和机台之间有很长的软排线连接，容易被干扰，通信速率不高，使得通信时间长；4、因为调整档位不均匀的问题，通常会进行多次校准的循环，导致测试时间和通信时间会成倍增加。
5.因此，亟需一种新的芯片及参数校准系统、方法来解决上述问题。


技术实现要素：

6.本发明提供一种芯片、测试机台、芯片参数的校准系统、方法及相关设备，旨在解决现有技术对于芯片校准的方法受限于排线连接及测试、调整方法导致的误差大、时间长的技术问题。
7.第一方面，本发明提供一种芯片，可由一个测试机台进行参数校准，所述芯片包括比较模块、模拟模块和控制模块，其中：所述模拟模块用于获取调整信号，并根据所述调整信号输出包含待校准的参数值的对应的待处理模拟信号，所述调整信号为所述控制模块发出；所述比较模块用于获取标准模拟信号及所述待处理模拟信号以进行比较，并产生比较结果，所述标准模拟信号为所述测试机台发出；所述控制模块用于接收校准开始信号，并根据所述校准开始信号向所述模拟模块输出所述调整信号，所述校准开始信号为所述测试机台发出；所述控制模块还用于获取所述比较结果，并判断所述比较结果是否与预设校准结果相同：若否，则根据预设调整规则对所述调整信号进行调整，并发出调整后的调整信号；若是，则保存最后一次调整后发出的所
述调整信号对应的所述参数值，并结束参数校准。
8.更进一步地，所述预设校准结果为：所述标准模拟信号和所述待处理模拟信号相同。
9.更进一步地，所述控制模块包括寄存器单元和逻辑单元，所述寄存器单元用于存储所述参数值，所述逻辑单元用于根据所述预设调整规则对所述寄存器单元中的所述参数值进行调整。
10.更进一步地，所述芯片还包括芯片通讯模块，用于实现与所述测试机台的通信连接，以接收所述校准开始信号；所述芯片通讯模块还用于在所述控制模块结束参数校准时，发出校准结束信号至所述测试机台。
11.第二方面，本发明还提供一种测试机台，用于对芯片进行参数校准，所述测试机台包括机台通讯模块及释放模块，所述机台通信模块用于根据指令发出校准开始信号至所述芯片，并接收所述芯片返回的校准结束信号；所述释放模块用于在所述机台通信模块发出所述校准开始信号时，向所述芯片发出标准模拟信号。
12.第三方面，本发明还提供一种芯片参数的校准系统，所述校准系统包括如上任一项所述的芯片及测试机台。
13.第四方面，本发明还提供一种芯片参数的校准方法，所述校准方法基于如上任一项所述的芯片实现，所述校准方法包括以下步骤：s11、在芯片的控制模块中接收校准开始信号，并根据所述校准开始信号向模拟模块输出调整信号，所述校准开始信号为外部的测试机台发出；s12、在芯片的模拟模块中获取调整信号，并根据所述调整信号输出包含待校准的参数值的对应的待处理模拟信号；s13、在芯片的比较模块中获取标准模拟信号及所述待处理模拟信号以进行比较，并产生比较结果，所述标准模拟信号为外部的测试机台发出；s14、在芯片的控制模块中获取所述比较结果，并判断所述比较结果是否与预设校准结果相同：若否，则根据预设调整规则对所述调整信号进行调整，并发出调整后的调整信号，返回步骤s12；若是，则保存最后一次调整后发出的所述调整信号对应的所述参数值，并结束参数校准。
14.第五方面，本发明还提供一种芯片参数的校准方法，所述校准方法基于如上所述的测试机台实现，所述校准方法包括以下步骤：s21、在测试机台的机台通信模块中输入指令，以向待校准的芯片发出校准开始信号，以开始参数校准；s22、在测试机台的释放模块中根据所述校准开始信号，向所述芯片发出标准模拟信号；s23、通过所述机台通信模块接收校准结束信号，并结束参数校准，所述校准结束信号为所述芯片参数校准完成时发出。
15.第六方面，本发明还提供一种计算机设备，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上任意一项所述的芯片参数的校准方法中的步骤。
16.第七方面，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上
存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述实施例中任意一项所述的芯片参数的校准方法中的步骤。
17.本发明所达到的有益效果，在于提出了一种能够消除模拟量传输误差、并缩短测试时间的芯片参数校准方法、及对应的芯片及测试机台，本发明基于芯片及测试机台在参数校准过程中使得芯片内调整后的模拟量能够直接反馈到参数上，减少了芯片外部的模拟量传输，并且，基于不同的寄存器，本发明还可以对多个参数进行同时校准，减少重复校准的时间，提高了参数校准的效率。
附图说明
18.图1是现有技术实现芯片参数校准的示意图；图2是本发明实施例提供的芯片参数的校准系统300的结构示意图；图3是本发明实施例提供的芯片参数的校准方法的步骤流程图；图4是本发明实施例提供的另一种芯片参数的校准方法的步骤流程图；图5是本发明实施例提供的计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
19.为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
20.实施例一本发明实施例提供一种芯片100，可由一个测试机台200进行参数校准，所述芯片包括比较模块101、模拟模块102和控制模块103，其中：所述模拟模块102用于获取调整信号，并根据所述调整信号输出包含待校准的参数值的对应的待处理模拟信号，所述调整信号为所述控制模块200发出；所述比较模块101用于获取标准模拟信号及所述待处理模拟信号以进行比较，并产生比较结果，所述标准模拟信号为所述测试机台200发出；所述控制模块103用于接收校准开始信号，并根据所述校准开始信号向所述模拟模块101输出所述调整信号，所述校准开始信号为所述测试机台200发出；所述控制模块103还用于获取所述比较结果，并判断所述比较结果是否与预设校准结果相同：若否，则根据预设调整规则对所述调整信号进行调整，并发出调整后的调整信号；若是，则保存最后一次调整后发出的所述调整信号对应的所述参数值，并结束参数校准。
21.具体的，本发明实施例中的所述预设调整规则，可以是按照数值大小顺序的从低到高、也可以是按数值大小顺序的从高到低进行调整，或者，可以基于数据排序的二分法进行调整，之后，在二分法区分出来的数值档位中进行顺序扫描。
22.实际实施过程中，本发明实施例中的所述模拟模块102和控制模块103可以基于芯片原有的设计实现，即该部分模块不需要在芯片中额外增加；所述比较模块102有两个输入端和一个输出端，从两个输入端分别以模拟模块102和测试机台200输入模拟量，比较产生的结果送给控制模块103，一般的，所述比较模块102可以基于比较器、鉴相器等实现，在包含上述结构的芯片中，比较模块102也可以通过复用结构来实现，从而节省硬件资源。
23.更进一步地，所述预设校准结果为：所述标准模拟信号和所述待处理模拟信号相同。
24.更进一步地，所述控制模块103包括寄存器单元1031和逻辑单元1032，所述寄存器单元1031用于存储所述参数值，所述逻辑单元1032用于根据所述预设调整规则对所述寄存器单元1031中的所述参数值进行调整。其中，寄存器单元1031和逻辑单元1032可以设计多个，具体的说，对于每一个需要校准的参数，应该分别对应存储到一个独立的寄存器单元1031中，在芯片可以进行多任务处理的前提下，由于寄存器单元1031的读写是完全独立的，使得本发明实施例提供的芯片100可以同时进行多个参数校准的流程。
25.更进一步地，所述芯片100还包括芯片通讯模块104，用于实现与所述测试机台200的通信连接，以接收所述校准开始信号；所述芯片通讯模块104还用于在所述控制模块103结束参数校准时，发出校准结束信号至所述测试机台200。
26.实施例二本发明实施例还提供一种测试机台200，用于对芯片100进行参数校准，所述测试机台200包括机台通讯模块201及释放模块202，所述机台通信模块201用于根据指令发出校准开始信号至所述芯片100，并接收所述芯片100返回的校准结束信号；所述释放模块202用于在所述机台通信模块201发出所述校准开始信号时，向所述芯片100发出标准模拟信号。
27.实施例三本发明实施例还提供一种芯片参数的校准系统300，请参照图2，图2是本发明实施例提供的芯片参数的校准系统300的结构示意图，所述校准系统300包括如上任一项所述的芯片100及测试机台200。
28.本发明实施例中的所述芯片参数的校准系统300中，芯片100及测试机台200之间通过一个传输通道来传输标准模拟信号，并通过另一传输通道来传输校准开始信号和校准结束信号，而校准开始信号和校准结束信号是与参数校准的准确度无关的，即对于参数校准的过程，仅有一次使用到了传输通道来进行与参数校准相关数据的传输，由于这个传输在只在校准开始的一瞬间完成，使得该过程所造成的误差是可以忽略的，并且相较于现有技术，可以避免长排线在此的数据干扰。实际实施过程中，如果传输的标准模拟信号、校准开始信号和校准结束信号是设计成电流的模式，那么芯片100及测试机台200仅需要一个传输通道就可以进行参数校准，进一步简化了校准的实现流程。
29.实施例四本发明实施例还提供一种芯片参数的校准方法，请参照图3，图3是本发明实施例提供的芯片参数的校准方法的步骤流程图，所述校准方法基于如上任一项所述的芯片100实现，所述校准方法包括以下步骤：s11、在芯片100的控制模块103中接收校准开始信号，并根据所述校准开始信号向模拟模块输出调整信号，所述校准开始信号为外部的测试机台发出。需要指出的是，在芯片100没有接收到所述校准开始信号前，比较模块101没有输出比较结果给控制模块103，控制模块103输出给模拟模块102的参数值是保持不变的。
30.s12、在芯片100的模拟模块102中获取调整信号，并根据所述调整信号输出包含待校准的参数值的对应的待处理模拟信号。
31.s13、在芯片100的比较模块101中获取标准模拟信号及所述待处理模拟信号以进
memory，简称ram）等。
39.需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
40.通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质（如rom/ram、磁碟、光盘）中，包括若干指令用以使得一台终端（可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述的方法。
41.上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式用等同变化，均属于本发明的保护之内。