一种图形化流程式测试用例的测试脚本生成方法与流程

1.本发明涉及自动化生成c语言测试脚本领域，特别是涉及图形化流程式测试用例自动生成c语言测试脚本。
技术背景
2.在自动化测试领域，测试工程师往往要自行编写测试脚本对被测系统进行测试，这样对测试工程师的编程专业技术要求很高，测试工程师不仅需要对测试用例进行精心设计，还需要完成代码编写的工作，如果编写的代码存在bug，测试工程师还需要反复检查以确定测试用例的准确性，这种传统的测试方法是一种相对效率低下的方法。目前市场上自动测试工具，大多需要测试工程师编写脚本代码，且以python脚本为主，这种方法还是对测试工程师编程技术要求相对较高，而且python脚本与c语言脚本执行效率相比，c语言脚本执行效率大大优于python脚本。
3.一种图形化流程式测试用例的测试脚本生成方法让测试工程师彻底省去编写代码的时间，可让测试工程师专注于测试用例设计，且c语言测试脚本基于自动测试脚本框架生成，不会出现语法、逻辑等错误。一种图形化流程式测试用例的测试脚本生成方法在自动化测试领域具有重要意义，不仅可降低测试工程师的编程技术要求，也可大大降低测试成本与提高测试效率。


技术实现要素：

4.本发明主要解决的技术问题是提供一种图形化流程式测试用例的测试脚本生成方法，解决测试工程师需要手动编写测试脚本代码的问题。
5.为了解决上述问题，本发明采用的技术方案是：提供一种图形化流程式测试用例的测试脚本生成方法，该方法是一种通过图形化流程式测试用例的设计自动生成c语言测试脚本的技术，图形化流程的测试用例设计更方便和快捷，不需要测试工程师编写代码，由于c语言的高效性，生成的c语言测试脚本可大大提高测试准确性以及实时性，结合两者的优点可以大大加快测试用例的编写速度和运行效率，基于图形化流程式测试用例的测试脚本生成方法其特征在于：
6.1.根据图形化流程自动生成c语言测试脚本；
7.2.图形化流程支持if/else判断、for循环、延时、exit退出、多线程等逻辑结构；
8.3.图形化流程每条动作对应着c语言测试脚本中的一个函数。
9.本发明的有益效果是：自动生成测试用例c语言测试脚本，大大降低测试工程师的编程能力专业性要求，提高测试效率，降低测试成本。
附图说明
10.本发明是对图形化流程式测试用例自动生成c语言测试脚本的一种方法，在图形化搭建完测试用例后，需要生成计算机可编译、可执行的测试脚本，自动生成的c语言测试
脚本就是一种可编译、可执行的测试脚本。
11.图1是图形化流程式结构的测试用例图。
12.通过图形化配置的测试用例，这种图形结构并不能直接运行在计算机中，需要转化成计算机可编译、 可运行的测试脚本代码程序，通过对测试用例步骤的解析，每条步骤生成一个c语言函数，就会得到c语 言代码测试脚本。
13.图2是根据图1生成的c语言代码测试脚本图。
[0014][0015]
图2是对图1的抽象代码解析，测试工程师只需要建立图1中的图形化流程式结构测试用例，就会生成如图2所示的c语言测试脚本代码程序，测试脚本代码程序中包含了图1中的测试步骤的注释与说明，形成一一对应关系。c语言测试脚本代码程序可编译成计算机中可运行的程序。
具体实施方式
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本发明通过将图形化流程式测试用例自动生成c语言的测试脚本代码程序，具体的实施方式是：
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1.测试工程师以拖拽方式通过图形化流程式结构搭建测试用例；
[0018]
2.测试工程师通过c语言测试脚本代码自动生成框架，点击按钮自动生成c语言测试脚本。


技术特征：
1.一种图形化流程式测试用例的测试脚本生成方法是一种图形化流程式测试用例自动生成c语言测试脚本的技术，图形化流程式的测试用例设计更方便和快捷，不需要测试工程师编写代码，生成的c语言测试脚本可大大提高测试准确性以及实时性，结合两者的优点可以大大加快测试用例的编写速度和运行效率。2.根据图形化流程自动生成c语言测试脚本。3.图形化流程支持if/else判断、for循环、延时、exit退出、多线程等逻辑结构。4.图形化流程每条动作对应着c语言测试脚本中的一个函数。

技术总结
本发明公开了一种图形化流程式测试用例的测试脚本生成方法，该方法是一种通过图形化流程式的测试用例自动生成C语言测试脚本的技术，由于C语言的高效性，用C语言编译的测试用例作为系统的测试对象，可大大提高测试准确性以及实时性。一种图形化流程式测试用例的测试脚本生成方法让测试工程师彻底省去编写测试脚本的时间，可让测试工程师专注于测试用例设计，且C语言测试脚本基于自动测试脚本框架生成，不会出现语法、逻辑等错误。一种图形化流程式测试用例的测试脚本生成方法在自动化测试领域具有重要意义，不仅可降低测试工程师的编程技术要求，也可大大降低测试成本与提高测试效率。该种方法目前广泛应用于船舶、航空航天等需要大量高时效性的自动化测试领域。等需要大量高时效性的自动化测试领域。等需要大量高时效性的自动化测试领域。


技术研发人员：段苏沛 欧阳敏 姜政
受保护的技术使用者：上海佑创信息工程有限公司
技术研发日：2021.08.08
技术公布日：2023/2/17