一种光学镜头测试料盘的制作方法

1.本实用新型涉及光学镜头检测技术领域，尤其涉及一种光学镜头测试料盘。


背景技术：

2.随着光学行业的发展，光学镜头作为光学行业中不可或缺的一种产品，在各个领域中发挥了举足轻重的作用。相对应的，光学镜头的质量评判标准也变得尤为重要。一个光学镜头的质量衡量标准根据需求的不同，体现在多个方面，如防水性、耐热性、杂散光测试、解析度等。
3.而光学镜头最基础的质量标准就是解析度测试，这个质量标准一般由全欧光学高精度光学传递函数测量仪(mtf)进行测试。传统的测试方式是将镜头放入一个相适配的料盘中，调整mtf的参数，直接进行解析度的测试，将样品归类为良品和不良品，其中良品占据所有样品数量的比例为良率。
4.这种测试方式的优点是每次测试的数量较多，测试效率较高，能够比较准确地测试镜头的解析度。但同样存在不足：这种测试方式只能确定镜头本身的良率，而由于镜头在实际应用中需要锁配后座，镜头锁配后座时可能产生误差，这种测试方式无法确认镜头最终与后座锁配后进行使用时的良率，更无法提供相应的数据反馈帮助设计人员对镜头与后座进行锁配的高度进行调整，从而确定最佳的锁配高度。


技术实现要素：

5.本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种新型的光学镜头测试料盘，能够直接测试镜头与后座锁配后，即实际应用中的良率。
6.为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：一种光学镜头测试料盘，用于承载相锁配的镜头和后座，所述光学镜头测试料盘包括盘体，所述盘体的顶面阵列地开设有多个与所述后座配合的定位槽，所述定位槽的底面开设有测试通孔。
7.进一步的，所述定位槽整体呈矩形，包括两个相对设置的第一侧壁以及两个相对设置的第二侧壁；两个所述第一侧壁上分别设有朝外延伸的第一避位槽。
8.进一步的，相邻的两个所述定位槽的第一侧壁通过所述第一避位槽相连通。
9.进一步的，所述盘体上设有第二避位槽，所述第二避位槽连通所述第二侧壁。
10.进一步的，相邻的两个所述定位槽的第二侧壁通过所述第二避位槽相连通。
11.进一步的，所述定位槽的四个角部分别设有朝外延伸的避位缺口。
12.进一步的，所述盘体的顶面设有凹陷的装配腔，多个所述定位槽和测试通孔开设于所述装配腔的底面。
13.进一步的，所述定位槽的底面设有避让结构。
14.进一步的，所述盘体上间隔地开设有多个安装孔。
15.本实用新型的有益效果在于：本光学镜头测试料盘通过在盘体上设置能够与底座配合的定位槽，使得锁配后的镜头和后座能够一同放入mtf中进行测试，从而能够通过测试
排除掉由于锁配误差而产生的不良品；并且可以通过调整mtf中reticle与镜头的距离，模拟实际应用中传感器与镜头的距离，利用测到的解析度数据的反馈调整镜头与后座的锁配高度。
附图说明
16.图1为现有技术的料盘的结构示意图；
17.图2为本实用新型实施例一所述的后座的仰视图；
18.图3为本实用新型实施例一所述的后座和镜头的侧视图
19.图4为本实用新型实施例一的光学镜头测试料盘的整体结构示意图；
20.图5为图4中a部分的细节放大图；
21.图6为本实用新型实施例一的光学镜头测试料盘的工作状态示意图。
22.标号说明：
23.1、镜头；
24.2、后座；21、外接线路；
25.3、盘体；31、定位槽；32、测试通孔；33、第一避位槽；34、第二避位槽；35、避位缺口；36、装配腔；37、避让结构；38、安装孔；
26.4、reticle。
具体实施方式
27.为详细说明本实用新型的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
28.请参照图2至图6，一种光学镜头测试料盘，用于承载相锁配的镜头1和后座2，所述光学镜头测试料盘包括盘体3，所述盘体3的顶面阵列地开设有多个与所述后座2配合的定位槽31，所述定位槽31的底面开设有测试通孔32。
29.从上述描述可知，本实用新型的有益效果在于：本光学镜头测试料盘通过在盘体3上设置能够与底座配合的定位槽31，使得锁配后的镜头1和后座2能够一同放入mtf中进行测试，从而能够通过测试排除掉由于锁配误差而产生的不良品；并且可以通过调整mtf中reticle 4与镜头1的距离，模拟实际应用中传感器与镜头1的距离，利用测到的解析度数据的反馈调整镜头1与后座2的锁配高度。
30.进一步的，所述定位槽31整体呈矩形，包括两个相对设置的第一侧壁以及两个相对设置的第二侧壁；两个所述第一侧壁上分别设有朝外延伸的第一避位槽33。
31.由上述描述可知，第一避位槽33能够避开后座2侧壁上凸出的凸耳。
32.进一步的，相邻的两个所述定位槽31的第一侧壁通过所述第一避位槽33相连通。
33.由上述描述可知，令两个相邻的定位槽31通过第一避位槽33连通能够减少两个定位槽31的间距，从而增加盘体3上的定位槽31以便于装载更多的镜头1和后座2。
34.进一步的，所述盘体3上设有第二避位槽34，所述第二避位槽34连通所述第二侧壁。
35.由上述描述可知，第二避位槽34能够避开连接于后座2侧壁上的外接线路21。
36.进一步的，相邻的两个所述定位槽31的第二侧壁通过所述第二避位槽34相连通。
37.由上述描述可知，令两个相邻的定位槽31通过第二避位槽34连通能够减少两个定位槽31的间距，从而增加盘体3上的定位槽31以便于装载更多的镜头1和后座2。
38.进一步的，所述定位槽31的四个角部分别设有朝外延伸的避位缺口35。
39.由上述描述可知，避位缺口35能够避开后座2的角部，防止定位槽31的角部因为尺寸误差而与后座2的角度发生抵触，导致后座2的位置发生偏移，影响测试结果。
40.进一步的，所述盘体3的顶面设有凹陷的装配腔36，多个所述定位槽31和测试通孔32开设于所述装配腔36的底面。
41.由上述描述可知，本光学镜头测试料盘的整体形状与现有料盘基本一致，能够与mtf的测试位相适配。
42.进一步的，所述定位槽31的底面设有避让结构37。
43.由上述描述可知，避让结构37能够避开位于后座2底面的凸出结构。
44.进一步的，所述盘体3上间隔地开设有多个安装孔38。
45.由上述描述可知，盘体3通过多个安装孔38安装于mtf中进行测试。
46.实施例一
47.请参照图2至图6，本实用新型的实施例一为：一种光学镜头测试料盘，用于承载相锁配的镜头1和后座2，使得镜头1和后座2能够一同进入mtf中进行测试。
48.所述光学镜头测试料盘包括盘体3，所述盘体3的顶面阵列地开设有多个与所述后座2配合的定位槽31，所述定位槽31的底面开设有测试通孔32。具体的，测试时，先令镜头1与后座2相锁配，随后将后座2置入定位槽31中，此时镜头1和测试通孔32对齐；将盘体3以及盘体3上的镜头1与后座2一同放入mtf中，此时mtf中的reticle 4与镜头1对齐；对镜头1进行解析度测试，排除掉解析度不合要求以及锁配后出现尺寸误差的镜头1；通过调整mtf中reticle 4与镜头1的距离，模拟实际应用中传感器与镜头1的距离，根据测到的解析度数据反馈来调整镜头1与后座2的锁配高度，进而确定镜头1与后座2的最佳锁配高度。
49.优选的，如图4和图5所示，所述定位槽31整体呈矩形，包括两个相对设置的第一侧壁以及两个相对设置的第二侧壁。具体的，本实施例中，由于参与测试的后座2的两侧壁上设有凸耳，故而两个所述第一侧壁上分别设有朝外延伸，用于避开后座2上的凸耳的第一避位槽33。两个第一避位槽33对称设置。
50.优选的，如图4所示，相邻的两个所述定位槽31的第一侧壁通过所述第一避位槽33相连通。本实施例中，多个定位槽31均分为多行，每行中的任意两个相邻的定位槽31的第一侧壁通过第一避位槽33相连通。
51.优选的，如图4和图5所示，所述盘体3上设有第二避位槽34，所述第二避位槽34连通所述第二侧壁。相邻的两个所述定位槽31的第二侧壁通过所述第二避位槽34相连通。具体的，第二避位槽34用于避开连接于后座2侧壁的外接线路21。每行定位槽31的一侧对应地设有一个第二避位槽34，第二避位槽34的两侧壁分别与相邻的两行定位槽31的第二侧壁连通；第二避位槽34的深度小于定位槽31的深度，以防止后座2偏移至第二避位槽34中，因为位置出现偏差影响测试。
52.优选的，如图5所示，所述定位槽31的四个角部分别设有朝外延伸的避位缺口35。本实施例中，避位缺口35整体呈圆弧形。容易理解的，定位槽31的角部的加工难度更高，更容易出现尺寸不够精准的现象，导致定位槽31的角部与后座2的角部相抵触，致使后座2的
位置出现偏差，影响测试结果。
53.优选的，如图4所示，所述盘体3的顶面设有凹陷的装配腔36，多个所述第一避位槽33、第二避位槽34、定位槽31和测试通孔32开设于所述装配腔36的底面。具体的，本光学镜头测试料盘的整体形状与现有的料盘的整体形状大体一致，能够与现有的mtf相适配。
54.优选的，如图5所示，所述定位槽31的底面设有避让结构37。本实施例中，避让结构37为开设于定位槽31底面的两个避让通孔。在其它实施例中，所述避让结构37可设为槽状。
55.优选的，如图4所示，所述盘体3上间隔地开设有多个安装孔38，盘体3通过安装孔38安装于mtf中。本实施例中，安装孔38设为螺纹孔。
56.综上所述，本实用新型提供的光学镜头测试料盘通过在盘体上设置能够与底座配合的定位槽，使得锁配后的镜头和后座能够一同放入mtf中进行测试，从而能够通过测试排除掉由于锁配误差而产生的不良品；并且可以通过调整mtf中reticle与镜头的距离，模拟实际应用中传感器与镜头的距离，利用测到的解析度数据的反馈调整镜头与后座的锁配高度。
57.以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。