缺陷样本图像生成方法、装置、设备及存储介质与流程

技术特征：
1.一种缺陷样本图像生成方法，其特征在于，所述缺陷样本图像生成方法包括以下步骤：获取原始缺陷工业样本图像，根据预设缺陷图像特征和所述原始缺陷工业样本图像生成目标缺陷标注图；根据所述目标缺陷标注图得到原始缺陷坐标矩阵以及目标缺陷坐标矩阵，并根据所述原始缺陷坐标矩阵以及目标缺陷坐标矩阵构建目标点集和源点集；根据所述目标点集和所述源点集生成目标缺陷块图像；获取正常工业样本图像，将所述目标缺陷块图像和所述正常工业样本图像进行融合，得到目标缺陷样本图像。2.如权利要求1所述的缺陷样本图像生成方法，其特征在于，所述获取原始缺陷工业样本图像，根据预设缺陷图像特征和所述原始缺陷工业样本图像生成目标缺陷标注图，包括：获取原始缺陷工业样本图像，按照预设图像尺寸对所述原始缺陷工业样本图像进行裁剪；通过预设缺陷标注策略对裁剪后的原始缺陷工业样本图像进行标注；对标注后的原始缺陷工业样本图像进行二值化转换，得到原始缺陷标注图；根据预设缺陷图像特征和所述原始缺陷标注图生成目标缺陷标注图。3.如权利要求1所述的缺陷样本图像生成方法，其特征在于，所述根据所述目标缺陷标注图得到原始缺陷坐标矩阵以及目标缺陷坐标矩阵，并根据所述原始缺陷坐标矩阵以及目标缺陷坐标矩阵构建目标点集和源点集，包括：根据所述目标缺陷标注图得到第一标注区域；通过预设采样策略根据预设采样方向对所述第一标注区域内的像素点进行采样，得到初始目标点集；根据所述初始目标点集对应的坐标生成目标缺陷坐标矩阵；根据原始缺陷标注图得到第二标注区域；通过所述预设采样策略对所述第二标注区域内的像素点进行采样，得到初始源点集；根据所述初始源点集对应的坐标生成原始缺陷坐标矩阵；分别对所述目标缺陷坐标矩阵和所述原始缺陷坐标矩阵的像素点进行坐标转换；对转换后的像素点坐标进行归一化处理，得到目标归一化像素坐标和原始归一化像素坐标；根据所述目标归一化像素坐标得到目标点集，以及根据所述原始归一化像素坐标得到源点集。4.如权利要求1所述的缺陷样本图像生成方法，其特征在于，所述根据所述目标点集和所述源点集生成目标缺陷块图像，包括：通过预设点集匹配算法对所述目标点集和所述源点集进行匹配，得到对应的点集匹配结果；根据所述点集匹配结果得到所述源点集的像素点坐标转移参数；根据所述源点集坐标转换参数计算出原始缺陷标注图中未采样像素点转移参数；根据所述像素点坐标转移参数和所述未采样像素点转移参数得到第二标注区域内的全部像素点坐标转移参数；
根据所述第二标注区域内的全部像素点坐标转移参数生成目标缺陷块图像。5.如权利要求4所述的缺陷样本图像生成方法，其特征在于，所述根据所述第二标注区域内的全部像素点坐标转移参数生成目标缺陷块图像，包括：根据所述第二标注区域内的全部像素点坐标转移参数得到全部像素点坐标和全部像素点；对所述全部像素点坐标进行转换，得到目标转换位置坐标；将所述全部像素点移动至所述目标转换位置坐标，以生成目标缺陷块图像。6.如权利要求1所述的缺陷样本图像生成方法，其特征在于，所述获取正常工业样本图像，将所述目标缺陷块图像和所述正常工业样本图像进行融合，得到目标缺陷样本图像，包括：获取正常工业样本图像，按照预设图像尺寸对所述正常工业样本图像进行裁剪；根据所述目标缺陷块图像得到未赋值像素点，并获取所述未赋值像素点在预设范围内的已赋值像素点；对所述预设范围内的已赋值像素点进行计算，得到已赋值像素平均值；根据所述已赋值像素平均值对未赋值像素点的像素值进行填充；将填充后的目标缺陷图像块和裁剪后的正常工业样本图像进行融合，得到目标缺陷样本图像。7.如权利要求6所述的缺陷样本图像生成方法，其特征在于，所述将填充后的目标缺陷图像块和裁剪后的正常工业样本图像进行融合，得到目标缺陷样本图像，包括：根据填充后的目标缺陷图像块得到当前缺陷边界；对所述当前缺陷边界添加过渡透明度属性，得到目标缺陷边界；根据所述目标缺陷边界得到对应的过渡区域；通过边界过渡函数对所述过渡区域进行计算，得到区域融合权重；根据所述区域融合权重将所述填充后的目标缺陷图像块和裁剪后的正常工业样本图像进行融合，得到目标缺陷样本图像。8.一种缺陷样本图像生成装置，其特征在于，所述缺陷样本图像生成装置包括：获取模块，用于获取原始缺陷工业样本图像，根据预设缺陷图像特征和所述原始缺陷工业样本图像生成目标缺陷标注图；构建模块，用于根据所述目标缺陷标注图得到原始缺陷坐标矩阵以及目标缺陷坐标矩阵，并根据所述原始缺陷坐标矩阵以及目标缺陷坐标矩阵构建目标点集和源点集；生成模块，用于根据所述目标点集和所述源点集生成目标缺陷块图像；融合模块，用于获取正常工业样本图像，将所述目标缺陷块图像和所述正常工业样本图像进行融合，得到目标缺陷样本图像。9.一种缺陷样本图像生成设备，其特征在于，所述缺陷样本图像生成设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的缺陷样本图像生成程序，所述缺陷样本图像生成程序配置有实现如权利要求1至7中任一项所述的缺陷样本图像生成方法。10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有缺陷样本图像生成程序，所述缺陷样本图像生成程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的缺陷样本图
像生成方法。

技术总结
本发明涉及工业数据处理技术领域，公开了一种缺陷样本图像生成方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：获取原始缺陷工业样本图像，根据预设缺陷图像特征和所述原始缺陷工业样本图像生成目标缺陷标注图；根据所述目标缺陷标注图构建目标点集和源点集；根据所述目标点集和所述源点集生成目标缺陷块图像；获取正常工业样本图像，将所述目标缺陷块图像和所述正常工业样本图像进行融合，得到目标缺陷样本图像；通过上述方式，根据目标缺陷标注图构建的目标点集和源点集生成目标缺陷块图像，然后目标缺陷块图像和正常工业样本图像融合出目标缺陷样本图像，从而能够提高生成目标缺陷样本图像的效率，且生成过程中所需的样本图像少以及资源消耗低。以及资源消耗低。以及资源消耗低。


技术研发人员：黄耀 徐兴鹏
受保护的技术使用者：北京阿丘科技有限公司
技术研发日：2022.11.16
技术公布日：2023/2/3