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含碳双掺杂氮化铝压电薄膜、制备方法及应用

2023-02-04 09:13:18 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种含碳双掺杂氮化铝压电薄膜,其特征在于:所述氮化铝压电薄膜由c元素、x元素和aln组成,所述x元素为mg、zn、ca、be中的一种或组合。2.根据权利要求1所述的含碳双掺杂氮化铝压电薄膜,其特征在于:所述含碳双掺杂氮化铝压电薄膜的分子式为c
m
x
m
al
1-2m
n,0<m≤0.3。3.根据权利要求1所述的含碳双掺杂氮化铝压电薄膜,其特征在于:所述含碳双掺杂氮化铝压电薄膜的分子式为c
m
x
m
al
1-2m
n,0.125≤m≤0.3。4.一种如权利要求1~3中任一所述含碳双掺杂氮化铝压电薄膜的制备方法,其特征在于:采用pvd三靶溅射法制备,其中,三靶分别为c靶或cn靶,以及x靶与al靶,制备所述含碳双掺杂氮化铝压电薄膜包括以下步骤:将衬底材料清洁烘干后置于真空室中,真空室的气压为10-7
pa;通入氩气和氮气,保持氩气、氮气的气体体积流量分别为35sccm及15sccm,保持真空室的压力为3pa;在c靶或cn靶上施加射频电源,调节功率为150w,同时在x靶及al靶上添加直流电源,调节功率为150w~200w,进行共溅射2h在基片上制备所述含碳双掺杂氮化铝压电薄膜。5.根据权利要求4所述的含碳双掺杂氮化铝压电薄膜的制备方法,其特征在于:三个溅射靶材分别以相对于真空室纵向对称轴成45
°
的位置安装在真空室的顶部,靶材中心相对于基片台中心的距离为150mm。6.一种如权利要求1~3中任一所述含碳双掺杂氮化铝压电薄膜的制备方法,其特征在于:采用pvd双靶溅射法制备,双靶中一个为c靶或cn靶,另一个为对应的xal合金靶或al靶,制备所述含碳双掺杂氮化铝压电薄膜包括以下步骤:将衬底材料清洁烘干后置于真空室中,真空室的气压为10-7
pa;通入氩气和氮气,保持氩气、氮气的气体体积流量分别为35sccm及15sccm,保持真空室的压力为3pa;在c靶或cn靶上施加射频电源,调节功率为150w,同时在xal合金靶或al靶上添加直流电源,调节功率为150w~200w,进行共溅射2h在基片上制备所述含碳双掺杂氮化铝压电薄膜。7.根据权利要求6所述的含碳双掺杂氮化铝压电薄膜的制备方法,其特征在于:两个溅射靶分别安装在相对于真空室纵向对称轴平行的位置,其溅射靶中心至基片台中心的距离为150mm。8.一种如权利要求1~3中任一所述含碳双掺杂氮化铝压电薄膜的制备方法,其特征在于:采用pvd单靶溅射法制备,靶材为cxal合金靶。9.一种声波谐振器,其特征在于:包括如权利要求1~3中任一所述含碳双掺杂氮化铝压电薄膜。10.一种滤波器,其特征在于:包括如权利要求1~3中任一所述含碳双掺杂氮化铝压电薄膜。

技术总结
本发明提供一种含碳双掺杂氮化铝压电薄膜、制备方法及应用,通过第一性原理计算,从原子间结合能入手,设计出采用C元素、X元素双掺杂的AlN压电薄膜,不需对设备进行复杂改装,提出了一种高效简单的技术手段;通过磁控溅射技术制备了含碳双掺杂氮化铝压电薄膜,其中,采用双靶或三靶溅射,靶材分开可以精确控制C元素及X元素的掺杂浓度,尽量始终保持1:1的化学计量比,可在交叉区域获得掺杂均匀的薄膜;采用单靶溅射,则操作简便,便于快速实现薄膜的制备;从而本发明可制备出高压电性能的氮化铝压电薄膜。压电薄膜。压电薄膜。


技术研发人员:李卫民 余希 李鑫 吴挺俊 俞文杰
受保护的技术使用者:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
技术研发日:2021.07.21
技术公布日:2023/2/3
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