一种芯片测试设备的制作方法

技术特征：
1.一种芯片测试设备，包括机架和输送带，其特征在于，所述输送带安装在机架上，还包括：位于机架上的驱动组件，所述驱动组件内设置有传动带；位于机架上的传动组件，所述传动组件包括与传动带啮合连接的传动齿轮；以及与传动齿轮同轴连接的牵引部；位于机架上的第一拨正组件，所述第一拨正组件内设置有与传动组件活动连接的摆臂；以及连接在摆臂上的拨动轮；位于机架上的第二拨正组件，所述第二拨正组件内设置有与牵引部连接的滑杆；以及连接在滑杆上的拨动块。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于，所述传动组件还包括复位部和中心轴，所述复位部包括固定壳体和复位卡簧，所述复位卡簧安装在固定壳体内，所述传动齿轮和牵引部均安装在中心轴上，所述中心轴的一端安装在固定壳体内，所述复位卡簧套设在中心轴上。3.根据权利要求2所述的一种芯片测试设备，其特征在于，所述牵引部包括卷绕轮和牵引绳，所述卷绕轮固定套设在中心轴上，所述牵引绳的一端缠绕在卷绕轮上，牵引绳的另一端连接在滑杆上远离拨动块的一端。4.根据权利要求3所述的一种芯片测试设备，其特征在于，所述第一拨正组件还包括第一转轴、第二同步轮和同步带，所述第一转轴和中心轴均安装在机架上，所述摆臂和第二同步轮均固定套设在第一转轴上，所述中心轴上还固定套设有第一同步轮，所述第一同步轮通过同步带连接第二同步轮。5.根据权利要求4所述的一种芯片测试设备，其特征在于，所述第二拨正组件还包括固定管和第一复位弹簧，所述固定管固定连接在机架上，所述滑杆活动套设在固定管内，所述第一复位弹簧活动套设在滑杆上。6.根据权利要求5所述的一种芯片测试设备，其特征在于，所述第二拨正组件还包括第二转轴和第二复位弹簧，所述拨动块通过第二转轴连接滑杆，所述拨动块上远离第二转轴的一端还通过第二复位弹簧连接机架。7.根据权利要求6所述的一种芯片测试设备，其特征在于，所述驱动组件还包括主动齿轮和从动齿轮，所述主动齿轮通过驱动轴连接驱动电机，所述传动带侧壁连接有第一啮合齿和第二啮合齿，所述传动带通过第一啮合齿与主动齿轮和从动齿轮啮合连接，传动带通过第二啮合齿与传动齿轮啮合连接。

技术总结
本发明公开了一种芯片测试设备，涉及芯片测试技术领域，包括机架、输送带、驱动组件、传动组件、第一拨正组件和第二拨正组件，驱动组件内设置有传动带，传动组件包括与传动带啮合连接的传动齿轮；以及与传动齿轮同轴连接的牵引部，第一拨正组件内设置有与传动组件活动连接的摆臂；以及连接在摆臂上的拨动轮，第二拨正组件内设置有与牵引部连接的滑杆；以及连接在滑杆上的拨动块，驱动组件中的传动带通过传动齿轮不仅能够带动牵引部运动，还能够带动摆臂运动，牵引部和摆臂分别通过拨动块和拨动轮朝着靠近输送带的中部以及朝着输送带的前进方向拨动芯片，不仅能够防止芯片发生倾斜，还能够防止芯片被卡死，具备防卡死效果好的特点。点。点。


技术研发人员：孙征
受保护的技术使用者：无锡祺芯半导体科技有限公司
技术研发日：2022.11.09
技术公布日：2022/12/30