一种检测残影性能的器件结构及其制备和测试方法与流程

1.本发明涉及oled显示器检测技术领域，具体为一种检测oled残影性能的器件结构及其制备和测试方法。


背景技术：

2.oled显示器在使用过程中，如果一个画面持续显示很长时间或相同画面重复显示，显示屏就会出现影像残留，影响感观效果，这种现象业界称为残影现象。oled显示器的残影性能，一般以出现残留影像的时间来进行计量，出现残留影像的时间长，则残影性能高，否之则残影性能低。影响oled显示器的残影性能的因素较为复杂，有ic驱动电路、有机结构以及工艺制程等各个方面，有机结构作为oled显示器的重要构成部件，如何确认有机结构在影响oled显示器残影性能中的占比，有效排查各类新型有机发光结构以及有机材料对器件残影性能的检测oled残影性能的装置及其制备和测试方法影响成为目前oled显示器工程化方面需要了解和关注的重点。目前对残影现象的检测器件尚属空白。


技术实现要素：

为解决oled显示器残影性能检测缺失的问题，本发明提供一种检测oled残影性能器件结构的制备和测试方法。该方法可用于研究亮度差异（即残影）出现的驱动条件和导致该差异发生变化的有机发光结构及工艺条件。与制备完整显示器相比，该方法结构简单、制备周期短、成本低廉，有利于大批量、多工艺条件组合的残影测试和判定，可提高研发效率，降低生产风险和研发成本，提高企业的经济效益。
3.检测oled残影性能的器件结构，其特征在于该器件由两组发光面积相等的两组梳状阳极、一个阴极环和一个共用阴极组成，或两组梳状阴极、一个阳极环和一个共用阳极组成；两组梳状阳极或梳状阴极以多个相同梳齿形状等距离交替排布；两组梳状阳极或两组梳状阴极的电极引线上各设置开关与恒流恒压电源相连，或两组梳状阳极或两组梳状阴极分别与两个恒流恒压电源相连；阴极环和共用阴极的电极引线相互连通，或阳极环和共用阳极的电极引线相互连通。
4.作为本发明的具体实施方式，所述梳状阳极或梳状阴极的各个梳齿形状完整。
5.作为本发明的另一实施方式，所述梳状阳极或梳状阴极的各个梳齿形状被分割为形状相同、等距排列的若干个子电极。
6.具体的，两组梳状阳极或两组梳状阴极的电极引线采用等长走线的形式，电极的阻抗一致，消除恒压供电时由于阻抗差异引起的两组电极的亮度差异。为达到使两组电极引线长度相等的目的，其中一组电极引线可采取蛇形走线的形式。
7.具体的，共用阴极或共用阳极外以光刻曝光清洗的方法制备电极隔离层，所述电极隔离层设置在梳状阳极和共用阴极间，或设置在梳状阴极和共用阳极间，防止短路。
8.具体的，所述梳状阳极或共用阳极选用al、ag、au、ti、cr、ni、nb、ta、mo、w、moox、tiox、niox、ito、izo、zno、sinx、siox或igzo中一种或任意几种，厚度为0.5-100nm。
9.所述梳状阴极或共用阴极选用mg、ag、yb、ca、na、ito、izo、igzo货zno中任意一种，厚度为1-30nm。
10.检测oled残影性能器件的制备方法，其特征在于在基板上采用光刻曝光或喷墨打印的方式制备出两组电极图案，在基板上依次制备电极隔离层、梳状阳极或共用阳极、空穴注入层、空穴传输层、发光层、电子传输层、电子注入层、梳状阴极或共用阴极、以及密封薄膜层。
11.检测oled残影性能器件的检测方法，其特征在于检测通过以下步骤完成：1）设定驱动电流或电压值，电流值范围为0.01~100ma，电压值范围为0.1v~30v，将两组梳状阳极或两组梳状阴极电极发光区域同时供电，并测试各组亮度，调整两组亮度差异低于0.1-10%；2）指定关闭一组电源驱动，保持非指定组区域持续点亮一段时间；3）打开指定组的电源驱动，使用亮度计测试两组区域亮度，调节电源输出至亮度差异低于0.1-10%，则认为两组两个区域亮度一致；4）继续上述步骤，直到使用亮度计测试两组区域相对亮度差异高于0.5-20%，此时点亮时间则记录为残影时间。
12.该器件结构排除了ic驱动外围电路的影响，从检测有机结构自身性能出发，排查确认各类新型有机发光结构和有机材料对oled显示器件残影性能的影响。该器件结构简单、制备周期短、成本低廉，有利于大批量、多工艺条件组合的残影测试和判定，可提高研发效率，降低生产风险和研发成本，提高企业的经济效益。该器件对oled显示器件残影性能进行检测方法可广泛应用于研究亮度差异出现的驱动条件和导致该差异发生变化的有机发光结构及工艺条件。
附图说明
13.图1为本发明实施例1的结构示意图。
14.图2为本发明实施例2的结构示意图。
15.图3为本发明实施例3的结构示意图。
16.图4为本发明实施例4的结构示意图。
17.其中，梳状阳极1，共用阴极2，恒流恒压电源3，电极隔离层4，梳状阴极5，共用阳极6。
具体实施方式
18.实施例1：该器件包括两组发光面积相等的a、b两组梳状阳极1，a、b两组梳状阳极1以多个相同且完整的梳齿形状等距离交替排布；用恒流恒压电源3阴极连接共用阴极2引出电极，用恒流恒压电源3阳极连接a、b两组梳状阳极1的引出电极。闭合a组梳状阳极1的开关，调节驱动电流使a组亮度到1000cd/m2，记录该驱动电流i1，断开a组开关闭合b组梳状阳极1的开关，调节驱动电流使b组亮度到1000cd/m2，记录该驱动电流i2，使用恒定电流i2持续点亮b组10分钟后，闭合a组梳状阳极1的开关，并对a组施加驱动电流i1，观察并测试a、b区域的亮度，反复操作，以记录a、b区域的亮度差异的变化规律。直到使用成像亮度计测试a、b区域亮度的亮度差异高于3%，此时点亮时间则记录为残影时间。
19.实施例2：该器件包括两组发光面积相等的a、b两组梳状阳极1，a、b两组梳状阳极1以多个相同且完整的梳齿形状等距离交替排布；每个梳齿形状电极被分割为形状相同、等距排列的若干个子电极组成。用恒流恒压电源3阴极连接共用阴极2引出电极，用恒流恒压电源3阳极连接a、b两组梳状阳极1的引出电极。闭合a组梳状阳极1的开关，调节驱动电压使a组亮度到1000cd/m2，记录该驱动电压v1，断开a组开关闭合b组梳状阳极1的开关，调节驱动电压使b组亮度到1000cd/m2，记录该驱动电压v2，使用恒定电压v2持续点亮b组10分钟后闭合a组梳状阳极1的开关，并对a组施加驱动电压v1，观察并测试a、b区域的亮度，反复操作，以记录a、b区域的亮度差异的变化规律。直到使用成像亮度计测试a、b区域亮度的亮度差异高于3%，此时点亮时间则记录为残影时间。
20.实施例3：该器件包括两组发光面积相等的a、b两组梳状阴极5，a、b两组梳状阴极5以多个相同的梳齿形状等距离交替排布。用恒流恒压电源3阳极连接共用阳极6引出电极，用恒流恒压电源3阴极连接a、b两组梳状阴极5的引出电极。闭合a、b组梳状阴极5的开关，调节驱动电流使亮度到1000cd/m2，记录该驱动电流i1，断开a组开关，调节驱动电流使b组亮度到1000cd/m2，记录该驱动电流i2，使用恒定电流i2持续点亮b组10分钟后，闭合a组梳状阴极5的开关，并施加驱动电流i1，观察并测试a、b区域的亮度，反复操作，以记录a、b区域的亮度差异的变化规律。直到使用成像亮度计测试a、b区域亮度的亮度差异高于3%，此时点亮时间则记录为残影时间。
21.实施例4：该器件包括两组发光面积相等的a、b两组梳状阴极5，a、b两组梳状阴极5以多个相同的梳齿形状等距离交替排布。用恒流恒压电源3阳极连接共用阳极6引出电极，用恒流恒压电源3阴极连接a、b两组梳状阴极5的引出电极。每个梳齿形状电极被分割为形状相同、等距排列的若干个子电极组成。闭合a、b组梳状阴极5的开关，调节驱动电压使亮度到1000cd/m2，记录该驱动电压v1，断开a组开关，调节驱动电压使b组亮度到1000cd/m2，记录该驱动电压v2，使用恒定电压v2持续点亮b组10分钟后，闭合a组梳状阴极5的开关，并施加驱动电压v1，观察并测试a、b区域的亮度，反复操作，以记录a、b区域的亮度差异的变化规律。直到使用成像亮度计测试a、b区域亮度的亮度差异高于3%，此时点亮时间则记录为残影时间。