一种卫星信号反射损耗的自动处理方法及装置与流程

1.本发明涉及电路板技术领域，尤其涉及的是一种卫星信号反射损耗的自动处理方法及装置。


背景技术：

2.新开发的tv电路板通常需要做一项卫星信号强度测试实验，即，测试噪波灵敏度。在噪波灵敏度的测试工作中，当测试结果不符合国家相关规定时，研发设计人员需要对tv卫星信号反射损耗这一指标进行测试，并根据测试结果增加相应的整改措施。
3.然而，由于卫星信号极易受实验环境电磁信号的干扰，在实际的测试整改过程中，研发设计人员通常采用固有经验去增加整改措施，这样的处理方式一方面极大的增加了研发人员的工作量，另外也对研发人员的能力技术有一定的要求。
4.因此，现有技术存在缺陷，有待改进与发展。


技术实现要素：

5.本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种卫星信号反射损耗的自动处理方法及装置，旨在解决现有技术中根据测试结果进行电路板整改时需要由研发设计人员根据经验进行电气参数的调整，工作量大的问题。
6.本发明解决技术问题所采用的技术方案如下：
7.第一方面，本发明实施例提供一种卫星信号反射损耗的自动处理方法，所述方法包括：
8.当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据；
9.获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果；
10.根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息。
11.在一种实施方式中，所述待测板卡通过sma同轴屏蔽线与所述网络分析仪连接；所述当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据，包括：
12.预先通过usb总线与网络分析仪建立通信连接；
13.当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，通过usb总线获取所述测试数据。
14.在一种实施方式中，所述标准数据为基于史密斯圆图的标准数值，所述测试数据包括所述待测板卡上测试点对应的所有测试数据点数值；所述获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果，包括：
15.将多个所述测试数据点数值保存至数组中；
16.获取基于史密斯圆图的标准数值，将所述数组中的所有测试数据点数值进行遍历，将各个测试数据点数值与对应的标准数值进行比对，得到比对结果。
17.在一种实施方式中，所述标准数值包括标准横坐标数值和标准纵坐标数值，且所述标准横坐标数值和标准纵坐标数值一一对应；每个所述测试数据点数值包括测试横坐标数值和测试纵坐标数值，且所述测试横坐标数值和测试纵坐标数值一一对应；
18.所述获取基于史密斯圆图的标准数值，将所述数组中的所有测试数据点数值进行遍历，将各个测试数据点数值与对应的标准数值进行比对，得到比对结果，包括：
19.根据所述测试横坐标数值查找基于史密斯圆图的标准数值，确定与所述测试横坐标数值相同的目标标准横坐标数值；
20.获取与所述目标标准横坐标数值相对应的目标标准纵坐标数值；
21.将所述测试纵坐标数值与所述目标标准纵坐标数值的大小进行比对。
22.在一种实施方式中，根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息，包括：
23.若所述测试纵坐标数值大于所述目标标准纵坐标数值，则生成增大电容信息；
24.若所述测试纵坐标数值小于所述目标标准纵坐标数值，则生成减小电容信息。
25.在一种实施方式中，根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息，还包括：
26.若所述测试纵坐标数值等于所述目标标准纵坐标数值，则保存所述测试数据，并生成保持电容信息。
27.在一种实施方式中，根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息之后，还包括：
28.显示所述待测板卡的电气参数调整信息。
29.第二方面，本发明实施例还提供一种卫星信号反射损耗的自动处理装置，其中，所述装置包括：
30.获取模块，用于当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据；
31.比对模块，用于获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果；
32.生成模块，用于根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息。
33.第三方面，本发明实施例还提供一种终端，其中，所述终端包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的卫星信号反射损耗的自动处理程序，所述卫星信号反射损耗的自动处理程序被所述处理器执行时实现如上所述的卫星信号反射损耗的自动处理方法的步骤。
34.第四方面，本发明实施例还一种计算机可读存储介质，其中，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序能够被执行以用于实现如上所述的卫星信号反射损耗的自动处理方法的步骤。
35.本发明的有益效果：本发明实施例通过当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据；获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果；根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息。本发明通过上位机获取网络分析仪的测试数据，并自动与标准数据对比，生成待测板卡的电气参数调整信息，无需电路板研发人员根据经验进行电气参数的调整，
减小了工作量。
附图说明
36.图1是本发明中卫星信号反射损耗的自动处理方法较佳实施例的流程图。
37.图2是本发明中卫星信号反射损耗的自动处理方法较佳实施例的原理流程框图。
38.图3是本发明中卫星信号反射损耗的自动处理装置较佳实施例的功能原理框图。
39.图4是本发明中终端的较佳实施例的功能原理框图。
具体实施方式
40.为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
41.新开发的tv电路板通常需要做一项卫星信号强度测试实验，即，测试噪波灵敏度。在噪波灵敏度的测试工作中，当测试结果不符合国家相关规定时，研发设计人员需要对tv卫星信号反射损耗这一指标进行测试，并根据测试结果增加相应的整改措施。
42.然而，由于卫星信号极易受实验环境电磁信号的干扰，在实际的测试整改过程中，研发设计人员通常采用固有经验去增加整改措施，这样的处理方式一方面极大的增加了研发人员的工作量，另外也对研发人员的能力技术有一定的要求。同时，由于测试环境不一、测试手法不专业等问题，导致最后的测试结果存在可复现性程度低的问题。
43.也就是说，目前的网络分析仪通常只能反映测试数据，研发人员需要基于测试数据自行判断后在施加新的措施，并不能完全解放研发人员的生产力；同时，由于测试环境、测试手法等因素导致出现测试结果稳定性差，可复现程度低等问题。
44.针对现有技术的上述缺陷，本发明提供一种卫星信号反射损耗的自动处理方法及装置，所述方法包括：当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据；获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果；根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息。本发明通过上位机获取网络分析仪的测试数据，并自动与标准数据对比，生成待测板卡的电气参数调整信息，无需电路板研发人员根据经验进行电气参数的调整，减小了工作量。
45.请参见图1，本发明实施例所述的卫星信号反射损耗的自动处理方法包括如下步骤：
46.步骤s100、当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据。
47.具体地，所述待测板卡指的是tv电路板。本实施例利用网络分析仪自动检测待测板卡的卫星信号反射损耗，网络分析仪可以生成待测板卡的卫星信号反射损耗的测试数据。这样，终端(即上位机)可以直接获取到网络分析仪的测试数据。
48.在一种实现方式中，所述待测板卡通过sma同轴屏蔽线与所述网络分析仪连接；所述步骤s100包括：
49.步骤s110、预先通过usb总线与网络分析仪建立通信连接；
50.步骤s120、当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试
数据时，通过usb总线获取所述测试数据。
51.具体地，现有的网络分析仪支持通过usb协议导出测试数据，这样为后续的上位机对数据解析及处理提供了可能性。待测板卡是通过sma(sub-miniature-a)同轴屏蔽线连接至网络分析仪的，上位机则是通过usb总线与网络分析仪建立通信连接的。本实施例无需改变现有硬件，直接使用usb总线获取网络分析仪的测试数据，没有增加成本。
52.如图1所示，所述卫星信号反射损耗的自动处理方法还包括如下步骤：
53.步骤s200、获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果。
54.具体地，现有的技术是电路板研发人员需要根据经验自行对测试数据进行判别，一方面极大地增加了研发人员的工作量，另一方面是对研发人员的能力技术要求也较高。本实施例则利用上位机存储好标准数据，在测试时，只需要将测试数据与预先存储的标准数据进行比对，即可得到比对结果，以便于根据比对结果进行提出整改建议。在一种实施例中，所述标准数据可以是根据行业标准来设置的标准数据。
55.在一种实现方式中，所述标准数据为基于史密斯圆图的标准数值，所述测试数据包括所述待测板卡上测试点对应的所有测试数据点数值；所述步骤s200具体包括：
56.步骤s210、将多个所述测试数据点数值保存至数组中；
57.步骤s220、获取基于史密斯圆图的标准数值，将所述数组中的所有测试数据点数值进行遍历，将各个测试数据点数值与对应的标准数值进行比对，得到比对结果。
58.具体地，史密斯圆图是在反射系平面上标绘有归一化输入阻抗(或导纳)等值圆族的计算图，主要应用于传输线的阻抗匹配上。本实施例在对待测板卡进行测试时，得到的测试数据是某一测试点对应的多个测试数据点数值，如1024个测试数据点数值。当然的，所述标准数据同样包括1024个标准数值，这样，就可以将各个测试数据点数值与对应的标准数值进行比对，得到比对结果。
59.在一种实施例中，所述标准数值包括标准横坐标数值和标准纵坐标数值，且所述标准横坐标数值和标准纵坐标数值一一对应；每个所述测试数据点数值包括测试横坐标数值和测试纵坐标数值，且所述测试横坐标数值和测试纵坐标数值一一对应。例如，所述标准数值可以表示为(x1,y1)、(x2,y2)等，所述测试数据点数值可以表示为(x1,y1)、(x2,y2)等。
60.所述步骤s220具体包括：
61.步骤s221、根据所述测试横坐标数值查找基于史密斯圆图的标准数值，确定与所述测试横坐标数值相同的目标标准横坐标数值；
62.步骤s222、获取与所述目标标准横坐标数值相对应的目标标准纵坐标数值；
63.步骤s223、将所述测试纵坐标数值与所述目标标准纵坐标数值的大小进行比对。
64.具体地，本实施例在进行比对时，是通过固定横坐标数值、比较纵坐标数值的方式。当然的，也可以通过固定纵坐标数值、比较横坐标数值的方式来比对。也就是说，测试点的测试数据的横坐标数值是与史密斯圆图上的标准横坐标数值一致的，即若标准数值为(x1,y1)，测试数据点数值为(x1,y1)，那么x1与x1是相同的，比较y1与y1的大小。
65.如图1所示，所述卫星信号反射损耗的自动处理方法还包括如下步骤：
66.步骤s300、根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息。
67.具体地，本实施例通过上位机强大的处理能力，实现文件读取、数据分析、模型匹
配及数据输出等功能。
68.在一种实现方式中，所述步骤s300具体包括：若所述测试纵坐标数值大于所述目标标准纵坐标数值，则生成增大电容信息；若所述测试纵坐标数值小于所述目标标准纵坐标数值，则生成减小电容信息。
69.具体地，本实施例的上位机读取测试数据后会给出法分析建议，用户根据该分析建议增加整改措施，完成校正。本实施例通过上位机进行自动分析和生成整改建议，避免了技术人员的主观性，也防止了技术人员因为经验不足而造成的判断错误的问题。
70.在一种实施例中，所述步骤s300还包括：若所述测试纵坐标数值等于所述目标标准纵坐标数值，则保存所述测试数据，并生成保持电容信息。
71.具体地，本实施例的比对结果有三种，若测试纵坐标数值等于目标标准纵坐标数值，则说明待测板卡的卫星信号反射损耗符合标准，无需整改；若测试纵坐标数值大于目标标准纵坐标数值，则说明待测板卡的卫星信号反射损耗不符合标准，需要增大电容，以使得卫星信号反射损耗满足标准；若测试纵坐标数值小于目标标准纵坐标数值，也说明待测板卡的卫星信号反射损耗不符合标准，需要减小电容，以使得卫星信号反射损耗满足标准。
72.当然的，还可以通过调节其它电气参数来使其满足标准，如调整电阻和电感。
73.在一种实现方式中，所述步骤s300之后还包括：显示所述待测板卡的电气参数调整信息。
74.具体地，可以将电气参数调整信息显示在上位机的gui界面上，操作逻辑清晰，实现人机交互。
75.这样，对于现有的tv卫星接收信号反射损耗的测试及调整，基于网络分析仪的测试结果，研发人员需要自我判断后再根据经验值增加修改措施，一方面对于研发人员的实际经验有较高要求同时也不可避免因实验环境等客观条件造成的实验误差。本发明则可以在已有的硬件设备基础上，不需要增加额外硬件电路。将上位机软件通过usb线缆连接至网络分析仪，程序自动运行实现tv板卡卫星信号反射损耗自动测量及校正，从而达到减少研发人员的工作强度，同时提高测试结果稳定性的目的。
76.下面列举一具体实施例进行说明。
77.实施例一:
78.将网络分析仪通过usb总线与上位机连接，网络分析仪将测试数据通过usb总线传输至上位机，上位机对数据进行解析并分析；上位机中存储有卫星信号反射损耗的自动处理程序，可以对网络分析仪测量得到的数据进行解析，并同标准史密斯圆图对比，根据模型比对结果给出分析整改建议。
79.卫星信号反射损耗的自动处理程序如图2所示，包括：
80.步骤s1、上位机运行程序，等待usb设备插入；
81.步骤s2、检测usb口是否有设备接入；若是，则执行步骤s3；若否，则继续等待；
82.步骤s3、是否有数据读取；若是，则执行步骤s4；若否，则继续等待数据读取；
83.步骤s4、数据读取是否完毕；若是，则执行步骤s5；若否，则进入读取数据的循环，直至数据完全读取完毕；
84.步骤s5、数据是否与标准史密斯圆图的标准数据相同；若不同，则执行步骤s6；若相同，则执行步骤s7；
85.具体地，数据开始比对，读取得到的数据存入数组中，对数组中的数据进行遍历，并根据标准史密斯圆图进行判断；
86.步骤s6、数据是否大于标准数据；具体地，将测试数据点a(x1,y1)同史密斯圆图数据a(x1,y1)对比，判断y1与y1的数值大小；若y1＞y1则给出减小电容c建议；若y1《y1则给出减小电容c建议；
87.步骤s7、保存数据，并给出保持电容c不变的建议；
88.步骤s8、程序结束；用户可以根据系统建议调整电路板参数。
89.本实施例可以非常简单的自动化完成卫星信号反射损耗自动测量及校正，对于以上程序设计方法可以通过提高采集数据的数量从而提高测试精度，减少测试循环次数，提升工作效率。
90.在一种实施例中，如图3所示，基于上述卫星信号反射损耗的自动处理方法，本发明还相应提供了一种卫星信号反射损耗的自动处理装置，包括：
91.获取模块100，用于当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据；
92.比对模块200，用于获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果；
93.生成模块300，用于根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息。
94.在一种实施例中，如图4所示，基于上述卫星信号反射损耗的自动处理方法，本发明还相应提供了一种终端，包括处理器10、存储器20。图3仅示出了终端的部分组件，但是应理解的是，并不要求实施所有示出的组件，可以替代的实施更多或者更少的组件。
95.所述存储器20在一些实施例中可以是所述终端的内部存储单元，例如终端的硬盘或内存。所述存储器20在另一些实施例中也可以是所述终端的外部存储设备，例如所述终端上配备的插接式硬盘，智能存储卡(smart media card,smc)，安全数字(secure digital,sd)卡，闪存卡(flash card)等。进一步地，所述存储器20还可以既包括所述终端的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器20用于存储安装于所述终端的应用软件及各类数据，例如安装所述终端的程序代码等。所述存储器20还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。在一实施例中，存储器20上存储有卫星信号反射损耗的自动处理程序30，该卫星信号反射损耗的自动处理程序30可被处理器10所执行，从而实现本技术中卫星信号反射损耗的自动处理方法。
96.所述处理器10在一些实施例中可以是一中央处理器(central processing unit,cpu)，微处理器或其他数据处理芯片，用于运行所述存储器20中存储的程序代码或处理数据，例如执行所述卫星信号反射损耗的自动处理方法等。
97.在一实施例中，当处理器10执行所述存储器20中卫星信号反射损耗的自动处理程序30时实现以下步骤：
98.当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据；
99.获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果；
100.根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息。
101.所述待测板卡通过sma同轴屏蔽线与所述网络分析仪连接；所述当网络分析仪检
测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据，包括：
102.预先通过usb总线与网络分析仪建立通信连接；
103.当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，通过usb总线获取所述测试数据。
104.所述标准数据为基于史密斯圆图的标准数值，所述测试数据包括所述待测板卡上测试点对应的所有测试数据点数值；所述获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果，包括：
105.将多个所述测试数据点数值保存至数组中；
106.获取基于史密斯圆图的标准数值，将所述数组中的所有测试数据点数值进行遍历，将各个测试数据点数值与对应的标准数值进行比对，得到比对结果。
107.所述标准数值包括标准横坐标数值和标准纵坐标数值，且所述标准横坐标数值和标准纵坐标数值一一对应；每个所述测试数据点数值包括测试横坐标数值和测试纵坐标数值，且所述测试横坐标数值和测试纵坐标数值一一对应；
108.所述获取基于史密斯圆图的标准数值，将所述数组中的所有测试数据点数值进行遍历，将各个测试数据点数值与对应的标准数值进行比对，得到比对结果，包括：
109.根据所述测试横坐标数值查找基于史密斯圆图的标准数值，确定与所述测试横坐标数值相同的目标标准横坐标数值；
110.获取与所述目标标准横坐标数值相对应的目标标准纵坐标数值；
111.将所述测试纵坐标数值与所述目标标准纵坐标数值的大小进行比对。
112.根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息，包括：
113.若所述测试纵坐标数值大于所述目标标准纵坐标数值，则生成增大电容信息；
114.若所述测试纵坐标数值小于所述目标标准纵坐标数值，则生成减小电容信息。
115.根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息，还包括：
116.若所述测试纵坐标数值等于所述目标标准纵坐标数值，则保存所述测试数据，并生成保持电容信息。
117.根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息之后，还包括：
118.显示所述待测板卡的电气参数调整信息。
119.本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序能够被执行以用于实现如上所述的卫星信号反射损耗的自动处理方法的步骤。
120.综上所述，本发明公开的一种卫星信号反射损耗的自动处理方法及装置，所述方法包括：当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据；获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果；根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息。本发明通过上位机获取网络分析仪的测试数据，并自动与标准数据对比，生成待测板卡的电气参数调整信息，无需电路板研发人员根据经验进行电气参数的调整，减小了工作量。
121.应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。