一种确定设备健康参数的方法、装置、设备及介质与流程

技术特征：
1.一种确定设备健康参数的方法，其特征在于，所述设备包括板卡，所述板卡包括功能电路，所述功能电路包括元器件；所述方法包括：根据所述元器件的失效机理，确定影响所述元器件的失效模式的第一参数；从所述第一参数中确定可参考程度的分数大于预设分数的目标参数，所述可参考程度的分数通过客观数据评分得到，所述可参考程度的分数与所述客观数据的维度个数正相关；根据所述目标参数对所述功能电路的失效模式的影响，从所述目标参数中确定第二参数；根据所述第二参数对所述板卡的失效模式的影响，从所述第二参数中确定所述健康参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：当所述设备的健康参数与参考值之间的差值大于预设差值阈值时，生成反馈信息。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述第一参数中确定可参考程度的分数大于预设分数的目标参数，包括：根据所述第一参数中参数的可参考程度的分数对所述第一参数中的参数进行排序，得到排序结果；根据所述排序结果，确定预设分数；将所述第一参数中参数的可参考程度的分数大于所述预设分数的参数确定为目标参数。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述排序结果，确定预设分数，包括：根据预设比例和所述第一参数中参数的个数，确定目标个数；根据所述目标个数，确定目标序号；将所述排序结果中所述目标序号对应的参数的可参考程度的分数，确定为预设分数。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标参数对所述功能电路的失效模式的影响，从所述目标参数中确定第二参数，包括：当所述目标参数中参数对所述功能电路的第一失效模式存在影响时，判断影响所述第一失效模式的参数是否已被确定为第二参数中参数；若否，将所述影响所述第一失效模式的参数确定为所述第二参数中参数。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述将所述影响所述第一失效模式的参数确定为所述第二参数中参数，包括：根据所述影响所述第一失效模式的参数的可采集性，将所述影响所述第一失效模式的参数确定为所述第二参数中参数。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二参数对所述板卡的失效模式的影响，从所述第二参数中确定所述健康参数，包括：当所述第二参数中参数对所述板卡的第二失效模式存在影响时，判断影响所述第二失效模式的参数是否已被确定健康参数中参数；若否，将所述影响所述第二失效模式的参数确定为所述健康参数中参数。8.一种确定设备健康参数的装置，其特征在于，所述设备包括板卡、所述板卡包括功能
电路，所述功能电路包括元器件；所述装置包括：第一级参数确定模块，用于根据所述元器件的失效机理，确定影响所述元器件的失效模式的第一参数；从所述第一参数中确定可参考程度的分数大于预设分数的目标参数，所述可参考程度的分数通过客观数据评分得到，所述可参考程度的分数与所述客观数据的维度个数正相关；第二级参数确定模块，用于根据所述目标参数对所述功能电路的失效模式的影响，从所述目标参数中确定第二参数；健康参数确定模块，用于根据所述第二参数对所述板卡的失效模式的影响，从所述第二参数中确定所述健康参数。9.一种计算设备，其特征在于，所述计算设备包括处理器和存储器；所述处理器用于执行所述存储器中存储的指令，以使得所述计算设备执行如权利要求1至7中任一项所述的方法。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括指令，所述指令指示计算设备执行如权利要求1至7中任一项所述的方法。

技术总结
本申请公开了一种确定设备健康参数的方法装置、设备及介质，所述设备包括板卡，所述板卡包括功能电路，所述功能电路包括元器件；所述方法包括：根据所述元器件的失效机理，确定影响所述元器件的失效模式的第一参数；从所述第一参数中确定可参考程度的分数大于预设分数的目标参数，所述可参考程度的分数通过客观数据评分得到，所述可参考程度的分数与所述客观数据的维度个数正相关；根据所述目标参数对所述功能电路的失效模式的影响，从所述目标参数中确定第二参数；根据所述第二参数对所述板卡的失效模式的影响，从所述第二参数中确定所述健康参数。如此，该方法能够较低成本并且准确地确定设备健康参数。确地确定设备健康参数。确地确定设备健康参数。


技术研发人员：莫昌瑜 石桂连 李明利 李刚 吴彬 马建新 张春雷 张晓冬 杨程 将起镔
受保护的技术使用者：北京广利核系统工程有限公司
技术研发日：2021.06.17
技术公布日：2022/12/19