一种存储设备压缩卷性能测试方法、装置、设备及介质与流程

1.本发明涉及存储技术领域，尤其涉及一种存储设备压缩卷性能测试方法、装置、设备及介质。


背景技术：

2.数据压缩是指在不丢失信息的前提下，缩减数据量以减少存储空间，提高传输、存储和处理效率的一种技术方法。或者是按照一定的算法对数据进行重新组织，减少数据的冗余和存储的空间。随着移动互联网的高速发展，存储设备所提供的压缩卷，在各大行业机构内被广泛使用，存储压缩卷的性能也必须能够满足这些客户在各种严苛场景下使用。所以存储压缩卷的性能测试也越来越重要了。
3.目前，在传统存储的压缩卷性能测试中，在压缩卷内没有数据的情况下，此时如果测试主机发送读取io命令，则压缩模块无需解压数据，直接返回0。所以在无数据的压缩卷上测试读性能结果会很高；另外由于在存储的压缩模块中存在垃圾回收机制，指定的数据块被重复写入时，压缩模块会在后台进行垃圾回收，影响压缩卷的写性能，由此可见如何准确的评估压缩卷的性能是一个需要解决的问题。


技术实现要素：

4.有鉴于此，有必要针对以上技术问题，提供一种存储设备压缩卷性能测试方法、装置、设备及介质。
5.根据本发明的第一方面，提供了一种存储设备压缩卷性能测试方法，所述方法包括：
6.获取压缩卷大小并根据压缩卷大小计算压缩卷的扇区数量；
7.基于所述扇区数量将压缩卷划分成若干测试区域，其中，每一测试区域对应一种io操作类型；
8.判断每个测试区域是否包括读测试；
9.响应于某一测试区域对应的io操作类型包括读测试，则执行读测试前在所述某一测试区域先进行数据写入，再根据某一测试区域对应的io操作类型下发测试命令；
10.响应于某一测试区域对应的io操作类型不包括读测试，则直接根据某一测试区域对应的io操作类型下发测试命令。
11.在一些实施例中，所述基于所述扇区数量将压缩卷划分成若干测试区域，包括：
12.判断各io操作类型是否具有指定测试区域；
13.响应于所有io操作类型均未指定测试区域，则将扇区数量平均分配成若干测试区域，以使每一测试区域对应一种io操作类型，且不同测试区域包括的扇区数量均相同；
14.响应于所有io操作类型均具有指定测试区域，则将指定测试区域对应的扇区作为某一io操作类型对应的测试区域。
15.在一些实施例中，所述基于所述扇区数量将压缩卷划分成若干测试区域，还包括：
16.响应于所有io操作类型中部分io操作类型具有指定测试区域、部分io操作类型未指定测试区域，则先基于每一指定测试区域对应的扇区为相应的io操作类型划分对应的测试区域，然后将剩余未分配的扇区平均分配给每个未指定测试区域对应的io操作类型。
17.在一些实施例中，所述io操作类型包括预设io大小的随机读、预设io大小的随机写、预设io大小的随机读写、预设io大小的顺序读、预设io大小的顺序写、预设io大小的顺序读写。
18.根据本发明的第二方面，提供了一种存储设备压缩卷性能测试装置，所述装置包括：
19.获取模块，配置用于获取压缩卷大小并根据压缩卷大小计算压缩卷的扇区数量；
20.划分模块，配置用于基于所述扇区数量将压缩卷划分成若干测试区域，其中，每一测试区域对应一种io操作类型；
21.判断模块，配置用于判断每个测试区域是否包括读测试；
22.第一下发模块，配置用于响应于某一测试区域对应的io操作类型包括读测试，则执行读测试前在所述某一测试区域先进行数据写入，再根据某一测试区域对应的io操作类型下发测试命令；
23.第二下发模块，配置用于响应于某一测试区域对应的io操作类型不包括读测试，则直接根据某一测试区域对应的io操作类型下发测试命令。
24.在一些实施例中，所述划分模块进一步配置用于：
25.判断各io操作类型是否具有指定测试区域；
26.响应于所有io操作类型均未指定测试区域，则将扇区数量平均分配成若干测试区域，以使每一测试区域对应一种io操作类型，且不同测试区域包括的扇区数量均相同；
27.响应于所有io操作类型均具有指定测试区域，则将指定测试区域对应的扇区作为某一io操作类型对应的测试区域。
28.在一些实施例中，所述划分模块还配置用于：
29.响应于所有io操作类型中部分io操作类型具有指定测试区域、部分io操作类型未指定测试区域，则先基于每一指定测试区域对应的扇区为相应的io操作类型划分对应的测试区域，然后将剩余未分配的扇区平均分配给每个未指定测试区域对应的io操作类型。
30.在一些实施例中，所述io操作类型包括预设io大小的随机读、预设io大小的随机写、预设io大小的随机读写、预设io大小的顺序读、预设io大小的顺序写、预设io大小的顺序读写。
31.根据本发明的第三方面，还提供了一种计算机设备，该计算机设备包括：
32.至少一个处理器；以及
33.存储器，存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行程序时执行前述的存储设备压缩卷性能测试方法。
34.根据本发明的第四方面，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时执行前述的存储设备压缩卷性能测试方法。
35.上述一种存储设备压缩卷性能测试方法，通过将压缩卷进行不同测试区域划分，确保了每次测试不会产生重复数据，避免触发垃圾回收影响测试性能，同时对测试顺序的
调整和测试数据的预埋，提高了压缩卷性能测试的精确度，有助于提高存储产品的设计水准和质量，提升产品竞争力。
36.此外，本发明还提供了一种存储设备压缩卷性能测试装置、一种计算机设备和一种计算机可读存储介质，同样能实现上述技术效果，这里不再赘述。
附图说明
37.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
38.图1为本发明一个实施例提供的一种存储设备压缩卷性能测试方法的流程图；
39.图2为本发明另一个实施例提供的另一种存储设备压缩卷性能测试方法的流程图；
40.图3为本发明另一个实施例提供的一种存储设备压缩卷性能测试装置的结构示意图；
41.图4为本发明另一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
42.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明实施例进一步详细说明。
43.需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
44.在一个实施例中，请参照图1所示，本发明提供了一种存储设备压缩卷性能测试方法100，具体来说，所述方法包括以下步骤：
45.步骤101，获取压缩卷大小并根据压缩卷大小计算压缩卷的扇区数量；
46.步骤102，基于所述扇区数量将压缩卷划分成若干测试区域，其中，每一测试区域对应一种io操作类型；
47.步骤103，判断每个测试区域是否包括读测试；
48.步骤104，响应于某一测试区域对应的io操作类型包括读测试，则执行读测试前在所述某一测试区域先进行数据写入，再根据某一测试区域对应的io操作类型下发测试命令；
49.步骤105，响应于某一测试区域对应的io操作类型不包括读测试，则直接根据某一测试区域对应的io操作类型下发测试命令。
50.上述一种存储设备压缩卷性能测试方法，通过将压缩卷进行不同测试区域划分，确保了每次测试不会产生重复数据，避免触发垃圾回收影响测试性能，同时对测试顺序的调整和测试数据的预埋，提高了压缩卷性能测试的精确度，有助于提高存储产品的设计水准和质量，提升产品竞争力。
51.在一些实施例中，前述步骤102，基于所述扇区数量将压缩卷划分成若干测试区
域，包括：
52.判断各io操作类型是否具有指定测试区域；
53.响应于所有io操作类型均未指定测试区域，则将扇区数量平均分配成若干测试区域，以使每一测试区域对应一种io操作类型，且不同测试区域包括的扇区数量均相同；
54.响应于所有io操作类型均具有指定测试区域，则将指定测试区域对应的扇区作为某一io操作类型对应的测试区域。
55.在一些实施例中，前述步骤102，基于所述扇区数量将压缩卷划分成若干测试区域，还包括：
56.响应于所有io操作类型中部分io操作类型具有指定测试区域、部分io操作类型未指定测试区域，则先基于每一指定测试区域对应的扇区为相应的io操作类型划分对应的测试区域，然后将剩余未分配的扇区平均分配给每个未指定测试区域对应的io操作类型。
57.在一些实施例中，所述io操作类型包括预设io大小的随机读、预设io大小的随机写、预设io大小的随机读写、预设io大小的顺序读、预设io大小的顺序写、预设io大小的顺序读写。
58.在又一个实施例中，为了便于理解本发明的方案，下面以具体的六种io操作类型为例：2kb随机读、4kb随机读、8kb随机读、2kb随机写、4kb随机写、8kb随机写为例，请结合图2所示，本实施例提供了又一种存储设备压缩卷性能测试方法200，具体实施步骤参考如下：
59.步骤201，获取压缩卷大小，计算压缩卷扇区数量；
60.步骤202，根据所需测试的io数据类型和扇区数量划分不同测试区域。
61.步骤203，如果不指定压缩卷测试区域，则测试区域根据测试的io类型数量进行平均分配，例如假设有12000个扇区，那么以上六种io操作类型的每种都对应两千个扇区。
62.步骤204，如果指定了压缩卷的测试区域，则测试区域根据指定的规则生成。不妨假设预先指定2kb随机读对应的是1至1000扇区、4kb随机读对应的是1001至3000扇区、8kb随机读对应的是3001至5000扇区、2kb随机写对应的是5001至6000扇区、4kb随机写对应的是6001至8000扇区、8kb随机写对应的是8001至10000扇区。
63.步骤205，根据io测试读写类型生成测试顺序规则；
64.步骤206，如果io测试类型为测试压缩卷读性能，则根据步骤202划分的区域先进行数据写入。数据预埋量为测试压缩卷读性能的数据量。然后进行读性能测试。
65.步骤207，如果io测试类型为测试压缩卷写性能；则直接根据步骤202划分的区域进行数据写入性能测试。继续举例来说2kb随机读、4kb随机读、8kb随机读均包括读测试，那么需要在读之前向其对应的扇区内预先写入数据。
66.步骤208，整合步骤202和步骤205的规则，生成压缩卷io下发规则；
67.步骤209，使用步骤208生成的io下发规则进行压缩卷的性能测试；继续举例来说：2kb随机读、4kb随机读、8kb随机读、2kb随机写对应的扇区先执行数据写入，然后执行数据读取测试，而2kb随机写、4kb随机写、8kb随机写情形可以直接向其对应的扇区数据写入测试。
68.本实施例的一种存储设备压缩卷性能测试方法，通过将压缩卷进行不同测试区域划分，确保了每次测试不会产生重复数据，避免触发垃圾回收影响测试性能，同时对测试顺序的调整和测试数据的预埋，提高了压缩卷性能测试的精确度。从而提高产品的设计水准
和质量水平，提升产品竞争力。
69.在一些实施例中，请参照图3所示，本发明还提供了一种存储设备压缩卷性能测试装置300，所述装置包括：
70.获取模块301，配置用于获取压缩卷大小并根据压缩卷大小计算压缩卷的扇区数量；
71.划分模块302，配置用于基于所述扇区数量将压缩卷划分成若干测试区域，其中，每一测试区域对应一种io操作类型；
72.判断模块303，配置用于判断每个测试区域是否包括读测试；
73.第一下发模块304，配置用于响应于某一测试区域对应的io操作类型包括读测试，则执行读测试前在所述某一测试区域先进行数据写入，再根据某一测试区域对应的io操作类型下发测试命令；
74.第二下发模块305，配置用于响应于某一测试区域对应的io操作类型不包括读测试，则直接根据某一测试区域对应的io操作类型下发测试命令。
75.上述一种存储设备压缩卷性能测试装置，通过将压缩卷进行不同测试区域划分，确保了每次测试不会产生重复数据，避免触发垃圾回收影响测试性能，同时对测试顺序的调整和测试数据的预埋，提高了压缩卷性能测试的精确度，有助于提高存储产品的设计水准和质量，提升产品竞争力。
76.在一些实施例中，所述划分模块302进一步配置用于：
77.判断各io操作类型是否具有指定测试区域；
78.响应于所有io操作类型均未指定测试区域，则将扇区数量平均分配成若干测试区域，以使每一测试区域对应一种io操作类型，且不同测试区域包括的扇区数量均相同；
79.响应于所有io操作类型均具有指定测试区域，则将指定测试区域对应的扇区作为某一io操作类型对应的测试区域。
80.在一些实施例中，所述划分模块302还配置用于：
81.响应于所有io操作类型中部分io操作类型具有指定测试区域、部分io操作类型未指定测试区域，则先基于每一指定测试区域对应的扇区为相应的io操作类型划分对应的测试区域，然后将剩余未分配的扇区平均分配给每个未指定测试区域对应的io操作类型。
82.在一些实施例中，所述io操作类型包括预设io大小的随机读、预设io大小的随机写、预设io大小的随机读写、预设io大小的顺序读、预设io大小的顺序写、预设io大小的顺序读写。
83.需要说明的是，关于存储设备压缩卷性能测试装置的具体限定可以参见上文中对存储设备压缩卷性能测试方法的限定，在此不再赘述。上述存储设备压缩卷性能测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
84.根据本发明的另一方面，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图请参照图4所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口和数据库。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序
和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时实现以上所述的存储设备压缩卷性能测试方法，具体来说，所述方法包括以下步骤：
85.获取压缩卷大小并根据压缩卷大小计算压缩卷的扇区数量；
86.基于所述扇区数量将压缩卷划分成若干测试区域，其中，每一测试区域对应一种io操作类型；
87.判断每个测试区域是否包括读测试；
88.响应于某一测试区域对应的io操作类型包括读测试，则执行读测试前在所述某一测试区域先进行数据写入，再根据某一测试区域对应的io操作类型下发测试命令；
89.响应于某一测试区域对应的io操作类型不包括读测试，则直接根据某一测试区域对应的io操作类型下发测试命令。
90.在一些实施例中，所述基于所述扇区数量将压缩卷划分成若干测试区域，包括：
91.判断各io操作类型是否具有指定测试区域；
92.响应于所有io操作类型均未指定测试区域，则将扇区数量平均分配成若干测试区域，以使每一测试区域对应一种io操作类型，且不同测试区域包括的扇区数量均相同；
93.响应于所有io操作类型均具有指定测试区域，则将指定测试区域对应的扇区作为某一io操作类型对应的测试区域。
94.在一些实施例中，所述基于所述扇区数量将压缩卷划分成若干测试区域，还包括：
95.响应于所有io操作类型中部分io操作类型具有指定测试区域、部分io操作类型未指定测试区域，则先基于每一指定测试区域对应的扇区为相应的io操作类型划分对应的测试区域，然后将剩余未分配的扇区平均分配给每个未指定测试区域对应的io操作类型。
96.在一些实施例中，所述io操作类型包括预设io大小的随机读、预设io大小的随机写、预设io大小的随机读写、预设io大小的顺序读、预设io大小的顺序写、预设io大小的顺序读写。
97.根据本发明的又一方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以上所述的存储设备压缩卷性能测试方法，具体来说，包括执行以下步骤：
98.获取压缩卷大小并根据压缩卷大小计算压缩卷的扇区数量；
99.基于所述扇区数量将压缩卷划分成若干测试区域，其中，每一测试区域对应一种io操作类型；
100.判断每个测试区域是否包括读测试；
101.响应于某一测试区域对应的io操作类型包括读测试，则执行读测试前在所述某一测试区域先进行数据写入，再根据某一测试区域对应的io操作类型下发测试命令；
102.响应于某一测试区域对应的io操作类型不包括读测试，则直接根据某一测试区域对应的io操作类型下发测试命令。
103.在一些实施例中，所述基于所述扇区数量将压缩卷划分成若干测试区域，包括：
104.判断各io操作类型是否具有指定测试区域；
105.响应于所有io操作类型均未指定测试区域，则将扇区数量平均分配成若干测试区
域，以使每一测试区域对应一种io操作类型，且不同测试区域包括的扇区数量均相同；
106.响应于所有io操作类型均具有指定测试区域，则将指定测试区域对应的扇区作为某一io操作类型对应的测试区域。
107.在一些实施例中，所述基于所述扇区数量将压缩卷划分成若干测试区域，还包括：
108.响应于所有io操作类型中部分io操作类型具有指定测试区域、部分io操作类型未指定测试区域，则先基于每一指定测试区域对应的扇区为相应的io操作类型划分对应的测试区域，然后将剩余未分配的扇区平均分配给每个未指定测试区域对应的io操作类型。
109.在一些实施例中，所述io操作类型包括预设io大小的随机读、预设io大小的随机写、预设io大小的随机读写、预设io大小的顺序读、预设io大小的顺序写、预设io大小的顺序读写。
110.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本技术所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦除可编程rom(eeprom)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(ram)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram(sram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据率sdram(ddrsdram)、增强型sdram(esdram)、同步链路(synchlink)dram(sldram)、存储器总线(rambus)直接ram(rdram)、直接存储器总线动态ram(drdram)、以及存储器总线动态ram(rdram)等。
111.以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
112.以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。