一种单片机通用老化板的制作方法

1.本实用新型属于老化板技术领域，尤其涉及一种单片机通用老化板。


背景技术：

2.目前，单片机芯片是比较复杂的电子器件，种类繁杂，型号众多；近年来，随着美国对我国的技术封锁，单片机芯片的国产化率大幅提升，但由于我国在制造与工艺方面的与美国等欧美国家还存在一定差距，为了保证装机器件的质量，单片机芯片的二筛就显得尤为重要。
3.目前，现有技术单片机老化板完全依赖elea-v大规模集成电路测试设备，其控制和检测完全由测试设备完成，不能提高单片机二筛的效率和速度。为了提高单片机二筛的效率，亟需一种通用、适用范围大的单片机老化板设计方案，以提高老化板的设计更新速度和通用性。


技术实现要素：

4.针对现有技术存在的问题，本实用新型提供了一种单片机通用老化板。
5.本实用新型是这样实现的，一种单片机通用老化板，所述单片机通用老化板设置有：
6.接口电路；
7.所述接口电路连接有被测芯片，被测芯片连接有编程电路，被测芯片还与晶体振荡器连接；
8.编程电路选用epcs16si16，其作用是提供相关数据，存储相关数据，其电路构成见图2。
9.所述被测芯片与稳压电路连接，被测芯片与复位电路连接，复位电路还与稳压电路连接；稳压电路还与外接电源连接。
10.被测芯片种类较多，以ep1c3t100i7n为例，其最小测试系统电路见图3。
11.复位电路，用于系统配置，复位后系统运行从初始化程序开始，其电路见图4。
12.稳压电路由ams1117-1.5构成，其电路见图5。
13.进一步，所述接口电路通过控制信号与被测芯片连接，被测芯片通过回检信号与接口电路连接。
14.进一步，所述被测芯片与编程电路双向连接，被测芯片通过电路与led灯连接。
15.进一步，所述复位电路与被测芯片为单向连接；稳压电路与复位电路为单向连接。
16.进一步，所述被测芯片与稳压电路为单向连接。
17.结合上述的技术方案和解决的技术问题，请从以下几方面分析本实用新型所要保护的技术方案所具备的优点及积极效果为：
18.第一、针对上述现有技术存在的技术问题以及解决该问题的难度，紧密结合本实用新型的所要保护的技术方案以及研发过程中结果和数据等，详细、深刻地分析本实用新
型技术方案如何解决的技术问题，解决问题之后带来的一些具备创造性的技术效果。具体描述如下：
19.本实用新型既可以用elea-v大规模集成电路自动测试系统对被测单片机芯片进行老化，也可以通过通用高低温箱加外接电源对被测单片机芯片进行老化；本实用新型根据被测单片机的设计要求，建立最小系统，被测单片机编制完整的测试程序，完成对被测单片机芯片的测试，并通过机台回检或led显示方式，对被测芯片的功能性能进行诊断，具有老化板设计更改方便，老化方式灵活通用的特点。
20.本实用新型根据被测单片机资料，设计最小系统及接口电路，其接口方式既可以通过金手指与老化机台相连接，也可以接外接电源自成系统，独立工作。
21.第二，把技术方案看做一个整体或者从产品的角度，本实用新型所要保护的技术方案具备的技术效果和优点，具体描述如下：
22.本实用新型借助集成开发软件平台，用原理图、硬件描述语言等方法，生成相应的目标文件，通过下载电缆将电脑中“在系统”编程的代码传送到被测芯片中，通过机台回检或板载led显示方式实现对被测单片机高低温下其工作性能的判断。本实用新型具有编程灵活、设计开发周期短、适用被测芯片适应范围宽、效率高等特点；而且设计制造成本低、对设计者的硬件经验要求低、价格大众化，几乎适应于各类单片机的老化筛选。
附图说明
23.图1是本实用新型实施例提供的单片机通用老化板结构示意图；
24.图2是本实用新型实施例提供的编程电路连接图；
25.图3是本实用新型实施例提供的ep1c3t100i7n测试电路连接图；
26.图4是本实用新型实施例提供的复位电路连接图；
27.图5是本实用新型实施例提供的稳压电路连接图；
28.图6是本实用新型实施例提供的老化板设计方案示意图；
29.图中：1、接口电路；2、晶体振荡器；3、编程电路；4、复位电路；5、稳压电路；6、被测芯片；7、led灯。
具体实施方式
30.为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
31.一、解释说明实施例。为了使本领域技术人员充分了解本实用新型如何具体实现，该部分是对权利要求技术方案进行展开说明的解释说明实施例。
32.如图1所示，本实用新型提供了一种单片机通用老化板，单片机通用老化板设置有接口电路1；
33.接口电路1连接有被测芯片6，被测芯片6连接有编程电路3，被测芯片6还与晶体振荡器2连接；被测芯片6与稳压电路5连接，被测芯片6与复位电路4连接，复位电路4还与稳压电路5连接；稳压电路5还与外接电源连接。
34.所述接口电路1通过控制信号与被测芯片6连接，被测芯片6通过回检信号与接口
电路1连接。所述被测芯片6与编程电路3双向连接，被测芯片6通过电路与led灯7连接。所述复位电路4与被测芯片6为单向连接；稳压电路5与复位电路4为单向连接。所述被测芯片6与稳压电路5为双向连接。
35.二、应用实施例。为了证明本实用新型的技术方案的创造性和技术价值，该部分是对权利要求技术方案进行具体产品上或相关技术上的应用实施例。
36.本实用新型既可以用elea-v大规模集成电路自动测试系统对被测单片机芯片进行老化，也可以通过通用高低温箱加外接电源对被测单片机芯片进行老化。根据被测单片机的设计要求，建立最小系统，被测单片机编制完整的测试程序，完成对被测单片机芯片的测试，并通过回检机台或led显示方式，对被测芯片的功能性能进行诊断。
37.当老化板用于elea-v大规模集成电路自动测试系统对被测单片机芯片进行老化时，可通过接口电路对被测芯片进行测试，被测芯片的性能、功能通过测试设备回检，系统诊断方式进行数据汇总。
38.当老化板用于用通用设备对被测单片机芯片进行老化时，被测芯片内置的通用测试程序启动，对被测芯片的功能、性能进行测试，通过led指示方式进行结果显示。
39.根据被测单片机资料，设计最小系统及接口电路，其接口方式既可以通过金手指与老化机台相连接，也可以接外接电源自成系统，独立工作。
40.单片机是较为复杂的逻辑器件，用户可以根据各自的需要，编制特定的程序，实现用户需要的控制功能。单片机通用老化板的基本设计思路是设计一种既可用于elea-v老化机台老化，也可用于通用高低温箱通过电源外接方式进行器件老化筛选的老化板。其基本设计思路是借助集成开发软件平台，用原理图、硬件描述语言等方法，生成相应的目标文件，通过下载电缆将电脑中“在系统”编程的代码传送到被测芯片中，通过机台回检或板载led显示方式实现对被测单片机高低温下其工作性能的判断，它具有编程灵活、设计开发周期短、适用被测芯片适应范围宽、效率高等特点；而且设计制造成本低、对设计者的硬件经验要求低、价格大众化，几乎适应于各类单片机的老化筛选。
41.在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“头部”、“尾部”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
42.以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。