一种荧光粉热稳定性测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及荧光粉技术领域，特别涉及一种荧光粉热稳定性测试装置。


背景技术：

2.荧光粉的热稳定性测试是荧光粉的重要测试项目之一，随着温度上升，荧光粉的量子效率会降低，导致出光减少，荧光粉热稳定性的好坏会影响产品的性能及使用寿命。
3.现有技术当中，通常是通过将led灯珠封装后，通过改变外界环境（加温加压），基于led灯珠的光衰变化，来判定荧光粉热稳定性的优劣，但实际上led灯珠的光通量，除荧光粉的热稳定性外还与发光芯片、封装胶等其他参数有关，随着温度上升，芯片的发射波长也会发生变化，而发射波长与荧光粉的激发波长不匹配亦会造成出射的光通量降低，导致最后的测试结果易发生偏差，测试效果不佳。


技术实现要素：

4.针对现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种荧光粉热稳定性测试装置，旨在解决现有技术中测试效果不佳的技术问题。
5.为了实现上述目的，本实用新型是通过如下技术方案来实现的：一种荧光粉热稳定性测试装置，包括基座、光源组件、检测组件及加热组件，所述光源组件包括设于所述基座上侧的发光芯片，及设于发光芯片一侧的透明隔热膜，所述检测组件包括设于所述光源组件的发光面一侧的积分球及连接所述积分球的光谱辐射分析仪，所述加热组件包括设于所述光源组件与所述检测组件之间的加热板，所述加热板上设有透光柱，所述透光柱用于放置荧光粉，所述加热板靠近所述检测组件的一侧开设有透光孔，所述透光孔与所述透光柱对应设置，所述加热板包括基板及设于所述基板内的加热片，所述加热片靠近所述透光柱设置。
6.与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：通过设置基座，在基座上设有光源组件、检测组件及加热组件，光源组件包括设于基座上侧的发光芯片，检测组件包括设于光源组件发光面一侧的积分球，及连接所述积分球的光谱辐射分析仪，加热组件包括设于光源组件与检测组件之间的加热板，加热板上设有透光柱，透光柱用于放置荧光粉，加热板靠近检测组件的一侧开设有透光孔，透光孔与透光柱对应设置，加热板包括基板及设于基板内的加热片，加热片靠近透光柱设置，通过设置光源组件发出可激活荧光粉的出射光束，相当于将测试中led灯珠的发光源与荧光粉分离，加热片靠近透光柱设置，仅对荧光粉进行加热，通过设置透明隔热膜可进一步降低加热片对发光芯片的温度影响，提高测试效果，同时相对于现有技术中需要先对荧光粉进行封装的测试方式，还减少了加工工序，提高测试效率。
7.根据上述技术方案的一方面，所述基座包括底板及由所述底板的一侧延伸形成的竖板，所述光源组件设于所述竖板上，所述检测组件及所述加热组件均设于所述底板上。
8.根据上述技术方案的一方面，所述加热板上设有若干个所述透光柱，所述加热片
围绕每个所述透光柱设置，所述加热板活动式设于所述基座上。
9.根据上述技术方案的一方面，所述加热板还包括设于所述基板一侧的转动轴，所述加热板通过所述转动轴转动式设于所述基座上。
10.根据上述技术方案的一方面，所述荧光粉热稳定性测试装置还包括控制组件，所述控制组件包括与所述加热组件连接的控制器，所述控制器与所述加热片电性连接。
11.根据上述技术方案的一方面，所述控制组件还包括靠近所述透光柱设置的温度感应探头。
12.根据上述技术方案的一方面，所述控制组件还包括设于所述转动轴一侧的驱动电机，所述控制器上集成有与所述驱动电机对应设置的控制开关。
13.根据上述技术方案的一方面，所述荧光粉热稳定性测试装置还包括聚光组件，所述聚光组件包括设于所述光源组件与所述透光柱之间的第一透镜组件，及设于所述透光孔与所述积分球之间的第二透镜组件。
附图说明
14.本实用新型的上述与/或附加的方面与优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显与容易理解，其中：
15.图1为本实用新型第一实施例中荧光粉热稳定性测试装置的结构示意图；
16.图2为本实用新型第二实施例中荧光粉热稳定性测试装置的结构示意图；
17.图中主要元器件符号说明：
18.底板11、竖板12、基座10、光源组件20、积分球31、光谱辐射分析仪32、检测组件30、加热板41、透光柱42、控制器51、驱动电机52、第一透镜组件61、第二透镜组件62、导轨43。
具体实施方式
19.为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的多个实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容更加透彻全面。
20.需要说明的是，当元件被称为“固设于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
21.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及／或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
22.请参阅图1，所示为本实用新型第一实施例中的荧光粉热稳定性测试装置，包括基座10、光源组件20、检测组件30及加热组件，所述光源组件20包括设于所述基座10上侧的发光芯片，及设于发光芯片一侧的透明隔热膜，所述检测组件30包括设于所述光源组件20的发光面一侧的积分球31及连接所述积分球31的光谱辐射分析仪32，所述加热组件包括设于
所述光源组件20与所述检测组件30之间的加热板41，所述加热板41上设有透光柱42，所述透光柱42用于放置荧光粉，所述加热板41靠近所述检测组件30的一侧开设有透光孔，所述透光孔与所述透光柱42对应设置，所述加热板41包括基板及设于所述基板内的加热片，所述加热片靠近所述透光柱42设置。
23.具体来说，本实施例中的荧光粉热稳定性测试装置，通过设置基座10，在基座10上设有光源组件20、检测组件30及加热组件，光源组件20包括设于基座10上侧的发光芯片，检测组件30包括设于光源组件20发光面一侧的积分球31，及连接所述积分球31的光谱辐射分析仪32，加热组件包括设于光源组件20与检测组件30之间的加热板41，加热板41上设有透光柱42，透光柱42用于放置荧光粉，加热板41靠近检测组件30的一侧开设有透光孔，透光孔与透光柱42对应设置，加热板41包括基板及设于基板内的加热片，加热片靠近透光柱42设置，通过设置光源组件20发出可激活荧光粉的出射光束，相当于将测试中led灯珠的发光源与荧光粉分离，加热片靠近透光柱42设置，仅对荧光粉进行加热，通过设置透明隔热膜可进一步降低加热片对发光芯片的温度影响，提高测试效果，同时相对于现有技术中需要先对荧光粉进行封装的测试方式，还减少了加工工序，提高测试效率。
24.具体来说，本实施例中的，基座10包括底板11及由所述底板11一侧延伸形成的竖板12，所述光源组件20设于所述竖板12上，所述检测组件30及所述加热组件均设于所述底板11一侧。
25.便于理解地，在本实施例的一些应用场景中，当将荧光粉放置于透光柱42上时，首先通过加热片将使荧光粉处于第一预设温度（优选地，在本实施例中，上述第一预设温度为25℃，即常温）的环境内，并基于检测组件30对透过荧光粉一侧的光通量进行检测得到第一光通量，进一步通过将温度调节至第二预设温度（优选地，在本实施例中，上述第二预设温度为85℃），得到第二光通量，通过得到第一光通量及第二光通量的差值，以判断温度对荧光粉的影响，差值越小，即代表荧光粉的热稳定性越好。
26.优选地，在本实施例中，上述加热板41上设有若干个所述透光柱42，所述加热片围绕每个所述透光柱42设置，所述加热板41活动式设于所述基座10上。具体来说，在本实施例中，上述透光柱42的数量为三个。可以理解地，通过在加热板41上设置若干个透光柱42，并在每个透光柱42一侧均设有加热片，通过在若干个透光柱42上放置不同批次或规格的荧光粉，在每次加热时，多个荧光粉可同时进行加热，通过移动上述加热板41，使位于不同透光柱42上的荧光粉依次通过光源组件20进行激发，并通过检测组件30获取对应的光通量参数，即加热片无需重复加温冷却，即可同时对多规格的荧光粉进行检测，提高检测效率。
27.具体来说，在本实施例中，所述加热板41还包括设于所述基板一侧的转动轴，所述加热板41通过所述转动轴转动式设于所述基座10上。
28.此外，在本实施例中，上述荧光粉热稳定性测试装置还包括控制组件，所述控制组件包括与所述加热组件连接的控制器51，所述控制器51与所述加热片电性连接。进一步地，在本实施例中，上述控制组件还包括靠近所述透光柱42设置的温度感应探头。具体来说。上述控制器51用于控制加热片的开关，并通过温度感应探头调节加热温度至预设温度。
29.优选地，在本实施例中，上述控制组件还包括设于所述转动轴一侧的驱动电机52，所述控制器51上集成有与所述驱动电机52对应设置的控制开关，通过上述控制开关可将所需的待测荧光粉移动至光源组件20与测试组件之间，快速进行检测。
30.可以理解地，在本实施例中，上述荧光粉热稳定性测试装置还包括聚光组件，所述聚光组件包括设于所述光源组件20与所述透光柱42之间的第一透镜组件61，及设于所述透光孔与所述积分球31之间的第二透镜组件62。具体来说，上述第一透镜组件61固定于光源组件20一侧，上述第二透镜组件62固定于检测组件30一侧，上述第一透镜组件61及第二透镜组件62均包括镜筒及固定于镜筒内的一个或若干个透镜，优选地，在本实施例中，上述第一透镜组件61及第二透镜组件62均包括固定于镜筒内的一块凸透镜，通过设置上述第一透镜组件61可保证发光芯片的出射光准确落在透光柱42的荧光粉上，通过设置上述第二透镜组件62可保证透光孔一侧的出射光准确落在积分球31的进光口一侧。
31.综上，本实用新型上述实施例当中的荧光粉热稳定性测试装置，通过设置基座10，在基座10上设有光源组件20、检测组件30及加热组件，光源组件20包括设于基座10上侧的发光芯片，检测组件30包括设于光源组件20发光面一侧的积分球31，及连接所述积分球31的光谱辐射分析仪32，加热组件包括设于光源组件20与检测组件30之间的加热板41，加热板41上设有透光柱42，透光柱42用于放置荧光粉，加热板41靠近检测组件30的一侧开设有透光孔，透光孔与透光柱42对应设置，加热板41包括基板及设于基板内的加热片，加热片靠近透光柱42设置，通过设置光源组件20发出可激活荧光粉的出射光束，相当于将测试中led灯珠的发光源与荧光粉分离，加热片靠近透光柱42设置，仅对荧光粉进行加热，通过设置透明隔热膜可进一步降低加热片对发光芯片的温度影响，提高测试效果，同时相对于现有技术中需要先对荧光粉进行封装的测试方式，还减少了加工工序，提高测试效率。
32.请查阅图2，所示为本实用新型第二实施例中的荧光粉热稳定性测试装置，本实施例当中的荧光粉热稳定性测试装置与第一实施例当中的荧光粉热稳定性测试装置的不同之处在于：
33.上述基座10上设置有导轨43，上述加热板41通过上述导轨43滑动式设于基座10上，加热板41上设有若干个透光柱42，以便于对多种规格或批次的荧光粉同步进行检测，提高检测效率。
34.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
35.以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出多种变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。