氢同位素气体分析样品室及氢同位素气体测量装置的制作方法

技术特征：
1.一种氢同位素气体分析样品室，其特征在于，包括：外壳，所述外壳的一侧形成开口；出射窗，密封地设置于所述开口处，以与所述外壳共同形成密封腔，其中，所述出射窗由允许x射线穿透的材料制成；进气管路，与所述密封腔连通，用于向所述密封腔内引入氢同位素气体；以及韧致辐射靶片，由能够与氢同位素气体中的β射线形成x射线的材料制成，所述韧致辐射靶片在所述密封腔内面对所述出射窗且与所述出射窗间隔设置。2.根据权利要求1所述的样品室，其特征在于，所述韧致辐射靶片由金制成。3.根据权利要求1所述的样品室，其特征在于，所述韧致辐射靶片与所述出射窗之间的间距为1.5mm-5mm。4.根据权利要求1所述的样品室，其特征在于，所述出射窗由铍制成。5.根据权利要求1所述的样品室，其特征在于，所述外壳的内壁形成有金膜。6.根据权利要求5所述的样品室，其特征在于，所述韧致辐射靶片的厚度大于所述金膜的厚度。7.根据权利要求1所述的样品室，其特征在于，还包括支撑架，用于为所述韧致辐射靶片提供支撑。8.根据权利要求7所述的样品室，其特征在于，所述支撑架面对所述韧致辐射靶片的背对所述出射窗的一侧表面。9.根据权利要求7所述的样品室，其特征在于，所述外壳包括形成所述开口的柱面段、朝远离所述开口的方向延伸且内径渐缩的锥面段，以及连接在所述柱面段与所述锥面段之间的环形段，其中，所述锥面段远离所述锥面段的一侧端口与所述进气管路连通；所述支撑架设置于所述环形段上。10.根据权利要求9所述的样品室，其特征在于，所述柱面段、所述环形段、所述锥面段与所述进气管路为一体成型件。11.根据权利要求9所述的样品室，其特征在于，所述柱面段、所述环形段以及所述锥面段的高度之和小于所述柱面段的内径。12.根据权利要求9所述的样品室，其特征在于，所述柱面段的内径为10-15mm。13.一种氢同位素气体测量装置，其特征在于，包括：权利要求1至12中任一项所述的样品室；和探测腔，所述探测腔内设有用于探测x射线的探头，其中所述探测腔与所述样品室的密封腔之间由所述样品室的出射窗隔开。14.根据权利要求13所述的测量装置，其特征在于，还包括：法兰，所述出射窗安装于所述法兰和所述外壳之间，所述法兰限定形成所述探测腔的至少部分周壁，所述出射窗限定形成所述探测腔的一侧端壁。

技术总结
本申请实施例提供了一种氢同位素气体分析样品室及氢同位素气体测量装置。样品室包括：外壳，所述外壳的一侧形成开口；出射窗，密封地设置于所述开口处，以与所述外壳共同形成密封腔，其中，所述出射窗由允许X射线穿透的材料制成；进气管路，与所述密封腔连通，用于向所述密封腔内引入氢同位素气体；以及韧致辐射靶片，由能够与氢同位素气体中的β射线形成X射线的材料制成，所述韧致辐射靶片在所述密封腔内面对所述出射窗且与所述出射窗间隔设置。本申请实施例通过将韧致辐射靶片与出射窗分离设置，能够提高β射线形成X射线的转换效率，并且还有利于X射线经由出射窗出射以提高探头探测的X射线计数率，从而提高探测能力。从而提高探测能力。从而提高探测能力。


技术研发人员：杨洪广 李卓希 李语奇 郭炜 刘国财 路建新 魏乐芙 占勤 李曙丹 姚棨临 徐鹏程 王羽锋
受保护的技术使用者：中国原子能科学研究院
技术研发日：2022.08.23
技术公布日：2022/11/11