一种大批量电容的高速测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及电容测试装置技术领域，具体为一种大批量电容的高速测试装置。


背景技术：

2.对于一些小型的电容，一次性能够批量生产数量众多的电容，为了保证生产效率，就需要同时对大批量的电容进行测试，以保证电容的合格和有效性。电容测试一般需测试容量、损耗、esr值及漏电流4个参数，批量电容生产需要高效率的生产方式以降低成本，相应的测试设备也需要实现高速测试的性能。
3.现有技术通常对散件成品电容用载盒方式，多个载盒构成队列以每次测量一个载盒的串行操作方式按顺序通过多个项目的测试工位，每个测试工位对应4个参数测试所需的其中一个项目，通过控制探针阵列下压使探针与电容电极接触从而将其接入到测试电路中进行测试，如果载盒中电容数量多，一个工位处的探针阵列相应就会大量增加，但探针数量的增加会增加调整探针使其与电容电极接触良好的操作难度，尤其是esr测试项，每只电容通常需要4根探针进行测试，该测试项目处的探针阵列就需要电容数量四倍的探针数，这样就会导致探针难以安装及调试。


技术实现要素：

4.针对现有测试装置一个测试工位测试的电容数量有限的问题，本实用新型提供了一种大批量电容的高速测试装置，其适用于大批量电容的测试，并且电容测试效率高。
5.其技术方案是这样的：一种大批量电容的高速测试装置，其包括运输轨道，所述运输轨道上运输有用于装载待检测电容的电容载盒，沿所述运输轨道的长度方向布置有测试工位，所述测试工位包括漏电流测试工位、容量测试工位、损耗测试工位、esr测试工位中的一种或者多种，每个所述测试工位处分别安装有测试装置，所述测试装置包括安装有探针的探针卡和用于驱动所述探针卡与电容电极接触的驱动装置，其特征在于：每个所述测试工位处分别安装有大于等于两个的所述测试装置，每个测试工位处的所述测试装置沿所述运输轨道的宽度方向布置，每个测试工位处的所述测试装置的所述探针卡和所述驱动装置相互独立。
6.其进一步特征在于：
7.所述电容载盒沿所述运输轨道的宽度方向设有大于等于2个的装载区，当所述电容载盒位于其中的一个测试工位处时，所述电容载盒的每个装载区与所述测试工位处的测试装置一一相对应；
8.沿所述运输轨道的宽度方向同时存在有大于等于2个的所述电容载盒，当一排所述电容载盒位于其中的一个测试工位处时，每个所述电容载盒与测试工位处的所述测试装置一一相对应；
9.其包括附加测试工位，所述测试工位和所述附加测试工位沿所述运输轨道的长度
方向分布，所述测试工位用于对电容载盒中的一部分电容进行测试，所述附加测试工位用于对电容载盒中的另一部分电容进行测试；
10.当所述测试工位包括漏电流测试工位时，其还包括位于所述漏电流测试工位前的充电工位；
11.所述测试工位包括沿所述运输轨道长度方向依次布置的充电工位一、漏电流测试工位一、充电工位二、漏电流测试工位二；
12.位于所述漏电流测试工位一和所述充电工位二之间还设有浪涌测试工位；
13.所述运输轨道上位于所述测试工位后部还设有筛选工位，用于剔除电容载盒中测试不合格的电容；
14.所述筛选工位安装有筛选装置，所述筛选装置包括吸头阵列、沿运输轨道宽度方向延伸的转移机构和位于运输轨道两侧的废料盒；
15.所述运输轨道的两端还分别设有上料装置和下料装置。
16.有益效果：采用了这样的结构后，在应用于大批量电容的测试时，通过在每个测试工位处分别设置多个独立的测试装置，测试装置的探针卡均相互独立，能够便于其上的探针的调试及安装，从而使测试工位满足大批量电容的测试要求，提高测试效率，而将测试装置沿运输轨道的宽度方向分布能够减少运输轨道的长度，以减轻对安装场地长度方向上的要求。
附图说明
17.图1为本实用新型结构示意图；
18.图2为图1的俯视示意图。
具体实施方式
19.如图1、图2所示的一种大批量电容的高速测试装置，其包括运输轨道1，运输轨道1上运输有用于装载待检测电容的电容载盒2，沿运输轨道1的长度方向布置有测试工位，测试工位包括漏电流测试工位、容量/损耗测试工位、esr测试工位，每个测试工位处分别安装有测试装置，测试装置包括安装有探针的探针卡3和用于驱动探针卡3与电容电极接触的驱动装置（图中未示出，可以为控制探针卡3上下运动的气缸），每个测试工位处分别安装有大于等于两个的测试装置（图中为两个），例如：图2中，a为一个测试装置，b为同一个测试工位处的另一个测试装置，每个测试工位处的测试装置沿运输轨道的宽度方向布置，每个测试工位处的测试装置的探针卡3和驱动装置相互独立。
20.为了使电容载盒与测试装置的布置相对应，下面介绍了两种电容载盒的形式：1、一个测试工位一电容载盒。电容载盒2沿运输轨道的宽度方向设有大于等于2个的装载区，当电容载盒位于其中的一个测试工位处时，电容载盒的每个装载区与测试工位处的测试装置一一相对应。
21.2、一个测试工位多电容载盒。沿运输轨道的宽度方向同时存在有大于等于2个的电容载盒，当一排电容载盒位于其中的一个测试工位处时，每个电容载盒与测试工位处的测试装置一一相对应。
22.结合图2，图中4为充电工位一、5为漏电流测试工位一、6为浪涌测试工位、7为充电
工位二、8为漏电流测试工位二、9为容量/损耗测试工位一、10为容量/损耗测试工位二、11为esr测试工位一、12为esr测试工位二。
23.另外，为了进一步减轻测试工位的测试负担，其包括附加测试工位，测试工位和附加测试工位沿运输轨道的长度方向分布，测试工位用于对电容载盒中的一部分电容进行测试，附加测试工位用于对电容载盒中的另一部分电容进行测试。即图2中设置了容量/损耗测试工位一9和容量/损耗测试工位二10、esr测试工位一11和esr测试工位二12，这是由于容量/损耗测试工位及esr测试工位中，每个电容电极需要对应两根探针，而漏电流测试工位中每个电容电极只需对应一根探针，这样设置能够减少容量/损耗测试工位、esr测试工位一个测试装置上探针卡的探针数量，从而进一步便于探针的安装及调试。
24.为了检测漏电流，需要对电容进行充电，所以还设有位于漏电流测试工位前的充电工位，充电工位的也和其它测试工位的装置结构类似，通过驱动装置控制充电探针卡下压在电容上，使充电探针与电容电极接触来对电容进行充电。
25.测试工位包括沿运输轨道长度方向依次布置的充电工位一4、漏电流测试工位一5、充电工位二7、漏电流测试工位二8；用多个漏电流测试工位进行并行工作，构成高速漏电流测试装置。而位于漏电流测试工位一5和充电工位二7之间还设有浪涌测试工位6，这样设置就能够通过两次漏电流测试并对比测试结果来检测浪涌试验对电容的影响。
26.另外，如图1、图2所示，运输轨道1上位于测试工位后部还设有筛选工位13，用于剔除电容载盒中测试不合格的电容，筛选工位13安装有筛选装置，筛选装置包括吸头阵列14、驱动吸头阵列14的转移机构（电动滑轨）和废品盒15通过吸头阵列14来吸取不合格电容并置入废品盒15中，筛选装置沿运输轨道宽度方向布置在运输轨道两侧，能够减少测试装置的长度。运输轨道1的两端还分别设有上料装置和下料装置，分别用于电容的上、下料。
27.以上，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉该技术的人在本实用新型所揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。