一种用于辅助测试支架尺寸的检具的制作方法

1.本实用新型涉及检具技术领域，尤其是一种用于辅助测试支架尺寸的检具。


背景技术：

2.目前诸如灯具透镜模快中多数采用透镜支架与透镜卡接的设计形式，此种设计形式中，透镜支架自带卡脚结构，使用时直接将透镜压入卡脚之间，实现二者的固定连接。但此种方法对支架卡脚以及限位筋的相对位置要求较高，但是二者间距离并不能直接测量得到，故而当二者匹配发生问题时，无法获取到尺寸的准确信息，给尺寸整改带来较大困难。


技术实现要素：

3.本实用新型要解决的技术问题是：提供一种便于测量支架卡脚尺寸的检具。
4.本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种用于辅助测试支架尺寸的检具，用于放置在测试台上，对被测零件进行检测，包括检具本体，检具本体包括支撑块和基准台，所述基准台上安装有支撑块，被测零件套在支撑块上，支撑块的上表面与被测零件上的限位筋接触，基准台上安装有定位销，定位销插入被测零件上的被测零件定位孔内。
5.进一步的，基准台的下表面与支撑块的上表面平行设置，基准台的下表面与测试台的表面贴合设置。
6.进一步的，检具本体的表面喷涂有耐磨层。
7.进一步的，支撑块的上端侧壁上开设有若干避让槽。
8.进一步的，基准台的四角上均设有被测零件测试尺寸时的安装导向孔。
9.进一步的，检具本体的截面形状呈倒“t”字型。
10.进一步的，基准台与支撑块为一体成型结构。
11.本实用新型的有益效果是：本实用新型设计巧妙，成本低，体积小，精度高，解决了支架卡脚尺寸难以测量的问题，为产品的开发避免了诸多不必要的麻烦，为此类支架尺寸的测试提供了一种较容易的实现方式，可在实验室等测试场合进行方法的普及和应用。
附图说明
12.下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
13.图1是本实用新型的优选实施例的结构示意图；
14.图2是本实用新型被测试零件的结构示意图；
15.图3是图2的另一方向的结构示意图；
16.图中：1.支撑块，2.基准台，3.定位销，4.被测零件，5.检具本体，6.耐磨层，7.避让槽，8.安装导向孔，
17.41.被测零件卡脚测试面，42.被测零件定位孔，43.限位筋。
具体实施方式
18.现在结合附图和优选实施例对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
19.如图1所示的一种用于辅助测试支架尺寸的检具，用于放置在测试台上，对被测零件4进行检测，如图2～3所示，被测零件4的四侧边的中间位置处设有被测零件卡脚测试面41，被测零件4的底面上具有2个被测零件定位孔42，被测零件4的顶端内壁上设有4个限位筋43。
20.一种用于辅助测试支架尺寸的检具，包括检具本体5，检具本体5的截面形状呈倒“t”字型，检具本体5包括支撑块1和基准台2，所述基准台2上安装有支撑块1，被测零件4套在支撑块1上，支撑块1的上表面与被测零件4上的限位筋43接触，基准台2上安装有定位销3，定位销3插入被测零件4上的被测零件定位孔42内。
21.其中，基准台2的下表面与支撑块1的上表面平行设置，基准台2的下表面与测试台的表面贴合设置。基准台2与支撑块1为一体成型结构，直接采用高精度加工中心制造而成，能保证支撑块1上表面与基准台2下表面平行度以及位置度关系的高精度要求。
22.检具本体5的表面喷涂有耐磨层6，耐磨层6为铝合金材质的耐磨，并且表面进行发黑和硬化处理，拥有较高的耐磨性。
23.支撑块1的上端侧壁上开设有若干避让槽7，便于被测零件4套在支撑块1上。
24.基准台2的四角上均设有被测零件4测试尺寸时的安装导向孔8，便于被测零件4放置在检具上，起导向作用，便于使用。
25.使用方法：
26.步骤1：检具本体5放在已经校准过的测试台上(测试台为三坐标测试台或其他二次元测试装置)，放置时应当将基准台2的下表面与测试台面紧密贴合；
27.步骤2：将被测零件4套在检具本体5上：被测零件定位孔42与定位销3套合，限位筋43与支撑块1的上表面贴合；
28.步骤3：此时，支撑块1的上表面可视为限位筋43的表面，测试台通过测试探头在支撑块1的上表面上取点(一般3个即可)作为测量坐标系，并再次在被测试支架的两个被测零件定位孔42上取点以完善坐标系；最后再在被测零件卡脚测试面41上取测试点，此时可得到测试点在坐标系中的具体坐标位置；
29.步骤4：试点坐标位置与被测零件4的3d数据进行对比后得出尺寸的公差情况。
30.以上说明书中描述的只是本实用新型的具体实施方式，各种举例说明不对本实用新型的实质内容构成限制，所属技术领域的普通技术人员在阅读了说明书后可以对以前所述的具体实施方式做修改或变形，而不背离实用新型的实质和范围。


技术特征：
1.一种用于辅助测试支架尺寸的检具，用于放置在测试台上，对被测零件(4)进行检测，包括检具本体(5)，其特征在于：所述的检具本体(5)包括支撑块(1)和基准台(2)，所述基准台(2)上安装有支撑块(1)，被测零件(4)套在支撑块(1)上，支撑块(1)的上表面与被测零件(4)上的限位筋(43)接触，基准台(2)上安装有定位销(3)，定位销(3)插入被测零件(4)上的被测零件定位孔(42)内。2.如权利要求1所述的一种用于辅助测试支架尺寸的检具，其特征在于：所述的基准台(2)的下表面与支撑块(1)的上表面平行设置，基准台(2)的下表面与测试台的表面贴合设置。3.如权利要求1所述的一种用于辅助测试支架尺寸的检具，其特征在于：所述的检具本体(5)的表面喷涂有耐磨层(6)。4.如权利要求1所述的一种用于辅助测试支架尺寸的检具，其特征在于：所述的支撑块(1)的上端侧壁上开设有若干避让槽(7)。5.如权利要求1所述的一种用于辅助测试支架尺寸的检具，其特征在于：所述的基准台(2)的四角上均设有被测零件(4)测试尺寸时的安装导向孔(8)。6.如权利要求1所述的一种用于辅助测试支架尺寸的检具，其特征在于：所述的检具本体(5)的截面形状呈倒“t”字型。7.如权利要求1所述的一种用于辅助测试支架尺寸的检具，其特征在于：所述的基准台(2)与支撑块(1)为一体成型结构。

技术总结
本实用新型涉及检具技术领域，尤其是一种用于辅助测试支架尺寸的检具。检具本体包括支撑块和基准台，所述基准台上安装有支撑块，被测零件套在支撑块上，支撑块的上表面与被测零件上的限位筋接触，基准台上安装有定位销，定位销插入被测零件上的被测零件定位孔内。设计巧妙，成本低，体积小，精度高，解决了支架卡脚尺寸难以测量的问题，为产品的开发避免了诸多不必要的麻烦，为此类支架尺寸的测试提供了一种较容易的实现方式，可在实验室等测试场合进行方法的普及和应用。行方法的普及和应用。行方法的普及和应用。


技术研发人员：严帅
受保护的技术使用者：常州星宇车灯股份有限公司
技术研发日：2022.07.28
技术公布日：2022/10/21