测试连接器及测试系统的制作方法

1.本实用新型涉及电连接器技术领域，特别是涉及一种测试连接器及测试系统。


背景技术：

2.随着通讯信息技术的迅速发展，移动通讯设备越来越小型化，主机内部硬件与信号通道的集成化越来越高，对于电子产品的信号传输速度要求越来越高。对于连接器而言，要求连接器的结构要满足当今电子产品结构布局紧凑、产品小型化的同时，具有高频传输通道，且各信号端子之间互不干扰。对于需要测试两个高频传输通道或者多个高频传输通道的连接器而言，为防止信号干扰，通常采用单通道的测试方法，在测试过程中需要拆装测试连接器或者移动测试工位才能完成，测试过程繁琐，效率低下，无法满足生产需求。
3.因此，亟需一种可以同时测试连接器的两个高频传输通道，有效防止发生信号干扰的测试连接器及测试系统。


技术实现要素：

4.本技术实施例提供一种测试连接器，同时测试连接器的两个高频传输通道，防止发生信号干扰，测试过程简单高效且测试稳定性高。
5.为了实现上述目的，本实用新型采取的技术方案是：
6.一种测试连接器，包括外壳、第一弹簧、固定壳、第二弹簧、可动壳、中心针、第一绝缘件和第二绝缘件，其中：
7.所述固定壳包括柱状主体，设置在所述柱状主体上的限位环，位于所述柱状主体下侧的嵌合部以及位于所述嵌合部下侧的限位部，所述固定壳还包括两个轴向贯穿所述柱状主体、所述嵌合部以及所述限位部的安装孔，所述限位部包括一对相交的长对角线和短对角线，所述限位部关于所述长对角线与所述短对角线的交点呈中心对称，所述安装孔位于所述长对角线的两端；
8.所述柱状主体套设在所述外壳的下侧，所述第一弹簧套设在所述外壳的外侧且位于所述限位环的上侧面与所述外壳之间；
9.所述可动壳包括主体部与插合部，所述主体部套设在所述柱状主体的下侧，所述第二弹簧套设在所述柱状主体的外侧且位于所述限位环的下侧面与所述主体部之间，在外力作用下，所述可动壳对所述第二弹簧施加向上的压力使得所述可动壳相对于所述固定壳向上移动；
10.所述中心针固定在所述安装孔内，所述中心针的上端与线缆的内导体电性连接，所述中心针的针头凸于所述限位部的下表面，所述内导体通过所述第一绝缘件与所述固定壳绝缘连接，所述中心针通过所述第二绝缘件固定所述针头并与所述固定壳绝缘连接。
11.优选地，所述限位部的下表面上设有凹槽结构。
12.优选地，所述插合部靠近所述主体部的一侧设有容纳所述嵌合部的嵌合槽，远离所述主体部的一侧设有容纳所述限位部的限位槽，所述限位槽的底部设有导引面。
13.优选地，所述柱状主体的下侧周向上设有第一通孔结构，所述主体部上设有与所述第一通孔结构匹配的第二通孔结构，所述第二通孔结构沿着轴向的长度大于所述第一通孔结构沿着轴向的长度，所述测试连接器还包括销钉，所述销钉贯穿所述第一通孔结构与所述第二通孔结构。
14.优选地，还包括固定法兰，所述固定法兰套设在所述外壳外侧，且位于所述第一弹簧上侧。
15.优选地，所述长对角线的两端设有扇形圆弧结构。
16.优选地，所述柱状主体上侧设有凸台结构，所述凸台结构与所述线缆的屏蔽层电性接触。
17.一种测试系统，包括上述任一种测试连接器，还包括线缆、同轴接头与待测连接器，其中：所述测试连接器与所述同轴接头通过所述线缆电性连接，当所述测试系统处于测试状态时，所述中心针与所述待测连接器的待测信号端子电性接触。
18.优选地，所述外壳上侧设有热缩套管，所述热缩套管用于固定所述线缆。
19.优选地，当所述测试系统处于测试状态时，所述中心针与所述待测信号端子插接以实现电性接触。
20.本实用新型的有益效果在于：通过设置两个中心针，可以同时对两个信号传输通道进行测试，有助于提高测试效率；将两个安装孔设在限位部的长对角线的两端，增大了其信号阻隔率，有效防止中心针之间发生干扰，同时可以有效避免测试连接器形变量过大时，中心针因接触而发生短路或者相互碰撞，从而有助于提高测试连接器的测试稳定性能；通过第一弹簧与第二弹簧的设置，使得测试连接器具备弹性压缩行程和对接导向的作用，有助于提高测试连接器的测试精度。
附图说明
21.图1为本实用新型实施例中测试连接器的结构示意图；
22.图2为本实用新型实施例中测试连接器另一视角的结构示意图；
23.图3为本实用新型实施例中测试连接器的结构爆炸示意图；
24.图4为本实用新型实施例中测试连接器的剖面结构示意图；
25.图5为本实用新型实施例中固定壳的结构示意图；
26.图6为本实用新型实施例中可动壳的结构示意图；
27.图7为本实用新型实施例中测试系统的结构示意图；
28.图8为本实用新型实施例中测试系统(不含待测连接器)的剖面结构示意图；
29.图9为本实用新型实施例中被测连接器的结构示意图。
30.附图标记：10、测试连接器；11、外壳；12、第一弹簧；13、固定壳；131、柱状主体；1311、第一通孔结构；132、限位环；133、嵌合部；134、限位部；1341、凹槽结构；1342、圆弧结构；135、安装孔；136、凸台结构；14、第二弹簧；15、可动壳；151、主体部；1511、第二通孔结构；152、插合部；1521、嵌合槽；1522、限位槽；1523、导引面；16、中心针；161、针头；17、第一绝缘件；18、第二绝缘件；19、销钉；20、同轴接头；30、待测连接器；31、待测信号端子；40、线缆；41、内导体；42、绝缘层；43、屏蔽层；50、固定法兰；60、热缩套管。
具体实施方式
31.为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施的限制。
32.本技术实施例通过提供一种测试连接器及测试系统，解决现有技术中测试具有两个高频测试通道的连接器采用单通道的测试方法，测试过程繁琐，效率低下的技术问题。需要说明的是，在本技术中，测试系统处于测试状态时，测试连接器相对于待测连接器所在的方向为上、上侧、上部、上端或者顶、顶部，与之相反的方向为下、下侧、下部、下端或者底、底部。
33.如图1至图6所示，为本技术实施例：
34.一种测试连接器10，包括外壳11、第一弹簧12、固定壳13、第二弹簧14、可动壳15、中心针16、第一绝缘件17和第二绝缘件18。其中，如图5所示，固定壳13包括柱状主体131，设置在柱状主体131上的限位环132，位于柱状主体131下侧的嵌合部133以及位于嵌合部133下侧的限位部134。固定壳13还包括两个轴向贯穿柱状主体131、嵌合部133以及限位部134的安装孔135。限位部134包括一对相交的长对角线和短对角线，限位部134关于长对角线与短对角线的交点呈中心对称，安装孔135位于该长对角线的两端。需要说明的是，长对角线与短对角线指的是限位部134垂直于固定壳13的轴向的截面的两条对角线，其中长对角线的长度大于短对角线的长度。柱状主体131套设在外壳11的下侧，第一弹簧12套设在外壳11的外侧且位于限位环132的上侧面与外壳11之间。
35.如图6所示，可动壳15包括主体部151与插合部152，主体部151套设在柱状主体131的下侧，第二弹簧14套设在柱状主体131的外侧，且位于限位环132的下侧面与主体部151之间。在外力作用下，可动壳15对第二弹簧14施加向上的压力使得可动壳15相对于固定壳13向上移动。
36.中心针16固定在安装孔135内，线缆40穿过外壳11，并沿着其轴向延伸，中心针16的上端与线缆40的内导体41电性连接，中心针16的针头161凸于限位部134的下表面，内导体41通过第一绝缘件17与固定壳13绝缘连接，中心针16通过第二绝缘件18固定针头161，并与固定壳13绝缘连接。一般而言，中心针16的上端与内导体41通过焊接的方式固定在一起。第一绝缘件17与第二绝缘件18在使中心针16与固定壳13绝缘连接的同时，还具有保护与固定中心针16的作用。
37.为解决现有技术中测试具有两个高频测试通道的连接器采用单通道的测试方法，测试过程繁琐，效率低下的技术问题，本技术通过设置两个中心针，可以同时对两个信号传输通道进行测试，有助于提高测试效率；将两个安装孔设在限位部的长对角线的两端，增大了其信号阻隔率，有效防止中心针之间发生干扰，同时可以有效避免测试连接器形变量过大时，中心针因接触而发生短路或者相互碰撞，从而有助于提高测试连接器的测试稳定性能；通过第一弹簧与第二弹簧的设置，使得测试连接器具备弹性压缩行程和对接导向的作用，有助于提高测试连接器的测试精度。
38.优选地，限位部13的下表面上设有凹槽结构1341，能够进一步提高信号的阻隔率，
避免两个中心针16之间发生信号干扰。
39.优选地，插合部152靠近主体部151的一侧设有容纳嵌合部133的嵌合槽1521，远离主体部151的一侧设有容纳限位部134的限位槽1522，限位槽1522的底部设有导引面1523。导向面1523导引测试连接器10与待测连接器30(后文示出)初步相对接，通过第二弹簧14辅助测试连接器10与待测连接器30继续导向至相互吻合。
40.优选地，柱状主体131的下侧周向上设有第一通孔结构1311，主体部151上设有与第一通孔结构1311匹配的第二通孔结构1511，第二通孔结构1511沿着轴向的长度大于第一通孔结构1311沿着轴向的长度。测试连接器10还包括销钉19，销钉19贯穿第一通孔结构1311与第二通孔结构1511。通过销钉19将固定壳13与可动壳15连接在一起，沿着轴向方向第二通孔结构1511大于第一通孔结构1311的长度才能确保可动壳15可相对于固定壳13向上移动。
41.优选地，测试连接器10还包括固定法兰50，固定法兰50套设在外壳11的外侧，且位于第一弹簧12的上侧。当测试连接器10处于使用状态时，将固定法兰50安装在测试装夹治具上，第一弹簧17处于压缩状态。在外力作用下，第二弹簧13受到压缩，可动壳15相对于固定壳13向上移动，当可动壳15不再向上移动时，压力传给第一弹簧12，第一弹簧12受到压力增大发生压缩，外壳11、固定壳13相对于固定法兰50整体上移，有助于控制测试连接器10的压缩行程。
42.优选地，长对角线的两端均设有扇形圆弧结构1342。设置圆弧结构1342在提高长对角线的长度的同时，便于定位安装孔135的位置，且具有限位作用，便于测试连接器的装配与组装，以及测试过程中与待测连接器30快速进行对接。
43.优选地，柱状主体131上侧设有凸台结构136，凸台结构136与线缆40的屏蔽层43电性接触。更为具体地，安装孔135在凸台结构136上延伸，截面呈半圆形，这样不仅便于线缆40的安装，且屏蔽层43紧贴凸台结构136与固定壳13电性接触，形成良好的电磁屏蔽，防止测试信号发生泄漏或产生干扰。
44.一种测试系统，如图7至9所示，包括上述任一种测试连接器10，还包括线缆40、同轴接头20与待测连接器30。其中，线缆40包括由内到外依次设置的内导体41、绝缘层42与屏蔽层43。测试连接器10与同轴接头20通过线缆40的内导体41实现电性连接，即内导体41的一端与测试连接器10的中心针16电性连接，另一端与同轴接头20的信号端子或者信号针电性连接。当测试系统处于测试状态时，中心针16与待测连接器30的待测信号端子31电性接触。即，在测试状态下，待测信号端子31将射频信号经由中心针16传递给线缆40中的内导体41，再经由内导体41传递给与测试设备相接的同轴接头，由此可以得到待测连接器30的射频性能。
45.优选地，外壳11上侧设有热缩套管60，热缩套管60用于固定与保护线缆40。
46.优选地，当测试系统处于测试状态时，中心针16与待测信号端子31插接以实现电性接触，与此同时，若待测信号端子31表面存在污垢，当测试完成后，中心针16脱离待测信号端子31时可将污垢一并带走，具有自清洁的作用。
47.如图7与图8所示，在一具体实施方式中，测试系统中测试连接器10、同轴接头20以及线缆40的具体装配过程如下：首先将线缆40一端的内导体41与同轴接头20连接在一起，另一端的内导体41穿过第一绝缘件17与中心针16焊接在一起。然后将外壳11穿过固定法兰
50后，在外壳11相对于固定法兰50的下端处安装第一弹簧12。在外壳11的顶部提前套上热缩套管60，将线缆40与中心针16穿过装配好固定法兰50与第一弹簧12的外壳11，接着将中心针16不与内导体41焊接的一端穿上第二绝缘件18，插入固定壳13的两个安装孔135中，将固定壳13与外壳11组装在一起由对应治具卯压固定至预期位置。再接着将第二弹簧14套在固定壳13上限位环132的下端，再把可动壳15与固定壳13装配在一起，将两颗销钉分别穿过第二通孔结构1511与第一通孔结构1311固定安装好，然后将提前套好的热缩套管60加热缩小以得到成品。
48.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
49.以上所述实施例仅表达了本实用新型的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。