一种光电编码器的校准方法和系统与流程

1.本发明涉及光电编码器领域，具体涉及一种光电编码器的校准方法和系统。


背景技术：

2.光电编码器在机电装备尤其是数控机床上应用广泛。光电编码器通常由光源、光电码盘、光电传感器及信号处理电路组成。光电码盘通常由光学玻璃制成，光学玻璃上刻有许多同心码道，每个码道上都有按一定规律排列的透光和不透光部分组成的图形。光电编码器工作时，光源发出的光投射在光电码盘上，光电码盘在电机的带动下旋转，光电传感器不动，光线透过码盘的图形照射到光电传感器上，由光电传感器根据接收的光信号输出电信号。在光电编码器的安装过程中，需要对光电码盘和光电传感器的相对位置进行校准，以使其满足预设要求。
3.相关技术中对光电码盘和光电传感器的相对位置进行校准时，一般由操作者利用显微镜、平面反射镜观察所述码道刻线和所述传感器图形，由平面反射镜反射所述码道刻线和所述传感器图形，由显微镜观察所述平面反射镜反射的图形，在所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置不符合预设要求时进行位置调节。平面反射镜存在倾斜放置时会因为放置的位置误差产生偏斜，由于显微镜视场较小，较小的偏移倾斜也会造成光线射出视场导致无法观察的问题，所以该方案装调时较为困难，需要多次调节传感器/码盘-平面反射镜-显微镜的空间关系，使得光电传感器的校准变得低效且操作复杂。


技术实现要素：

4.本发明的主要目的是提供一种光电编码器的校准方法、装置、系统及存储介质，旨在解决现有的光电编码器低效且操作复杂的技术问题。
5.为实现上述目的，本发明提出的光电编码器的校准方法，包括：
6.对码盘和光电传感器进行初定位；
7.在所述码盘上的码道刻线和所述光电传感器上用于对位的传感器图形朝向的一侧放置角反射棱镜，基于所述角反射棱镜的反射光观察所述码道刻线和所述传感器图形；
8.在所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置不符合预设要求时进行位置调节。
9.优选地，在所述码盘上的码道刻线和所述光电传感器上用于对位的传感器图形朝向的一侧放置角反射棱镜，包括：所述放置角反射棱镜时，将所述角反射棱镜的第一反射面朝向所述码道刻线和所述传感器图形；
10.基于所述角反射棱镜的反射光观察所述码道刻线和所述传感器图形，包括：在所述角反射棱镜的第一反射面朝向的一侧放置显微镜，通过所述显微镜观察所述码道刻线和所述传感器图形。
11.优选地，所述第一反射面为所述角反射棱镜的圆形底面。
12.优选地，所述角反射棱镜为立方角锥棱镜。
13.优选地，对码盘和光电传感器进行初定位，包括：
14.将码盘安装在电机主轴上；及，安装表面上设有所述光电传感器的印刷电路板pcba；所述光电传感器和所述码盘位于所述pcba的同一侧；
15.所述位置调节通过对所述pcba的位置调节实现。
16.优选地，在所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置不符合预设要求时进行位置调节，包括：
17.在所述码盘转动的情况下，观察所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置关系；
18.在观察到所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及在垂直方向的相对位置中至少一项不符合预设要求时，在相应方向上进行所述pcba的位置调节。
19.优选地，在观察到所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及在垂直方向的相对位置中至少一项不符合预设要求时，在相应方向上进行所述pcba的位置调节，包括：
20.在观察到所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置符合预设要求，所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置不符合预设要求的情况下，调节所述pcba在垂直方向的位置直至所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置符合预设要求，再确定所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置以及所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置是否均符合预设要求，在确定出均符合预设要求的情况下，完成位置调节。
21.优选地，在观察到所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及在垂直方向的相对位置中至少一项不符合预设要求时，在相应方向上进行所述pcba的位置调节，包括：
22.在观察到所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置符合预设要求，所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置不符合预设要求的情况下，调节所述pcba在水平方向的位置直至所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置符合预设要求，再确定所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置以及所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置是否均符合预设要求，在确定出均符合预设要求的情况下，完成位置调节。
23.优选地，在观察到所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及在垂直方向的相对位置中至少一项不符合预设要求时，在相应方向上进行所述pcba的位置调节，包括：
24.在观察到所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置不符合预设要求，所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置不符合预设要求的情况下，分别调节所述pcba在水平方向的位置直至所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置符合预设要求，以及调节所述pcba在垂直方向的位置直至所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置符合预设要求；再确定所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置以及所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置是否均符合预设要求，在确定出均符合预设要求的情况下，完成位置调节。
25.本发明还提供了一种光电编码器的校准系统，所述系统包括：
26.电机主轴；
27.安装在电机主轴上的码盘；
28.表面上设有所述光电传感器的印刷电路板pcba,所述光电传感器和所述码盘位于所述pcba的同一侧；
29.在所述码盘上的码道刻线和所述光电传感器上用于对位的传感器图形朝向的一侧放置的角反射棱镜；
30.在所述角反射棱镜的第一反射面朝向的一侧放置显微镜，所述角反射棱镜的第一反射面朝向所述码道刻线和所述传感器图形，所述显微镜设置为用于观察所述码道刻线和所述传感器图形；
31.校准设备，设置为在观察到所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置不符合预设要求时，通过调节所述pcba的位置从而对所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置进行调节。
32.本发明技术方案中，对码盘和光电传感器进行初定位；在所述码盘上的码道刻线和所述光电传感器上用于对位的传感器图形朝向的一侧放置角反射棱镜，基于所述角反射棱镜的反射光观察所述码道刻线和所述传感器图形，保证了确保成像的稳定，不用频繁调整传感器、码盘、角反射棱镜的空间关系；在所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置不符合预设要求时进行位置调节，进而简化了位置调节的复杂度，提高了校准效率。
附图说明
33.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
34.图1为本发明实施例提供的一种光电编码器校准方法流程图；
35.图2为本发明实施例提供的一种显微镜、立方角锥棱镜、码盘、光电传感器的相对位置关系示意图；
36.图3为本发明实施例提供的进行位置调节的方法流程图；
37.图4为本发明实施例提供的另一种进行位置调节的方法流程图；
38.图5为本发明实施例提供的另一种进行位置调节的方法流程图；
39.图6为本发明实施例提供的另一种进行位置调节的方法流程图；
40.图7为本发明实施例提供的一种码道刻线和传感器图形的相对位置示意图；
41.图8为本发明应用示例提供的一种光电编码器校准方法流程图。
42.本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
43.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
44.需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用
于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
45.另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
46.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
47.另外，本发明各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
48.本发明实施例提供了一种校准方法，该方法可应用于光电编码器，所述光电编码器的种类可以为增量式光电编码器、绝对式光电编码器和混合式光电编码器；如图1所示，所述方法包括：
49.步骤s101对码盘和光电传感器进行初定位；
50.步骤s102在所述码盘上的码道刻线和所述光电传感器上用于对位的传感器图形朝向的一侧放置角反射棱镜，基于所述角反射棱镜的反射光观察所述码道刻线和所述传感器图形；
51.步骤s103在所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置不符合预设要求时进行位置调节。
52.本技术发明人经推理研究发现：
53.设经反射棱镜反射所成的像矢量为
54.当反射棱镜绕空间任意轴转动α角后，经反射棱镜反射所成的像矢量为其中，s为反射棱镜绕轴旋转的旋转矩阵；t为经反射棱镜反射的次数；q为反射棱镜绕轴转α角的旋转矩阵；可见，当反射棱镜发生转动后，经反射棱镜反射所成的像矢量也会发生像偏转。
55.但是对于角反射棱镜这一种特殊的反射棱镜，其棱镜特征方向的矩阵方程式为：
[0056][0057]
λ＝(-1)
t
(t为反射次数)
[0058]
其中，r为角反射棱镜的作用矩阵；e为单位矩阵；
[0059][0060]
由于为任意值，因此(r-λe)＝0；
[0061]
根据反射棱镜的微量转动定理，得到像偏转：
[0062][0063]
基于(r-λe)＝0，可以得到：
[0064][0065]
所以像偏转极值为:
[0066][0067]
说明角反射棱镜在空间绕任意轴微量转动后，经角反射棱镜所成的像矢量不会产生像偏转，光线进行角反射棱镜中后,不管角反射棱镜如何晃动,出射光线始终与入射光线平行,而且光程保持不变，这样使用角反射棱镜观察所述码道刻线和所述传感器图形时，可以确保成像的稳定，不用频繁调整传感器、码盘、反射镜的空间关系，校准过程更加容易。
[0068]
本发明技术方案中，由于确保了成像的稳定，进而简化了对光电编码器进行校准时进行位置调节的复杂度，提高了校准效率。
[0069]
在一示例性实施例中，在所述码盘上的码道刻线和所述光电传感器上用于对位的传感器图形朝向的一侧放置角反射棱镜，包括：所述放置角反射棱镜时，将所述角反射棱镜的第一反射面朝向所述码道刻线和所述传感器图形；
[0070]
基于所述角反射棱镜的反射光观察所述码道刻线和所述传感器图形，包括：在所述角反射棱镜的第一反射面朝向的一侧放置显微镜，通过所述显微镜观察所述码道刻线和所述传感器图形。
[0071]
本技术实施例记载的显微镜、角反射棱镜、码盘、光电传感器的相对位置关系可以如图2所示，图中，角反射棱镜可以为立方角锥棱镜；光电传感器通过表面贴装技术(surface mounted technology，smt)贴装在pcb板，贴装了光电传感器的pcb板被称为pcba(printed circuit board assembly)；显微镜的镜面沿观察位置主光线放置。
[0072]
在一示例性实施例中，所述角反射棱镜的第一反射面为所述角反射棱镜的圆形底面。
[0073]
在一示例性实施例中，对码盘和光电传感器进行初定位，包括：
[0074]
将码盘安装在电机主轴上；及，安装表面上设有所述光电传感器的印刷电路板pcba；所述光电传感器和所述码盘位于所述pcba的同一侧；
[0075]
所述位置调节通过对所述pcba的位置调节实现。
[0076]
在一示例性实施例中，在所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置不符合预设要求时进行位置调节，包括：
[0077]
在所述码盘转动的情况下，观察所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置关系；
[0078]
在观察到所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及在垂直方向的相对位置中至少一项不符合预设要求时，在相应方向上进行所述pcba的位置调节。
[0079]
在一示例性实施例中，在观察到所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及在垂直方向的相对位置中至少一项不符合预设要求时，在相应方向上进行所述pcba的位置调节，包括：
[0080]
在观察到所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置符合预设要求，所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置不符合预设要求的情况下，调节所述pcba在垂直方向的位置直至所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置符合预设要求，再确定所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置以及所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置是否均符合预设要求，在确定出均符合预设要求的情况下，完成位置调节。
[0081]
在一示例性实施例中，在观察到所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及在垂直方向的相对位置中至少一项不符合预设要求时，在相应方向上进行所述pcba的位置调节，包括：
[0082]
在观察到所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置符合预设要求，所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置不符合预设要求的情况下，调节所述pcba在水平方向的位置直至所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置符合预设要求，再确定所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置以及所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置是否均符合预设要求，在确定出均符合预设要求的情况下，完成位置调节。
[0083]
在一示例性实施例中，在观察到所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及在垂直方向的相对位置中至少一项不符合预设要求时，在相应方向上进行所述pcba的位置调节，包括：
[0084]
在观察到所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置不符合预设要求，所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置不符合预设要求的情况下，分别调节所述pcba在水平方向的位置直至所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置符合预设要求，以及调节所述pcba在垂直方向的位置直至所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置符合预设要求；再确定所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置以及所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置是否均符合预设要求，在确定出均符合预设要求的情况下，完成位置调节。
[0085]
下面给出了几种根据观察到的所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置，进行位置调节的示例：
[0086]
示例一，如图3所示
[0087]
步骤s301在码盘转动的情况下，观察所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置关系；
[0088]
步骤s302观察到所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置，均满足预设要求，则不需要进行位置调节，完成校准。
[0089]
示例二，如图4所示
[0090]
步骤s401在码盘转动的情况下，观察所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置关系；
[0091]
步骤s402观察到码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置满足预设要求，码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置不满足预设要求，则继续对码道刻
线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置进行调节，直至其满足对应的预设要求；
[0092]
步骤s403继续观察所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置关系；
[0093]
步骤s404观察到所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置，均满足预设要求，完成校准。
[0094]
由于对码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置进行调节后，可能会改变码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，造成在水平方向的相对位置不在满足预设要求，为确保校准的准确，本应用示例记载的技术方案继续确定码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及在垂直方向的相对位置是否均满足预设要求，只有均满足预设要求，才完成校准。
[0095]
示例三，如图5所示
[0096]
步骤s501在码盘转动的情况下，观察所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置关系；
[0097]
步骤s502观察到码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置满足预设要求，码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置不满足预设要求，则继续对码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置进行调节，直至其满足对应的预设要求；
[0098]
步骤s503继续观察所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置关系；
[0099]
步骤s504观察到所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置，均满足预设要求，完成校准。
[0100]
由于对码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置进行调节后，可能会改变码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置，造成在垂直方向的相对位置不在满足预设要求，为确保校准的准确，本应用示例记载的技术方案继续确定码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及在垂直方向的相对位置是否均满足预设要求，只有均满足预设要求，才完成校准。
[0101]
示例四，如图6所示
[0102]
步骤s601在码盘转动的情况下，观察所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置关系；
[0103]
步骤s602观察到码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置满足预设要求，码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置不满足预设要求，则继续对码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置进行调节，直至其满足对应的预设要求；
[0104]
步骤s603继续观察所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置关系；
[0105]
步骤s604观察到码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置满足预设要求，码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置不满足预设要求，则继续对码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置进行调节，直至其满足对应的预设要求；
[0106]
步骤s605观察到所述码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置，以及所述码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置，均满足预设要求，完成校准。
[0107]
在一示例性实施例中，确定码道刻线和所述传感器图形在水平方向的相对位置是否满足预设要求，包括：
[0108]
确定码道刻线与传感器图形在水平方向的边界的间距是否在预设水平间距范围内，确定出在预设间距范围内，则满足预设要求。
[0109]
优选的，码道刻线与传感器图形在水平方向的边界的间距为0，此时码道刻线与传感器图形在水平方向的边界完全重合。
[0110]
图7所示了一种码道刻线和传感器图形的相对位置示意图，图中亮度高的为传感器图形。图7中，码道刻线与传感器图形在水平方向的边界并不完全重合。
[0111]
在一示例性实施例中，确定码道刻线和所述传感器图形在垂直方向的相对位置是否满足预设要求，包括：
[0112]
确定传感器图形的中心位置距离码道刻线上下边界的距离是否分别在对应的预设垂直间距范围内，确定出所述中心位置距离码道刻线上边界的距离在预设第一垂直间距范围内，且所述中心位置距离码道刻线下边界的距离在预设第二垂直间距范围内，则满足预设要求。
[0113]
优选的，传感器图形的中心位置与码道刻线上下边界的距离相等。
[0114]
图7中，传感器图形的中心位置与码道刻线上边界的距离大于该中心位置与码道刻线下边界的距离。
[0115]
下面以一个具体的应用示例对本技术实施例记载的应用于光电编码器的校准方法进行说明。
[0116]
将码盘安装在电机主轴上，使电机能够带动码盘转动；
[0117]
安装表面上设有所述光电传感器的印刷电路板pcba，所述光电传感器和所述码盘位于所述pcba的同一侧；
[0118]
在所述码盘上的码道刻线和所述光电传感器上用于对位的传感器图形朝向的一侧放置角反射棱镜；放置角反射棱镜时，将所述角反射棱镜的第一反射面朝向所述码道刻线和所述传感器图形；
[0119]
在所述角反射棱镜的第一反射面朝向的一侧放置显微镜，通过所述显微镜观察所述码道刻线和所述传感器图形；
[0120]
具体的，保留其中一个立方角锥棱镜的反射面正对所要观察的码盘刻线区域和传感器图形区域，通过微调显微镜进行视场调整，显微镜调焦，可以观察到码盘刻线和传感器图形；本应用示例不会因为立方角锥棱镜调整导致光轴变化，避免了调节过程繁琐且困难，提高了调节效率；
[0121]
安装完毕后，执行如下操作，如图8所示：
[0122]
步骤s801在码盘转动的情况下，观察所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置关系；
[0123]
连续转动码盘，可以看到码盘刻线围绕传感器图形边线上下连续浮动，此处转速不宜太高，确保随时可以停机调节；
[0124]
步骤s802确定码道刻线与传感器图形水平方向的边界是否完全重合；如果不完全重合，执行步骤s803；如果完全重合，执行步骤s804；
[0125]
步骤s803调节pcba的水平位置，直至码道刻线与传感器图形水平方向的边界完全重合；
[0126]
步骤s804确定传感器图形的中心位置与码道刻线上下边界的距离是否相等，如果相等，执行步骤s805；如果不相等，执行步骤s806；
[0127]
步骤s805说明码道刻线和传感器图形在水平方向的相对位置满足预设要求，码道
刻线和传感器图形在垂直方向的相对位置满足预设要求，完成校准。
[0128]
步骤s806调节pcba的垂直位置，直至传感器图形的中心位置与码道刻线上下边界的距离相等，返回执行步骤s802。
[0129]
本技术实施例记载的校准方法中的全部或部分步骤可以通过计算机程序实现，对应的，本技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如前通过计算机程序实现的方法。所述存储介质是非短暂性(英文：non-transitory)介质，例如随机存取存储器，只读存储器，快闪存储器，硬盘，固态硬盘，磁带(英文：magnetic tape)，软盘(英文：floppy disk)，光盘(英文：optical disc)及其任意组合。由于本计算机可读存储介质存储的程序可实现上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。
[0130]
本技术实施例还提供了一种光电编码器的校准系统，所述系统包括：
[0131]
电机主轴；
[0132]
安装在电机主轴上的码盘；
[0133]
表面上设有所述光电传感器的印刷电路板pcba,所述光电传感器和所述码盘位于所述pcba的同一侧；
[0134]
在所述码盘上的码道刻线和所述光电传感器上用于对位的传感器图形朝向的一侧放置的角反射棱镜；
[0135]
在所述角反射棱镜的第一反射面朝向的一侧放置显微镜，所述角反射棱镜的第一反射面朝向所述码道刻线和所述传感器图形，所述显微镜设置为用于观察所述码道刻线和所述传感器图形；
[0136]
校准设备，设置为在观察到所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置不符合预设要求时，通过调节所述pcba的位置从而对所述码道刻线和所述传感器图形的相对位置进行调节。
[0137]
由于光电编码器的校准系统在进行校准时采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。
[0138]
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。