成像设备状态的无源检测方法及装置、存储介质与流程

1.本技术涉及设备安全技术领域，尤其是涉及到一种成像设备状态的无源检测方法及装置、存储介质、计算机设备。


背景技术：

2.正电子发射断层成像(positron emission tomography，缩写为pet)技术是利用放射性核素示踪剂对组织功能进行显像，目前已广泛应用在疾病诊断，病理研究和药物研发等领域。pet常规质量控制(简称质控)按测试的频度分为日常质控、周质控、月质控、年质控等。其中，pet日常质控是每天扫描计划执行前都要进行的pet/ct状态检测过程，目的是检查设备是否能稳定且良好的运行，以便得到准确的扫描结果和诊断信息。同时，日常质控有助于及时发现问题，进而可以快速处理，以保证医院的pet检查项目可以按计划进行。
3.pet日常质控一般通过外置放射源，采集放射性模体(如ge68，f18，na22等放射源)的γ射线。该方法具有较大的辐射性，技师在操作过程中，会受到一定程度的电离辐射。同时，放射源属于耗材，需要额外花销，增加了医院的使用成本。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本技术提供了一种成像设备状态的无源检测方法及装置、存储介质、计算机设备，避免外置放射源的方式对设备进行质控导致的操作人员受到电离辐射，并且节约了外置放射源的耗材开销，提高了质控安全，节约了质控成本。
5.根据本技术的一个方面，提供了一种成像设备状态的无源检测方法，包括：
6.利用成像设备采集探测器块上的目标粒子，其中，所述目标粒子为所述成像设备的光导辐射产生；
7.获取所述目标粒子的第一单事件数据；
8.依据所述目标粒子的第一单事件数据，识别所述成像设备的探测器块是否正常。
9.可选地，所述利用成像设备采集探测器块上的目标粒子之前，所述方法还包括：
10.获取预设能量区间，并依据所述预设能量区间，设置能窗控制所述成像设备开始工作，其中，所述预设能量区间通过以下步骤获得：
11.在照明条件下控制所述成像设备进行全能窗的无源空扫，获得第一能量计数曲线，以及在无照明条件下控制所述成像设备进行全能窗的无源空扫，获得第二能量计数曲线；
12.基于所述第一能量计数曲线以及所述第二能量计数曲线，统计外部环境中入射光子的能量分布曲线，并基于所述能量分布曲线，获取外部环境入射光子能量分布区间，以及基于所述第二能量计数曲线，获取暗噪声能量分布区间；
13.基于所述外部环境入射光子能量分布区间以及所述暗噪声能量分布区间，获取所述预设能量区间。
14.可选地，所述获取所述目标粒子的第一单事件数据，具体包括：
15.获取所述成像设备的预设电子能量阈值，并筛选所述目标粒子中电子能量小于所述预设电子能量阈值的第一单事件数据，其中，每个所述第一单事件数据包含一个所述目标粒子的位置信息和电子能量信息。
16.可选地，所述依据所述目标粒子的第一单事件数据，识别所述成像设备的探测器块是否正常，具体包括：
17.依据所述第一单事件数据，统计每个所述探测器块对应的第一单事件计数；
18.比较所述探测器块对应的所述第一单事件计数与预设第一阈值，识别所述探测器块是否异常。
19.可选地，所述依据所述目标粒子的第一单事件数据，识别所述成像设备的探测器块是否正常之后，所述方法还包括：
20.识别所述异常探测器块中的待调节光电转换器，并对所述待调节光电转换器进行增益调节；
21.在增益调节后返回至所述利用成像设备采集探测器块上的目标粒子的步骤，基于采集的新的目标粒子，识别所述成像设备中异常的探测器块。
22.可选地，所述对所述待调节光电转换器进行增益调节，具体包括：
23.获取所述目标粒子中电子能量大于或等于所述预设电子能量阈值的第二单事件数据；
24.基于所述第二单事件数据对应的电子能量信息，获取所述目标粒子的真实能量波峰；
25.基于所述真实能量波峰以及所述光导的目标放射性元素对应的预设能量波峰，确定目标调节增益，并按所述目标调节增益，对所述待调节光电转换器进行增益调节。
26.可选地，所述基于采集的新的目标粒子，识别所述成像设备中异常的探测器块，具体包括：
27.获取所述新的目标粒子中电子能量大于或等于所述预设电子能量阈值的第三单事件数据，依据所述第三单事件数据，确定每个探测器块中光电转换器所对应的第三单事件计数；
28.比较每个探测器块中各光电转换器对应的的第三单事件计数与预设第二阈值，识别异常光电转换器。
29.根据本技术的另一方面，提供了一种成像设备状态的无源检测装置，包括：
30.粒子采集模块，用于利用成像设备采集探测器块上的目标粒子，其中，所述目标粒子为所述成像设备的光导辐射产生；
31.事件获取模块，用于获取所述目标粒子的第一单事件数据；
32.识别模块，用于依据所述目标粒子的第一单事件数据，识别所述成像设备的探测器块是否正常。
33.可选地，所述装置还包括：
34.控制模块，用于获取预设能量区间，并依据所述预设能量区间，设置能窗控制所述成像设备开始工作，其中，所述预设能量区间通过以下步骤获得：
35.在照明条件下控制所述成像设备进行全能窗的无源空扫，获得第一能量计数曲线，以及在无照明条件下控制所述成像设备进行全能窗的无源空扫，获得第二能量计数曲
线；
36.基于所述第一能量计数曲线以及所述第二能量计数曲线，统计外部环境中入射光子的能量分布曲线，并基于所述能量分布曲线，获取外部环境入射光子能量分布区间，以及基于所述第二能量计数曲线，获取暗噪声能量分布区间；
37.基于所述外部环境入射光子能量分布区间以及所述暗噪声能量分布区间，获取所述预设能量区间。
38.可选地，所述事件获取模块，具体用于：
39.获取所述成像设备的预设电子能量阈值，并筛选所述目标粒子中电子能量小于所述预设电子能量阈值的第一单事件数据，其中，每个所述第一单事件数据包含一个所述目标粒子的位置信息和电子能量信息。
40.可选地，所述识别模块，具体用于：
41.依据所述第一单事件数据，统计每个所述探测器块对应的第一单事件计数；
42.比较所述探测器块对应的所述第一单事件计数与预设第一阈值，识别所述探测器块是否异常。
43.可选地，所述装置还包括：
44.调节模块，用于所述依据所述目标粒子的第一单事件数据，识别所述成像设备的探测器块是否正常之后，识别所述异常探测器块中的待调节光电转换器，并对所述待调节光电转换器进行增益调节；在增益调节后返回至所述利用成像设备采集探测器块上的目标粒子的步骤，基于采集的新的目标粒子，识别所述成像设备中异常的探测器块。
45.可选地，所述调节模块，具体用于：
46.获取所述目标粒子中电子能量大于或等于所述预设电子能量阈值的第二单事件数据；基于所述第二单事件数据对应的电子能量信息，获取所述目标粒子的真实能量波峰；基于所述真实能量波峰以及所述光导的目标放射性元素对应的预设能量波峰，确定目标调节增益，并按所述目标调节增益，对所述待调节光电转换器进行增益调节。
47.可选地，所述识别模块，还用于：
48.获取所述新的目标粒子中电子能量大于或等于所述预设电子能量阈值的第三单事件数据，依据所述第三单事件数据，确定每个探测器块中光电转换器所对应的第三单事件计数；比较每个探测器块中各光电转换器对应的的第三单事件计数与预设第二阈值，识别异常光电转换器。
49.依据本技术又一个方面，提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现上述成像设备状态的无源检测方法。
50.依据本技术再一个方面，提供了一种计算机设备，包括存储介质、处理器及存储在存储介质上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述成像设备状态的无源检测方法。
51.借由上述技术方案，本技术提供的一种成像设备状态的无源检测方法及装置、存储介质、计算机设备，在成像设备进行无源空扫的质控过程中，通过设备的每个探测器块采集光导自发辐射产生的目标粒子，并对每个探测器块对应的第一单事件数据进行统计，从而依据每个探测器块的第一单事件数据，识别出探测器块中的异常探测器块。本技术实施例基于设备光导的自发辐射，通过采集自发辐射产生的目标粒子，基于目标粒子实现对设
备异常器件的识别，避免外置放射源的方式对设备进行质控导致的操作人员受到电离辐射，并且节约了外置放射源的耗材开销，提高了质控安全，节约了质控成本。
52.上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本技术的具体实施方式。
附图说明
53.此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
54.图1示出了本技术实施例提供的一种成像设备状态的无源检测方法的流程示意图；
55.图2示出了本技术实施例提供的另一种成像设备状态的无源检测方法的流程示意图；
56.图3示出了本技术实施例提供的又一种成像设备状态的无源检测方法的流程示意图；
57.图4示出了本技术实施例提供的一种成像设备状态的无源检测装置的结构示意图。
具体实施方式
58.下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
59.在本实施例中提供了一种成像设备状态的无源检测方法，如图1所示，该方法包括：
60.步骤101，利用成像设备采集探测器块上的目标粒子，其中，所述目标粒子为所述成像设备的光导辐射产生；
61.步骤102，获取所述目标粒子的第一单事件数据；
62.步骤103，依据所述目标粒子的第一单事件数据，识别所述成像设备的探测器块是否正常。
63.在本技术实施例利用成像设备中光导的自发辐射，对设备进行无源质控，无需额外设置放射源。在该实施例中，成像设备具体可以为正电子发射断层成像(positron emission tomography，缩写为pet)设备，在需要对设备进行质控时，启动质控程序，控制设备进行无源空扫，设备的光导会自发辐射产生辐射粒子，基于设备的探测器块对产生的粒子进行采集，并获取其中的目标粒子，得到每个探测器块对应的目标粒子，以便利用目标粒子对设备进行质控。其中，在pet探测器设备的组成中，无论是光导结构，还是光电器件，都会采用光学玻璃作为材料，如冕玻璃，冕玻璃中含有的钾-40(k-40)是钾元素的一种放射性同位素，原子核不稳定，可以自发通过β衰变生成氩-40和钙-40，放出β射线和γ射线，且其半衰期在十几亿年以上。因此，冕玻璃中的k-40本底是一种固有的且稳定的放射源。本技术实施例具体可以将设备光导中的k-40作为放射源，采集的光导辐射产生的目标粒子。
64.进一步，获得每个探测器块对应的目标粒子后，基于目标粒子获取对应的第一单
事件数据，从而基于第一单事件数据，对成像设备的各探测器块进行异常识别，识别出异常的探测器块。
65.在本技术实施例中，可选地，步骤103具体包括：依据所述第一单事件数据，统计每个所述探测器块对应的第一单事件计数；比较所述探测器块对应的所述第一单事件计数与预设第一阈值，识别所述探测器块是否异常。
66.在该实施例中，对于探测器块的异常识别，可以依据第一单事件数据，分别统计每个探测器块对应的第一单事件计数，将第一单事件计数与预设第一阈值进行比较，并在第一单事件计数超过预设第一阈值限定的计数范围时，认为对应的探测器块异常，例如，在某个探测器模块的第一单事件计数超过预设第一阈值的上界时，确定该探测器模块异常。
67.通过应用本实施例的技术方案，在成像设备进行无源空扫的质控过程中，通过设备的每个探测器块采集光导自发辐射产生的目标粒子，并对每个探测器块对应的第一单事件数据进行统计，从而依据每个探测器块的第一单事件数据，识别出探测器块中的异常探测器块。本技术实施例基于设备光导的自发辐射，通过采集自发辐射产生的目标粒子，基于目标粒子实现对设备异常器件的识别，避免外置放射源的方式对设备进行质控导致的操作人员受到电离辐射，并且节约了外置放射源的耗材开销，提高了质控安全，节约了质控成本。
68.进一步的，作为上述实施例具体实施方式的细化和扩展，为了完整说明本实施例的具体实施过程，提供了另一种成像设备状态的无源检测方法，如图2所示，该方法包括：
69.步骤201，获取预设能量区间，并依据所述预设能量区间，设置能窗控制所述成像设备开始工作。
70.在该实施例中，由于本技术采集的是光导自发辐射的粒子，其放射性较低，受暗噪声和部分干扰粒子的影响较大，为排除暗噪声和外部入射粒子对质控的干扰，提升异常器件的识别准确性，进行质控之前，可以先确定受暗噪声和外部入射粒子干扰较小的预设能量区域，从而针对预设能量区间进行无源质控，避免获取到的辐射粒子受暗噪声和外部入射粒子的干扰较大，造成质控结果不准确。
71.本技术实施例中，可选地，所述预设能量区间通过以下步骤获得：
72.s1，在照明条件下控制所述成像设备进行全能窗的无源空扫，获得第一能量计数曲线，以及在无照明条件下控制所述成像设备进行全能窗的无源空扫，获得第二能量计数曲线；
73.s2，基于所述第一能量计数曲线以及所述第二能量计数曲线，统计外部环境中入射光子的能量分布曲线，并基于所述能量分布曲线，获取外部环境入射光子能量分布区间，以及基于所述第二能量计数曲线，获取暗噪声能量分布区间；
74.s3，基于所述外部环境入射光子能量分布区间以及所述暗噪声能量分布区间，获取所述预设能量区间。
75.在该实施例中，基于安置在室内的设备，分别在室内照明和室内黑暗的环境下，进行全能窗的无源空扫，扫描时间相同，获取两组能量计数曲线，即第一能量计数曲线和第二能量计数曲线；利用黑暗环境下的第二能量计数曲线，确定暗噪声的能量分布区间；用照明条件下的各能量计数减去黑暗条件下对应能量的计数，获得机器外部环境中入射光子的能量分布曲线；最后根据前面两种情况下能量的分布情况(即暗噪声能量分布区间和外部环
境入射光子的能量分布区间)，设定合理的能窗，尽可能消除暗噪声和外部入射粒子的干扰，具体可以将暗噪声和外部入射光子集中分布的能量区域排除掉，剩下的能量区间为质控有效能量区域，由此得到预设能量区间，以便在该区间内进行无源扫描，获得目标粒子。
76.步骤202，获取所述成像设备的预设电子能量阈值，并筛选所述目标粒子中电子能量小于所述预设电子能量阈值的第一单事件数据，其中，每个所述第一单事件数据包含一个所述目标粒子的位置信息和电子能量信息。
77.步骤203，依据所述目标粒子的第一单事件数据，识别所述成像设备的探测器块是否正常。
78.在该实施例中，在常规数据采集的电子约束下，当设备系统对能量识别的范围不包括光导中具有较高能量的辐射粒子(例如γ粒子)时，这样就会在计算粒子作用的晶体位置时出现向中心集中的结果，这种情况会给质控中对于元器件计数均匀性的判断造成偏差，为解决该问题本技术实施例在存储数据的过程中，设置一个电子能量阈值，且该电子能量阈值在设备系统能量识别的范围内，用于采集光导辐射的β粒子。在系统存储单事件前，增加判断条件：如果单事件对应的能量小于电子能量阈值，则保留该事件；将满足判断条件保留下的单事件，保存到指定文件中，在后续质控中调用，识别异常的探测器块。
79.步骤204，识别所述异常探测器块中的待调节光电转换器，并对所述待调节光电转换器进行增益调节。
80.在该实施例中，一般情况下，pmt增益的改变是通过调节pmt的控制电压来实现的。随着设备运行时间的增长以及元器件的老化，pmt的性能会有所下降。为了保证pmt对光的放大能力处于一个较为稳定的状态，需要通过增益校准去提高控制电压值。通常，pmt的控制电压具有一个固定的调节范围，但实际上当控制电压距离最大值还有一段距离时，pmt就很可能已经无法正常工作了，即使继续调高电压也无法有效提高其放大能力。因此，需要一个能够及时检测该问题的预警功能。其中，可以通过以下方式判断任意pmt是否需要进行增益调节：依据已识别的异常探测器块的单事件计数，当排除定时异常和线路异常后，确定该异常探测器块上的pmt为待调节光电转换器。
81.在本技术实施例中，可选地，步骤204中“对所述待调节光电转换器进行增益调节”，具体包括：获取所述目标粒子中电子能量大于或等于所述预设电子能量阈值的第二单事件数据；基于所述第二单事件数据对应的电子能量信息，获取所述目标粒子的真实能量波峰；基于所述真实能量波峰以及所述光导的目标放射性元素对应的预设能量波峰，确定目标调节增益，并按所述目标调节增益，对所述待调节光电转换器进行增益调节。
82.在该实施例中，光导自发辐射放出的γ射线主要能量为1460.8kev，形成的能峰清晰稳定，基于这一特性可以利用该1460.8kevγ光子对应的能峰偏移量去调节每个pmt的增益。具体地，依据采集到的目标粒子，绘制目标粒子对应的能量计数曲线图(横轴为能量，纵轴为每个能量对应的目标粒子数量)，获取目标粒子对应的真实能量波峰，并计算真实能量波峰与预设能量波峰(即光导自发辐射放出的γ射线主要能量1460.8kev形成的能峰)之间的偏差，根据该偏差确定对pmt的调节量，即目标调节增益，从而按照目标调节增益对上述的待调节光电转换器进行增益调节。
83.步骤205，在增益调节后返回至所述利用成像设备采集探测器块上的目标粒子的步骤，基于采集的新的目标粒子，识别所述成像设备中异常的探测器块。
84.在该实施例中，增益调节之后，重新进行辐射粒子的采集，获取新的目标粒子，并基于重新获取的新的目标粒子进行异常器件的识别。其中，针对异常器件的识别具体可以包括两个方面，一方面为元器件计数异常识别，一方面为pmt增益调节上限识别和预警。对于元器件计数异常识别，具体可以通过上文中步骤103-1至步骤103-3的方式，对于pmt增益调节上限预警，具体可以通过以下步骤205-1至步骤205-2方式实现。
85.可选地，步骤205中“基于采集的新的目标粒子，识别所述成像设备中异常的探测器块”，具体包括：
86.步骤205-1，获取所述新的目标粒子中电子能量大于或等于所述预设电子能量阈值的第三单事件数据，依据所述第三单事件数据，确定每个探测器块中光电转换器所对应的第三单事件计数；
87.步骤205-2，比较每个探测器块中各光电转换器对应的的第三单事件计数与预设第二阈值，识别异常光电转换器；
88.步骤205-3，输出异常探测器块的位置信息和/或异常光电转换器到达调节上限的预警信息。
89.在该实施例中，利用采集的新的目标粒子携带的电子能量，增加判断条件：当新的目标粒子对应的单事件的能量大于或等于预设电子能量阈值时，将事件统计到该粒子所在pmt超阈值事件计数的文件中，获得第三单事件数据，将每个pmt的第三单事件计数与预设第二阈值进行比较，当某个pmt的第三单事件计数超过预设的第二阈值限定的计数范围时，认为该pmt增益无法恢复，该pmt被识别为异常器件。进而，输出异常pmt的位置信息，显示pmt增益到达调节上限的预警，并建议尽快更换新的pmt。
90.在该实施例中，如图3所示，为本技术一种应用实例的流程示意图，质控程序开始后，读取预先确定的能窗，即预设能量区间，控制设备按该能窗进行无源扫描，采集设备光导自发辐射产生的粒子；一方面，依据设备的质控记录，判断设备之前是否已经进行过增益校准；如果进行过增益校准，那么针对采集各光电转换器对应的粒子，统计大于或等于电子能量阈值(即预设能量阈值)的粒子个数，并基于粒子个数判断已调节的光电转换器是否到达调节上限的预警标准，如果达到那么进行预警，如果没达到不进行预警。另一方面，针对采集各晶体对应的粒子，筛选小于电子能量阈值的粒子进行保存，并可按多个维度(晶体/pmt/探测器块)进行元器件的异常识别，若未识别出异常器件则结束本次质控，若识别出存在异常器件且设备已经进行了增益校准，则输出异常器件位置信息。若识别出存在异常器件但设备未进行过增益校准，则依据采集到的粒子，判断设备是否需要进行增益校准，如果不需要那么输出异常器件位置信息；如果存在需要进行增益校准的pmt，那么利用1460.8kevγ光子对应的能峰偏移量对相应的pmt进行增益校准，并重新运行质控程序，再次进行质控。
91.通过应用本实施例的技术方案，1.在减少技师的操作量及所受辐射剂量的同时，还能够有效避免药品的损耗，降低了医院的使用成本和管理负担；2.扩大了无源质控的适用范围，对于没有放射性的闪烁晶体，例如bgo、gagg、nai等晶体探测器，也可以实现无源质控技术；3.在新型无源质控方案中添加了光电转换器增益到达调节上限的预警功能，可以及时提醒技师更换光电转换器组件。
92.进一步的，作为图1方法的具体实现，本技术实施例提供了一种成像设备状态的无
源检测装置，如图4所示，该装置包括：
93.粒子采集模块，用于利用成像设备采集探测器块上的目标粒子，其中，所述目标粒子为所述成像设备的光导辐射产生；
94.事件获取模块，用于获取所述目标粒子的第一单事件数据；
95.识别模块，用于依据所述目标粒子的第一单事件数据，识别所述成像设备的探测器块是否正常。
96.可选地，所述装置还包括：
97.控制模块，用于获取预设能量区间，并依据所述预设能量区间，设置能窗控制所述成像设备开始工作，其中，所述预设能量区间通过以下步骤获得：
98.在照明条件下控制所述成像设备进行全能窗的无源空扫，获得第一能量计数曲线，以及在无照明条件下控制所述成像设备进行全能窗的无源空扫，获得第二能量计数曲线；
99.基于所述第一能量计数曲线以及所述第二能量计数曲线，统计外部环境中入射光子的能量分布曲线，并基于所述能量分布曲线，获取外部环境入射光子能量能量分布区间，以及基于所述第二能量计数曲线，获取暗噪声能量分布区间；
100.基于所述外部环境入射光子能量分布区间以及所述暗噪声能量分布区间，获取所述预设能量区间。
101.可选地，所述事件获取模块，具体用于：
102.获取所述成像设备的预设电子能量阈值，并筛选所述目标粒子中电子能量小于所述预设电子能量阈值的第一单事件数据，其中，每个所述第一单事件数据包含一个所述目标粒子的位置信息和电子能量信息。
103.可选地，所述识别模块，具体用于：
104.依据所述第一单事件数据，统计每个所述探测器块对应的第一单事件计数；
105.比较所述探测器块对应的所述第一单事件计数与预设第一阈值，识别所述探测器块是否异常。
106.可选地，所述装置还包括：
107.调节模块，用于所述依据所述目标粒子的第一单事件数据，识别所述成像设备的探测器块是否正常之后，识别所述异常探测器块中的待调节光电转换器，并对所述待调节光电转换器进行增益调节；在增益调节后返回至所述利用成像设备采集探测器块上的目标粒子的步骤，基于采集的新的目标粒子，识别所述成像设备中异常的探测器块。
108.可选地，所述调节模块，具体用于：
109.获取所述目标粒子中电子能量大于或等于所述预设电子能量阈值的第二单事件数据；基于所述第二单事件数据对应的电子能量信息，获取所述目标粒子的真实能量波峰；基于所述真实能量波峰以及所述光导的目标放射性元素对应的预设能量波峰，确定目标调节增益，并按所述目标调节增益，对所述待调节光电转换器进行增益调节。
110.可选地，所述识别模块，还用于：
111.获取所述新的目标粒子中电子能量大于或等于所述预设电子能量阈值的第三单事件数据，依据所述第三单事件数据，确定每个探测器块中光电转换器所对应的第三单事件计数；比较每个探测器块中各光电转换器对应的的第三单事件计数与预设第二阈值，识
别异常光电转换器。
112.可选地，所述装置还包括：
113.输出模块，用于输出异常探测器块的位置信息和/或异常光电转换器到达调节上限的预警信息。
114.需要说明的是，本技术实施例提供的一种成像设备状态的无源检测装置所涉及各功能单元的其他相应描述，可以参考图1至图2方法中的对应描述，在此不再赘述。
115.基于上述如图1至图2所示方法，相应的，本技术实施例还提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述如图1至图2所示的成像设备状态的无源检测方法。
116.基于这样的理解，本技术的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是cd-rom，u盘，移动硬盘等)中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本技术各个实施场景所述的方法。
117.基于上述如图1至图2所示的方法，以及图4所示的虚拟装置实施例，为了实现上述目的，本技术实施例还提供了一种计算机设备，具体可以为个人计算机、服务器、网络设备等，该计算机设备包括存储介质和处理器；存储介质，用于存储计算机程序；处理器，用于执行计算机程序以实现上述如图1至图2所示的成像设备状态的无源检测方法。
118.可选地，该计算机设备还可以包括用户接口、网络接口、摄像头、射频(radio frequency，rf)电路，传感器、音频电路、wi-fi模块等等。用户接口可以包括显示屏(display)、输入单元比如键盘(keyboard)等，可选用户接口还可以包括usb接口、读卡器接口等。网络接口可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如蓝牙接口、wi-fi接口)等。
119.本领域技术人员可以理解，本实施例提供的一种计算机设备结构并不构成对该计算机设备的限定，可以包括更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
120.存储介质中还可以包括操作系统、网络通信模块。操作系统是管理和保存计算机设备硬件和软件资源的程序，支持信息处理程序以及其它软件和/或程序的运行。网络通信模块用于实现存储介质内部各组件之间的通信，以及与该实体设备中其它硬件和软件之间通信。
121.通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到本技术可以借助软件加必要的通用硬件平台的方式来实现，也可以通过硬件实现在成像设备进行无源空扫的质控过程中，通过设备的每个探测器块采集光导自发辐射产生的目标粒子，并对每个探测器块对应的第一单事件数据进行统计，从而依据每个探测器块的第一单事件数据，识别出探测器块中的异常探测器块。本技术实施例基于设备光导的自发辐射，通过采集自发辐射产生的目标粒子，基于目标粒子实现对设备异常器件的识别，避免外置放射源的方式对设备进行质控导致的操作人员受到电离辐射，并且节约了外置放射源的耗材开销，提高了质控安全，节约了质控成本。
122.本领域技术人员可以理解附图只是一个优选实施场景的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本技术所必须的。本领域技术人员可以理解实施场景中的装置中的模块可以按照实施场景描述进行分布于实施场景的装置中，也可以进行相应变化位于不同于本实施场景的一个或多个装置中。上述实施场景的模块可以合并为一个模块，也可以进一
步拆分成多个子模块。
123.上述本技术序号仅仅为了描述，不代表实施场景的优劣。以上公开的仅为本技术的几个具体实施场景，但是，本技术并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本技术的保护范围。