显示面板及显示面板的老化测试方法与流程

1.本发明涉及显示面板的显示技术领域，具体涉及一种显示面板及显示面板的老化测试方法。


背景技术：

2.随着显示面板制备工艺等显示技术的发展，人们对显示面板及装置的性能及质量均提出了更高的要求。
3.显示面板制备完成后，需要对显示面板的各项性能及参数进行检测并优化。在有机发光二极管(organic light-emitting diode,oled)显示器件中，oled具有自发光、轻薄、低功耗以及响应速度快等特性，而被广泛应用于多种显示领域中。其中，在对oled器件的进行评价时，oled器件的寿命是其中的一个重要指标。因此，现有技术中，oled制备过程中，通常需要对制备完成后的oled器件进行寿命老化(lifetime-aging，l-aging)工艺。在进行l-aging工艺时，电路架构的电路设计，测试环境以及测试的电流密度为主要的测试影响因素。具体的，在现有的像素驱动电路中，对发光器件进行老化测试时，往往在对器件进行点亮的初期，有机发光器件会存在亮度的波动，或者在对其进行测试的初期，其亮度会出现快速下降。进而导致显示器件出现显示色偏，并导致器件的使用寿命和品质下降，不利于器件性能的提高。
4.综上所述，现有技术在对显示器件进行老化测试时，在老化测试的初期，发光器件会存在较大的亮度波动，进而导致显示器件出现色偏，并导致器件的寿命和品质下降等问题。不利于显示器件综合性能的提高。


技术实现要素：

5.本发明实施例提供一种显示面板及显示面板的老化测试方法。以有效的改善显示面板在进行老化测试的初期，发光器件容易出现较大的波动，进而使得显示器件出现色偏以及品质下降等问题。
6.为解决上述技术问题，本发明实施例所提供的技术方法如下：
7.本发明实施例的第一方面，提供了一种显示面板，所述显示面板包括老化测试电路，所述老化测试电路包括多个像素驱动电路，所述像素驱动电路包括：
8.数据写入模块，所述数据写入模块与所述显示面板的数据信号线电连接，并通过所述数据信号线写入数据信号；
9.驱动模块，所述驱动模块与所述数据写入模块电连接，所述驱动模块用以接收所述数据写入模块的数据信号，并根据所述数据信号形成驱动电流；
10.感测模块，所述感测模块与所述驱动模块电连接，所述感测模块用以感测所述驱动电压，并根据所述驱动电压形成反馈电流；
11.控制模块，所述控制模块与所述驱动模块以及所述感测模块电连接；以及，
12.发光模块，所述发光模块与所述驱动模块、所述感测模块以及所述控制模块电连
接；
13.其中，所述控制模块用以接收高电平信号，并根据所述驱动电压以及所述反馈电流对所述发光模块进行老化测试。
14.根据本发明一实施例，所述驱动模块包括第一薄膜晶体管，所述第一薄膜晶体管的漏极与电压端电连接，所述第一薄膜晶体管的栅极与所述数据写入模块电连接，且所述第一薄膜晶体管的源极与所述发光模块、所述感测模块以及所述控制模块电连接。
15.根据本发明一实施例，所述驱动模块还包括电容，所述电容的一端与所述栅极电连接，所述电容的另一端与所述源极电连接。
16.根据本发明一实施例，所述数据写入模块包括第二薄膜晶体管，所述第二薄膜晶体管的漏极与所述数据信号线电连接，所述第二薄膜晶体管的源极与所述驱动模块电连接。
17.根据本发明一实施例，所述像素驱动电路还包括第一控制信号线，所述第一控制信号线与所述第二薄膜晶体管的栅极电连接。
18.根据本发明一实施例，所述感测模块包括第三薄膜晶体管，所述第三薄膜晶体管的源极与所述驱动模块、所述发光模块以及所述控制模块电连接。
19.根据本发明一实施例，所述像素驱动电路还包括第二控制信号线，所述第二控制信号线与所述第三薄膜晶体管的栅极电连接。
20.根据本发明一实施例，所述控制模块包括第四薄膜晶体管，所述第四薄膜晶体管的漏极与所述数据信号线电连接，所述第四薄膜晶体管的源极与所述发光模块、所述驱动模块以及所述感测模块电连接。
21.根据本发明一实施例，所述像素驱动电路还包括第三控制信号线，所述第四薄膜晶体管的栅极与所述第三控制信号线电连接。
22.根据本发明一实施例，所述第三控制信号线用以向所述第四薄膜晶体管的栅极提供高电平信号。
23.根据本发明一实施例，所述像素驱动电路包括第一像素驱动电路，第二像素驱动电路以及第三像素驱动电路，所述第一像素驱动电路、所述第二像素驱动电路以及所述第三像素驱动电路对应设置在不同颜色的发光像素区域内，且所述第一像素驱动电路中的感测模块与所述第二像素驱动电路中的感测模块以及所述第三像素驱动电路中的感测模块电连接。
24.根据本发明一实施例，各像素驱动电路中对应的第三薄膜晶体管的漏极相互电连接。
25.根据本发明的第二方面，还提供一种显示面板的老化测试方法，包括如下步骤：
26.提供一老化测试电路，所述老化测试电路包括多个像素驱动电路，且所述老化测试电路为本发明实施例中提供的电路；
27.对不同所述像素驱动电路中对应的发光模块进行老化测试，其中，向所述像素驱动电路中的第三控制信号线提供高电平信号，并对不同像素驱动电路中对应的发光模块进行老化，且在向所述第三控制信号线提供高电平信号时，向未进行老化测试电路中对应的所述像素驱动电路中的数据信号线提供低电平信号。
28.综上所述，本发明实施例的有益效果为：
29.本发明实施例提供一种显示面板及显示面板的老化测试方法。老化测试电路包括中包括多个像素驱动电路，其中，像素驱动电路包括数据写入模块、驱动模块、感测模块、控制模块以及发光模块。各模块之间对应连接，同时，在对应的模块内设置不同功能的薄膜晶体管，当对显示面板内的发光模块进行老化测试时，向控制模块提供高电平信号，从而控制测试电流流向该发光模块。进而减小电路中的电流等因素对该器件老化测试效果的影响，从而有效的提高显示面板的老化测试效果，并提高显示面板的综合性能。
附图说明
30.下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其它有益效果更显而易见。
31.图1中以红色发光像素区域对应的电路为例进行说明；
32.图2为本发明实施例提供的显示面板内的老化测试电路结构示意图；
33.图3为本发明实施例中提供的另一老化测试电路对应的电路结构示意图；
34.图4为不同的像素驱动电路中的发光二极管在老化处理时对应的曲线示意图；
35.图5为本发明实施例中提供的测试方法流程示意图；
36.图6为本发明实施例提供的不同颜色的发光像素区域内的老化测试电路结构。
具体实施方式
37.下面将结合本发明实施例中的附图，下文的公开提供了不同的实施方式或例子来实现本发明的不同结构。为了简化本发明，下文对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本发明提供了的各种特定的工艺和材料的例子，是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用。本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
38.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。
39.随着显示面板制备技术的不断发展，人们对显示面板的质量以及显示效果均提出了更高的要求。
40.如图1所示，图1为现有技术中提供的显示面板内对应的像素驱动电路结构示意图。显示面板制备完成后，需要对发光器件进行老化测试，以提升发光器件的使用寿命和显示品质。
41.像素驱动电路在进行工作时，如图1中以红色发光像素区域对应的电路为例进行说明。现有的3t1c像素驱动电路包括：第一薄膜晶体管t1，第二薄膜晶体管t2、第三薄膜晶体管t3以及电容cst。oled显示时，wr信号线控制第二薄膜晶体管t2的导通，数据信号线r_data经过t2进入到t1的栅极及电容cst，然后t2关断，由于电容cst的存储作用，t1的栅极电压仍可继续保持数据信号电压，从而使t1处于导通状态，驱动电流通过t1进入到有机发光
二极管oled。同时，通过t3感测驱动电路中t1的阈值电压vth，以对该阈值电压vth进行补偿。
42.但是，现有技术中，在对上述oled进行老化测试并补偿时，其只能补偿驱动薄膜晶体管的阈值电压vth，而无法补偿oled老化对亮度的影响，当oled老化时，测试温度较高，测试电流较大，其k值会漂移，进而导致显示面板的亮度以及发光效率降低。
43.本发明实施例提供一种显示面板及显示面板的老化测试方法，以有效的改善显示面板在进行老化测试时，在较高的测试温度以及大电流的作用下，像素驱动电路内部的薄膜晶体管容易发生电性漂移，发光器件容易出现较大亮度波动的问题，并提高显示面板的综合性能。
44.如图2所示，图2为本发明实施例提供的显示面板内的老化测试电路结构示意图。本发明实施例中，该显示面板内包括老化测试电路。且该老化测试电路包括多个像素驱动电路。多个像素驱动电路可对应不同的发光像素，如分别对应红色发光像素、蓝色发光像素以及绿色发光像素。本发明实施例中，以红色发光像素对应的像素驱动电路为例进行说明。
45.本发明实施例中，该像素驱动电路20包括数据写入模块220、驱动模块221、感测模块222、控制模块223以及发光模块224。同时，在该像素驱动电路20中，数据信号线与扫描信号线交错分布，以形成对应的发光单元。具体的，该数据写入模块220与该数据信号线以及扫描信号线电连接，通过显示面板的数据信号线写入数据信号。
46.其中，该数据写入模块220与驱动模块221电连接，驱动模块221用以接收该数据写入模块220的数据信号，并根据该数据信号形成驱动电流。同时，驱动模块221的一端还与驱动电压vdd连接，通过驱动电压vdd为其提供工作电压。
47.进一步的，感测模块222与该驱动模块221电连接，感测模块222用以感测驱动模块221中的驱动电流或者电压，并根据所感测到的数据对驱动模块形成反馈电流，以对其进行补偿。如感测驱动模块221的阈值电压或电流，并对该阈值电压或电流进行补偿，以保证显示面板的正常发光。
48.同时，该控制模块223与驱动模块221以及感测模块222电连接，该控制模块223根据驱动模块中的驱动电压以及感测模块222中的反馈电流对发光器件进行老化测试。
49.进一步的，该像素驱动电路还包括发光模块224，该发光模块的一端与驱动模块221、感测模块222以及控制模块223电连接，在上述各模块的作用下正常发光并进行老化测试。
50.本发明实施例中，该像素驱动电路中还包括第一控制信号线211、第二控制信号线212、第三控制信号线213以及数据信号线214。具体的，该第一控制信号线211可为读取数据信号线，该第一控制信号线211与感测模块222的一端电连接，以向该感测模块222传输控制信号。
51.第二控制信号线212可为扫描信号线，该第二控制信号线212与数据写入模块220的一端电连接，通过该第二控制信号线212向数据写入模块220提供扫描信号。
52.同时，该第三控制信号线213与控制模块223的一端电连接。通过该第三控制信号线213以向该控制模块223提供控制信号，并保证对发光模块224的老化测试。
53.本发明实施例中，该数据信号线214同时与数据写入模块220以及控制模块223电连接。在对该发光模块224进行老化测试时，向该第三控制信号线213提供高电平信号，该高
电平信号驱动控制模块223工作，并形成老化电流，同时该控制模块根据驱动模块中的驱动电压以及感测模块中的反馈电流以对该发光模块进行老化测试。
54.如图3所示，图3为本发明实施例中提供的另一老化测试电路对应的电路结构示意图。结合图2中的电路结构，本发明实施例中，在上述各个模块内可至少包括一个薄膜晶体管。具体的，该驱动模块221内包括第一薄膜晶体管t1以及电容cst。该数据写入模块220中包括第二薄膜晶体管t2，该感测模块222中包括第三薄膜晶体管t3，同时该控制模块223内包括第四薄膜晶体管t4。
55.具体的，在本发明实施例中，第二薄膜晶体管t2的栅极与第二控制信号线212电连接，第二薄膜晶体管t2的漏极与数据信号线214电连接，且该第二薄膜晶体管t2的源极同时与电容cst的一端，以及第一薄膜晶体管t1的栅极电连接。
56.进一步的，第一薄膜晶体管t1的漏极与vdd电压端电连接，第一薄膜晶体管t1的栅极与电容cst的一端电连接，同时，该电容cst的另一端与第一薄膜晶体管t1的源极电连接，且该第一薄膜晶体管t1的源极与第三薄膜晶体管t3的源极电连接。
57.同时，该第三薄膜晶体管t3的栅极与第一控制信号线211电连接，第三薄膜晶体管t3的源极同时与第一薄膜晶体管t1的源极、电容cst的另一端、第四薄膜晶体管t4的源极以及发光二极管301的一端电连接，且第三薄膜晶体管t3的漏极与另一像素驱动电路中对应的薄膜晶体管电连接。
58.进一步的，第四薄膜晶体管t4的栅极与第三控制信号线213电连接，且第四薄膜晶体管t4的漏极与数据信号线214电连接，第四薄膜晶体管t4的源极同时与电容cst的另一端、第一薄膜晶体管t1的源极、第三薄膜晶体管t3的源极以及发光二极管301的一端电连接。
59.本发明实施例中，当对该发光二极管进行老化测试时，在其l-aging阶段，当需要对该发光二极管对应的红色像素驱动电路进行老化工艺时，第三控制信号线213提供高电位，第四薄膜晶体管t4完全打开，此时第四薄膜晶体管t4对应的工作电流以及电压在线性区内，且该第四薄膜晶体管t4等效于一个电阻，当数据信号线214再向第四薄膜晶体管提供数据信号时，该像素驱动电路中的电流就可以按照图3中的虚线的标注方向进行流动，从而驱动该红色发光像素区域内的发光二极管301发光并完成l-aging处理。
60.如图4所示，图4为不同的像素驱动电路中的发光二极管在老化处理时对应的老化曲线示意图。有曲线示意图可知，在对发光二极管进行老化测试时，在点亮的初期，其亮度都会出现一定程度的亮度波动，如到达一定亮度时会快速下降。从而导致显示面板出现色偏以及寿命下降的问题。
61.在图4中，a图为现有技术中的像素驱动电路结构下对应的老化曲线示意图，b图对应的为本发明实施例中提供的像素驱动电路结构下对应的老化曲线示意图。当采用本发明实施例中提供的老化测试电路时，在t＝0时刻，在有机发光器件被点亮的初期，该老化曲线会左移，进而将初期的不稳定性随之消除，以减小初期不稳定出现的色偏问题。并且可知当该曲线的亮度均降到50％时，本发明实施例中的老化曲线均能位于该线性区域内，从而有效的降低了在老化过程中，像素驱动电路在大电流作用下，电路内部的薄膜晶体管容易出现电性漂移，以及显示面板容易出现色偏的问题。
62.进一步的，结合图2-图4，在本发明实施例中，当对该显示面板内的发光器件进行
老化测试时，在l-aging阶段，例如当对该发光二极管的红色子像素进行整面的l-aging处理时，第三控制信号线给高电位，以使红色子像素对应的第四薄膜晶体管t4完全打开，此时，在该老化电路的作用下，第四薄膜晶体管t4能在线性区工作，此时，其可等效于一个电阻，数据信号线随之给入相应的电信号，进而驱动红色发光二极管发光并完成老化测试。
63.具体的，当第四薄膜晶体管t4在线性工作区内工作时，根据其输出特性i
ds
曲线可知，i
ds
＝μ
·cox
·w·
(v
gs-v
th
)
·vds
/l，其中v
ds
《《(v
gs-v
th
)，μ为电子的迁移速度，c
ox
为单位面积栅氧化层电容，w/l为氧化层宽长比，v
gs-v
th
为过驱动电压。
64.在进行老化处理时，第三控制信号线提供高电平信号，优选的该高电平信号为15v，当该高电平信号的电压值为15v时，该第四薄膜晶体管t4对应的vg电压很大，即vgs-vth》》vds，满足薄膜晶体管线性区工作的条件。此时，第四薄膜晶体管t4充分打开，第四薄膜晶体管t4连接数据信号线的一端为漏极端(d)，另一端为源极(s)与发光二极管的一端电连接。此时，在vds较小的电压范围内，薄膜晶体管导电沟道变窄不明显，ids与vds成正比关系，沟道的作用相当于一个电阻。
65.与此对应的，薄膜晶体管在饱和区的电流公式为：其中，vds》vgs-vth。
66.在l-aging时，希望整面能以均匀的电流进行老化，从而对面内oled进行无差别的老化，这要求面内薄膜晶体管对应的i
ds
电流差异越小越好。根据上述电流公式可知，在饱和区i
ds
与v
th
成平方关系，而在线性区i
ds
与v
th
成一次关系，因此采用线性区对发光二极管进行老化，其对应的i
ds
的差异较小，从而能比较均匀地对发光二极管进行老化。
67.优选的，本发明实施例还提供一种显示面板的老化测试方法。如图5所示，图5为本发明实施例中提供的测试方法流程示意图。在对发光二极管进行老化测试时，包括如下步骤：
68.s100：提供一老化测试电路，老化测试电路包括多个像素驱动电路，该像素驱动电路为本发明实施例中提供的电路结构；
69.s101：对不同所述像素驱动电路中对应的发光模块进行老化测试，其中，向所述像素驱动电路中的第三控制信号线提供高电平信号，并对不同像素驱动电路中对应的发光模块进行老化，且在向所述第三控制信号线提供高电平信号时，向未进行老化测试电路中对应的所述像素驱动电路中的数据信号线提供低电平信号。
70.进一步的，如图6所示，图6为本发明实施例提供的不同颜色的发光像素区域内的老化测试电路结构。本发明实施例中，该老化测试电路以红色发光像素区域对应的第一像素驱动电路21、绿色发光像素区域对应的第二像素驱动电路22以及蓝色发光像素区域对应的第三像素驱动电路23为例进行说明。各驱动电路中对应设置有数据信号线214、数据信号线2141以及数据信号线2142，不同的数据信号线提供不同的数据信号。
71.进一步的，第一像素驱动电路21中的感测模块与第三像素驱动电路23中的感测模块电连接。具体的，第一像素驱动电路21内的第三薄膜晶体管t3的漏极与第二像素驱动电路22内的第三薄膜晶体管t3的漏极以及第三像素驱动电路23内的第三薄膜晶体管t3的漏极电连接。
72.结合图2-图4，以及图5中的老化测试方法。当对上述不同像素驱动电路内的发光
二极管进行老化时，第三控制信号线213提供高电平信号，数据信号线2141和数据信号线2142提供低电平信号。此时第三控制信号线213的高电位虽然也把绿色、蓝色发光像素区域内的第四薄膜晶体管t4的栅极打开，但由于数据信号线2141和数据信号线2142提供低电平信号，此时并没有电流流过绿色和蓝色发光像素区域内的发光二极管，从而实现仅对红色发光像素区域内的发光二极管进行老化处理。
73.同样地，当需要对绿色子像素进行l-aging时，将数据信号线214和数据信号线2142给低电位，第三控制信号线213给高电位，此时只有绿色发光像素区域内的发光二极管发光，而红色、蓝色发光像素区域内的发光二极管不发光。
74.而在正常发光阶段，第三控制信号线213给低电平信号，第四薄膜晶体管t4关闭，从而保证像素驱动电路内的发光二极管能正常点亮，并能在大电流情况下正常老化处理。
75.特别的，在进行老化时，采用的是直流的信号，直流信号对信号延迟没有太高的要求，因此第三控制信号线213走线的线宽可以设计成比第一控制信号线211和第二控制信号线212的线宽要小，这样挤占显示面板的开口区的面积可以进一步缩小，有利于在不较大损害开口率的前提下完成老化。
76.因此，当对显示面板在较高温度并采用大电流作用进行老化时，本发明实施例中的老化测试电路，能有效的降低面板不同处的薄膜晶体管电性变化，并有效的降低改善在老化过程中薄膜晶体管出现电性漂移。
77.同时，本发明实施例还提供一种显示装置，该显示装置包括显示面板，且该显示面板内部设置有本发明实施例中所提供的像素驱动电路。该显示面板以及显示装置可为：oled面板、手机、电脑、电子纸、显示器、笔记本电脑、数码相框等任何具有显示功能的产品或部件，其具体类型不做具体限制。
78.以上对本发明实施例所提供的一种显示面板及显示面板的老化测试方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例的技术方案的范围。