一种光电子器件测试设备的制作方法

1.本实用新型涉及一种光电子器件测试设备，属于光电子器件测试技术领域。


背景技术：

2.光电子器件是光电子技术的关键和核心部件，是现代光电技术与微电子技术的前沿研究领域，是信息技术的重要组成部分。光电子器件是根据光电效应制作的器件。
3.光电子器件在制作过程中需要进行机械完整性试验，试验项目包括机械冲击、变频振动、热冲击、插拔耐久性、存储试验、温度循环、恒定湿热以及高温寿命等，其中的温度循环试验是为了确定光电子器件承受极高温度和极低温度的能力，以及极高温度和极低温度交替变化对光电子器件的影响。
4.温度循环试验需要用到冷热冲击测试设备对待测样品进行冷热交替测试，现有的冷热冲击测试设备由制冷系统、加热系统、控制系统、空气循环系统、温度传感器等组成。工作时通过控制吊篮的升降，达到待测样品在高温区与低温区之间的快速转换，从而实现冷热循环交替。
5.通过吊篮将待测样品在高温区与低温区之间转换，难以保证高温区与低温区之间的密封，高温区的热能易进入低温区，低温区的冷能易进入高温区，热能和冷能会有损耗，使得加热系统、制冷系统的功率较大，导致整体设备的耗能较大；另外通过吊篮将待测样品在高温区与低温区之间转换，每次只能测试一组样品，测试的效率偏低。
6.综上可知，现有技术在实际使用上显然存在不便与缺陷，所以有必要加以改进。


技术实现要素：

7.本实用新型针对背景技术中的不足，提供一种光电子器件测试设备，可以实现高温区与低温区之间的有效密封，降低待测样品在转换过程中热能和冷能的损耗，可以用于同步测试多组样品，提高测试的效率。
8.为解决以上技术问题，本实用新型采用以下技术方案：
9.一种光电子器件测试设备，包括测试箱体，测试箱体内部有上下设置的高温区和低温区，高温区与低温区之间设有隔板，所述隔板上开设有多个呈圆周分布的贯穿孔，贯穿孔由两个呈上下对称设置的圆台孔组成；
10.所述低温区内设有多个呈圆周分布的托板，托板上方有与其相对设置的盖板，托板与盖板之间通过支撑杆进行固定连接，支撑杆沿竖直方向穿设在贯穿孔内；所述托板和盖板的外部均设有台阶部，托板的台阶部上套设有下密封圈，盖板的台阶部上套设有上密封圈；
11.所述托板底部均与升降杆固定连接，升降杆呈圆周分布在固定杆的周围，升降杆和固定杆之间有平行设置的上连杆和下连杆，上连杆和下连杆之间设有升降气缸。
12.一种优化方案，两个圆台孔的小径端相连接，两个圆台孔的大径端分布在隔板的表面以及底面上。
13.进一步地，所述支撑杆的数量为多个，分布在托板和盖板的边缘位置。
14.进一步地，所述托板与盖板之间设有用于放置待测试的光电子器件的空间。
15.进一步地，所述上密封圈和下密封圈呈对称设置；所述上密封圈和下密封圈均为三角型密封圈，截面呈现三角形状。
16.进一步地，所述固定杆沿竖直方向固接于低温区内，固定杆底端与低温区底部的壁板固定连接，固定杆顶端与隔板固定连接。
17.进一步地，所述上连杆一端与升降杆铰接，上连杆另一端与固定杆铰接；所述下连杆一端与升降杆铰接，下连杆另一端与固定杆铰接。
18.进一步地，所述升降气缸的尾部与固定杆铰接连接，升降气缸的头部与下连杆的一端部上方铰接连接。
19.进一步地，所述托板与升降杆同轴设置。
20.本实用新型采用以上技术方案后，与现有技术相比，具有以下优点：
21.本实用新型中，升降气缸伸缩过程中依次带动升降杆、托板升降，进而实现光电子器件在高温区和低温区的快速转换，当光电子器件处在高温区时，通过下密封圈与贯穿孔的配合，确保高温区和低温区之间的有效密封，当光电子器件处在低温区时，通过上密封圈与贯穿孔的配合，确保高温区和低温区之间的有效密封，降低待测样品在转换过程中热能和冷能的损耗；
22.本实用新型通过设置多个托板与盖板配合，可以测试多组光电子器件，多组光电子器件既可以同步测试，也可以各自单独测试，提高测试的效率。
23.下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细说明。
附图说明
24.图1是本实用新型的结构示意图；
25.图2是图1中a-a处截面示意图；
26.图3是图1中m处的结构剖视图。
27.图中，1-测试箱体，2-高温区，3-低温区，4-隔板，5-托板，6-光电子器件，7-盖板，8-支撑杆，9-贯穿孔，10-下密封圈，11-上密封圈，12-升降杆，13-固定杆，14-上连杆，15-下连杆，16-升降气缸。
具体实施方式
28.为了对本实用新型的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图说明本实用新型的具体实施方式。
29.如图1和图3所示，本实用新型提供一种光电子器件测试设备，包括测试箱体1，测试箱体1内部设有高温区2和低温区3，高温区2和低温区3呈上下设置，高温区2与低温区3之间设有隔板4。
30.所述隔板4上开设有多个呈圆周分布的贯穿孔9，贯穿孔9由两个呈上下对称设置的圆台孔组成，两个圆台孔的小径端相连接，两个圆台孔的大径端分布在隔板4的表面以及底面上，设置圆台孔的目的在于提高密封效果。
31.所述低温区3内设有多个呈圆周分布的托板5，托板5的上方有与其相对设置的盖
板7，托板5与盖板7之间通过支撑杆8进行固定连接。
32.所述支撑杆8沿竖直方向穿设在贯穿孔9内；所述支撑杆8的数量为多个，分布在托板5和盖板7的边缘位置。
33.所述托板5与盖板7之间的空间用于放置待测试的光电子器件6。
34.所述托板5和盖板7的外部均设有台阶部，托板5的台阶部上套设有下密封圈10，盖板7的台阶部上套设有上密封圈11；上密封圈11和下密封圈10呈对称设置。
35.所述上密封圈11和下密封圈10均为三角型密封圈，截面呈现三角形状，上密封圈11可与贯穿孔9上部的圆台孔相贴合，下密封圈10可与贯穿孔9下部的圆台孔相贴合。
36.所述托板5底部均与升降杆12固定连接，托板5与升降杆12同轴设置。
37.所述升降杆12呈圆周分布在固定杆13的周围；所述固定杆13沿竖直方向固接于低温区3内，固定杆13底端与低温区3底部的壁板固定连接，固定杆13顶端与隔板4固定连接。
38.所述升降杆12和固定杆13之间有平行设置的上连杆14和下连杆15，上连杆14一端与升降杆12铰接连接，上连杆14另一端与固定杆13铰接连接；所述下连杆15一端与升降杆12铰接连接，下连杆15另一端与固定杆13铰接连接。
39.所述上连杆14和下连杆15之间设有升降气缸16，升降气缸16的尾部与固定杆13铰接连接，升降气缸16的头部与下连杆15的一端部上方铰接连接，升降气缸16伸缩过程中依次带动升降杆12、托板5升降，进而实现光电子器件6在高温区2和低温区3的快速转换。
40.所述高温区2的外箱壁内设有加热系统，低温区3的外箱壁内设有制冷系统，加热系统和制冷系统均属于现有技术，在此不再赘述。
41.本实用新型的具体工作原理:
42.本实用新型中，升降气缸16伸缩过程中依次带动升降杆12、托板5升降，进而实现光电子器件6在高温区2和低温区3的快速转换，当光电子器件6处在高温区2时，通过下密封圈10与贯穿孔9的配合，确保高温区2和低温区3之间的有效密封，当光电子器件6处在低温区3时，通过上密封圈11与贯穿孔9的配合，确保高温区2和低温区3之间的有效密封。
43.本实用新型通过设置多个托板5与盖板7配合，可以测试多组光电子器件6，多组光电子器件6既可以同步测试，也可以各自单独测试。
44.以上所述为本实用新型最佳实施方式的举例，其中未详细述及的部分均为本领域普通技术人员的公知常识。本实用新型的保护范围以权利要求的内容为准，任何基于本实用新型的技术启示而进行的等效变换，也在本实用新型的保护范围之内。