一种检验交换机光电接口电气性能的光模块的制作方法

1.本发明涉及路由器测试技术领域，尤其涉及一种检验交换机光电接口电气性能的光模块。


背景技术：

2.现有技术中，在交换机设备生产时采用特定规格的线缆通过环回连接方式去验证产品电气性能，但此类线缆价格高、插拔寿命较短，不利于测试人员长期生产测试验证。其市场上的高速线缆非常昂贵，且多次扭曲弯折后，易引发插拔时的电气连接失效。


技术实现要素：

3.本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提出一种检验交换机光电接口电气性能的光模块。
4.为实现上述目的，本发明实施例提供一种检验交换机光电接口电气性能的光模块，所述检验交换机光电接口电气性能的光模块包括：
5.模块壳体和测试电路板，所述测试电路板安装设置在所述模块壳体内，所述测试电路板上设有：
6.通信接口，
7.第一高速传输线，所述第一高速传输线的一端与所述通信接口的第一端连接；
8.第二高速传输线，所述第二高速传输线的一端与所述通信接口的第二端连接，所述第一高速传输线和第二高速传输线之间构成差分线；
9.第一电容，所述第一电容的一端分别与所述第一高速传输线的另一端连接；
10.第二电容，所述第二电容的一端分别与所述第二高速传输线的另一端连接；
11.第三高速传输线，所述第三高速传输线的一端与所述第一电容的另一端连接，所述第三高速传输线的另一端与所述通信接口的第三端连接；
12.第四高速传输线，所述第四高速传输线的一端与所述第二电容的另一端连接，所述第四高速传输线的另一端与所述通信接口的第四端连接，所述第三高速传输线和第四高速传输线之间构成差分线。
13.进一步地，根据本发明的一个实施例，所述测试电路板上还设有：
14.第五高速传输线，所述第五高速传输线的一端与所述通信接口的第五端连接；
15.第六高速传输线，所述第六高速传输线的一端与所述通信接口的第六端连接，所述第五高速传输线和第六高速传输线之间构成差分线；
16.第三电容，所述第三电容的一端分别与所述第五高速传输线的另一端连接；
17.第四电容，所述第四电容的一端分别与所述第六高速传输线的另一端连接；
18.第七高速传输线，所述第七高速传输线的一端与所述第三电容的另一端连接，所述第七高速传输线的另一端与所述通信接口的第七端连接；
19.第八高速传输线，所述第八高速传输线的一端与所述第四电容的另一端连接，所
述第八高速传输线的另一端与所述通信接口的第八端连接，所述第七高速传输线和第八高速传输线之间构成差分线。
20.进一步地，根据本发明的一个实施例，所述测试电路板上还设有：
21.第九高速传输线，所述第九高速传输线的一端与所述通信接口的第九端连接；
22.第十高速传输线，所述第十高速传输线的一端与所述通信接口的第十端连接，所述第九高速传输线和第十高速传输线之间构成差分线；
23.第五电容，所述第五电容的一端分别与所述第九高速传输线的另一端连接；
24.第六电容，所述第六电容的一端分别与所述第十高速传输线的另一端连接；
25.第十一高速传输线，所述第十一高速传输线的一端与所述第五电容的另一端连接，所述第十一高速传输线的另一端与所述通信接口的第十一端连接；
26.第十二高速传输线，所述第十二高速传输线的一端与所述第六电容的另一端连接，所述第十二高速传输线的另一端与所述通信接口的第十二端连接，所述第十一高速传输线和第十二高速传输线之间构成差分线。
27.进一步地，根据本发明的一个实施例，所述测试电路板上还设有：
28.第十三高速传输线，所述第十三高速传输线的一端与所述通信接口的第十三端连接；
29.第十四高速传输线，所述第十四高速传输线的一端与所述通信接口的第十四端连接，所述第十三高速传输线和第十四高速传输线之间构成差分线；
30.第七电容，所述第七电容的一端分别与所述第十三高速传输线的另一端连接；
31.第八电容，所述第八电容的一端分别与所述第十四高速传输线的另一端连接；
32.第十五高速传输线，所述第十五高速传输线的一端与所述第七电容的另一端连接，所述第十五高速传输线的另一端与所述通信接口的第十五端连接；
33.第十六高速传输线，所述第十六高速传输线的一端与所述第八电容的另一端连接，所述第十六高速传输线的另一端与所述通信接口的第十六端连接，所述第十五高速传输线和第十六高速传输线之间构成差分线。
34.进一步地，根据本发明的一个实施例，所述测试电路板为it-150gs型号高速板材。
35.进一步地，根据本发明的一个实施例，所述高速传输线的特征阻抗为70～100欧姆之间。
36.进一步地，根据本发明的一个实施例，所述测试电路板包括：
37.顶层信号层；
38.第一信号层，所述第一高速传输线、第二高速传输线、第三高速传输线和第四高速传输线分别布置在所述第一信号层；
39.第二信号层，所述第五高速传输线、第六高速传输线、第七高速传输线和第八信号线分别布置在所述第一信号层；
40.第三信息层，所述第九高速传输线、第十高速传输线、第十一高速传输线和第十二信号线分别布置在所述第一信号层；
41.第四信号层，所述第十三高速传输线、第十四高速传输线、第十五高速传输线和第十六信号线分别布置在所述第一信号层；
42.底层信号层，所述第一信号层、第二信号层、第三信号层和第四信号层分别设置在
所述顶层信号层和底层信号层之间。
43.进一步地，根据本发明的一个实施例，所述顶层信号层、第一信号层、第二信号层、第三信息层、第四信号层和底层信号层之间还设有参考地层和或电源层，以将所述第一信号层、第二信号层、第三信息层、第四信号层相互隔开。
44.进一步地，根据本发明的一个实施例，所述测试电路板内还设有存储电路，所述存储电路与所述通信接口连接，所述存储电路用于测试数据的读写；所述存储电路包括：
45.第一存储器，所述第一存储器的读写数据接口与所述通信接口连接，所述第一存储器为掉电存储芯片；
46.第二存储器，所述第二存储器的读写数据接口、寻址接口分别与所述通信接口连接，所述第二存储器为掉电存储芯片；
47.第三存储器，所述第三存储器的读写数据接口、寻址接口分别与所述通信接口连接，所述第三存储器为掉电存储芯片。
48.进一步地，根据本发明的一个实施例，所述模块壳体包括：
49.底壳，所述底壳内设有安装凹槽，所述测试电路板设置在所述安装凹槽内；
50.手柄，所述手柄与所述底壳的连接；
51.上盖，所述上盖设置在所述安装凹槽的上方，所述上盖与所述底壳之间固定连接，以将所述测试电路板安装固定在所述安装凹槽内。
52.本发明实施例提供的检验交换机光电接口电气性能的光模块，通过第一高速传输线的一端与通信接口的第一端连接；第二高速传输线的一端与通信接口的第二端连接，第一高速传输线和第二高速传输线之间构成差分线；第一电容的一端分别与第一高速传输线的另一端连接；第二电容的一端分别与第二高速传输线的另一端连接；第三高速传输线的一端与第一电容的另一端连接，第三高速传输线的另一端与通信接口的第三端连接；第四高速传输线的一端与第二电容的另一端连接，第四高速传输线的另一端与通信接口的第四端连接，第三高速传输线和第四高速传输线之间构成差分线。这样，在光模块外形尺寸不变的情况下，利用低成本的pcb实现了与线缆相近的电信号损耗特性，同时消除了由于线缆线径粗不宜扭曲弯折，所导致的插拔寿命短。从成本来看，目前本发明的成本是市场上高速线缆的十分之一左右，具有极高的性价比，适合在生产测试过程中大规模使用。从易用性来说，此假光模块体积小，即插即用，不存在扭曲弯折后的电气失效问题。验证交换机设备生产时光电接口的电气性能是否符合要求；减少高速线缆的耗材损耗，降低生产测试成本。减小测试设备体积,方便现场安装操作。
附图说明
53.图1为本发明实施例提供的检验交换机光电接口电气性能的光模块结构示意图；
54.图2为本发明实施例提供的检验交换机光电接口电气性能的光模块分解结构示意图；
55.图3为本发明实施例提供的测试电路板的电路结构图。
56.附图标记：
57.模块壳体10；
58.底壳101；
59.上盖102；
60.手柄103；
61.测试电路板20；
62.通信接口201。
63.本发明目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
64.为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。
65.在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
66.参阅图1至图3，发明实施例提供一种检验交换机光电接口电气性能的光模块，包括：模块壳体10和测试电路板20，所述测试电路板20安装设置在所述模块壳体10内，所述测试电路板20上设有：通信接口201(conn1)、第一高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_p、第二高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_n、第一电容c1、第二电容c2、第三高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_p和第四高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_n，所述第一高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_p的一端与所述通信接口201(conn1)的第一端连接；所述第二高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_n的一端与所述通信接口201(conn1)的第二端连接，所述第一高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_p和第二高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_n之间构成差分线；所述第一电容c1的一端分别与所述第一高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_p的另一端连接；所述第二电容c2的一端分别与所述第二高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_n的另一端连接；所述第三高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_p的一端与所述第一电容c1的另一端连接，所述第三高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_p的另一端与所述通信接口201(conn1)的第三端连接；所述第四高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_n的一端与所述第二电容c2的另一端连接，所述第四高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_n的另一端与所述通信接口201(conn1)的第四端连接，所述第三高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_p和第四高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_n之间构成差分线。
67.具体地，如图1和图3中所示，在使用时，通过将光模块插入到被测试路由器的测试接口，实现与交换机光电接口的物理电气连接。被测试交换机路由器设备通过所述通信接口201(conn1)向所述测试电路板20电路电路板发送高速测试数据，高速测试数据差分数据通过所述第一高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_p和第二高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_n后，并通过第一电容c1和第二电容c2，传输到第三高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_p和第四高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_n。由于所述第一高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_p和第二高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_n分别构成差分线，从而可以减少共模信号传输信号
的影响，且差分信号在第一高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_p和第二高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_n上的衰减基本相同，并通过第一电容c1和第二电容c2，进一步将直流等干扰信号滤除。从而将有效差分信号分别传输至所述第三高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_p和第四高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_n，差分信号通过所述第三高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_p和第四高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_n后，从所述通信接口201(conn1)将信号回传至所述被测试交换机路由器设备。信号通过所述第一高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_p、第二高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_n、第三高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_p和第四高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_n后，会产生相应的信号衰减。通过高速传输线的阻抗可获取对应的信号的衰减量。在设计时，为了将高速传输线对信号衰减量在高速信号传输条件下，尽可能地接近高速电缆的传输衰减量，在对pcb电路板和高速传输线的设计时，可通过选用高速pcb板材，从而可以粗略控制高速信号衰减范围；例如，在本发明的一个实施例中，所述测试pcb电路板可采用it-150gs型号高速板材，并通过调整pcb差分信号的线宽线距，精细控制信号阻抗；在本发明的一个实施例中，所述高速传输线的特征阻抗为70～100欧姆之间。通过调整pcb差分信号传输线的走线长度，实现对高速信号衰减的精确控制。这样，实现精准可控的高速信号衰减，得到与现有的高速线缆相应的电气性能，且高速线可布置在小巧的测试电路板上。
68.第一高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_p、第二高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_n、第一电容c1、第二电容c2、第三高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_p和第四高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_n构成第一路测试回路，从而可替代现有的高速线缆，实现对被测试交换机路由器设备的第一差分信号端口电气性能的测试验证。
69.本发明实施例提供的检验交换机光电接口电气性能的光模块，通过第一高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_p的一端与通信接口201(conn1)的第一端连接；第二高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_n的一端与通信接口201(conn1)的第二端连接，第一高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_p和第二高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_n之间构成差分线；第一电容c1的一端分别与第一高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_p的另一端连接；第二电容c2的一端分别与第二高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_n的另一端连接；第三高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_p的一端与第一电容c1的另一端连接，第三高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_p的另一端与通信接口201(conn1)的第三端连接；第四高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_n的一端与第二电容c2的另一端连接，第四高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_n的另一端与通信接口201(conn1)的第四端连接，第三高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_p和第四高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_n之间构成差分线。这样，在光模块外形尺寸不变的情况下，利用低成本的pcb实现了与线缆相近的电信号损耗特性，同时消除了由于线缆线径粗不宜扭曲弯折，所导致的插拔寿命短。
70.从成本来看，目前本发明的成本是市场上高速线缆的十分之一左右，具有极高的性价比，适合在生产测试过程中大规模使用。从易用性来说，此假光模块体积小，即插即用，不存在扭曲弯折后的电气失效问题。可用于验证交换机设备生产时光电接口的电气性能是否符合要求；减少高速线缆的耗材损耗，降低生产测试成本，减小测试设备体积,方便现场安装操作。
71.参阅图3，所述测试电路板20上还设有：第五高速传输线40g_qsfp _lane1_tx_p、
第六高速传输线40g_qsfp _lane1_tx_n、第三电容c3、第四电容c4、第七高速传输线40g_qsfp _lane1_rx_p和第八高速传输线40g_qsfp _lane1_rx_n，所述第五高速传输线40g_qsfp _lane1_tx_p的一端与所述通信接口201(conn1)的第五端连接；所述第六高速传输线40g_qsfp _lane1_tx_n的一端与所述通信接口201(conn1)的第六端连接，所述第五高速传输线40g_qsfp _lane1_tx_p和第六高速传输线40g_qsfp _lane1_tx_n之间构成差分线；所述第三电容c3的一端分别与所述第五高速传输线40g_qsfp _lane1_tx_p的另一端连接；所述第四电容c4的一端分别与所述第六高速传输线40g_qsfp _lane1_tx_n的另一端连接；所述第七高速传输线40g_qsfp _lane1_rx_p的一端与所述第三电容c3的另一端连接，所述第七高速传输线40g_qsfp _lane1_rx_p的另一端与所述通信接口201(conn1)的第七端连接；所述第八高速传输线40g_qsfp _lane1_rx_n的一端与所述第四电容c4的另一端连接，所述第八高速传输线40g_qsfp _lane1_rx_n的另一端与所述通信接口201(conn1)的第八端连接，所述第七高速传输线40g_qsfp _lane1_rx_p和第八高速传输线40g_qsfp _lane1_rx_n之间构成差分线。
72.同理，所述第五高速传输线40g_qsfp _lane1_tx_p、第六高速传输线40g_qsfp _lane1_tx_n、第三电容c3、第四电容c4、第七高速传输线40g_qsfp _lane1_rx_p和第八高速传输线40g_qsfp _lane1_rx_n构成第二路测试回路，对被测试交换机路由器设备的第二差分信号端口的物理电气连接，实现对第二差分信号端口电气性能的测试验证。其工作过程与所述第一路测试回路相同，再次不重复赘述。
73.参阅图3，所述测试电路板20上还设有：第九高速传输线40g_qsfp _lane2_tx_p、第十高速传输线40g_qsfp _lane2_tx_n、第五电容c5、第六电容c6、第十一高速传输线40g_qsfp _lane2_rx_p和第十二高速传输线40g_qsfp _lane2_rx_n，所述第九高速传输线40g_qsfp _lane2_tx_p的一端与所述通信接口201(conn1)的第九端连接；所述第十高速传输线40g_qsfp _lane2_tx_n的一端与所述通信接口201(conn1)的第十端连接，所述第九高速传输线40g_qsfp _lane2_tx_p和第十高速传输线40g_qsfp _lane2_tx_n之间构成差分线；所述第五电容c5的一端分别与所述第九高速传输线40g_qsfp _lane2_tx_p的另一端连接；所述第六电容c6的一端分别与所述第十高速传输线40g_qsfp _lane2_tx_n的另一端连接；所述第十一高速传输线40g_qsfp _lane2_rx_p的一端与所述第五电容c5的另一端连接，所述第十一高速传输线40g_qsfp _lane2_rx_p的另一端与所述通信接口201(conn1)的第十一端连接；所述第十二高速传输线40g_qsfp _lane2_rx_n的一端与所述第六电容c6的另一端连接，所述第十二高速传输线40g_qsfp _lane2_rx_n的另一端与所述通信接口201(conn1)的第十二端连接，所述第十一高速传输线40g_qsfp _lane2_rx_p和第十二高速传输线40g_qsfp _lane2_rx_n之间构成差分线。
74.同理，所述第九高速传输线40g_qsfp _lane2_tx_p、第十高速传输线40g_qsfp _lane2_tx_n、第五电容c5、第六电容c6、第十一高速传输线40g_qsfp _lane2_rx_p和第十二高速传输线40g_qsfp _lane2_rx_n构成第三路测试回路，对被测试交换机路由器设备的第三差分信号端口的物理电气连接，实现对第三差分信号端口电气性能的测试验证。其工作过程与所述第一路测试回路相同，再次不重复赘述。
75.参阅图3，所述测试电路板20上还设有：第十三高速传输线40g_qsfp _lane3_tx_p、第十四高速传输线40g_qsfp _lane3_tx_n、第七电容c7、第八电容c8、第十五高速传输线
40g_qsfp _lane3_rx_p和第十六高速传输线40g_qsfp _lane3_rx_n，所述第十三高速传输线40g_qsfp _lane3_tx_p的一端与所述通信接口201(conn1)的第十三端连接；所述第十四高速传输线40g_qsfp _lane3_tx_n的一端与所述通信接口201(conn1)的第十四端连接，所述第十三高速传输线40g_qsfp _lane3_tx_p和第十四高速传输线40g_qsfp _lane3_tx_n之间构成差分线；所述第七电容c7的一端分别与所述第十三高速传输线40g_qsfp _lane3_tx_p的另一端连接；所述第八电容c8的一端分别与所述第十四高速传输线40g_qsfp _lane3_tx_n的另一端连接；所述第十五高速传输线40g_qsfp _lane3_rx_p的一端与所述第七电容c7的另一端连接，所述第十五高速传输线40g_qsfp _lane3_rx_p的另一端与所述通信接口201(conn1)的第十五端连接；所述第十六高速传输线40g_qsfp _lane3_rx_n的一端与所述第八电容c8的另一端连接，所述第十六高速传输线40g_qsfp _lane3_rx_n的另一端与所述通信接口201(conn1)的第十六端连接，所述第十五高速传输线40g_qsfp _lane3_rx_p和第十六高速传输线40g_qsfp _lane3_rx_n之间构成差分线。
76.同理，所述第十三高速传输线40g_qsfp _lane3_tx_p、第十四高速传输线40g_qsfp _lane3_tx_n、第七电容c7、第八电容c8、第十五高速传输线40g_qsfp _lane3_rx_p和第十六高速传输线40g_qsfp _lane3_rx_n构成第四路测试回路，对被测试交换机路由器设备的第四差分信号端口的物理电气连接，实现对第四个差分信号端口电气性能的测试验证。其工作过程与所述第一路测试回路相同，再次不重复赘述。
77.通过四对高速差分信号收发传输线，可实现对交换机的四对光电接口电气性能进行测试。在此时过程中，将此假光模块插入交换机cage中后，执行测试脚本，即可判别交换机设备光电接口电气性能是否达标。具体测试流程为：首先插入假光模块，实现与交换机光电接口的物理电气连接，然后，检测高速serdes通道的电气特性参数：现有的大多中高端交换芯片都自带有检测高速serdes通道特性的功能，可在电脑终端通过串口与交换设备连接，在电脑终端输入交换芯片自有的眼图查看命令或误码率查看命令检测电气特性。最后，将检测的结果与预设阈值对比。如果检测值小于预设阈值，则判定为电气连接fail；若检测值大于预设阈值，则判定为电气连接pass。
78.进一步地，根据本发明的一个实施例，所述测试电路板20包括：顶层信号层、第一信号层、第二信号层、第三信息层、第四信号层和底层信号层，所述第一高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_p、第二高速传输线40g_qsfp _lane0_tx_n、第三高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_p和第四高速传输线40g_qsfp _lane0_rx_n分别布置在所述第一信号层；所述第五高速传输线40g_qsfp _lane1_tx_p、第六高速传输线40g_qsfp _lane1_tx_n、第七高速传输线40g_qsfp _lane1_rx_p和第八信号线分别布置在所述第一信号层；所述第九高速传输线40g_qsfp _lane2_tx_p、第十高速传输线40g_qsfp _lane2_tx_n、第十一高速传输线40g_qsfp _lane2_rx_p和第十二信号线分别布置在所述第一信号层；所述第十三高速传输线40g_qsfp _lane3_tx_p、第十四高速传输线40g_qsfp _lane3_tx_n、第十五高速传输线40g_qsfp _lane3_rx_p和第十六信号线分别布置在所述第一信号层；所述第一信号层、第二信号层、第三信号层和第四信号层分别设置在所述顶层信号层和底层信号层之间。通过将四对高速传输线分别设置在四层电路板内。由于这四层信号层电路分别相互隔离，且位于电路板的中间层，将利用顶层信号层和底层信号层对中间四层高速传输线对干扰信号的屏蔽。且各信号层之间可覆有铜块，以进一步减少外部信号对高速传输线的信号的干扰，提
高测试精度。在本发明的一些其他实施例中，所述顶层信号层、第一信号层、第二信号层、第三信息层、第四信号层和底层信号层之间还可包括参考地层和/或电源层，以将所述第一信号层、第二信号层、第三信息层、第四信号层相互隔开。进一步减少外部信号对高速传输线的信号的干扰，提高测试精度。
79.参阅图3，所述测试电路板20内还设有存储电路，所述存储电路与所述通信接口201(conn1)连接，所述存储电路用于测试数据的读写。所述储存电路包括：第一存储器u3、第二存储器u2和第三存储器u1，所述第一存储器u3的读写数据接口与所述通信接口201(conn1)连接，所述第一存储器u3为掉电存储芯片；所述第二存储器u2的读写数据接口、寻址接口分别与所述通信接口201(conn1)连接，所述第二存储器u2为掉电存储芯片；所述第三存储器的读写数据接口、寻址接口分别与所述通信接口201(conn1)连接，所述第三存储器为掉电存储芯片。通过所述储存电路包可实时对测试数据或测试脚本的存储。
80.参阅图1和图2，所述模块壳体10包括：底壳101、手柄103和上盖102，所述底壳101内设有安装凹槽，所述测试电路板20设置在所述安装凹槽内；所述手柄103与所述底壳101的连接；所述上盖102设置在所述安装凹槽的上方，所述上盖102与所述底壳101之间固定连接，以将所述测试电路板20安装固定在所述安装凹槽内。所述底壳101与所述上盖102之间可通过螺丝的方式固定连接，从而将所述测试电路板20固定在所述安装凹槽内。所述手柄103设置在所述底壳101的尾端，便于在使用时，将模块壳体10的头部插入到被测试交换机路由器设备的测试端口。这样，所述测试电路板20上的通信接口201(conn1)可与被测试交换机路由器设备的测试端口电性连接。
81.以上仅为本发明的实施例，但并不限制本发明的专利范围，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来而言，其依然可以对前述各具体实施方式所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等效替换。凡是利用本发明说明书及附图内容所做的等效结构，直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理在本发明专利保护范围之内。
82.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
83.尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。