一种可调谐式光纤束集成光学测量杆及测试方法

1.本发明涉及显微光谱测试技术领域，具体来说是一种可调谐式光纤束集成光学测量杆及测试方法。


背景技术：

2.随着我国稳态和脉冲磁体技术的发展和强磁场实验装置的建设，发展相应的强磁场下实验探测技术已成为开展强磁场材料科学研究亟需解决的问题。光学手段由于具有速度快、灵敏度高、抗电磁干扰且能够进行超快时间分辨和精细能量分辨测量等优点，在强磁场下的物理、化学、材料、生物等领域的科学研究方面具有重要的应用。
3.强磁场下的光学测量方法和装置设计受到磁场环境和磁体运行状态的制约。首先，为了在单位电流下获得更强的磁场，磁体孔径往往较小(厘米级)，无法容纳常规光学元件和测量装置；第二，为防止漏磁场对测量装置造成影响，光源、探测器等系统部件应当尽量远离磁体，同时，磁体运行时往往伴随由冷却水循环、压缩机等引起的震动，而传统自由光路无法保证长距离光学信号传输中系统各部分间的相对稳定，且极易引入来自环境的干扰光；第三，磁体运行需要耗费大量的水、电、低温液体等资源，有限的装机容量无法支持磁体的长时间运行，必须设法提高测试系统的工作效率；第四，强磁场下的光学研究往往涉及同一测试条件，同一样品下多种测试手段如荧光测量、偏振测量、电学测量等多种功能，分别设计测量装置单独测量操作繁琐、效率低下，也无法保证测试条件的一致性。
4.目前，公告号为cn105911029b的中国发明专利公开了一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光的系统，该方法是将集成有光学传输系统的样品杆直接放入低温强磁场的腔中，在深低温、强磁场环境中对样品进行光致发光测试。上述方案虽然解决了小孔径磁体中放置不便的问题，但在测试过程中，光纤无法对测试位置进行精确定位，很难对样品的特定区域进行测试，这就影响了光谱收集效率，导致检测效率低；且该系统的功能单一，仅能实现光学测量，无法保证测试条件的一致性。
5.因此，设计一种能够解决以上问题的光学测量装置对强磁场和具有类似特征环境下的物性研究尤为重要。


技术实现要素：

6.本发明所要解决的技术问题在于如何提供一种便于在狭小空间的低温强磁场的环境内，实现显微光谱测量的可调谐式光纤束集成光学测量杆，其结构简单、收光效率好、检测效率高、性能稳定。
7.本发明通过以下技术手段实现解决上述技术问题的：
8.一种可调谐式光纤束集成光学测量杆，包括杆主体、光纤束、对焦定位台、样品托以及光纤准直器，所述杆主体为碳纤维制成的壳体，所述光纤束的头部固定安装在杆主体的顶端，且所述光纤束头部的输入端连接有激光器、输出端连接有探测器；所述对焦定位台固定安装在杆主体的底端，所述对焦定位台的位置及角度可调节；待测样品通过样品托固
定放置在对焦定位台上，所述杆主体上连接有向样品托供电的电源线；所述光纤准直器固定设置在待测样品的上方，所述光纤束的尾部固定安装在光纤准直器上。
9.有益效果：本技术的待测样品和光纤束、对焦定位台、样品托以及光纤准直器等测试元件均安装在杆主体内，其结构简单，便于放置在狭小空间的低温强磁场的环境内；测试时，通过电源线向待测样品施加电场，即可进行电学测量，有利于保证测试条件的一致性；由激光器向光纤束照射激光，激光经光纤准直器照射待测样品表面，待测样品产生的测试信号经光纤束进入探测器，通过探测器观察待测样品，调节对焦定位台的位置和角度，即可将待测样品移动到激光的光斑处，使光纤束的收光效率达到最佳，提高了测试的信噪比；且光纤准直器直接放在样品上方，减少了光在自由空间中通过光学元件的传输损耗，有利于保证探测信号的强度；另外，杆主体为碳纤维制成的壳体，碳纤维具有优秀的电磁屏蔽性质，且质轻、在低温环境中不易发生形变，确保了测试的稳定性；因此本技术的测量杆具有收光效率好、检测效率高、性能稳定的优点。
10.优选的，所述对焦定位台包括固定安装在杆主体内的固定座、转动连接在固定座上的第一旋转台、转动连接在第一旋转台上的第二旋转台以及滑动设置在第二旋转台上的样品座，所述样品托固定安装在样品座上；所述第一旋转台、第二旋转台以及样品座均由压电陶瓷制成，所述杆主体外设有用于控制压电陶瓷形变程度的控制器。
11.有益效果：压电陶瓷是一类具有压电特性的电子陶瓷材料，其在电场作用下能够产生的形变，具有将机械能和电能互相转换的信息功能，且输入电压不同，压电陶瓷的形变程度不同；当需调整对焦定位台时，通过控制器控制样品座的电压，使样品座与第二旋转台发生摩擦耦合，以此推动样品座水平移动或者升降移动，实现样品座位置的调节；通过控制器控制第一旋转台或第二旋转台的电压，使其底部发生局部变形并转动，样品座随之转动进行角度调节，达到对焦定位台位置和角度调节的目的。
12.优选的，所述固定座和第一旋转台的顶面上均开设有u形槽，两个u形槽的中心轴线水平且相互垂直，第一旋转台和第二旋转台的底部均呈与u形槽配合的u形。
13.有益效果：调节对焦定位台的角度时，第一旋转台、第二旋转台分别在相应的u形槽中绕着水平面上的x轴、y轴转动，旋转台的u形底部与u形槽的配合以及分别调节的方式，有利于对焦定位台角度的精准调节。
14.优选的，所述杆主体的顶端固接有线缆盒，所述线缆盒顶端的开口处拆卸式连接有顶盖，所述顶盖上设有供光电线缆穿过的接口；所述线缆盒的下方安装有用于排布光电线缆的内套筒，所述内套筒位于杆主体内并向光纤准直器延伸的内套筒。
15.有益效果：安装时，先将光纤束、电源线以及控制器线装入内套筒，然后打开顶盖，将内套筒安装在线缆盒上，再将激光器线、探测器线由对应的接口接在光纤束上，电源线以及控制器线通过对应的接口穿出线缆盒，并接在相应的电源和控制器上，最后盖上顶盖即完成安装，线缆盒和内套筒对各元件的线缆进行整理收纳，使测量杆整体简洁、取放方便；激光器、探测器、电源、控制器等元件通过相应的线缆和接口接在测量杆上，可以尽可能远离磁体设置，有效地解决了因外部振动造成样品漂移的问题，有利于提高测试的稳定性。
16.优选的，所述顶盖与线缆盒之间设置有密封垫；所述接口的内壁上以及内套筒出入口的内壁上均固定连接有密封圈。
17.有益效果：密封垫对顶盖与线缆盒之间的间隙进行封堵，密封圈使各线缆与接口、
内套筒之间均保持良好的密封，以此保持测量杆内部的气密性，防止有空气影响激光在光纤束内的传播，有利于提高测试结果的准确性。
18.优选的，所述样品托包括托板、电极以及接线柱，待测样品固定放置在所述托板上，所述电极的一端固定安装在托板上、另一端压置在待测样品上；所述接线柱固定安装在托板上，且所述接线柱与电极、电源线均电连接。
19.有益效果：样品托放置完成后，将电源线接在接线柱上；进行电学测量时，打开电源，电源通过电源线向接线柱供电，电流通过接线柱传导电极上，由于电极压置在待测样品上，此时电极对待测样品施加电场，以此达到电学测量的目的。
20.优选的，所述电极沿待测样品的周向均匀分布有多个；所述电极由一端呈尖端状的异形铜片制成，且所述电极的尖端压置在待测样品上。
21.有益效果：放置待测样品时，拨动异形电极使其发生弹性形变，并将电极的尖端压置在待测样品上，电极的限制使待测样品稳定的固定在托板；通电时，电荷密集在异形铜片的尖端，发生尖端放电，使待测样品周围的电场得以增强，确保了电学测量效果。
22.优选的，所述光纤准直器通过支柱和连接板拆卸式安装在杆主体内,所述支柱螺纹连接在杆主体内，所述连接板的一端套设在光纤准直器上、另一端套设在支柱上。
23.有益效果：由于对焦定位台是对位移台进行的微调，对于样品厚度变化较大的产品的测试，需要对光纤准直器的高度进行调整，此时更换不同长度支柱即可快速调节光纤准直器的高度，快捷方便，且扩大了本技术的适用范围。
24.本发明还提供了一种应用可调谐式光纤束集成光学测量杆的测试方法，包括如下步骤：
25.(1)放置样品：在所述杆主体内安装好光纤束、对焦定位台和光纤准直器后，依次将待测样品固定放置在样品托上、样品托固定放置在对焦定位台上，使待测样品位于光纤准直器下方，然后将所述电源线接在样品托上，再将带有待测样品的测量杆整体放入低温强磁场腔体内；
26.(2)调试：打开所述激光器使其向光纤束的输入端照射激光，激光经光纤束和光纤准直器照射到待测样品表面，待测样品产生测试信号，并原路返回到光纤束中，然后由光纤束的输出端进入到探测器中；此时通过探测器观察待测样品，同时调节对焦定位台的位置使待测样品移动到激光光斑处，调节对焦定位台的角度使信号强度最大；
27.(3)测试：调试完成后，打开电源使其通过电源线向样品托供电，改变电场强度即可进行电学测量；根据设定的探测区域与间隔步长，使待测样品随对焦定位台上进行扫描式移动，即每采集完成一个样品点的信息，就将待测样品的下一个测量点移动到激光光斑处，实现待测样品的多个单点探测。
28.有益效果：本技术测试时，将待测样品安装在装配好的杆主体内，并随杆主体一同放置在低温强磁场的狭小空间内；然后打开激光器使其向光纤束照射激光，通过探测器即可观察到待测样品的产生测试信号，此时调节对焦定位台的位置和角度，待测样品随对焦定位台移动到激光的光斑处，并达到光纤束的收光效率最佳的状态即完成调试，有效地解决了样品失焦的问题；测试时，根据设定的探测区域与间隔步长，按照调试方法使待测样品随对焦定位台上进行扫描式移动，即可对待测样品进行多个单点探测，实现显微光谱测量；通过电源线向样品托供电，以此向待测样品施加电场，改变电场强度即可进行电学测量；打
开激光器的其他光源，例如照明光、成像装置等，即可实现以光纤束为载体的多功能传输光路测试，可在同一测试条件对同一样品进行多种测试，有利于保证测试条件的一致性，且操作方便、性能稳定。
29.优选的，所述步骤(3)在测试过程中，每采集5-10个探测点，就进行一次步骤(2)的调试。
30.有益效果：由于待测样品表面不一定完全水平，且测试的过程中待测样品也可能因发生振动，多次测量的累计容易出现测量点偏离光纤准直器的焦平面的情况，而每采集5-10个探测点调试一次，即确保了检测效率，也保证了采集到的信号强度保持在最大的状态，有利于提高信噪比。
31.本发明的优点在于：
32.1.本技术结构简单，便于放置在狭小空间的低温强磁场的环境内；测试时，通过调节对焦定位台的位置和角度，将待测样品移动到激光的光斑处，使光纤束的收光效率达到最佳，收光效率好、检测效率高。
33.2.本技术利用压电陶瓷的机械能和电能互相转换的信息功能，通过控制器控制样品座和两个旋转台的电压，使其发生移动或者形变，以此调节样品座位置的角度，进而达到对焦定位台位置和角度调节的目的。
34.3.本技术通过电源线向样品托供电，改变电场强度即可实现电学测量；开启激光器即可进行激光、照明光等的传输，和/或进行成像，实现以光纤束为载体的多功能传输光路测试，实现同一测试条件对同一样品进行多种测试，操作方便、性能稳定。
附图说明
35.图1为本技术实施例1的整体结构示意图。
36.图2为图1中a的局部放大图。
37.图3为图1中b的局部放大图。
38.图4为本技术实施例1中光纤束的结构示意图。
39.图5为本技术实施例1中对焦定位台的结构示意图。
40.图6为本技术实施例1中样品托的结构示意图。
41.图7为本技术实施例1中光纤准直器的剖视图。
42.图8为本技术实施例3的整体结构示意图。
43.图9为本技术实施例3的剖视图。
44.附图标记：1、杆主体；11、线缆盒；111、顶盖；112、接口；113、内凸套；114、限位槽；12、内套筒；121、外凸部；122、固定螺母；123、限位块；13、底座；131；放置槽；14、密封垫；15、密封圈；2、对焦定位台；21、固定座；22、第一旋转台；23、第二旋转台；24、样品座；3、样品托；31、托板；32、电极；33、接线柱；4、光纤准直器；41、壳体；42、透镜；43、偏振片；5、连接架；51、支柱；52、连接板。
具体实施方式
45.为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部
分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
46.实施例1
47.本实施例公开一种可调谐式光纤束集成光学测量杆。参照图1、图2，可调谐式光纤束集成光学测量杆包括杆主体1、光纤束、对焦定位台2、样品托3以及光纤准直器4。杆主体1为圆筒状的壳体，其由碳纤维制成，可以为铝、不锈钢等。
48.参照图1、图3，杆主体1的顶部固定连接有线缆盒11，线缆盒11呈圆筒状，其顶部开口处盖设有顶盖111，顶盖111上设有四个接口112，四个接口112分别为电源接口112、光纤输入接口112、光纤输出接口112和位移台控制接口112。杆主体1内设置有内套筒12，内套筒12的长度方向与杆主体1的长度方向一致。内套筒12的顶端固定在线缆盒11上，并与线缆盒11的内部连通；内套筒12的底端延伸至杆主体1的下部。
49.参照图4，光纤束采用现有的y型光纤束，其头部固定安装在线缆盒11内。光纤束的上端包括输入端和输出端，且光纤束的接头采用fc-apc接头。光纤束的输入端连接有激光器，且光纤束的输入端分为三束，三束光纤分别连接激光器的激光接头、照明光接头、成像接头，开启激光器即可实现照射激光、照明光，和/或进行成像；光纤束的输出端对应连接有探测器，用于信号采集。激光器和探测器尽可能远离磁体设置，激光器通过激光器线和光纤输入接口112与光纤束连接，探测器通过探测器线和光纤输出接口112与光纤束连接，激光器线和探测器线均采用光纤线缆，且激光器线和探测器线与光纤束连接的一端排布在线缆盒11内。
50.参照图1、图5，杆主体1的底部为底座13，杆主体1的下部开设有放置槽131，底座13通过放置槽131与外界连通。对焦定位台2放置在底座13内，对焦定位台2包括依次设置的固定座21、第一旋转台22、第二旋转台23以及样品座24，固定座21固定放置在底座13内。固定座21的顶面上开设有第一u形槽，第一旋转台22的顶面上开设有第二u形槽，第一u形槽、第二u形槽的中心轴线分别沿水平面的x轴、y轴方向设置。第一旋转台22底部的横截面呈u形，其转动配合在第一u形槽内；第二旋转台23底部的横截面呈u形，其转动配合在第二u形槽内；样品座24滑动设置在第二旋转台23的顶面上。
51.参照图5，第一旋转台22、第二旋转台23以及样品座24均由压电陶瓷制成，压电陶瓷制成在电场作用下能够产生的形变，且杆主体1外设有用于控制压电陶瓷电压的控制器，通过控制器改变压电陶瓷的电压，即可控制压电陶瓷的形变程度的。通过控制器控制样品座24的电压，使样品座24与第二旋转台23发生摩擦耦合，以此推动样品座24水平移动或者升降移动，实现样品座24位置的调节；通过控制器控制第一旋转台22的电压，使其底部发生局部变形，并在第一u形槽内绕x轴转动，同理，通过控制器控制第二旋转台23的电压，使其底部发生局部变形，并在第二u形槽内绕y轴转动，以此调节样品座24的角度，进而达到对焦定位台2位置和角度调节的目的。且第一旋转台22和第二旋转台23的转动角度均在
±5°
的范围内，固定座21的尺寸不超过30mm*30mm，有利于对焦定位台2角度的精准调节；同时，对焦定位台2可在磁场强度大于20t，环境温度大于4k的极端条件下工作。
52.参照图6，样品托3包括托板31、电极32以及接线柱33。托板31呈矩形，其固定放置在样品座24的顶面上。电极32和接线柱33均由黄铜制成，均具有良好的导电性。电极32为异形结构，其与托板31连接的部分呈z字形，z字形结构的顶端为斜向下的三角形结构，且三角
形的尖端向托板31的中心位置延伸。电极32和接线柱33均设有四个，四个电极32分别与四个电极32电连接，且四个电极32呈矩形分布。电极32呈弯曲状，其一端固定安装在托板31上、另一端向四个电极32围成的矩形中心延伸。接线柱33固定安装在托板31上，接线柱33通过电源线与外部电源电连接。当待测样品置于托板31上时，拨动异形电极使其发生弹性形变，并将四个电极32的尖端均压置在待测样品上，使待测样品稳定的固定在托板31上；然后开通电源，电源通过电源线和接线柱33向电极32供电，即可向待测样品施加电场；此时异形电极32发生尖端放电，使待测样品周围的电场得以增强。
53.参照图1，控制器和电源尽可能远离磁体设置，控制器线、电源线分别通过位移台控制接口112、电源接口112接入线缆盒11内，在线缆盒11内排布后，再一并与光纤束穿入内套筒12内，并由内套筒12的底端穿出。
54.参照图5，光纤准直器4通过连接架5安装在杆主体1内，连接架5包括支柱51和连接板52。支柱51竖直设置在底座13内，并位于对焦定位台2的外侧，且支柱51的底端螺纹连接在杆主体1内、顶端高出样品托3的顶面高度。连接板52的两端均设有固定环，其中一个固定环固定套设在光纤准直器4的螺纹接口下方，当另一个固定环套设在支柱51的顶端时，光纤准直器4固定设置在杆主体1内，并位于样品托3的正上方；将连接板52由支柱51上取下，即可对光纤准直器4进行拆卸及更换，以此实现光纤准直器4与杆主体1的拆卸式连接。
55.参照图5、图7，光纤准直器4包括壳体41、透镜42和偏振片43，壳体41的上方采用fc/apc接口，透镜42和偏振片43均固定安装在壳体41内，且透镜42位于偏振片43的上方，透镜42的凸面朝下。内套筒12的底端向光纤准直器4延伸，并靠近光纤准直器4设置。光纤束的尾部接头为fc/apc接头，其固定安装在光纤准直器4的接口112上。通过激光器向光纤束照射激光时，激光通过光纤束和光纤准直器4照射到待测样品表面，此时待测样品产生测试信号，并沿原路返回到光纤束中，再通过光纤束的输出端进入到探测器中。探测器包括光谱仪和光纤相机，可通过光纤相机观察待测样品的表面，使用控制器调节对焦定位台2的位置，使待测样品移动到激光的光斑处，此时待测样品的高度保持在光纤准直器4的焦平面上；通过光谱仪测量的信号强度调节对焦定位台2的角度，以此调节待测样品与水平面的夹角，使光纤束的收光效率达到最佳，以此实现显微光谱测量。
56.实施例2
57.本实施例还公开一种应用可调谐式光纤束集成光学测量杆的测试方法，包括如下步骤：
58.(1)放置样品：使用时，将光纤束、对焦定位台2、样品托3以及光纤准直器4安装好后，光纤束、激光器线、探测器线、电源线以及控制器线均放置在线缆盒11内，光纤束、电源线以及控制器线一并由内套筒12的底端穿出，且光纤束的接头固定安装在光纤准直器4的接口112上，电源线接在接线柱33上，控制器线接在对焦定位台2上，即完成测量杆的组装。
59.然后使用低温胶粘将待测样品粘在托板31上，并拨动电极32使其压置在待测样品上，同样使用低温胶粘将样品托3粘在对焦定位台2上，使待测样品位于光纤准直器4下方；再将电源线接在样品托3上，最后将带有待测样品的测量杆整体放入低温强磁场腔体内，即完成待测样品的放置。
60.(2)调试：打开激光器使其向光纤束的输入端照射激光，激光经光纤束和光纤准直器4照射到待测样品表面，待测样品产生测试信号，并原路返回到光纤束中，然后由光纤束
的输出端进入到探测器中。此时通过光纤相机观察待测样品的表面，通过控制器调节样品座24进行水平移动使待测样品移动到激光的光斑处，通过控制器调节样品座24进行升降移动，使待测样品的高度保持在光纤准直器4的焦平面上；然后观察光谱仪测量的信号强度，通过控制器使第一旋转台22和第二旋转台23转动，以此调节待测样品与水平面的夹角，直至光谱仪测量的信号强度最大，此时光纤束的收光效率达到最佳，即完成调试。
61.(3)测试：调试完成后，根据设定的探测区域与间隔步长，使待测样品随对焦定位台2上进行扫描式移动，即每采集完成一个样品点的信息，就将待测样品的下一个测量点移动到激光光斑处，实现待测样品的多个单点探测，以此实现显微光谱测量。在测试过程中，每采集5-10个探测点，就进行一次调试，以此纠正测量点偏离光纤准直器4的焦平面的情况，保证采集到的信号强度保持在最大的状态，有利于提高信噪比。
62.同时，打开电源使其通过电源线向样品托3供电，以此向待测样品施加电场，改变电场强度，即可测试样品在同一磁场中的电学性能，以此实现电学测量。同理，开启激光器，不同的光纤束可对激光器发出的激光、照明光等进行传输，和/或进行成像，实现以光纤束为载体的多功能传输光路测试，实现同一测试条件对同一样品进行多种测试。
63.使用原理及优点：本技术利用压电陶瓷的机械能和电能互相转换的信息功能，通过控制器控制样品座24和两个旋转台的电压，实现对焦定位台2位置和角度的调节，以此将待测样品移动到激光的光斑处，很好地解决了样品失焦问题，使光纤束的收光效率达到最佳，提高了测试的信噪比，收光效率好、检测效率高；通过电源线向样品托3供电，改变电场强度即可实现电学测量；开启激光器即可进行激光、照明光、信号光等进行传输，和/或进行成像，实现以光纤束为载体的多功能传输光路测试，实现同一测试条件对同一样品进行多种测试，操作方便、性能稳定。
64.实施例3
65.参照图8，本实施例公开一种可调谐式光纤束集成光学测量杆，其与实施例1的区别在于：线缆盒11的内底面中心开设有穿孔，线缆盒11通过穿孔与杆主体1的内部连通。线缆盒11的内底面上一体成型有内凸套113，内凸套113的横截面呈圆环状，其与穿孔同圆心设置，并通过穿孔与线缆盒11的底面连通。内套筒12插接配合在内凸套113内，并由穿孔向下穿出线缆盒11后进入杆主体1内。内套筒12的顶端一体成型有外凸部121，外凸部121的横截面呈圆环状，其外径与内凸套113的外径相当。
66.参照图9，外凸部121和内凸套113的外壁上均设有螺纹，且当外凸部121支撑在内凸套113上时，外凸部121和内凸套113上螺纹连接有同一个固定螺母122，以此实现外凸部121与内凸套113的固定连接，进而将内套筒12固定在线缆盒11上。安装时，将光纤束、电源线以及控制器线穿入并排布在内套筒12内，同时将固定螺母122旋在外凸部121上，然后将内套筒12插入内凸套113，直至外凸部121支撑在内凸套113上，再将固定螺母122旋紧在外凸部121和内凸套113之间，即可将内套筒12固定在线缆盒11上；此时光纤束、激光器线、探测器线、电源线以及控制器线均排布在线缆盒11内。当需对光纤束或其他光电元件的线缆进行更换时，旋松固定螺母122即可对内套筒12、光纤束、光电元件线缆进行拆卸，结构简单、操作方便。
67.参照图9，内凸套113的内壁上开设有限位槽114，内套筒12的外壁上固接有限位块123，限位块123与限位槽114插接配合。放置内套筒12时，将限位块123对准并插入限位槽
114内，当外凸部121支撑在内凸套113上时，两者的螺纹对准，可直接旋上固定螺母122；同时，限位槽114对限位块123的限制作用，有效地防止了外凸部121与内凸套113发生相对转动，确保了安装效果。
68.参照图9，顶盖111与线缆盒11之间设置有密封垫14，接口112的内壁上固定连接有密封圈15，密封垫14和密封圈15均由橡胶制成。光电元件的线缆穿过接口112时，密封圈15包覆光电元件线缆，并与光电元件线缆抵接，起到防止光电元件线缆松动及被接口112割伤损坏的作用；另外，密封垫14对顶盖111与线缆盒11之间的间隙进行封堵，密封圈15使各线缆与接口112、内套筒12之间均保持良好的密封，以此保持测量杆内部的气密性，防止有空气影响激光在光纤束内的传播，有利于提高测试结果的准确性。
69.使用原理及优点：安装时，将光纤束、电源线以及控制器线穿过并排布在内套筒12内，固定螺母122旋在外凸部121上，然后将内套筒12插入内凸套113，直至外凸部121支撑在内凸套113上，再将固定螺母122旋紧在外凸部121和内凸套113之间，即可将内套筒12固定在线缆盒11上；此时光纤束、激光器线、探测器线、电源线以及控制器线均排布在线缆盒11内。当需对光纤束或其他光电元件的线缆进行更换时，旋松固定螺母122即可对内套筒12、光纤束、光电元件线缆进行拆卸，结构简单、操作方便。
70.以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。